检测天馈覆盖变化的方法及装置的制造方法_3

文档序号:9220378阅读:来源:国知局
实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目 的。
[0055]另外,在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中,也可以 是各个单元单独物理包括,也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单 元既可以采用硬件的形式实现,也可以采用硬件加软件功能单元的形式实现。
[0056]上述以软件功能单元的形式实现的集成的单元,可以存储在一个计算机可读取存 储介质中。上述软件功能单元存储在一个存储介质中,包括若干指令用以使得一台计算机 设备(可以是个人计算机,服务器,或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的 部分步骤。而前述的存储介质包括:U盘、移动硬盘、只读存储器(Read-OnlyMemory,简称 ROM)、随机存取存储器(RandomAccessMemory,简称RAM)、磁碟或者光盘等各种可以存储 程序代码的介质。
[0057]最后应说明的是:以上实施例仅用以说明本发明的技术方案,而非对其限制;尽 管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:其依然 可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替 换;而这些修改或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精 神和范围。
【主权项】
1. 检测天馈覆盖变化的方法,其特征在于,包括: 获取第一特征序列,所述第一特征序列包含天馈i的N个特征参数,所述天馈i的N个 特征参数用于指示所述天馈i在第一时段内的覆盖半径、所述天馈i在所述第一时段内的 面覆盖大小、所述天馈i在所述第一时段内的覆盖切换频率、所述天馈i在所述第一时段内 的边缘覆盖情况中的至少一个,N为大于1的整数; 将所述第一特征序列与数据库中的第一学习序列进行匹配,所述第一学习序列包含所 述天馈i的N个学习参数,所述天馈i的N个学习参数用于指示所述天馈i在第二时段内 的覆盖半径、所述天馈i在所述第二时段内的面覆盖大小、所述天馈i在所述第二时段内的 覆盖切换频率、所述天馈i在所述第二时段内的边缘覆盖情况中的至少一个,所述第二时 段比所述第一时段长; 如果所述第一特征序列与所述数据库中的第一学习序列匹配不成功,则确定所述天馈i覆盖变化异常。2. 根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述将所述第一特征序列与数据库中的 第一学习序列进行匹配,包括: 将所述第一特征序列包含的所述天馈i的N个特征参数中第n个特征参数与所述 数据库的第一学习序列中包含的所述天馈i的N个学习参数中第n个学习参数代入公式 巧二(托,,-巧,)2进行运算得到所述第n个特征参数的匹配方差Si2 ; 其中yi,。为所述天馈i的N个特征参数中第n个特征参数,歹。为所述数据库的第一学 习序列中包含的所述天馈i的N个学习参数中第n个学习参数,n为[1,闲内的整数; 如果所述第n个特征参数的匹配方差的值大于或等于第一阔值,则所述第一特征序列 与所述数据库中的第一学习序列匹配不成功。3. 根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述方法还包括: 如果所述第n个特征参数的匹配方差的值小于所述第一阔值,则根据所述第一特征序 列包含的N个特征参数与所述第一学习序列包含的N个学习参数生成新的第一学习序列, 并将所述新的第一学习序列存储在所述数据库。4. 根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取第一特征序列,包括: 获取所述天馈i的N个特征参数中第n个特征参数的K个测量值及所述第n个特征参 数的K个测量值的方差3 .所述第n个特征参数的K个测量值是在所 述第一时间段内测量得到的,K为大于0的整数,k为[1,口内的整数,X为所述K个测量值 的平均值,Xk为所述K个测量值中第k个测量值; 根据公式於=(而-^22)/(Xm。、-《)计算所述K个测量值中第k个测量值的特征值yk, Xm"为所述K个测量值中的最大值; 根据K个测量值的特征值确定所述第n个特征参数。5. 根据权利要求1-4任一项所述的方法,其特征在于, 当所述天馈i的N个参数包含所述天馈i的传输路径TP值特征参数及所述天馈i的TP值分布特征参数中的至少一项时,所述天馈i的N个参数指示所述天馈i在第一时段内 的覆盖半径; 当所述天馈i的N个参数包含所述天馈i的测量报告MR覆盖率特征参数及所述天馈i的单小区业务量特征参数中的至少一项时,所述天馈i的N个参数指示所述天馈i在第一 时段内的面覆盖大小; 当所述天馈i的N个参数包含所述天馈i的切换次数特征参数及所述天馈i的交叠区 域占比特征参数中的至少一项时,所述天馈i的N个参数指示所述天馈i在第一时段内的 覆盖切换频率; 当所述天馈i的N个参数包含所述天馈i的异频切换特征参数时,所述天馈i的N个 参数指示所述天馈i在第一时段内的边缘覆盖情况。6. 检测天馈覆盖变化的装置,其特征在于,包括: 数据处理单元,用于获取第一特征序列,所述第一特征序列包含天馈i的N个特征参 数,所述天馈i的N个特征参数用于指示所述天馈i在第一时段内的覆盖半径、所述天馈i 在所述第一时段内的面覆盖大小、所述天馈i在所述第一时段内的覆盖切换频率、所述天 馈i在所述第一时段内的边缘覆盖情况中的至少一个,N为大于1的整数; 匹配单元,用于将所述数据处理单元获取的所述第一特征序列与数据库中的第一学习 序列进行匹配,所述第一学习序列包含所述天馈i的N个学习参数,所述天馈i的N个学习 参数用于指示所述天馈i在第二时段内的覆盖半径、所述天馈i在所述第二时段内的面覆 盖大小、所述天馈i在所述第二时段内的覆盖切换频率、所述天馈i在所述第二时段内的边 缘覆盖情况中的至少一个,所述第二时段比所述第一时段长; 判定单元,用于当所述匹配单元匹配的结果是所述第一特征序列与所述数据库中的第 一学习序列匹配不成功时,确定所述天馈i覆盖变化异常。7. 根据权利要求6所述的装置,其特征在于, 所述匹配单元,具体用于将所述第一特征序列包含的所述天馈i的N个特征参数中第n个特征参数与所述数据库的第一学习序列中包含的所述天馈i的N个学习参数中第n个学 习参数代入公式片=(.V,瓦进行运算得到第n个特征参数的匹配方差卑;其中Yi,。为 所述天馈i的N个特征参数中第n个特征参数,把为所述数据库的第一学习序列中包含的 所述天馈i的N个学习参数中第n个学习参数,n为[1,闲内的整数;如果所述第n个特征 参数的匹配方差的值大于或等于第一阔值,则所述第一特征序列与所述数据库中的第一学 习序列匹配不成功。8. 根据权利要求7所述的装置,其特征在于, 所述数据处理单元,还用于当所述第n个特征参数的匹配方差的值小于所述第一阔值 时,根据所述第一特征序列包含的N个特征参数与所述第一学习序列包含的N个学习参数 生成新的第一学习序列,并将所述新的第一学习序列存储在所述数据库。9. 根据权利要求6所述的装置,其特征在于, 所述数据处理单元,还用于获取所述天馈i的N个特征参数中第n个特征参数的K个 测量值及所述第n个特征参数的K个测量值的方差所述第n个特 征参数的K个测量值是在所述第一时间段内测量得到的,K为大于0的整数,k为[1,K]内 的整数,X为所述K个测量值的平均值,Xk为所述K个测量值中第k个测量值;根据第S公 式扔=(―V,-巧)/ (Xma、-巧)计算所述K个测量值中第k个测量值的特征值yk,Xm。为所述K 个测量值中的最大值;根据K个测量值的特征值确定所述第n个特征参数。10.根据权利要求6-9任一项所述的装置,其特征在于, 当所述天馈i的N个参数包含所述天馈i的传输路径TP值特征参数及所述天馈i的TP值分布特征参数中的至少一项时,所述天馈i的N个参数指示所述天馈i在第一时段内 的覆盖半径; 当所述天馈i的N个参数包含所述天馈i的测量报告MR覆盖率特征参数及所述天馈i的单小区业务量特征参数中的至少一项时,所述天馈i的N个参数指示所述天馈i在第一 时段内的面覆盖大小; 当所述天馈i的N个参数包含所述天馈i的切换次数特征参数及所述天馈i的交叠区 域占比特征参数中的至少一项时,所述天馈i的N个参数指示所述天馈i在第一时段内的 覆盖切换频率; 当所述天馈i的N个参数包含所述天馈i的异频切换特征参数时,所述天馈i的N个 参数指示所述天馈i在第一时段内的边缘覆盖情况。
【专利摘要】本发明公开了检测天馈覆盖变化的方法及装置,涉及通信领域。能够解决现有技术中仅能从话务模型和覆盖半径推算天馈覆盖是否变化异常,准确性较差的问题。具体方案为:获取第一特征序列,将第一特征序列与数据库中的第一学习序列进行匹配,如果第一特征序列与数据库中的第一学习序列匹配不成功,则确定天馈i覆盖变化异常。本发明用于检测天馈覆盖变化。
【IPC分类】H04B17/12, H04W24/02
【公开号】CN104936214
【申请号】CN201510319629
【发明人】李明欣, 邓巍, 谢浩, 谢林江
【申请人】中国联合网络通信集团有限公司
【公开日】2015年9月23日
【申请日】2015年6月11日
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