l的源极接至电源模块的+3.3V输出电压，Ql的漏极接至光接口模块发送单元的供电端口。当第一 CPUI/0端口输出高电平时，Ql截止，电源模块的不能给光接口模块发送单元供电，光接口模块发送单元不消耗电量。当第一 CPUI/0端口输出低电平时，Ql导通，电源模块给光接口模块发送单元供电，光接口模块发送单元正常工作。
[0034]本发明实施例中，MOS管Q2采用P沟道MOS管。Q2的栅极通过串联电阻R2后接到第二 CPUI/0端口，Q2的源极接至电源模块的+3.3V输出电压，Q2的漏极接至光接口模块接收单元的供电端口。当第二 CPUI/0端口输出高电平时，Q2截止，电源模块的不能给光接口模块发送单元供电，光接口模块接收单元不消耗电量。当第二 CPUI/0端口输出低电平时，Q2导通，电源模块给光接口模块接收单元供电，光接口模块接收单元正常工作。
[0035]第一和第二 CPUI/0端口为CPU1控制引脚中的任意一组，第一和第二 CPUI/O端口为不同的CPU1控制引脚。
[0036]本发明实施例中，当光接口模块接收单元处于供电状态时，如果外界有光信号接入光接口模块接收端口，光接口模块会监测到光信号，并在光信号监测端口给出高电平指示。否则，会在光信号监测端口给出低电平指示。
[0037]本发明实施例中，数据发送过程如图3所示，当测试设备处于测试进程，CPU需要发送测试数据或维持链路的零值数据时，CPU控制其I/O端口驱动Ql的栅极为低电平，此时Ql导通，光接口模块的发送单元被供电，发送单元正常工作，数据通过光接口模块转化成特定波长的光信号发送出去。如果数据发送未完成，则持续驱动Ql的栅极为低电平；如果数据发送完成，则驱动Ql的栅极为高电平，光接口模块的发送单元不供电，等待下一次发送数据。如此，只要CPU不需要发送数据，光接口模块的发送单元都不会消耗电量。
[0038]本发明实施例中，数据接收过程如图4所示，CPU每秒控制其I/O端口驱动Q2的栅极为低电平并保持100毫秒，此时，Q2导通，光接口模块的接收单元被供电，接收单元正常工作。然后CPUI/0端口检测光信号监测端口是否为高电平，若为高电平则表示有光信号输入，则持续保持Q2的栅极为低电平，光接口模块接收单元持续被供电，光接口模块可接收外界光信号数据直至光信号监测端口变为低电平；若光信号监测端口为低电平，则等待下一秒钟重复以上动作。如此，只要未有光信号输入，光接口模块的接收单元消耗电量会大大减少。
[0039]以上实施例仅为本发明的一种实施方式，其描述较为具体和详细，但不能因此而理解为对本发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。
【主权项】
1.一种智能变电站测试设备光接口供电控制装置，其特征在于:包括光接口模块、电源模块和外部CPU;其中， 所述光接口模块包括发送单元和接收单元，所述接收单元监测特定波长的光信号有无，以及接收特定波长光信号数据后转换为电信号数据，所述发送单元将本地电信号转换为特定波长的光信号输出； 所述电源模块包括供电电源接口和电源管理模块，所述供电电源接口与外部供电电源输出或者电池输出相连接，所述电源管理模块将供电电源接口引入的电压变换为满足所述光接口模块要求的供电电压，为其正常工作提供稳定可靠的电源； 所述电源管理模块分别通过MOS管Ql和MOS管Q2为所述发送单元和所述接收单元供电；其中 MOS管Ql的栅极通过第一串联电阻与所述外部CPU的第一 I/O端口相连，MOS管Ql的源极与所述电源管理模块的电压输出端相连，MOS管Ql的漏极接与所述发送单元的供电端口相连； MOS管Q2的栅极通过第二串联电阻与所述外部CPU的第二 I/O端口相连，MOS管Q2的源极与所述电源管理模块的电压输出端相连，MOS管Q2的漏极接与所述接收单元的供电端口相连； 所述外部CPU通过控制第一 I/O端口和第二 I/O端口的输出电平来分别控制MOS管Ql和MOS管Q2的导通或关断，进而接通或断开所述发送单元、所述接收单元与所述电源管理模块的供电连接。2.根据权利要求1所述的一种智能变电站测试设备光接口供电控制装置，其特征在于:所述光接口模块的接收单元还包括用于输出特定波长光信号是否存在的光信号监测端口，当光接口模块的接收单元处于供电状态时，如果外界有特定波长光信号输入所述接收单元，所述接收单元会监测到光信号，并在光信号监测端口给出高电平指示，否则在光信号监测端口给出低电平指示。3.根据权利要求1或2所述的一种智能变电站测试设备光接口供电控制装置，其特征在于:所述外部CPU的第一 I/O端口和第二 I/O端口为所述外部CPU的I/O控制引脚中的任意一组。4.根据权利要求3所述的一种智能变电站测试设备光接口供电控制装置，其特征在于:所述外部CPU的第一 I/O端口和第二 I/O端口为不同端口。5.根据权利要求4所述的一种智能变电站测试设备光接口供电控制装置，其特征在于:所述MOS管Ql和MOS管Q2为P沟道MOS管。6.一种使用权利要求1-5中任一项所述的智能变电站测试设备光接口供电控制装置的控制方法，其特征在于: 当所述智能变电站测试设备光接口进行数据发送时，外部CPU驱动MOS管Ql的栅极至低电平，MOS管Ql的漏极连接至光接口模块发送单元供电端口，电源管理模块为光接口模块的发送单元供电； 当所述智能变电站测试设备光接口进行数据接收时，外部CPU每秒驱动MOS管Q2的栅极至低电平并保持100毫秒，MOS管Q2的漏极连接至光接口模块接收单元供电端口，电源管理模块为光接口模块的接收单元短时供电，同时检测所述光接口模块光信号监测端是否为高电平，若为高电平则表示有光信号输入，此时将MOS管Q2的栅极持续保持为低电平，光接口模块的接收单元被持续供电，否则光接口模块的接收单元保持短时供电。7.根据权利要求6所述的控制方法，其特征在于:当所述智能变电站测试设备光接口数据发送完成后，外部CPU驱动MOS管Ql的栅极至高电平，电源管理模块停止为光接口模块的发送单元供电。8.根据权利要求6所述的控制方法，其特征在于:当光接口模块的接收单元未接收外界光信号时，则光信号监测端口变为低电平，外部CPU每秒驱动MOS管Q2的栅极至低电平并保持100毫秒，为光接口模块的接收单元进行短时供电。9.一种智能变电站测试设备光接口供电控制装置，其特征在于:包括光接口模块、电源模块和外部CPU;其中， 所述光接口模块包括发送单元和接收单元； 所述电源模块分别通过第一开关电路和第二开关电路为所述发送单元和所述接收单元供电； 所述外部CPU根据需要控制第一开关电路和第二开关电路的接通或断开。
【专利摘要】本发明涉及一种智能变电站测试设备光接口供电控制装置与方法，包括光接口模块、电源模块、MOS管和外部CPU。光接口模块监测特定波长的光信号有无，接收特定波长光信号数据后转换为电信号数据，并将本地电信号转换为特定波长的光信号输出；电源模块为光接口模块正常工作提供稳定可靠的电源；外部CPU控制MOS管导通或关断来接通或断开光接口模块发送单元、接收单元电源。本发明用于智能变电站测试设备光接口供电控制，对于具有多个光接口的测试设备，特别是具有多个光接口并采用电池供电的测试设备，能显著降低设备功耗和发热量，延长设备工作时间，降低设备散热处理成本，特别适合智能变电站手持式测试设备的光接口供电控制。
【IPC分类】H04B10/40, G01R31/00
【公开号】CN105024759
【申请号】CN201410174221
【发明人】石猛, 邓星星, 孙祥波, 杨经超, 李岩, 罗建平
【申请人】武汉凯默电气有限公司
【公开日】2015年11月4日
【申请日】2014年4月28日