_2、标靶7_3。所述固定筒7-1沿周向设置两条靶缝，所述半月靶7-2和标靶7-3设置于靶缝中，且标靶7-3上的圆形通光孔在半月靶7-2上的投影与半圆形通光孔圆心重合。结合图4(b)，所述标靶7-3为一薄板，其表面设置圆形通光孔，通光孔上覆盖有一带圆形刻度环的透光薄片。结合图4(c)，所述半月靶7-2为一薄板，其表面设置一半圆形通光孔。半月靶7-2会使得接收到的图像一半亮，一半暗，从而能可以起到产生噪声的作用。靶标7-3的主要作用就是会使得圆形图像全部为亮的，从而接收到完全的信号的作用。半月靶7-2和靶标7-3联合适用就可以提供信噪比一定的平行光。
[0021]结合图5，所述透镜调焦机构9包括后板9-1、套筒9-2、底座9_6、传动装置、第一镜头9-101、第二镜头9-102。底座9-6固定于套筒前端且与靶标机构7连接，底座9_6设置入光孔；后板9-1固定于套筒后端且与测试暗箱10入光孔连接，后板9-1设置出光孔；第一镜头9-101设置于底座9-6入光孔处；第二镜头9-102设置于后板9_1出光口处；所述第一镜头的圆心在第二镜头上的投影与第二镜头圆心重合；传动装置调节第二镜头9-102成像位置。所述传动装置包括小齿轮9-3、齿轮轴9-4、锥齿轮轴9-7、锥齿轮组9-8。小齿轮9-3与第二镜头上的齿轮9-12啮合，齿轮轴9-4驱动小齿轮9-3旋转，锥齿轮轴9_7设置于套筒9-2外部，及锥齿轮组9-8连接锥齿轮轴9-7和齿轮轴9-4。底座9_6和前板9_1通过三个支柱9-11连接，一对镜头分别通过镜头固定环9-9固定在底座9-6和前板9-1上。两对轴承9-5分别支撑齿轮轴9-4和锥齿轮轴9-7。套筒9-2套在底座9-6上密封装置。本发明中两个镜头均为Canon EF 50mm f/1.4USM镜头。
[0022]所述测试暗箱中设置夹具11，用于用来安装被测像增强器。为了方便整个装置可以在二维平面上移动，设置导轨13，所述测试暗箱10、透镜调焦机构9、积分球6设置于导轨13上。为方便测试暗箱10沿垂直于导轨13延伸方向移动，将测试暗箱10设置于一二维调节台12上，该二维调节台12设置于导轨13上。
【主权项】
1.一种低照度CMOS信噪比测试装置，包括测试暗箱(10)和与测试暗箱(10)前端连接的积分球￠)，积分球(6)设有两个入光孔，其特征在于，还包括:两个光源，连接第一光源和积分球(6)第一入光孔的第一双光阑机构，一前置积分球(5)，连接第二光源和前置积分球(5)入光孔的第二双光阑机构，连接前置积分球(5)出光孔和积分球(6)第二入光孔的单光阑调节机构(3)，设置于测试暗箱入射孔处的透镜调焦机构(9)，连接透镜调焦机构(9)和积分球￠)出光孔的靶标机构(7)，及设置于测试暗箱(10)后侧光路上的CMOS探测面；所述前置积分球(5)的尺寸小于积分球(6)。2.根据权利要求1所述的低照度CMOS信噪比测试装置，其特征在于，所述双光阑机构包括与光源连接的右端盖(2-1)、隔板(2-4)、与积分球(6)或前置积分球(5)入光孔连接的左端盖(2-3)、两光阑；所述右端盖(2-1)、隔板(2-4)、左端盖(2-3)组成一光路通道；所述右端盖(2-1)与隔板(2-4)之间，左端盖(2-3)与隔板(2-4)之间设有光阑缝隙，两光阑分别置于两光阑缝隙中；所述右端盖(2-1)、隔板(2-4)、左端盖(2-3)、两光阑通过长螺钉(2-2)连接。3.根据权利要求1所述的低照度CMOS信噪比测试装置，其特征在于，所述单光阑调节机构(3)包括与前置积分球(5)出光孔连接的右端盖(3-1)、与积分球(6)入光孔连接的左端盖(3-5)、光阑(3-4)、调节环(3-2);所述右端盖(3-1)、左端盖(3-5)组成一光路通道；所述右端盖(3-1)、左端盖(3-5)之间设有光阑缝隙，光阑(3-4)置于光阑缝隙中；所述调节环(3-2)位于光阑缝隙中且沿光阑(3-4)周向设置，且与调节光阑通光孔的手柄固定连接；所述右端盖(3-1)、左端盖(3-5)、光阑(3-4)通过螺钉(3-3)连接。4.根据权利要求1所述的低照度CMOS信噪比测试装置，其特征在于，所述靶标机构(7)包括固定筒(7-1)、半月靶(7-2)、标靶(7-3);所述标靶(7-3)为一薄板，其表面设置圆形通光孔，通光孔上覆盖有一带圆形刻度环的透光薄片；所述半月靶(7-2)为一薄板，其表面设置一半圆形通光孔；所述固定筒(7-1)沿周向设置两条靶缝，所述半月靶(7-2)和标靶(7-3)设置于靶缝中，且标靶(7-3)上的圆形通光孔在半月靶(7-2)上的投影与半圆形通光孔圆心重合。5.根据权利要求1所述的低照度CMOS信噪比测试装置，其特征在于，所述透镜调焦机构(9)包括:一套筒(9-2)，固定于套筒前端且与靶标机构(7)连接的底座(9-6)，底座(9-6)设置入光孔，固定于套筒后端且与测试暗箱(10)入光孔连接的后板(9-1)，后板(9-1)设置出光孔，设置于底座(9-6)入光孔处的第一镜头(9-101)，设置于后板(9-1)出光口处的第二镜头(9-102)，及调节第二镜头(9-102)成像位置的传动装置；所述第一镜头的圆心在第二镜头上的投影与第二镜头圆心重合；所述传动装置包括:与第二镜头上的齿轮啮合的小齿轮(9-3)，驱动小齿轮(9-3)旋转的齿轮轴(9-4)，设置于套筒(9-2)外部的锥齿轮轴(9-7)，及连接锥齿轮轴(9-7)和齿轮轴(9-4)的锥齿轮组(9-8)。
【专利摘要】本发明提供一种低照度CMOS信噪比测试装置包括测试暗箱和与测试暗箱前端连接的积分球，积分球设有两个入光孔，还包括两个光源，连接第一光源和积分球第一入光孔的第一双光阑机构，一前置积分球，连接第二光源和前置积分球入光孔的第二双光阑机构，连接前置积分球出光孔和积分球第二入光孔的单光阑调节机构，设置于测试暗箱入射孔处的透镜调焦机构，连接透镜调焦机构和积分球出光孔的靶标机构，及设置于测试暗箱后侧光路上的CMOS探测面；所述前置积分球的尺寸小于积分球。
【IPC分类】H04N17/00
【公开号】CN105407347
【申请号】CN201510732802
【发明人】邱亚峰, 麻文龙, 钱芸生, 刘涛, 宋诚鑫
【申请人】南京理工大学
【公开日】2016年3月16日
【申请日】2015年10月30日