一种光纤链路检测方法、通信光路测试器及系统的制作方法
【技术领域】
[0001] 本发明属于光纤链路检测领域，尤其设及一种光纤链路检测方法、通信光路测试 器及系统。
【背景技术】
[0002] 降低割接维护成本是所有光纤割接的梦想，为满足持续增长带宽需求，光纤已逐 渐入户，大幅提高了网络性能，但对于割接维护公司来说，更重要的是降低割接及维护成本 W增加施工收入，为满足日益增长的带宽需求并增加收入，施工维护必须大量雇佣新技术 人员，并使许多技术人员从原先的铜缆测试向光纤测试过渡，但要运样做，施工维护成本必 须承担很高成本，主要有两个原因：W前从事铜缆测试的技术人员缺乏光纤测试知识，因此 需要增加他们的培训；富有经验、能够高效测试并诊断光纤故障的技术人员严重不足；另 夕h由于需要测试的光纤比较多，所W很可能有些光纤的诊断或鉴定出错，导致开通和故障 诊断失败，增加重返现场次数，最终增加割接维护成本。
[0003] 使用光时域反射仪0TDR测试光链路时，平均重返现场率为5%-10%，运主要是因 为有些光纤鉴定有误或没有诊断，可通过优化测试来最大程度地减少重返现场的次数，理 论上，可指派经验丰富的技术人员完成任务来实现运一目的。原有0TDR的光纤割接测试步 骤为：a)选择1310nm测试波长；b)选择auto模式测量；。）1.3山，5113，153设置下测试；(1) 1.3km，10ns，15s 设置下测试；e) 2.5km 距离下分别用30ns，50ns，100ns，275ns，500ns 进行测 试。
[0004] 如图1所示，包括第一连接器、中间链路器件、分光器;其中，所述第一连接器通过 所述中间链路器件与所述分光器连接;使用5ns至10ns宽的脉冲，有经验的技术人员可鉴定 第一个连接器并识别直至分光器的所有链路器件（即中间链路器件）；接下来，通过使用较 宽的脉冲(大于10ns)，技术人员测量分光器处的损耗来验证其是否在可接受的范围内。
[0005] 如图2所示，包括分光器A和分光器B，使用较宽的脉冲（大于10ns脉冲），有经验的 技术人员可鉴定分光器A和分光器B之间的区域;技术人员需要重复该步骤来发现用来测量 分光器损耗的最佳脉冲，利用测试出来的某一宽度的最佳脉冲来完成测试。
[0006] 如图3所示，包括第一连接器、中间链路器件、分光器1、分光器2···分光器η;使用足 够动态范围的脉冲(例如:5化S至50化S脉冲），有经验的技术人员能够测量端对端(第一连 接器至分光器η损耗），该测试会提供3-4个未合并的0TDR曲线，技术人员需要花费很多时间 来比较采用不同宽度脉冲获得的测试结果，W便判断哪个脉冲可为某个光纤段和事件提供 最佳的测试结果。此外，如果最后必须提供报告，还需要花费更多时间从不同的曲线中提取 信息，然后将信息输入到定制的报告模板中，整个过程可能需要5-10分钟的时间。
[0007] 为了检测宏弯，还必须采用另一个波长（如1310nm或1550nm)来重复测试，W便比 较各个事件在两个波长上的损耗。
[000引上述方案均需要经验丰富的技术人员和足够的时间，而运些一方面造成测试效率 的降低，另一方面也给割接维护公司带来了成本提升。
【发明内容】
[0009] 本发明提供一种光纤链路检测方法、通信光路测试器及系统，W解决上述问题。
[0010] 本发明提供一种光纤链路检测方法，上述方法包括W下步骤：
[0011] 预先将光纤网络划分为多个部分并为每一部分光纤网络匹配对应的测试脉冲；
[0012] 按照预设测试波长，对每一部分光纤网络，采用对应的测试脉冲进行测试，获取测 试结果。
[0013] 本发明还提供一种通信光路测试器，包括划分模块、匹配模块、测试模块;其中，所 述划分模块通过所述匹配模块与所述测试模块相连；
[0014] 所述划分模块，用于预先将光纤网络划分为多个部分并将划分结果发送至所述匹 配模块；
[0015] 所述匹配模块，用于为每一部分光纤网络匹配对应的测试脉冲并将匹配结果发送 至所述测试模块；
[0016] 所述测试模块，用于按照预设测试波长，对每一部分光纤网络，采用对应的测试脉 冲进行测试，获取测试结果。
[0017] 本发明还提供一种光纤链路检测系统，上述系统包括配置管理器、通信光路测试 器、光链路测试显示器、存储器;其中，所述配置管理器通过所述通信光路测试器与所述光 链路测试显示器相连;所述通信光路测试器通过所述光链路测试显示器与所述存储器相 连；
[0018] 所述配置管理器，用于预先将光纤网络划分为多个部分并将划分结果发送至通信 光路测试器；
[0019] 所述通信光路测试器，用于为每一部分光纤网络匹配对应的测试脉冲；还用于按 照预设测试波长，对每一部分光纤网络，采用对应的测试脉冲进行测试，获取测试结果并将 所述测试结果发送至光链路测试显示器；
[0020] 所述光链路测试显示器，用于显示所述测试结果并将所述测试结果发送至存储器 中进行存储；
[0021] 所述存储器，用于存储测试结果。
[0022] 本发明还提供一种光纤链路检测系统，上述系统包括配置管理器、通信光路测试 器、存储器;其中，所述配置管理器通过所述通信光路测试器与所述存储器相连；
[0023] 所述配置管理器，用于预先将光纤网络划分为多个部分并将划分结果发送至通信 光路测试器；
[0024] 所述通信光路测试器，用于为每一部分光纤网络匹配对应的测试脉冲；还用于按 照预设测试波长，对每一部分光纤网络，采用对应的测试脉冲进行测试，获取测试结果并显 示所述测试结果;还用于将所述测试结果发送至存储器中进行存储；
[0025] 所述存储器，用于存储所述测试结果。
[0026] 通过W下方案:预先将光纤网络划分为多个部分并为每一部分光纤网络匹配对应 的测试脉冲；按照预设测试波长，对每一部分光纤网络，采用对应的测试脉冲进行测试，获 取测试结果，能自动全面、准确地鉴定所有的链路器件，帮助避免割接的反复测试和故障诊 断错误，降低割接维护成本。
[0027] 通过W下方案:所述通信光路测试器将所述测试结果W光路视图形式通过所述通 信光路测试器中的光链路测试显示屏进行显示，方便用户对测试数据的管理，提高了测试 效率，大大提升了用户体验。
【附图说明】
[0028] 此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本申请的一部分，本发 明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：
[0029] 图1所示为现有技术方案一的光纤链路检测方法处理流程图；
[0030] 图2所示为现有技术方案二的光纤链路检测方法处理流程图；
[0031] 图3所示为现有技术方案Ξ的光纤链路检测方法处理流程图；
[0032] 图4所示为本发明实施例1的光纤链路检测方法处理流程图；
[0033] 图5所示为本发明实施例2的光纤链路检测方法处理流程图；
[0034] 图6所示为本发明通信光路测试器结构图；
[0035] 图7所示为本发明光纤链路检测系统结构图；
[0036] 图8所示为本发明又一光纤链路检测系统结构图。
【具体实施方式】
[0037] 下文中将参考附图并结合实施例来详细说明本发明。需要说明的是，在不冲突的 情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可W相互组合。
[0038] 图4所示为本发明实施例1的光纤链路检测方法处理流程图，包括W下步骤：
[0039] 步骤401:通信光路测试器预先将光纤网络划分为多个部分；
[0040] 例如:通信光路测试器预先将光纤网络划分为两部分，第一部分为第一连接器、中 间链路器件、分光器1;第二部分为分光器1、分光器2···分光器η。
[0041] 步骤402:通信光路测试器为每一部分光纤网络匹配对应的测试脉冲；
[0042] 所述通信光路测试器存储光纤网络区段与最佳测试脉冲对照表，如表1所示：
[0043]
[0044] 表 1
[0045] 表1中的光纤网络区段根据实际情况可W灵活划分，对应的最佳测试脉冲对照光 纤网络区段的变更，也可W进行适应性调整，在此不用于限定本发明的保护范围。
[0046] 步骤403:所述通信光路测试器按照预设测试波长，对每一部分光纤网络，采用对 应的测试脉冲进行测试，获取测试结果。
[0047] 预设测试波长(例如：1310nm)根据实际情况进行灵活确定，在此不用于限定本发 明的保护范围。
[0048] 所述测试结果包括被识别器件损耗、被识别器件反射系数。
[0049] 所述测试结果还包括被识别器件未通过测试的判断结果或者链路本身未通过测 试的判断结果。
[0050]所述被识别器件包括:烙接点、连接器、分光器。
[0051 ]所述测试结果还包括链路损耗、光回损。
[0052] 步骤404:所述通信光路测试器将所述测试结果W光路视图形式通过所述通信光 路测试器中的光链路测试显示屏进行显示。
[0053] 步骤405:所述通信光路测试器将所述测试结果通过光链路测试显示屏USB接口， 上传至存储器中进行存储。
[0054] 图5所示为本发明实施例2的光纤链路检测方法处理流程图，包括W下步骤：
[0055] 步骤501:配置管理器预先将光纤网络划分为多个部分并将划分结果发送至通信 光路测试器；