一种新型光进光出误码率测试设备的制造方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种新型光进光出误码率测试设备。
【背景技术】
[0002]现有BERT比特误码率测试仪:通过电口回环(即电口接收、发送功能)；由电口发送和电口接收两部分组成；BERT发送部分的测试码发生器产生一个已知的测试码型后由电口发送到标准光源的电口接收端，接收信号电光转换后通过光口发送到被测(DUT)系统的光口接收端，DUT被测系统接收光信号进行光电转换后通过电口发送到BERT电口接收，BERT误码率测试仪的接收部分解码并从接收信号中得到同步时钟。
[0003]BERT接收部分的测试码发生器产生和发送部分相同，并且同步数字序列和对接收的收据进行检测，并与数据源对比；得出接收的比特总数和接收的错误比特数，由微处理器计算出误码率BER=错误比特数/比特总数，然后记录存储，分析、显示测试结果；如图1所不O
[0004]上述BERT比特误码率测试设备缺点如下:
[0005]UfSBERT比特误码率测试设备不能通过光口回环(即光口接收、光口发送)；必须通过电口回环(即电口接收、发送功能)才能实现误码测试功能；
[0006]2 JfSBERT比特误码率测试设备从客户应用角度，如果客户的DUT无电口输出，将无法实现误码率的测试功能；
[0007]3、传统BERT比特误码率测试设备的光口接收、光口发送，实际上只能作为I个标准光源，或者自环测试用，自环测试是针对BERT本身测试，实际不可取。
【实用新型内容】
[0008]本实用新型的目的在于提供一种新型光进光出误码率测试设备，解决现有技术实现光口接收、发送的问题。
[0009]为了实现上述目的，本实用新型采用的技术方案如下:
[0010]一种新型光进光出误码率测试设备，包括信号发送与分析模块、光电转换模块、时钟模块、MUC控制器、光接收口、光发送口、电口 RX、电口 TX、时钟输出口和通信接口 ；
[0011]其中，MCU控制器、光电转换模块、时钟模块、电口 RX和电口 TX均分别与信号发送与分析模块相连；
[0012]光接收口和光发送口均分别与光电转换模块相连；
[0013]时钟输出口与时钟模块相连，通信接口与MCU控制器相连。
[0014]所述信号发送与分析模块是用于发送信号和接收信号，并对接收数据进行检测，同时与数据源对比，得出接收的比特总数和接收的错误比特数，由微处理器计算出误码率BER=错误比特数/比特总数，然后记录储存，分析、显示测试结果；
[0015]所述光电转换模块是用于光电信号的转换工作；所述时钟模块是用于产生参考时钟；所述MUC控制器是用于负责控制输入输出信号；所述通信接口是用于将本实用新型与外部计算机及控制设备进行数据交换的。
[0016]本实用新型与现有技术相比，具有以下优点及有益效果:
[0017]本实用新型的光进光出模式与电进电出模式可独立使用，用户可根据自身需求选择使用光回环(光进光出模式)测试误码率，无需再连接电口模式；也可选择电回环(电口输入输出模式)测试误码率；故而本实用新型能够满足只有光口的DUT被测系统，更加实用。本实用新型光模块的测试平台搭建更简单，用户使用成本更低、更方便。
【附图说明】
[0018]图1为传统的BERT比特误码率测试设备使用时的系统框图。
[0019]图2为本实用新型的系统框图。
[0020]图3为本实用新型使用时的系统框图。
[0021]图4为本实用新型中发送与分析模块电路原理图。
【具体实施方式】
[0022]下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步说明，本实用新型的实施方式包括但不限于下列实施例。
实施例
[0023]如图2、3所示，一种新型光进光出误码率测试设备，包括信号发送与分析模块、光电转换模块、时钟模块、MUC控制器、光接收口、光发送口、电口 RX、电口 TX、时钟输出口和通信接口 ；
[0024]其中，MCU控制器、光电转换模块、时钟模块、电口 RX和电口 TX均分别与信号发送与分析模块相连；
[0025]光接收口和光发送口均分别与光电转换模块相连；
[0026]时钟输出口与时钟模块相连，通信接口与MCU控制器相连。
[0027]本实用新型的光接收口，主要负责接收来自DUT光信号；
[0028]光发送口，主要负责发射光信号给DUT ;
[0029]光电转换模块，主要负责光电信号的转换工作；
[0030]MCU控制器，主要负责控制输入输出信号；
[0031]时钟模块，主要负责产生参考时钟；
[0032]通信接口，主要负责与外部计算机及控制设备的数据交换；
[0033]电口 RX，主要负责接收来自DUT的电信号；
[0034]电口 TX，主要负责发射电信号到被测设备DUT的电口端；
[0035]时钟接口，主要负责向外部提供时钟输出；
[0036]信号发送与分析模块，主要起发射和接收功能，信号发送与分析模块产生一个已知的测试码型后传送到光电转换模块进行光电转换后传送到光发送口，再发送到被测(DUT)系统的光接收口 ；经过被测(DUT)系统处理后，由其光发送口发射输出到本申请的光接收口后经过光电转换模块转换，将信号发送至信号发送与分析模块中，此时信号发送与分析模块在接收信号中会得到同步时钟；随后信号发送与分析模块会产生和发送相同，并且同步数字序列，和对接收的数据进行检测，并与数据源对比；得出接收的比特总数和接收的错误比特数，由微处理器计算出误码率BER=错误比特数/比特总数，然后记录存储，分析、显示测试结果。
[0037]值得说明的是，本实用新型是在原有的误码率测试设备中增加了一个光进光出的设备，而未对其他现有器件进行改变；也就是说原有的工作原理并没有变化，只是增加了光进光出模式；从而使得本实用新型能够既能采用电口输入输出模式，又能采用光进光出模式；使用者可根据自己实际情况，进行光电混合模式的切换，操作极其简单，而且本实用新型无需像传统设备一样借助光口回环才能实现对只有光接口的DUT进行测试。
[0038]然而本实用新型的限号发送与分析模块的电路原理图如图4所示，可以清楚的了解到本实用新型的改进后的电路原理，与现有技术存在本质区别，新增的光发送口和光接收口则是本实用新型的创新点。图4上方中间为SFP光收发模块，下方左边为BERT电口收端输入，下方中间为SFP光收发模块电口收端输出，下方右边为SFP光收发模块电口发端输入。
[0039]按照上述实施例，便可很好地实现本实用新型。值得说明的是，基于上述结构设计的前提下，为解决同样的技术问题，即使在本实用新型上做出的一些无实质性的改动或润色，所采用的技术方案的实质仍然与本实用新型一样，故其也应当在本实用新型的保护范围内。
【主权项】
1.一种新型光进光出误码率测试设备，其特征在于，包括信号发送与分析模块、光电转换模块、时钟模块、MUC控制器、光接收口、光发送口、电口 RX、电口 TX、时钟输出口和通信接P ; 其中，MCU控制器、光电转换模块、时钟模块、电口 RX和电口 TX均分别与信号发送与分析模块相连； 光接收口和光发送口均分别与光电转换模块相连； 时钟输出口与时钟模块相连，通信接口与MCU控制器相连； 所述信号发送与分析模块包括SFP光收发模块、BERT电口收端输入模块、SFP光收发模块电口收端输出模块、SFP光收发模块电口发端输入模块。
【专利摘要】本实用新型公开了一种新型光进光出误码率测试设备，解决现有技术实现光口接收、发送的问题。本实用新型包括信号发送与分析模块、光电转换模块、时钟模块、MUC控制器、光接收口、光发送口、电口RX、电口TX、时钟输出口和通信接口；本实用新型既能采用电口输入输出模式，又能采用光进光出模式；使用者可根据自己实际情况，进行光电混合模式的切换，操作极其简单。
【IPC分类】H04B10-079
【公开号】CN204392254
【申请号】CN201420524544
【发明人】朱朝军, 向刚, 史玉栓
【申请人】成都瑞索高创光电技术有限公司
【公开日】2015年6月10日
【申请日】2014年9月12日