X射线照相设备和旋转平面的布置方法

专利名称：X射线照相设备和旋转平面的布置方法
技术领域：
本发明涉及X射线照相设备和调整显示断层摄影图像的X射线计算机 断层摄影(CT)系统中的X射线管和准直器之间的位置的调整方法。
背景技术：
为了在X射线照相设备(例如X射线CT系统)中采集受检者的每个 正确的切片位置的断层摄影图像，应当在CT扫描开始之前将受检者准确定 位。因而，无论什么时候替换和新安装X射线管，都应当确定由台架中X 射线的旋转所形成的旋转平面(POR)。
为了确定旋转平面，将模型放置在托架上，并且将射线照相胶片安装 在模型上。然后，X射线从X射线管穿过准直器照射。在射线照相胶片曝 光之后，基于该曝光状态识别旋转平面。 一旦知道了旋转平面，通过移动 X射线管和准直器中的至少一个，识别正确的切片位置，该X射线管和准 直器中至少一个的移动是基于X射线管和准直器之间的位置关系的结果。 迄今为止提出的相关技术在例如2001-346793A中公开。

发明内容
上面的现有技术必须要花费时间并且麻烦，因为其不得不对附于模型 上的射线照相胶片进行显影。
因此，本发明的一个目的在于X射线照相设备装置，和使用X射线探 测器而不使用射线照相胶片对旋转平面进行确定和调整的调整方法。
在本发明的第一个方面，提供的X射线照相设备包括用于X射线管 位置检查的X射线探测器，其分别在两个或更多个不同的距离处检测来自 X射线管穿过准直器的X射线；计算装置，用于利用分别在两个或更多个 不同的距离处检测出的X射线检测位置的差别，计算X射线管的位置间隙 量；以及调整装置，用于基于由计算装置计算出的X射线管的位置间隙量，
对X射线管的位置间隙量进^H周整。
符合本发明第一方面的X射线照相设备，可以利用分别在两个或更多 个不同的距离处检测出的X射线检测位置的差别，计算X射线管的位置间
隙量。并且，其可基于该x射线管的位置间隙量，对X射线管进行调整。
「大〕此，该第一方面可以减少调整时间，并进行准确测量。
在本发明的第二方面，通过将X射线管放置成跨过用于X射线管位置 检测的X射线探测器180度相对，X射线照相设备分别在两个或更多个不 同的距离处检测来自X射线管穿过准直器的X射线。
符合本发明第二方面的X射线照相设备通过将X射线管放置成跨过用 于X射线管位置检测的X射线探测器180度相对，能确保两个或更多个不 同的距离。
在本发明的第三方面，通过移动用于对X射线管的X射线管位置进行 检测的X射线探测器，X射线照相设备分别在两个或多个不同的距离处检 测从X射线管照射出的穿过准直器的X射线。
符合本发明第三方面的x射线照相设备通过移动用于对X射线管的X 射线管位置进行检测的x射线探测器，能确保两个或多个不同的距离。
在本发明的第四方面，x射线照相设备具有用于获得受检者身体的断 层摄影图像的X射线CT单元，该X射线CT单元提供第一 X射线管、放 置在第一X射线管对侧的第一X射线探测器、转子装置以及准直器，该第 一 X射线探测器用于检测从第一 X射线管辐射的X射线，该转子装置用于 在保持第一 x射线管和第一 X射线探测器之间的位置关系的情况下围绕受
检者身体旋转，并且该准直器具有限定照射到第一 x射线探测器上的X射
线范围的开口；用于获得受检者身体的射线照相图像的X射线CR单元， 该X射线CR单元提供第二 X射线管，和跨过受检者放置在第二 X射线管 对侧的第二 X射线探测器，该第二 X射线探测器用于检测从第二 X射线管
辐射的X射线。此外，其位置间隙被调整的X射线管为第一X射线管；用 于X射线管位置检测的X射线探测器为第二 X射线探测器；并且调整装置
通过X射线CT单元的转子装置调整旋转平面的位置间隙。
符合本发明第四方面的X射线照相设备具有X射线CT单元和X射线 CR单元，并且其可通过X射线CR单元的第二 X射线探测器调整X射线
CT的第一 X射线管的旋转平面的位置间隙。不用准备另一 X射线探测器 和使用射线照相胶片，就可以对X射线CT单元的第一 X射线管进行调整。
在本发明的第五方面，本发明的用于X射线管位置检测的X射线探测 器定位在躺有受检者身体的托架的内部。
根据符合本发明第五方面的X射线照相设备，由于使用X射线CR单 元的X射线探测器，不用准备特殊的X射线探测器，从而可以减少成本。
在本发明的第六方面，提供一种用于调整旋转平面位置的调整方法， 其包括步骤用定位在第一位置的X射线探测器检测来自X射线管的第一
X射线的范围；将X射线管从第一位置移动到不同于第一位置的第二位置;
用定位在第二位置的x射线探测器检测来自X射线管的第二 X射线的范
围；以及基于由第一 X射线和第二 X射线的检测范围计算X射线管和准直
器的调整量。
符合本发明第六方面的调整方法可以用X射线探测器电学调整旋转平 面，而不使用射线照相胶片。该方法可减少用于调整旋转平面的时间，此 外，由于对人眼来说确认X射线光量的差别是很困难的，现有技术不能准 确测量射线照相胶片，但是第六方面的这种方法可以通过电学测量对其进
行准确测量。
在本发明的第七方面，在旋转平面的调整方法中，第一位置和第二位 置放置成跨过X射线探测器180度相对。
第七方面的调整方法由于第一位置和第二位置放置成180度相对，所 以通过简单地操作便可处理数据。
在第八方面，对于该调整方法，调整量计算步骤通过仅计算第二 X射 线的检测范围宽度来计算调整量。
符合本发明第七方面的调整方法可基于第一 X射线的检测范围和第二 X射线的检测范围的交叠范围之间的边界线，计算出检测范围的宽度，并 且检测范围宽度仅由第二 X射线而得，并且可以基于其他已知的距离计算 出X射线管的旋转平面的误差或间隙。该误差应当被认为是调整量。
在第九方面，提供一种用于调整旋转平面位置的调整方法，其包括步 骤将X射线探测器放置在X射线管的X射线辐射方向上的第三位置；用
放置在第三位置的X射线探测器检测来自X射线管的第三X射线的范围；
将X射线探测器移动到不同于第三位置的辐射方向上的第四位置；用放置 在第四位置的X射线探测器检测来自X射线管的第四X射线的范围；以及
基于第三X射线和第四X射线的检测范围计算X射线管和准直器的调整
且 里。
符合本发明第九方面的调整方法可以用x射线探测器电学调整旋转平 面，而不使用射线照相胶片。此时，不用围绕x射线管旋转便可得到调整。
在本发明的调整方法的第十方面，x射线探测器定位在躺有受检者身
体的托架内部。
符合本发明的第三方面的用于调整旋转平面位置的调整方法可以减少
成本，例如，可以使用用于CR摄影的X射线探测器，来代替准备特殊的 X射线探测器。
在第十一方面，对于该调整方法，调整量计算步骤通过仅计算第四X 射线的检测范围宽度来计算调整量。
符合本发明第十一方面的调整方法可基于第三X射线的检测范围和第 四X射线的检测范围的交叠范围之间的边界线，计算出检测范围的宽度， 并且检测范围宽度仅由第四x射线而得，并且可基于其他已知的距离计算 X射线管的旋转平面的误差或间隙。该误差应当被认为是调整量。
在本发明调整方法的第十二方面，该方法进一步包括基于调整量移动
x射线管的步骤。
符合本发明的第十二方面的调整方法可以移动X射线管，并可以将旋
转平面放置到准直器的中心上。
在本发明调整方法的第十三方面，旋转平面的调整方法在X射线管被 初次安装或x射线管被替换时进行。
符合本发明第十三方面的调整方法可以减少更换X射线管的成本，因 为无论在什么时候更换x射线管，都可以在短时间内容易地调整旋转平面。
根据本发明的X射线照相设备或者旋转平面的调整方法，本发明用X
射线探测器电学调整旋转平面，而不使用射线照相胶片。因此不需要显影 射线照相胶片，并且本发明可以自动得到调整量。


从下面参照附图对说明性的非限制性实施例的描述，本发明的上述方 面、其它优点和进一步的特点将变得更为明显，其中
图1为示出X射线混合诊断系统100的设置的透视图； 图2为表示X射线混合诊断系统100的框图3A-3C示出其内部结合有平板探测器70的托架117的结构；
图4A和4B为第一示范性实施例，其中图4A为从定位在0度位置的
X射线管125辐射X射线的图，图4B为从定位在180度位置的X射线管
125辐射X射线的图5为根据第一示范性实施例得到阈值内误差DF的流程图6A示出由平板探测器70检测出的X射线量，图6B为根据第一示
范性实施例获得误差DF的概念图7为第二示范性实施例，其示出从定位在0度位置的X射线管125
辐射出的X射线；
图8为根据第二示范性实施例得到阈值内误差DF的流程图； 图9为根据第二示范性实施例获得误差DF的概念图； 图10示出第二平板探测器80。
具体实施方式
〈X射线混合诊断系统的一般布置〉
图1为示出根据本发明第一示范性实施例的X射线混合诊断系统100 的一般布置的透视图。该系统通常包括操作控制台50、台架101、 X射线 电源121和CR单元103。台架101是适于采集X射线投影数据以获得受 检者的断层摄影图像的计算机断层摄影或CT单元。CR单元103是适于获 得受检者的X射线照相图像的计算机射线照相单元(数字X射线成像器)。 操作控制台50适于基于从台架101发送的数据重建受检者的X射线断层摄 影图像并显示该X射线断层摄影图像。操作控制台50还适于基于从平板探 测器(在图2中用70表示)发送的数据显示X射线照相图像。当受检者以 卧位躺在其上时，托架117是可移动的；CR单元103置于托架117的一侧。
图2为表示根据本发明的一个示范性实施例的X射线混合诊断系统100
的布置的框图。台架101和CR单元103与CR & CT控制单元140以及各 种将在以后描述的其它装置通信性地耦合，并构造成在CR & CT控制单元 140的控制下操作。
在台架101内设有用于产生X射线的X射线管125，与X射线管125 相连的X射线管控制器123，用于限定X射线照射范围的准直器126，与 准直器126相连的用于调整准直器开口 (狭缝或孔)的尺寸的控制电机114， 以及准直器驱动器115。已穿过准直器126的X射线形成X射线扇形束(所 谓的"扇束")。
在台架101内还设有X射线探测单元133，其包括多排探测通道，每 排探测通道具有多个探测器。每个探测器具有取决于扇形角(通常为60°左 右)的长度。探测通道在沿Z-轴方向的方向(元件方向)上排列。X射线 探测单元133例如由组合形式使用的闪烁体和光电二极管构成。
台架101包括至少一个数据采集单元或DAS (代表数据采集系统)135， 其从探测通道输出采集投影数据。数据采集单元135的数目可以是一个或 多个(例如，四个，八个，十六个或三十二个)，且每个数据采集单元135 都与X射线探测单元133相连。例如，包括四个数据采集单元135的台架 101，其通常称为"4DAS"，包括在元件方向上排列成四排的探测通道，并 可在X射线管125的一个旋转周期中获得四个切片图像。X射线管125和 X射线探测单元133置于台架101的相对位置处，从而在X射线管125和 X射线探测单元133之间留出用于容纳受检者的中空空间。X射线管125 和X射线探测单元133附连到台架转子130上，从而X射线管125和X射 线探测单元133在保持彼此相对位置的同时绕受检者旋转。台架旋转电机 131和台架旋转电机驱动器132与台架转子130相连，且台架转子130由台 架旋转电机驱动器132调节从而在大约0.3秒到大约1.0秒旋转一次。
CR单元103包括用于产生X射线的X射线管127和具有开口的准直 器126，该开口用于限定在X射线管127内产生的X射线的照射范围。X 射线管控制器123与X射线管127相连。在CR单元103内还设有适于接 收来自X射线管127的X射线的平板探测器70。
根据受检者身体或待进行射线照相的受检者身体部分的姿势(立位、 坐位、或卧位)，可通过六自由度对X射线管127和平板探测器70的位置
进行调整。为此目的，CR旋转电机138和CR旋转电机驱动器139与CR 单元103相连。
由托架电机112在受检者的身体轴线方向(即，Z-轴方向)上移动托 架107。托架电机112由托架电机驱动器113激励。
CT & CR控制单元140与操作控制台50通信性地耦合。响应于来自操 作控制台50的指令，各种控制信号发送到X射线管控制器123、托架电机 驱动器113和旋转电机驱动器132、以及准直器驱动器115等。由数据采集 单元135采集的数据发送到操作控制台50，在其中重建图像并显示断层摄 影图像。类似地，由平板探测器70获得的数据发送到操作控制台50，在其 中显示射线照相图像。
操作控制台50通常具体表现为工作站，如图2所示，其主要包括存储 引导程序等的ROM 52，用作主存储器的RAM 53和执行控制整个系统的 指令的CPU54。
在操作控制台50内设有5更盘驱动器或HDD 51，以不仅存储操作系统， 而且存储用于提供向台架l()l和CR单元103发出的,种指令和基于从平 板探测器70接收的数据显示射线照相图像的指令的图^处理程序，以及存 储基于从数据采集单元135接收的数据重建和显示X射线断层摄影图像的 图像处理程序。VRAM 55是一种要显示的图像数据在其内展开(deploy) 的存储器，也就是说，图像数据等可在VRAM55内展开，并从而在监视器 56上显示。操作者用键盘57和鼠标58进行各种操作和处理。
<托架结构>
图3A到3C示出托架117的结构。图3A为托架117的透视图。图3B 为示出托架117横截面的模型。图3C为沿图3B中的线C-C截取的断层摄 影视图。如图3A所示，托架117具有中空空间且由对X射线透明的材料 (如塑料)制成。在该中空空间内设有可沿Z轴双向(如箭头所指示)移 动的平板探测器70。托架117可在工作台上沿Z-轴方向移动，并可在Y-轴 方向上移动。
如图3B和3C所示，在托架117的中空空间内设有导轨77，从而平板 探测器70可在特定方向上平滑移动。导轨77由对X射线透明的硬塑料等 制成，从而导轨77不会在X射线CT扫描图像上投射出阴影。导轨77的
长度等于托架在Z-轴方向上的长度。在平板探测器70上设有对应于导轨77 的四个轮子75。在平板探测器70内设有驱动电机73以驱动轮子75。在平 板探测器70内的X-Z平面上设有二维板式传感器71 。该二维板式传感器71 包括例如闪烁体和传感器，如CCD传感器、MOS传感器或CMOS传感器。 当进行X射线CT扫描时，平板探测器70已移到面向+Z-轴方向的位于托 架117端部的縮回位置。因此，二维板式传感器71、驱动电机73和轮子75 可毫无问题地包括不完全对X射线透明的材料，如金属。
由塑料制成的透明窗口 78形成托架117顶板的一部分。这使得操作者 能够直观地核查平板探测器70实际所处的位置。透明窗口 78可优选设在 托架117顶板一侧的附近，从而即使当受检者以卧位躺在托架117上也能 核查平板探测器70的位置。在平板探测器70的顶表面上标记中心线，从 而可通过透明窗口 78看见沿Z-轴方向长度的二维板式传感器71的中心。
为向二维板式传感器71和驱动电机73供电，在平板探测器70和托架 117之间设有电缆(未示出)，以及同样在平板探测器70和托架117之间设 有信号线，信号通过该信号线从二维板式传感器71输出。如图3B和3C 所示，在该实施例中，驱动电机73布置在平板探测器70内，但也可选择 布置在托架117内。在托架117内还设有位置传感器79，如图3C所示， 该位置传感器79用于检测平板探测器70在托架117内(在Z-轴方向上) 的位置。在驱动电机73是步进电机等的实施例中，如果每次启动时平板探 测器70的位置被初始化，则平板探测器70的位置可被检测，从而就不需 要这种位置传感器79。
<检测X射线管和准直器中心之间的误差DF>
本发明对两个示范性实施例进行说明，作为调整X射线管125的旋转 平面的方法，这两个实施例检测X射线管125和一对准直器126的中心之 间的误差DF。
<第一示范性实施例>
图4A为从定位在0度位置的X射线管125辐射X射线的图，和图4B 为从定位在180度位置的X射线管125辐射X射线的图。托架117布置在 只沿Y轴方向从枢轴线ISO平移距离Yl的位置。并且将平板探测器70的
中心移至台架101的中央CL，以检测来自X射线管125的X射线。 图5为根据第一示范性实施例得到阈值内误差DF的流程图。 在步骤S61中，托架117移至一远处位置或离枢轴线ISO有距离Yl
的第一位置。进一步地，托架117移至台架101的中空部分，从而平板探
测器70可以移至台架101的中央CL。然后，将该平板探测器70移至台架
101的中央CL。
在步骤S62中，X射线管125定位在如图4A所示的0度位置。准直 器126调整到预定宽度，以便X射线进入平板检测器70在Z-轴方向上的 宽度。X射线管125辐射预定mA量的X射线。平板探测器70在二维表面 上检测X射线。检测到的X射线及其二维表面位置信息一起被发送至存储 装置，例如操作控制台50的RAM 53 。
接着，台架转子130由台架转动电机131转动，且X射线管125定位 在如图4B所示的180度位置。准直器126保持在所述预定宽度。然后，X 射线管125辐射预定mA量的X射线。平板探测器70在二维表面上检测X 射线。检测到的X射线及其二维表面位置信息一起被发送至存储装置，例 如操作控制台50的RAM 53。如果平板探测器70能临时保存X射线曝光 剂量，则在将当X射线管1:25定位在180度位置时的X射线量与当X射线 管125定位在0度位置时的X射线量相加之后，将X射线量发送至存储装 置，例如RAM53。
在步骤S63中，从RAM 53中采集基于X射线管125定位在0度和180 度位置时的X射线量的数据。实际上，CPU54仅计算数据，而不显示图像， 但是为了说明，图6A示出示范性的合成图像。
在步骤S64中，基于图6A的距离XR、距离XF等的结果计算X射线 管125的调整量。图6B说明了计算的具体方法。
在步骤S65中，CPU54判断X射线管125的调整量是否落入阈值。如 果该调整量落入阈值，结束该流程图的计算，而如果调整量没有落入阈值， 步骤移至步骤S66。
在步骤S66中，基于X射线管125的调整量，手动操作地移动X射 线管125。然后，再次重复步骤S62到步骤S66，直到调整量落入阈值。在 这个流程图中，通过移动X射线管125，调整旋转平面POR，然而旋转平 面POR也可以通过移动准直器126的初始位置进行调整。 接着，图6B说明步骤S64的操作。
一对准直器126的中心线为旋转平面POR。距离CO为一个准直器126 的一端与旋转平面POR之间的距离。检测平面在Y轴方向上与枢轴线ISO 相距距离Yl 。该检测平面为平板探测器70的闪烁体的平面。
X射线管125的辐射X射线的阳极的焦点F与旋转平面POR相距误差 DF。 X射线管125的距离Fl是X射线管125的焦点F和枢轴线ISO之间 的距离，以及距离FC是X射线管125的焦点F和准直器126之间的距离。 当X射线管125定位在0度位置时，X射线管125表示为F(0。)，当X射线 管125定位在180度位置时，X射线管125表示为F(180°)。
如图6A所示，当X射线管125定位在0度位置时和当X射线管125 定位在180度位置时，在平板探测器70的检测平面上提供输出。在检测平 面的图像中，白色BB'为在F(0。)和F(180。)上都照射X射线的范围，灰色XF 范围和灰色XR范围为在F(0。)上照射X射线的范围。黑色范围为未照射X 射线的范围。
在上面描述的关系下，下面的公式成立且能够确定误差DF。
XF =(( CO+DF) /FC) * ((FI+Y1) - (Fl-Y1)) XR =(( CQ-DF) /FC) * ((FI+Y1) - (Fl-Y1)) DF =( XF-XR" (FC/4* Y1)
由于确定了误差DF，所以有可能调整旋转平面POR以将X射线管125 移动作为调整量的DF。该示范性实施例描述了 X射线管125在0度位置和 180度位置，然而，有可能将X射线管125定位在面对的位置，例如，类 似在5度位置和185度位置。此时，应当计算平板探测器70的平面和X射 线管125之间的度数。
<第二示范性实施例>
图7示出从定位在0度位置的X射线管125辐射的X射线，托架117 定位在+Y轴方向上与枢轴线ISO相距Yl (以虚线表示的位置)的位置处 以及在-Y轴方向上与枢轴线ISO相距Y2的位置处。平板探测器70的中心 移至台架101的中央CL，以检测来自X射线管125的X射线。
图8为根据第二示范性实施例得到阈值内误差DF的流程图。
在步骤S91中，托架117移至与枢轴线ISO相距距离Yl的第一位置。 进-一步地，托架117移至台架101的中空部分，从而该平板探测器70能够 移到台架101的中央CL。然后，将平板探测器70移至台架101的中央CL。
在步骤S92中，X射线管125定位在0度位置。准直器126调整到预 定宽度，以便X射线进入平板探测器70在Z-轴方向上的宽度。X射线管125 辐射预定mA量的X射线。
在步骤S93中，平板探测器70在二维表面上检测X射线。检测到的X 射线及其二维表面位置信息一起发送至存储装置，例如操作控制台50的 RAM 53。
在步骤S94中，托架17移至与枢轴线ISO相距距离Y2的第二位置。 在步骤S95中，定位在0度位置的X射线管125辐射预定mA量的X射线。
在步骤S96中，平板探测器70在二维表面上检测X射线。所检测到的 X射线及其二维表面位置信息一起发送至存储装置，例如操作控制台50的 RAM 53。如果平板探测器70能临时保存X射线曝光剂量，在将当托架117 定位在第二位置时的X射线量与当托架117定位在第一位置时的X射线量 相加之后，可将X射线量发送至存储装置，例如RAM53。
在步骤S97中，基于距离XR、距离XF等的结果计算X射线管125的 调整量。图9说明了计算的具体方法。
在步骤S98中，CPU 54判断X射线管125的调整量是否落入阈值。如
果该调整量落入阈值，结束该流程图的计算，而如果调整量没有落入阈值， 步骤移至步骤S66。
在步骤S99中，基于X射线管125的调整量手动操作地移动X射线管 125。然后，再次重复步骤S92到步骤S99,直到调整量落入阈值。如第一 示范性实施例所说明的，旋转平面POR还可以通过移动准直器126的初始 位置进行调整。
图9说明步骤S97的操作。
由于图9中的标记与图6中的标记相同，省去对标记的说明。然而， 检测平面定位成与枢轴线ISO相距距离+Yl和距离-Y2。
当X射线管125定位在距离+Yl处和当X射线管125定位在距离-Y2
处时，辐射X射线。在检测平面的图像中，白色BB'为在距离+Y1和距离-
Y2处都辐射X射线的范围，灰色XF范围和灰色XR范围为在距离-Y2处
辐射X射线的范围。黑色范围为未辐射X射线的范围。
在上面描述的关系下，下面的公式成立且能够确定误差DF。
XF =(( CO+DF) /FC) * ((FI+Y2) - (Fl-Y1)) XR =(( CO-DF) /FC) * ((R+Y2) - (Fl-Y") DF =( XF-XR) * (FC/2 * (Y1+Y2))
由于确定了误差DF，所以有可能调整旋转平面POR以将X射线管125 移动作为调整量的DF。该示范性实施例描述了 X射线管125在0度位置， 然而，有可能将X射线管125定位在180度位置。尽管该流程图的计算变 得复杂，但是X射线管125可以类似定位在5度位置和185度位置。
存在多种方法用于检测在第一和第二示范性实施例中的白色BB'或黑 色范围的边缘，以及灰色XF或灰色XR范围的边缘。例如，检测方法有Sobel 边缘探测器法(Sobel Edge Detector)、 Cross边缘探测器(Cross Edge Detector)法、Canny边缘探测器(Canny Edge Detector)法、或者罗盘边 缘探观!j器(Compass Edge Detector)法。
本发明通过在托架117内具有平板探测器70的实施例进行说明。然而， 本发明可以应用到在托架内不具有平板探测器的X射线CT系统中。例如， 将商用的平板探测器放置在托架上，并应用到第一和第二示范性实施例中。 当该商用的平板探领蟝不像第二示范性实施例那样在Y-轴上移动时，可以 准备示于图10中的第二平板探测器80。
图10示出第二平板探测器80， 二维板式传感器81可以沿Y-轴方向上 下移动。在图10中，连接到二维板式传感器81和基座82的连杆83可以 从一侧移动到另一侧。所以通过这种平板探测器80可以应用第二示范性实
工业实用性
在所示出的实施例中，已通过举例的方式描述了医学X射线CT系统 100。然而，本发明可以用在工业X射线CT系统中，或与任何其它系统结 合；例如，X射线CT-PET系统，和X射线CT-SPECT系统。
权利要求
1、一种X射线照相设备，具有X射线管、与X射线管相对放置用于检测从X射线管辐射的X射线的X射线探测器、和具有开口的准直器，该开口限定照射到X射线探测器上的X射线范围，该X射线照相设备包括用于检测X射线管位置的X射线探测器，其分别在两个或更多个不同的距离处检测来自X射线管的穿过准直器的X射线；计算装置，利用分别在两个或更多个不同的距离处检测出的X射线检测位置的差别，计算X射线管的位置间隙量；以及调整装置，基于由计算装置计算出的X射线管的位置间隙量，对X射线管的位置间隙量进行调整。
2、 根据权利要求1的X射线照相设备，其中通过将X射线管放置成 跨过用于X射线管位置检测的X射线探测器180度相对，用于X射线管位 置检测的X射线探测器分别在两个或更多个不同的距离处检测来自X射线管的穿过准直器的x射线。
3、 根据权利要求1的X射线照相设备，其中通过将用于X射线管位 置检测的X射线探测器向X射线管移动，用于X射线管位置检测的X射 线探测器分别在两个或更多个不同的距离处检测来自X射线管的穿过准直器的x射线。
4、 根据权利要求1到3中任一项的X射线照相设备，其中X射线照相设备具有X射线CT单元，其用于获得受检者身体的断层摄影图像，提供第一X 射线管、放置在第一 X射线管对侧的第一 X射线探测器、转子装置以及准 直器，该第一X射线探测器用于检测从第一X射线管辐射的X射线，该转 子装置用于在保持第一 X射线管和第一 X射线探测器之间的位置关系的情 况下围绕受检者身体旋转，并且该准直器具有限定照射到第一 X射线探测器上的X射线范围的开口；X射线CR单元，其用于获得受检者身体的射线照相图像，提供第二X 射线管，和跨过受检者身体与第二 X射线管相对放置的第二 X射线探测器，该第二 X射线探测器用于检测从第二 X射线管辐射的X射线；其中， X射线管其位置间隙为第一 X射线管；用于X射线管位置检测的X射线探测器为第二 X射线探测器；并且 调整装置通过X射线CT单元的转子装置调整旋转平面的位置间隙。
5、 根据权利要求1的X射线照相设备，其中用于X射线管位置检测 的X射线探测器定位在躺有受检者身体的托架的内部。
6、 一种用于调整旋转平面位置的调整方法，该旋转平面由X射线照相设备的准直器和X射线管限定，该方法包括步骤用X射线探测器检测来自定位在第一位置的X射线管的第一 X射线的 范围；将X射线管从第一位置移动到不同于第一位置的第二位置； 用X射线探测器检测来自定位在第二位置的X射线管的第二 X射线的 范围；以及基于第一 X射线和第二 X射线的检测范围，计算X射线管和准直器的调整量。
7、 根据权利要求6的用于调整旋转平面位置的调整方法，其中第一位 置和第二位置放置成跨过X射线探测器180度相对。
8、 根据权利要求7的用于调整旋转平面位置的调整方法，其中计算调 整量的步骤通过仅计算第二 X射线的检测范围宽度来计算调整量。
9、 一种用于调整旋转平面位置的调整方法，该旋转平面由X射线照相 设备的准直器和X射线管限定，该方法包括步骤将X射线探测器定位在X射线管的X射线辐射方向上的第三位置； 用定位在第三位置的X射线探测器检测来自X射线管的第三X射线的 范围；将X射线探观螺移动到不同于第三位置的辐射方向上的第四位置； 用定位在第四位置的X射线探测器检测来自X射线管的第四X射线的 范围；以及基于第三X射线和第四X射线的检测范围计算X射线管和准直器的调整量。
10、 根据权利要求6到9中任一项的用于调整旋转平面位置的调整方 法，其中X射线探测器定位在躺有受检者身体的托架的内部。
11、 根据权利要求9或10的用于调整旋转平面位置的调整方法，其中 计算调整量的步骤通过仅计算第四X射线的检测范围宽度来计算调整量。
12、 根据权利要求6到11中在一项的用于调整旋转平面位置的调整方 法，进一步包括基于所述调整量移动X射线管的步骤。
13、 根据权利要求6到12中任一项的用于调整旋转平面位置的调整方 法，其中当X射线管被初次安装或当X射线管被更换时执行该旋转平面调 整方法。
全文摘要
一种旋转平面的调整方法，包括用定位在第一位置的X射线探测器(70)检测来自X射线管(125)的第一X射线的范围的步骤(S62)；将X射线管从第一位置移动到第二位置的步骤；用定位在第二位置的X射线探测器(70)检测来自X射线管的第二X射线的范围的步骤；基于第一X射线和第二X射线的检测范围计算X射线管(125)和准直器(126)的调整量的步骤(S64)。
文档编号H05G1/26GK101112318SQ20061012140
公开日2008年1月30日 申请日期2006年7月28日 优先权日2006年7月28日
发明者旭 杨 申请人:Ge医疗系统环球技术有限公司