X射线高低能探测器滤波器以及x射线成像成像仪器的制造方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种X射线高低能探测器滤波器以及设置有上述X射线高低能探测器滤波器的X射线成像成像仪器。
【背景技术】
[0002]目前X射线仪器设备主要利用了X射线(160KeV)的穿透特性，产品进行X射线成像达到无损检测的目的。这类设备通常直接采用X射线源与X射线双能探测器直接成像的架构。这样的架构简单易行，但是探测器接收到的高低能X射线波普数量级差别非常大，而高低能量级差别不大。在许多需要利用X射线波普信号进行材料分析，材料分类的产品应用中，达不到精确量化分析的效果。
【实用新型内容】
[0003]本实用新型的目的在于克服现有技术中存在的上述不足，而提供一种结构设计合理的X射线高低能探测器滤波器，该X射线高低能探测器滤波器可以实现高低能波普数量级平衡，高低能量级区分放大，为X射线材料分析，分类技术提供稳定高质量输入信号，同时消除射束硬化产生的波普波形变化，本实用新型还提供一种设置有上述X射线高低能探测器滤波器的X射线成像成像仪器。
[0004]本实用新型解决上述问题所采用的技术方案是:
[0005]—种X射线高低能探测器滤波器，其特征在于:X射线高低能探测器滤波器包括铝材料层、铜合金材料层、钛合金材料层，其中，铝材料层、铜合金材料层、钛合金材料层从上至下依次设置，铝材料层的下表面和铜合金材料层的上表面结合，铜合金材料层的下表面和钛合金材料层的上表面结合，其中，铝材料层的上表面、铝材料层的下表面、铜合金材料层的上表面以及钛合金材料层的的下表面均呈水平设置的平面结构，铜合金材料层的下表面由位于铜合金材料层的下表面中部位置的第一弧面以及设置在第一弧面外侧且呈水平设置的平面构成，第一弧面呈下凸的结构，钛合金材料层的上表面由位于钛合金材料层的上表面中部位置的第二弧面以及设置在第二弧面外侧且呈水平设置的平面构成，第二弧面呈与第一弧面相配合的下凹的结构。采用这种结构，铝材料层、铜合金材料层、钛合金材料层，结合紧密无杂质干扰，各层材料之间位置不偏移。通过铝材料层、铜合金材料层、钛合金材料层对X射线强度遮挡率的不同，利用材料材质差异并通过第二弧面以及第一弧面的结构，从而抵消X射线heel effect影响，从而输出数量级均衡的高低能波普，并对高低能波普进行能量级区分放大，通过X射线高低能探测器滤波器的调节可以降低射束硬化产生的差异，提高波普稳定性，可以实现高低能波普数量级平衡，高低能量级区分放大，为X射线材料分析，分类技术提供稳定高质量输入信号，同时消除射束硬化产生的波普波形变化，提高数据处理效率。
[0006]作为优选，所述钛合金材料层的左侧面和钛合金材料层的右侧面呈斜面设置，从而使得所述钛合金材料层的左侧面和钛合金材料层的右侧面整体呈八字形。
[0007]—种X射线成像成像仪器，包括从下至上依次设置的用于输出X射线的X射线源、用于接收X射线的X射线高能探测器组以及用于接收X射线的X射线低能探测器组，其特征在于:x射线高能探测器组和X射线低能探测器组之间设置有X射线高低能探测器滤波器，X射线高低能探测器滤波器包括铝材料层、铜合金材料层、钛合金材料层，其中，铝材料层、铜合金材料层、钛合金材料层从上至下依次设置，铝材料层的下表面和铜合金材料层的上表面结合，铜合金材料层的下表面和钛合金材料层的上表面结合，其中，铝材料层的上表面、铝材料层的下表面、铜合金材料层的上表面以及钛合金材料层的的下表面均呈水平设置的平面结构，铜合金材料层的下表面由位于铜合金材料层的下表面中部位置的第一弧面以及设置在第一弧面外侧且呈水平设置的平面构成，第一弧面呈下凸的结构，钛合金材料层的上表面由位于钛合金材料层的上表面中部位置的第二弧面以及设置在第二弧面外侧且呈水平设置的平面构成，第二弧面呈与第一弧面相配合的下凹的结构。铝材料层、铜合金材料层、钛合金材料层，结合紧密无杂质干扰，各层材料之间位置不偏移。通过铝材料层、铜合金材料层、钛合金材料层对X射线强度遮挡率的不同，利用材料材质差异并通过第二弧面以及第一弧面的结构，从而抵消X射线heel effect影响，从而输出数量级均衡的高低能波普，并对高低能波普进行能量级区分放大，通过X射线高低能探测器滤波器的调节可以降低射束硬化产生的差异，提高波普稳定性，可以实现高低能波普数量级平衡，高低能量级区分放大，为X射线材料分析，分类技术提供稳定高质量输入信号，同时消除射束硬化产生的波普波形变化，提高数据处理效率。
[0008]作为优选，所述钛合金材料层的左侧面和钛合金材料层的右侧面呈斜面设置，从而使得所述钛合金材料层的左侧面和钛合金材料层的右侧面整体呈八字形。
[0009]本实用新型与现有技术相比，具有以下优点和效果:铝材料层、铜合金材料层、钛合金材料层，结合紧密无杂质干扰，各层材料之间位置不偏移。通过铝材料层、铜合金材料层、钛合金材料层对X射线强度遮挡率的不同，利用材料材质差异并通过第二弧面以及第一弧面的结构，从而抵消X射线heel effect影响，从而输出数量级均衡的高低能波普，并对高低能波普进行能量级区分放大，通过X射线高低能探测器滤波器的调节可以降低射束硬化产生的差异，提高波普稳定性，可以实现高低能波普数量级平衡，高低能量级区分放大，为X射线材料分析，分类技术提供稳定高质量输入信号，同时消除射束硬化产生的波普波形变化，提高数据处理效率。
【附图说明】
[0010]图1是本实用新型实施例