X射线成像成像仪器的原理示意图。
[0011]图2是本实用新型实施例的X射线高低能探测器滤波器的结构示意图。
[0012]图3是本实用新型实施例的铜合金材料层的结构示意图。
[0013]图4是本实用新型实施例的钛合金材料层的结构示意图。
【具体实施方式】
[0014]下面结合附图并通过实施例对本实用新型作进一步的详细说明，以下实施例是对本实用新型的解释而本实用新型并不局限于以下实施例。
[0015]参见图1-图4，本实施例X射线成像成像仪器，包括从下至上依次设置的用于输出X射线的X射线源1、用于接收X射线的X射线高能探测器组2以及用于接收X射线的X射线低能探测器组3，X射线高能探测器组2和X射线低能探测器组3之间设置有X射线高低能探测器滤波器4，X射线高低能探测器滤波器4包括铝材料层41、铜合金材料层42、钛合金材料层43，其中，铝材料层41、铜合金材料层42、钛合金材料层43从上至下依次设置，铝材料层41的下表面和铜合金材料层42的上表面结合，铜合金材料层42的下表面和钛合金材料层43的上表面结合，其中，铝材料层41的上表面、铝材料层41的下表面、铜合金材料层42的上表面以及钛合金材料层43的的下表面均呈水平设置的平面结构，铜合金材料层42的下表面由位于铜合金材料层42的下表面中部位置的第一弧面42以及设置在第一弧面42外侧且呈水平设置的平面构成，第一弧面42呈下凸的结构，钛合金材料层43的上表面由位于钛合金材料层43的上表面中部位置的第二弧面431以及设置在第二弧面431外侧且呈水平设置的平面构成，第二弧面431呈与第一弧面42相配合的下凹的结构。所述钛合金材料层43的左侧面432和钛合金材料层43的右侧面433呈斜面设置，从而使得所述钛合金材料层43的左侧面432和钛合金材料层43的右侧面433整体呈八字形。
[0016]本说明书中所描述的以上内容仅仅是对本实用新型所作的举例说明。本实用新型所属技术领域的技术人员可以对所描述的具体实施例做各种各样的修改或补充或采用类似的方式替代，只要不偏离本实用新型说明书的内容或者超越本权利要求书所定义的范围，均应属于本实用新型的保护范围。
【主权项】
1.一种X射线高低能探测器滤波器，其特征在于:x射线高低能探测器滤波器包括铝材料层、铜合金材料层、钛合金材料层，其中，铝材料层、铜合金材料层、钛合金材料层从上至下依次设置，铝材料层的下表面和铜合金材料层的上表面结合，铜合金材料层的下表面和钛合金材料层的上表面结合，其中，铝材料层的上表面、铝材料层的下表面、铜合金材料层的上表面以及钛合金材料层的的下表面均呈水平设置的平面结构，铜合金材料层的下表面由位于铜合金材料层的下表面中部位置的第一弧面以及设置在第一弧面外侧且呈水平设置的平面构成，第一弧面呈下凸的结构，钛合金材料层的上表面由位于钛合金材料层的上表面中部位置的第二弧面以及设置在第二弧面外侧且呈水平设置的平面构成，第二弧面呈与第一弧面相配合的下凹的结构。2.根据权利要求1所述的X射线高低能探测器滤波器，其特征在于:所述钛合金材料层的左侧面和钛合金材料层的右侧面呈斜面设置，从而使得所述钛合金材料层的左侧面和钛合金材料层的右侧面整体呈八字形。3.一种X射线成像成像仪器，包括从下至上依次设置的用于输出X射线的X射线源、用于接收X射线的X射线高能探测器组以及用于接收X射线的X射线低能探测器组，其特征在于:x射线高能探测器组和X射线低能探测器组之间设置有X射线高低能探测器滤波器，X射线高低能探测器滤波器包括铝材料层、铜合金材料层、钛合金材料层，其中，铝材料层、铜合金材料层、钛合金材料层从上至下依次设置，铝材料层的下表面和铜合金材料层的上表面结合，铜合金材料层的下表面和钛合金材料层的上表面结合，其中，铝材料层的上表面、铝材料层的下表面、铜合金材料层的上表面以及钛合金材料层的的下表面均呈水平设置的平面结构，铜合金材料层的下表面由位于铜合金材料层的下表面中部位置的第一弧面以及设置在第一弧面外侧且呈水平设置的平面构成，第一弧面呈下凸的结构，钛合金材料层的上表面由位于钛合金材料层的上表面中部位置的第二弧面以及设置在第二弧面外侧且呈水平设置的平面构成，第二弧面呈与第一弧面相配合的下凹的结构。4.根据权利要求3所述的X射线成像成像仪器，其特征在于:所述钛合金材料层的左侧面和钛合金材料层的右侧面呈斜面设置，从而使得所述钛合金材料层的左侧面和钛合金材料层的右侧面整体呈八字形。
【专利摘要】本实用新型公开了一种X射线高低能探测器滤波器以及X射线成像仪器，其中，X射线高低能探测器滤波器包括铝材料层、铜合金材料层、钛合金材料层，其中，铝材料层、铜合金材料层、钛合金材料层从上至下依次设置，铝材料层的下表面和铜合金材料层的上表面结合，铜合金材料层的下表面和钛合金材料层的上表面结合。通过X射线高低能探测器滤波器的调节可以降低射束硬化产生的差异，提高波普稳定性，可以实现高低能波普数量级平衡，高低能量级区分放大，为X射线材料分析，分类技术提供稳定高质量输入信号，同时消除射束硬化产生的波普波形变化,提高数据处理效率。
【IPC分类】G01N23/04, G01T1/24, G21K3/00
【公开号】CN204884597
【申请号】CN201520652743
【发明人】王迅
【申请人】青岛联创威科安防设备有限公司
【公开日】2015年12月16日
【申请日】2015年8月27日