绘制于图16 中。如所证实的，随着未粘合区域尺寸减小，材料的插入损耗大大增加。
表3不同尺寸的SBF的平均插入损耗数据
[0072] 如所证实的，在麦克风出口中的微孔层压物的声学传输取决于一组复杂的特征并 且不表现出与基重的高相关性，如与传输损耗测试相比，传输损耗测试似乎与基重强烈相 关。由于传输损耗测试是在标准尺寸下进行的，外推这些传输损耗数据来预测小得多的出 口组件的声学传输。虽然以上讨论的传输损耗数据证实传输损耗测试可以准确预测仅PTFE 的相对声学传输，但是它不能准确预测具有支撑稀松布的微孔膜层压物的声学传输。 扬声器出口测试
[0073] 如上所述，频率响应和插入损耗可以反映与将如何使用声音出口一致的性能。虽 然上述实验设置和结果是与覆盖麦克风的声音出口具体相关的，也对覆盖扬声器的声音出 口进行测试。使覆盖扬声器的声音出口经受与覆盖麦克风的声音出口不同的条件。例如，覆 盖扬声器的声音出口可能经受比覆盖麦克风的声音出口高得多的能量。这样，频率响应和 插入损耗测量预期为取决于如何使用该声音出口是不同的。
[0074] 如在以上所描述的麦克风出口频率响应和插入损耗测试中，使用一些类似的设 备，但是测试设置被改变。在扬声器出口测试中，声音出口定位为紧邻该扬声器。用于测试 麦克风出口的6英寸扬声器替换为小扬声器，该小扬声器的尺寸对应于在个人电子装置(如 手机）中的小扬声器的尺寸，以使测试设置与会如何使用扬声器出口一致。扬声器上方布置 有具有匹配该扬声器的尺寸的机加工的开口的扬声器板。在该测试中，该扬声器和在该扬 声器板中的机加工的开口具有约7.5_长和约3_宽的卵形形状。
[0075] 作为扬声器出口测试的每个声音出口与上述(并且描绘在图12中）的实施例一致， 并且定位在该扬声器板中开口上方，类似于如何将声音出口定位在测试帽的上方，如上所 述。这样，该声音出口定位为远离该扬声器大约1.0mm。在该测试设置中，使用了单个麦克 风，该麦克风被定位为直接面向该扬声器，距离约I .〇cm。该扬声器和麦克风分别安装在声 学测试腔室内的刚性支撑结构上。
[0076]应注意的是收集的测量值可能高度地取决于特定的设备和所使用的设置。这样， 出于本文件的目的，扬声器出口插入损耗通过在此说明的测试方案确定。为了如在此所描 述的测试，使用Knowles 2403 260 00041(4.8X10X2.2mm)扬声器。所使用的麦克风是BrU el &Kjaer型号2238-B麦克风和声级计。所使用的分析系统是Artalabs(位于克罗地亚 (Croatia)的KaStel LuMd)的音频实时分析(ARTA)软件并且进行的测试是FR2测试。该扬 声器由ARTA软件驱动以产生白噪声，并且音量被设置为使得麦克风记录来自没有扬声器出 口的扬声器的89dB(A)平均值。ARTA软件记录麦克风数据并且对跨越频率范围的结果进行 平均。
[0077] 类似于如以上对于麦克风出口测试所描述的收集并处理数据，除了为了完成该测 试，使用提供给该扬声器的相同量的功率收集数据两次:一次没有定位在该扬声器板中的 声音出口，被指定为输入数据，或参比数据，并且一次具有布置在该扬声器板中的感兴趣的 声音出口，被指定为输出数据。将这些输入数据和输出数据进行比较以产生跨越频谱的频 率响应。由于这些输入数据和输出数据在不同运行中收集并且声音出口的频率响应是输入 数据与输出数据的对比，不需要Hl FRF对照曲线(参见以上所描述的麦克风出口测试)用于 解释在该测试设置中的缺陷。这样，在这个测试中扬声器出口的插入损耗是等于扬声器出 口的频率响应。
[0078] 图17描绘了用于具有符合在此披露的技术的层压物的扬声器出口（相比传统的膜 层压物和仅PTFE膜)在频率范围300Hz到3000Hz内的平均插入损耗测试结果。这些出口组件 与在图12-13中描绘的和以上所描述的示例出口组件一致地构建。"传统层压物Γ是层压到 PTFE膜上的非织造的聚对苯二甲酸乙二酯层(PET)凹版(gravure)。"传统的层压物2"是热 层压到PTFE膜上的非织造的PET层。"基础PTFE"是白色微孔PTFE膜，并且"黑色PTFE"是与在 共同未决的美国专利申请13/839，046 (以上讨论的）中披露的技术一致地加工的黑色PTFE 膜。"声学层压物"是符合在此披露的技术的微孔膜层压物，其中稀松布层是20薄纱稀松布 (先前所述），该稀松布被热层压并且压制到基础PTFE膜层中。"黑色声学层压物"是符合在 此披露的技术的微孔膜层压物，其中稀松布层是20薄纱稀松布，该稀松布被热层压并且压 制到符合该"黑色PTFE"的黑色PTFE膜层中。
[0079]图17证实了具有在此所披露的微孔膜层压物的扬声器出口的改进的声学传输(相 比传统的层压物），以及在此披露的微孔膜层压物与仅PTFE膜相比稍微降低的声学传输。下 面表4描绘了针对每个膜跨越300-3000HZ频率范围的平均插入损耗，如图17所描绘的。 插入损耗（300-3000 Hz) 膜乎均dB 表4
[0080] 符合在此披露的技术的一些微孔膜层压物是特别适合用于在扬声器出口组件中 使用的，尽管微孔膜层压物的一些其他实施例特别适合用于麦克风出口组件中使用。具有 符合在此披露的技术的微孔膜层压物的声音放出组件总体上表现出与仅结合该微孔膜本 身的声音放出组件相比的增加的平均插入损耗。在一些实施例中，具有微孔膜的声音放出 组件的平均插入损耗可以是具有仅PTFE膜的放出组件的平均插入损耗的至少两倍。在许多 实现方式中，然而，当与其他改进平衡时增加的插入损耗是可容许。例如，符合在此披露的 技术的放出组件具有超越仅PTFE放出组件的许多优点，如降低的谐波失真、以及改进的处 理和强度。
[0081] 图18描绘了对于符合在此披露的技术的黑色声学膜层压物（以上讨论的）与仅 PTFE膜和传统层压物（热层压到PTFE膜上的非织造的PET)相比的总谐波失真。图18证实了 相比仅PTFE-膜这些声学膜层压物的降低的总谐波失真。类似于扬声器出口插入损耗测量， 如上所述，总谐波失真是依赖于所使用的特定测试设置。这样，出于本披露的目的，总谐波 失真由在此所指定的测试方案定义。
[0082] 如上所述，使用Artalabs(位于克罗地亚的Kaltei Luk§i0 )的STEPS软件使用符合扬 声器出口插入损耗测试的测试设置和部件确定总谐波失真。总谐波失真数据通过整个频率 范围的一次步进一个频率收集。总的谐波失真通过比较所有谐波频率(2η(1，3Μ，4?Η···\^^Λ 率相对于基频的功率来计算，即总谐波失真=(Ρ2+Ρ3+Ρ4···Ρ〇〇 )/Pl。扬声器的总谐波失真在 该出口不作为参比的情况下进行测量。该扬声器音量被设置为使得麦克风在1000HZ下记录 来自没有扬声器出口的扬声器的80dB。
[0083] 图19是仅PTFE膜破裂强度相比两个微孔膜层压物（其中之一符合在此披露的技 术)的破裂强度的曲线图。与TAPPI T403标准一致地确定该破裂强度。每个膜层压物用薄纱 20稀松布制造，如上所述，该稀松布被层压到PTFE膜上。两个层压物通过在550° F穿过乳辊 层压，但符合本发明技术的"重粘合(heavy bond)"层压物以4ft/min速度穿过该乳辑并且 压制为与PTFE表面是几乎齐平的。另一方面，"轻粘合(Iight bond)"层压物以15英尺/分钟 以较小压力穿过该乳辊，这样使得该稀松布仅仅是表面粘合到PTFE膜上而不是展平的。如 图19中证实的，符合在此披露的技术的微孔膜层压物证实了相比仅PTFE膜的更大的强度， 并且比轻粘合的层压物更小的强度。
[0084] 还应注意的是，如在本说明书和所附权利要求书中所使用的，短语"配置"描述了 被构建或配置为执行特定任务或采用特定构型的系统、器件或其他结构。短语"配置"可以 与其他类似的短语例如"安排""安排和配置"、"构建和安排"、"构建"、"制造和安排"等互换 使用。
[0085] 本说明书中所有的出版物和专利申请都表明了本发明所属领域的普通技术人员 的水平。所有的出版物和专利申请通过引用结合在此，其程度如同明确且单独地通过引用 指出每一个单独的出版物或专利申请。
[0086] 本申请旨在覆盖本发明主题的修改或变化。应当理解的是以上说明旨在是说明性 的，并且不是限制性的。
【主权项】
1. 一种声学膜层压物，包括： 具有在0·05μπι与2μπι之间的平均孔径的聚四氟乙烯(PTFE)膜；以及 层压到所述PTFE膜上的稀松布层以形成具有在ΙΟμπι与60μπι之间的厚度的声学膜层压 物，所述稀松布层限定在〇. 20mm2与5. Omm2之间的平均稀松布开口； 其中所述声学膜层压物与单独的所述PTFE膜相比表现出在从300Hz到3000Hz频率范围 内增加的平均插入损耗，所述声学膜层压物相对于单独的所述PTFE膜具有降低的总谐波失 真，并且所述声学膜层压物具有实质上等于所述PTFE膜的水进入压力。2. 如权利要求1和3-20中任一项所述的声学膜层压物，其中所述声学层压物的厚度是 小于层压之前所述稀松布和层压之前所述PTFE膜的厚度之和的30%。3. 如权利要求1-2和4-20中任一项所述的声学膜层压物，其中所述稀松布层具有小于 100g/m2的基重。4. 如权利要求1-3和5-20中任一项所述的声学膜层压物，其中所述稀松布层具有小于 70g/m2的基重。5. 如权利要求1-4和6-20中任一项所述的声学膜层压物，其中所述稀松布层具有小于 40g/m2的基重。6. 如权利要求1-5和7-20中任一项所述的声学膜层压物，其中所述稀松布层具有在 30 %与60 %之间的百分比开口面积。7. 如权利要求1-6和8-20中任一项所述的声学膜层压物，其中所述稀松布层是热层压 到所述膜上的。8. 如权利要求1-7和9-20中任一项所述的声学膜层压物，其中所述稀松布层是超声层 压到所述膜上的。9. 如权利要求1-8和10-20中任一项所述的声学膜层压物，其中所述稀松布层是用粘合 剂层压到所述膜上的。10. 如权利要求1-9和11-20中任一项所述的声学膜层压物，其中所述层压的稀松布层 具有比所述未层压的稀松布层小了至少5%的稀松布开口。11. 如权利要求1-10和12-20中任一项所述的声学膜层压物，其中所述稀松布层和所述 PTFE可密封至压敏粘合剂层压物上以形成不透水密封，所述密封防止了当浸没在1米水中 持续30分钟时水在所述声学膜层压物与所述粘合剂层压物之间穿过。1