逻辑测试装置的制造方法
【技术领域】
[0001 ]本实用新型涉及一种逻辑测试装置。
【背景技术】
[0002]由于成本控制的原因，电路板的成板测试环境往往比较简单。当前市面上主要的电信号测试设备，由于功能较多、体积大、成本高，占用了大量测试用地，同时还需要电脑控制，且对控制人员的素质要求较高，造成测试成本的提高。
[0003]爱德万测试(中国)管理有限公司及其相关的母公司和子公司，是国际上从事半导体和电子逻辑信号自动测试设备开发和销售的一流公司。其产品可以通过带有操作系统的电脑/服务器/工作站，将测试激励下载到其测试设备上，并对待测设备(简称DUT，DesignUnder Test)进行测试，判断正误，同时在带有操作系统的电脑/服务器/工作站上将DUT实际产生的信号与预期信号进行对比，显示出来，用于调试。
[0004]该方式是一种非常完善的测试方法，但其设备体积较大，不易移动。测例装载和监测需要利用带有操作系统的电脑/服务器/工作站，通过专门的通讯通道，如串口、USB、PCI等接口，下载到设备上，该过程需要专门在测试机台边上准备放置电脑/服务器/工作站的空间，且操作流程较为复杂，对操作人员素质要求较高。在一些简单的电信号测试流程中，增添了较大的成本。
【实用新型内容】
[0005]本实用新型的目的是提供一种逻辑测试装置及方法，以解决测试装置控制复杂、占用体积大、不可以灵活配置的技术问题。
[0006]为实现以上实用新型目的，本实用新型提供一种逻辑测试装置，包括包括配置存储模块、可编程门阵列处理模块、被测装置信号接口模块以及发光模块；
[0007]所述配置存储模块与可编程门阵列处理模块连接，所述可编程门阵列处理模块分别与被测装置信号接口模块以及发光模块连接。
[0008]进一步地，所述逻辑测试装置还包括数据传输接口模块、存储模块、按钮模块以及功能选择t吴块；
[0009]所述数据传输接口模块与可编程门阵列处理模块连接，所述存储模块与可编程门阵列处理模块连接，所述按钮模块与可编程门阵列处理模块连接，所述功能选择模块与可编程门阵列处理模块连接。
[0010]进一步地，所述逻辑测试装置还包括被测装置供电模块，所述被测装置供电模块与所述可编程门阵列处理模块连接。
[0011 ]进一步地，所述逻辑测试装置还包括显示接口模块，所述显示接口模块与所述可编程门阵列处理模块连接。
[0012]进一步地，所述逻辑测试装置还包括扩展接口模块，所述扩展接口模块与所述可编程门阵列处理模块连接。
[0013]进一步地，所述功能选择模块是拨码开关。
[0014]与现有技术相比，本实用新型的有益效果是:
[0015]1.运用可编程门阵列处理模块作为主芯片进行测试的技术方案，获得可以灵活调整测试通道的信号带宽的技术效果；
[0016]2.运用数据传输接口模块向可编程门阵列处理模块中下载测例的技术方案，获得了将逻辑测试过程与测例下载过程独立开，减小测试设备体积，降低操作人员要求，降低测试成本，提高了设备使用的灵活性的技术效果；
[0017]3.运用增加被测装置供电模块的技术方案，获得可以无需给被测装置外接电源，更好的提高了设备使用的灵活性的技术效果。
[0018]4.运用增加显示接口模块的技术方案，获得无需通过其他设备显示测试结果，方便监控测试的技术效果。
【附图说明】
[0019]图1是本实用新型的逻辑测试装置的框图；
[0020]图2是本实用新型的逻辑测试装置的另一个框图；
[0021 ]图3是本实用新型的逻辑测试装置的具体实施例框图。
[0022]图中:
[0023]配置存储模块I;可编程门阵列处理模块2;被测装置信号接口模块3;发光模块4;数据传输接口模块5;存储模块6;按钮模块7;功能选择模块8;被测装置供电模块9;显示接口模块10;扩展接口模块11。
【具体实施方式】
[0024]下面结合附图和具体实施例对本实用新型作进一步说明。
[0025]实施例1:
[0026]如图1所示，本实用新型的逻辑测试装置，包括配置存储模块1、可编程门阵列处理模块2、被测装置信号接口模块3以及发光模块4;
[0027]配置存储模块I，用于固化存储测例以及配置文件；
[0028]可编程门阵列处理模块2，用于对测试信号的发送以及处理；
[0029]被测装置信号接口模块3，用于接收被测装置回馈的信号以及向被测装置发送测试信号;
[0030]发光模块4，用于根据测试结果给出相应的发光提示；
[0031]配置存储模块I与可编程门阵列处理模块2连接，可编程门阵列处理模块2分别与被测装置信号接口模块3以及发光模块4连接。
[0032]结合图1具体来说，在逻辑测试装置使用之前，向其中的配置存储模块I中下载所需测例。逻辑测试装置上电后，配置存储模块I中的测例被读取到可编程门阵列处理模块2中，可编程门阵列处理模块2内部逐个将测例通过被测装置信号接口模块3发送至被测装置，被测装置信号接口模块3将被测装置反馈的信息发送至可编程门阵列处理模块2，可编程门阵列处理模块2将反馈信息与预期设置的值进行对比，并通过发光模块4将结果表示出来。
[0033]实施例2:
[0034]如图2所示，在实施例1的基础上对逻辑测试装置做进一步地具体化，逻辑测试装置还包括数据传输接口模块5、存储模块6、按钮模块7以及功能选择模块8;
[0035]数据传输接口模块5，用于逻辑测试装置与计算机数据通信；
[0036]存储模块6，用于逻辑测试装置在外部测例下载模式下存储测例；
[0037]按钮模块7，用于逻辑测试装置在手动测试模式下控制测试开启或停止；
[0038]功能选择模块8，用于控制逻辑测试装置处于某种下载状态或某种测试状态；
[0039]数据传输接口模块5与可编程门阵列处理模块2连接，存储模块6与可编程门阵列处理模块2连接，按钮模块7与可编程门阵列处理模块2连接，功能选择模块8与可编程门阵列处理模块2连接。
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