中心区域或者 仅采用很低的分辨率测量。
[0099] 如下附图4到7中，根据本发明的四个不同扫描图案采用如下通式描述：
[0100] x(t) =r〇*sin( ωBt)*cos( ωτ?)
[0101] y(t) =r〇*sin( ωBt)*sin( ωτ?)
[0102] 这里：
[0103] ro:扫描图案的圆周半径
[0104]
[0105]
[0106] 在以下示例中，测量的持续时间tpattern为200ms(毫秒）。本领域技术人员很清楚基 本上将来可以找到最短的可能测量持续时间。然而，后者首先依赖于所使用的测量仪器，其 次依赖于测量点的数量。
[0107] 在本示例中，测量点的数量为3200，并且测量频率（即，测量点记录的速度)为f = 16kHz。这里，此后寻找平衡，其中测量时间足够短，并且同时，测量点的数量以及因此在测 量等量待测表面的情况下的分辨率足够大。然而，另外，测量频率仅如此之大从而对每个测 量点仍可出现足够的信号强度，因为所述信号强度随着测量频率的增加而降低。根据测量 系统，测量频率可以从几千赫兹到几兆赫兹。范围从10到200kHz的测量频率被发现是有价 值的。
[0108]取决于所使用的测量仪器，测量持续时间和测量点的数量也可以更小或者更大。 取决于测量的布置方式，如果缩短了测量时间并且可以接受更小的分辨率，这是有利的。另 一方面，还可能增加测量点的数量从而不利于测量时间。
[0109]目前的情况下，待测表面的半径为4mm。然而，这是根据特定的需求而且原则上可 以自由选择，例如，IOmm、3.5mm、1.5mm以及所有位于其中和落在其外的范围。
[0110] 测量仪器的轴向系统分辨率在当前情况下接近4.6μπι，但是也可以更高或者更低。
[0111] 本领域技术人员很清楚直径、测量点数量和测量时间可以落在不同的范围中。
[0112] 最后，本领域技术人员还清楚轨迹并不是严格精确的与常用的特定方程(上面和 下面的多个方程）形成的图严格符合。轨迹或者扫描图案也可以偏离数学的精确形式。因 此，例如由测量光束建立的一组点仅仅以差值的形式近似对应该方程。
[0113] 附图4示出根据本发明的一个扫描图案第一实施例，采用特定优选的形式，其中B =8并且Τ = 7。从方程的图中，可以很清楚的识别出曲率半径从边沿区域到中心相应的增 加。另外，相应的八个交叉点总是位于圆上，该圆与圆周中心同心，并且通过中心点多次。另 外，从图中看到，有可能边沿区域和靠近中心的区域都可以采用高分辨率测量。扫描图案具 有48个简单交叉点以及中心处一个八重叠加交叉点。眼睛的移动可以被检测到并消除掉， 特别是通过远离中心交叉点的方式。大量交叉点使得可以采用相应高频率(测量时间/交 叉点数量=平均更新时间)检测眼睛的移动。
[0114] 附图5示出根据本发明扫描图案的第二实施例，其中B = S并且T=ll。与根据附图4 的扫描图案相比较，该扫描图案的路径长度更长，并且同一表面上的交叉点更多。这就使得 分辨率更高，即相邻测量点之间更短的平均距离。简单交叉点的数量在本示例中为80,每种 情况下每个同心圆环有8个交叉点。
[0115] 附图6示出根据本发明扫描图案的第三实施例，其中Β=13并且T= 14。在每个同心 圆环26个交叉点以及13个同心圆环的情况下，该扫描图案实施例共有338个交叉点。该实施 例或者其它具有更多交叉点的那些实施例可以用于适当地快速扫描仪或者相对较大面积 的物体的示例中。然而，沿着该轨迹的测量持续时间使用当前OCT扫描仪的情况下可能很 尚。
[0116] 最后，作为第四实施例，附图7示出内转轨迹扫描图案，作为根据本发明扫描图案 的一个可能实施例。内转轨迹扫描图案具有通式：
然而，本领域技术人员很清楚这种情况下的轨迹同样不会限制为严格保持在上述等式 形成的图中。轨迹或者扫描图案还可以不遵循数学的严格形式。因此例如，测量光束建立的 一组点仅仅以差值的形式近似对应该方程。
[0117]为了建立眼科学的测量数值，可以采用这样的方式选择数值，从而再次获得大约 4mm的半径。作为例子，附图7中选择a = 2、b = 0.1并且c = 2.1。使用该参数化，有可能确定在 圆周中心的半径近似为0.2mm的一个自由圆。该自由表面由此符合开始提出的O . 5mm的标 准。
[0118]总结来讲，需要注意的是根据本发明的用于记录测量点的方法可以特别快的执 行，并且由此相对于待测体(特别是眼睛)移动具有可靠性，同时还可以获得高分辨率，特别 是在球形顶面状体的边沿区域。
【主权项】
1. 一种用于记录待测体特别是眼睛上的测量点的方法，其中通过测量光束沿着待测体 表面特别是用于记录轴向长度轮廓的待测体的弯曲表面上的轨迹记录多个测量点，，其特 征在于，所述轨迹的最小曲率半径为所述表面的圆周半径的至少1/7,优选的是至少1/5,特 别优选的是至少1/3。2. 根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述轨迹的至少90%，优选的是至少95%， 特别优选的是整个轨迹在所述圆周内延伸。3. 根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述轨迹具有小于所述表面的圆周半 径的最大曲率半径，特别是超过轨迹路径长度的50%，优选的是超过75%，特别优选的是整 个路径长度。4. 根据权利要求1到3中的一个所述的方法，其特征在于，最大曲率半径小于圆周半径 的99%，优选的是小于95%，更优选的小于90%。5. 根据权利要求1到4中的一个所述的方法，其特征在于，所述轨迹的曲率朝向圆周中 心单调增加，更具体的是严格单调增加。6. 根据权利要求1到5中的一个所述的方法，其特征在于，所述轨迹具有至少被记录两 次的交叉点，所述两次之间具有时滞，因此特别的是，待测体的移动被检测到。7. 根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述轨迹具有至少两个相互间隔的交叉 点，并且其中特别的是，一个交叉点至少被记录超过两次，所述两次之间具有时滞。8. 根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述至少两个交叉点，其交叉角度在平面 投影面内大于90°。9. 根据权利要求7或8所述的方法，其特征在于，所述测量光束跟随具有大于两个的交 叉点的轨迹，其中在存在k*n个交叉点的情况下，相应的η个交叉点位于k个同心圆环中的相 应的一个上。10. 根据权利要求9所述的方法，其特征在于，半径逐渐增大的两个相邻同心圆环之间 的距离在三个具有最大半径的同心圆环之间减小。11. 根据权利要求9或10所述的方法，其特征在于，所述轨迹和交替的同心圆环之间的 交叉点位于径向朝向的直线上。12. 根据权利要求1到11中的一个所述的方法，其特征在于，所述测量光束沿着轨迹的 投影面以固定的角速度移位。13. 根据权利要求1到12中的一个所述的方法，其特征在于，通过优选具有时间恒定频 率的频域OCT或者扫频光源OCT来记录多个测量点。14. 根据权利要求1到13中的一个所述的方法，其特征在于，所述轨迹通过回路来给定， 其中相邻的回路相互交叉，并且其中特别的是两个相邻回路分别具有位于圆上的交叉点， 所述圆优选的与待测面的圆周同心。15. 根据权利要求1到14中的一个的方法，其特征在于，所述轨迹通过两个频率和一个 半径来确定，更特别的，仅通过两个频率来确定。16. 根据权利要求15所述的方法，其特征在于，测量光束遵循具有如下坐标的曲线： (x(t);y(t)) = (r〇*sin( ω Bt)*cos( ω rt) ;r〇*sin( ω Bt)*sin( ω rt)) 其中，ro是待测表面圆周的半径。17. 根据权利要求1到16中的一个所述的方法，其特征在于，对于所述轨迹上的每一个 测量点，在同一个轨迹上存在第二测量点，两个点之间的距离小于半径的25%，优选的是小 于 16% 〇18. 根据权利要求1到17中的一个所述的方法，其特征在于，对于每一个位于所述表面 的圆周内的点，在所述轨迹上有一个测量点，两个点之间的距离至多为〇.5mm，优选的是至 多0· 25mm，特别优选的是至多0· 1mm。19. 一种使用根据权利要求1到18中的一个的方法记录的测量点来近似待测体的截面 的方法，其特征在于，在所述截面区域中，包括至少一个与所述截面具有一定距离的测量点 的所记录测量点的一个子集其在其上执行操作以便近似所述截面。20. 根据权利要求19所述的方法，其特征在于，按照镜面对称的方式小于90°布置的所 记录的两个部分的测量点子集处于待测表面的圆周内。21. -种用于执行根据权利要求1到18中的一个的方法的设备。
【专利摘要】一种用于记录体特别是眼睛上的测量点的测量方法，通过测量光束沿着待测体体的表面特别是待测体的曲目上的轨迹记录测量点，用于确定轴向长度轮廓。此处，轨迹的最小曲率半径至少为表面的圆周半径的1/7，优选的是至少为1/5，特别优选的是至少为1/3。
【IPC分类】A61B5/00, A61B3/10
【公开号】CN105686793
【申请号】CN201511035913
【发明人】A·梅兹纳里奇, 沃尔德克奇 B·冯, C·施莱皮, C·左斯, E·林德利斯巴赫尔, J·布赖滕施泰因, K·巴尔策, L·罗夫莱多, P·斯泰尔德, S·基里亚坦
【申请人】哈格-斯特莱特有限公司
【公开日】2016年6月22日
【申请日】2015年11月12日
【公告号】EP3021071A1, US20160128565