校准用于测量轨道的设备的方法与流程

文档序号:12185085阅读:来源:国知局

技术特征:

1.一种校准用于测量轨道(3、28)的设备的方法,所述设备具有至少一个配属有升降定向装置的能够在轨道上运行的轨道测量车(4)和用于测量轨道(3、28)的钢轨的高度位置(17)、方向(11)和超高(25)的多个轨道位置传感器,它们使用机械框架(13)作为参考基准零线(15、22),其中,所述轨道测量车(4)配属有测量车升降装置(9),其特征在于,设有配属于所述机械框架的校准装置(2),其中,用于校准轨道位置传感器(17、11、25)的轨道测量车(4)首先由从轨道抬起的停车位置下降到轨道内或中间位置,随后通过调节驱动装置(8)将校准止挡(5)从停止位置转移到校准位置,相对于该校准止挡(5)随后将轨道测量车(4)抬起和调整,随后读取轨道位置测量传感器提供的量值并且将其作为校准值读入和存储到测量设备中,随后将轨道测量车(4)下降到轨道内,并且随后在必要时利用调节驱动装置(8)将校准止挡(5)从其校准位置转移到停止位置。

2.按照权利要求1所述的方法,其特征在于,在校准位置中的轨道测量车(4)首先在一个步骤中在机械框架侧面沿轨道测量车横轴线的方向通过挤压装置(10)借助轮缘压在所配属的校准止挡(5)上,并且在定向值测量传感器(11)和校平值测量传感器(17)上得出的量值作为用于该机械框架侧面的零位校准值被读入和存储到测量设备中,并且轨道测量车(4)接下来在第二步骤中在另外的相对置的机械框架侧面上沿着与轨道测量车的横轴线的相反的方向通过挤压装置(10)借助轮缘压在所配属的校准止挡(5)上,并且在定向值测量传感器(11)上得出的量值作为用于该机械框架侧面的零位校准值被读入和存储到测量设备中。

3.按照权利要求1或2所述的方法,其特征在于,为在校准时在测量车(4)上测量到的实际超高测量值(25)匹配在机械框架(13)上测量到的参考基准超高测量值(23)的数值。

4.按照权利要求1至3之一所述的方法,其特征在于,由控制程序自动执行方法步骤。

5.一种用于测量轨道(3、28)的设备,所述设备具有至少一个配属有升降定向装置(25)的能够在轨道上运行的轨道测量车(4)和用于测量轨道(3、28)的钢轨的高度位置(17)、方向(11)和超高(25)的多个轨道位置传感器,它们使用机械框架(13)作为参考基准零度线(15、22),其特征在于,机械框架(13)配属有具备校准止挡(5)的校准设备(2),在轨道测量车(4)由从轨道抬起的停车位置下降到轨道内或中间位置时,这些校准止挡(5)通过调节驱动装置(8)能够从停止位置转移到校准位置,并且相对于该校准止挡(5)随后能够将轨道测量车(4)抬起和调整,其中,校准止挡(5)形成用于通过测量车升降装置相对于校准止挡(5)调整的测量车的止挡点。

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