一种便于使用的半导体模块测试装置的制作方法

本实用新型涉及半导体模块技术领域，具体为一种便于使用的半导体模块测试装置。

背景技术：

半导体模块是以一定的半导体材料做工作物质而产生受激发射作用的器件。是半导体激光器里面的一部分。测试是具有试验性质的测量，即测量和试验的综合。而测试手段就是仪器仪表。

半导体模块在测试时需要用到测试仪，但现有的测试仪在对半导体进行测试时没有对半导体进行限位的结构，导致半导体在测试时会出现偏移的现象，导致测试的结果不准确，降低了测试仪的实用性，不便于使用者使用。

技术实现要素：

本实用新型的目的在于提供一种便于使用的半导体模块测试装置，具备可以对半导体进行限位以便于使用者测试的优点，解决了现有的测试仪在对半导体进行测试时没有对半导体进行限位的结构，导致半导体在测试时会出现偏移的现象，导致测试的结果不准确的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种便于使用的半导体模块测试装置，包括箱体，所述箱体的顶部固定连接有操作盒，所述操作盒的顶部固定连接有平台，所述平台顶部的后侧固定连接有测试装置，所述操作盒内腔右侧的底部固定连接有微型气缸，所述微型气缸的输出端固定连接有推杆，所述推杆的底部固定连接有滑杆，所述滑杆的底部与操作盒的内壁滑动连接，所述推杆的左侧固定连接有连接块，所述连接块的左侧固定连接有固定板，所述固定板正面的左侧固定连接有固定销，所述固定销的底部通过转轴活动连接有销轴，所述销轴的底部与操作盒的内壁固定连接，所述固定销的表面套接有活动框，所述活动框正面的顶部固定连接有传动销，所述传动销的表面套接有传动框，所述传动框的顶部固定连接有传动板，所述传动板的两侧均与操作盒的内壁滑动连接，所述传动板顶部的两侧均固定连接有传动柱，所述传动柱的顶部贯穿至平台的顶部。

优选的，所述操作盒内腔的底部开设有滑槽一，所述滑杆的底部滑动连接在滑槽一的内部。

优选的，所述传动板顶部的两侧且位于传动柱的外侧均固定连接有弹簧，所述弹簧的顶部与操作盒的内壁固定连接。

优选的，所述操作盒内腔两侧的顶部均开设有滑槽二，所述传动板的两侧均滑动连接在滑槽二的内部。

优选的，所述微型气缸的底部固定连接有支撑块，所述支撑块的底部与操作盒的内壁固定连接。

优选的，所述微型气缸的型号为as2201f-02-11s。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果如下：

1、本实用新型通过操作盒、平台、测试装置、微型气缸、推杆、滑杆、连接块、固定板、固定销、销轴、活动框、传动销、传动框、传动板和传动柱的配合使用，通过传动板带动传动柱向上移动，使传动柱延伸至平台的顶部，达到可以对半导体进行限位以便于使用者测试的效果，该便于使用的半导体模块测试装置，解决了现有的测试仪在对半导体进行测试时没有对半导体进行限位的结构，导致半导体在测试时会出现偏移的现象，导致测试的结果不准确的问题，增强了测试仪的实用性，便于使用者使用。

2、本实用新型通过滑槽一的设置，能够使滑杆更加流畅的在操作盒的内部滑动，减少了滑杆与操作盒之间的摩擦，延长了滑杆的使用寿命，同时对滑杆起到了限位的效果，通过弹簧的设置，能够使传动板更加稳定的向上移动，同时对传动板起到了减震的效果，通过滑槽二的设置，能够使传动板更加流畅的在操作盒的内部滑动，减少了传动板与操作盒之间的摩擦，延长了传动板的使用寿命，同时对传动板起到了限位的效果，通过支撑块的设置，能够使微型气缸更加稳定的运作，防止微型气缸出现晃动倒塌的现象，同时对微型气缸起到了支撑的效果。

附图说明

图1为本实用新型结构示意图；

图2为本实用新型结构剖视图；

图3为本实用新型图2中a处放大结构图。

图中：1箱体、2操作盒、3平台、4测试装置、5微型气缸、6推杆、7滑杆、8连接块、9固定板、10固定销、11销轴、12活动框、13传动销、14传动框、15传动板、16传动柱、17滑槽一、18弹簧、19滑槽二、20支撑块。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1-3，一种便于使用的半导体模块测试装置，包括箱体1，箱体1的顶部固定连接有操作盒2，操作盒2内腔的底部开设有滑槽一17，滑杆7的底部滑动连接在滑槽一17的内部，通过滑槽一17的设置，能够使滑杆7更加流畅的在操作盒2的内部滑动，减少了滑杆7与操作盒2之间的摩擦，延长了滑杆7的使用寿命，同时对滑杆7起到了限位的效果，操作盒2内腔两侧的顶部均开设有滑槽二19，传动板15的两侧均滑动连接在滑槽二19的内部，通过滑槽二19的设置，能够使传动板15更加流畅的在操作盒2的内部滑动，减少了传动板15与操作盒2之间的摩擦，延长了传动板15的使用寿命，同时对传动板15起到了限位的效果，操作盒2的顶部固定连接有平台3，平台3顶部的后侧固定连接有测试装置4，操作盒2内腔右侧的底部固定连接有微型气缸5，微型气缸5的底部固定连接有支撑块20，支撑块20的底部与操作盒2的内壁固定连接，通过支撑块20的设置，能够使微型气缸5更加稳定的运作，防止微型气缸5出现晃动倒塌的现象，同时对微型气缸5起到了支撑的效果，微型气缸5的输出端固定连接有推杆6，推杆6的底部固定连接有滑杆7，滑杆7的底部与操作盒2的内壁滑动连接，推杆6的左侧固定连接有连接块8，连接块8的左侧固定连接有固定板9，固定板9正面的左侧固定连接有固定销10，固定销10的底部通过转轴活动连接有销轴11，销轴11的底部与操作盒2的内壁固定连接，固定销10的表面套接有活动框12，活动框12正面的顶部固定连接有传动销13，传动销13的表面套接有传动框14，传动框14的顶部固定连接有传动板15，传动板15顶部的两侧且位于传动柱16的外侧均固定连接有弹簧18，弹簧18的顶部与操作盒2的内壁固定连接，通过弹簧18的设置，能够使传动板15更加稳定的向上移动，同时对传动板15起到了减震的效果，传动板15的两侧均与操作盒2的内壁滑动连接，传动板15顶部的两侧均固定连接有传动柱16，传动柱16的顶部贯穿至平台3的顶部。

使用时，首先使用者先将需要测试的半导体放在平台3的顶部，然后再启动微型气缸5，微型气缸5的输出端带动推杆6向左移动，推杆6向左移动带动连接块8向左移动，连接块8向左移动带动固定板9和固定销10向左倾斜，然后就会带动活动框12和传动销13向左偏移，向左偏移的同时带动传动框14和传动板15向上移动，然后带动传动柱16向上移动，使传动柱16延伸至平台3的顶部，致使达到可以对半导体进行限位以便于使用者测试的效果。

综上所述：该便于使用的半导体模块测试装置，通过操作盒2、平台3、测试装置4、微型气缸5、推杆6、滑杆7、连接块8、固定板9、固定销10、销轴11、活动框12、传动销13、传动框14、传动板15和传动柱16的配合使用，通过传动板15带动传动柱16向上移动，使传动柱16延伸至平台3的顶部，达到可以对半导体进行限位以便于使用者测试的效果，该便于使用的半导体模块测试装置，解决了现有的测试仪在对半导体进行测试时没有对半导体进行限位的结构，导致半导体在测试时会出现偏移的现象，导致测试的结果不准确的问题。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。