一种金相试样夹持器的制作方法

本申请属于零件夹具，涉及一种金相试样夹持器。

背景技术：

1、金相检验是应用金相学方法检查金属或非金属材料内部宏、微观组织的工作。金相检验的主要过程包括：取样、镶样、磨制、抛光、组织显示。金相检验的过程离不开金相显微镜，金相显微镜是采用金相分析的方法观察检验金相试样的内部结构，可以对材料的疏松、气孔、夹渣组织均匀性、裂纹等进行检查。金相分析还可以提供调整工序及修改工艺参数的根据，指导工业生产。

2、在前期金相试样的制作中，往往需要一种金相试样夹持器，以便于在金相显微镜检测时简化检测金相试样的操作步骤。但是由于金相试样的大小不同，高度不一，现有技术存在无法调节高度，保持金相试样观察面与目镜距离一致的问题。

技术实现思路

1、鉴于以上所述现有技术的缺点，本申请的目的在于提供一种金相试样夹持器，用于解决现有技术无法调节高度，保持金相试样观察面与目镜距离一致的问题。

2、第一方面，本申请提供一种金相试样夹持器，包括：基座和置物台，所述置物台与所述基座活动连接，并能够相对所述基座上下移动。

3、在第一方面的一种实现方式中，所述基座包括：限位结构，用于限制所述置物台的移动方向以使所述置物台能够相对所述基座上下移动，位置调节结构，用于带动所述置物台沿所述基座上下移动。

4、在第一方面的一种实现方式中，所述基座具有第一侧壁，所述限位结构为沿所述第一侧壁的上下方向铣削的燕尾槽，所述置物台具有与所述燕尾槽相匹配的燕尾榫。

5、在第一方面的一种实现方式中，所述置物台下方具有齿条，所述位置调节结构包括齿轮轴，所述基座还具有第二侧壁，所述第二侧壁具有一第一通孔，所述齿轮轴与所述齿条传动连接，且所述齿轮轴的第一端穿过所述第一通孔。

6、在第一方面的一种实现方式中，所述位置调节结构还包括旋转调节结构，所述旋转调节结构设置于所述齿轮轴的第一端。

7、在第一方面的一种实现方式中，所述旋转调节结构包括手轮。

8、在第一方面的一种实现方式中，所述基座还包括与所述第二侧壁相对设置的第三侧壁，所述第三侧壁具有第二通孔，所述齿轮轴的第二端穿过所述第二通孔。

9、在第一方面的一种实现方式中，所述齿轮轴的第二端具有螺纹。

10、在第一方面的一种实现方式中，所述锁止结构用于在所述置物台移动至目标位置时锁止所述位置调节结构。

11、在第一方面的一种实现方式中，所述金相试样夹持器包括支撑座，所述支撑座设置于所述基座下方，用于支撑所述基座。

12、如上所述，本申请所述的金相试样夹持器，具有以下有益效果：

13、本申请所述的金相试样夹持器设置有与基座活动连接的置物台，置物台能够相对基座上下移动，可以调节金相试样的高度，实现金相试样观察面与目镜的距离保持一致的目的。

14、本申请所述的金相试样夹持器还设置有限位结构，限位结构能够避免金相试样置物台的晃动，保证置物台在移动过程中的平稳性。

15、进一步地，在一些实施例中，本申请所述的金相试样夹持器还可以包括一锁止结构。锁止结构可以用于固定置物台的位置，保证在金相显微镜观察过程中高度不变，提高金相显微镜的检测效率。

技术特征：

1.一种金相试样夹持器，其特征在于，包括：基座和置物台，所述置物台与所述基座活动连接，并能够相对所述基座上下移动；其中，所述基座包括：

2.根据权利要求1所述的金相试样夹持器，其特征在于，所述基座具有第一侧壁，所述限位结构为沿所述第一侧壁的上下方向铣削的燕尾槽，所述置物台具有与所述燕尾槽相匹配的燕尾榫。

3.根据权利要求2所述的金相试样夹持器，其特征在于，所述置物台下方具有齿条，所述位置调节结构包括齿轮轴，所述基座还具有第二侧壁，所述第二侧壁具有一第一通孔，所述齿轮轴与所述齿条传动连接，且所述齿轮轴的第一端穿过所述第一通孔。

4.根据权利要求3所述的金相试样夹持器，其特征在于，所述位置调节结构还包括旋转调节结构，所述旋转调节结构设置于所述齿轮轴的第一端。

5.根据权利要求4所述的金相试样夹持器，其特征在于，所述旋转调节结构包括手轮。

6.根据权利要求3所述的金相试样夹持器，其特征在于，所述基座还包括与所述第二侧壁相对设置的第三侧壁，所述第三侧壁具有第二通孔，所述齿轮轴的第二端穿过所述第二通孔。

7.根据权利要求6所述的金相试样夹持器，其特征在于，所述齿轮轴的第二端具有螺纹。

8.根据权利要求1所述的金相试样夹持器，其特征在于，所述基座还包括锁止结构，所述锁止结构用于在所述置物台移动至目标位置时锁止所述位置调节结构。

9.根据权利要求1所述的金相试样夹持器，其特征在于，所述金相试样夹持器包括支撑座，所述支撑座设置于所述基座下方，用于支撑所述基座。

技术总结
本申请提供一种金相试样夹持器，该金相试样夹持器包括基座和置物台，所述置物台与所述基座活动连接，并能够相对所述基座上下移动。所述金相试样夹持器能够调节高度，实现金相试样观察面与目镜的距离保持一致的目的。

技术研发人员：朱祖健,朱峰
受保护的技术使用者：上海杏脉信息科技有限公司
技术研发日：20221220
技术公布日：2024/1/12