流体喷射管芯的电流泄漏测试的制作方法

例如，流体喷射系统可以通过从喷嘴喷射流体以在介质上形成图像和/或形成三维物体来操作。在一些流体喷射系统中，流体微滴可以从流体喷射管芯中的喷嘴阵列释放。该流体可以结合到介质的表面并形成图形、文本、图像和/或物体。流体喷射管芯可包括多个流体腔室，其也称为喷发腔室。

附图说明

图1a图示了根据本公开的示例性流体喷射管芯的示图。

图1b图示了根据本公开的喷嘴的示例性剖面的示图。

图2进一步图示了根据本公开的示例性流体喷射管芯的示图。

图3是根据本公开的示例性系统的框图。

图4进一步图示了根据本公开的示例性方法。

贯穿附图，相同的附图标记标示相似但不一定相同的元件。附图不一定按比例绘制，并且可放大某些部分的尺寸以更清楚地图示所示的示例。此外，附图还提供了与描述一致的示例和/或实施方式；然而，描述并不限于附图中所提供的示例和/或实施方式。

具体实施方式

流体喷射管芯中的每个流体腔室可以与喷嘴阵列中的喷嘴流体连通，并且可以提供待通过该相应的喷嘴沉积的流体。在微滴释放之前，由于作用在喷嘴通道内的流体上的毛细力和/或背压，可以限制流体腔室中的流体离开喷嘴。作为将腔室中的流体与位于喷嘴下方的大气分离的流体表面的弯液面可以由于腔室的内部压力、重力和毛细力的平衡而被保持就位。

在微滴释放期间，通过主动增加腔室内的压力，可以促使流体腔室内的流体从喷嘴中离开。一些流体喷射管芯可以使用位于腔室内的电阻加热器来蒸发少量的流体中的至少一种组分。蒸发的一种或多种流体组分可以膨胀以在流体腔室内形成气态驱动气泡。这种膨胀可能超过足以将微滴从喷嘴中排出的约束力。在微滴的释放之后，流体腔室中的压力可以下降到低于该约束力的力量，并且流体的剩余部分可以被保持在腔室内。同时，驱动气泡可能会破裂，并且来自储存器的流体可流入到流体腔室中，从而补充从微滴释放损失的流体体积。每次指示流体喷射管芯喷发时，可以重复该过程。如本文所用的，流体喷射管芯上的一个和/或多个喷嘴的喷发是指流体喷射过程的执行。喷嘴的喷发也可以被称为驱动气泡事件。

如本文所用的，驱动气泡是指如下气泡，即：其作为流体喷射过程或维修事件的一部分从流体腔室内形成以分配流体微滴。驱动气泡可以由通过气泡壁与液态流体分离的蒸发流体制成。驱动气泡形成的时机可取决于待形成的图像和/或物体。

根据本公开的示例，流体喷射管芯中的每个喷嘴可具有相关联的喷嘴传感器。如果这些喷嘴传感器被电连接到电路，则它们可以被分层。这些喷嘴传感器可以是狭窄间隔的，并且因此，在某些情况下电流可在喷嘴传感器之间泄漏。然而，电的传导可能会影响驱动气泡的测量。如此，根据本公开，流体喷射管芯的电流泄漏测试可以允许快速确定流体喷射管芯上的喷嘴传感器是否电隔离。

图1a图示了根据本公开的示例性流体喷射管芯100的示图。如图1a中所示，流体喷射管芯100可包括多个喷嘴101-1、101-2、101-3...101-m(统称为喷嘴101)。该多个喷嘴101中的每个喷嘴可包括喷嘴传感器和流体喷射器。例如，喷嘴101-1可包括喷嘴传感器111-1，喷嘴101-2可包括喷嘴传感器111-2，喷嘴101-3可包括喷嘴传感器111-3，并且喷嘴101-m可包括喷嘴传感器111-r。如本文所用的，喷嘴传感器可以指可以检测相应喷嘴中的气泡的形成的装置和/或部件。喷嘴传感器的示例可以包括气蚀板和/或感测板等。喷嘴传感器可以由钽、钽铝、金和/或其他材料构成。如本文所用的，流体喷射器是指可以响应于喷发脉冲的施加而引起流体喷射的装置和/或部件。流体喷射器的示例可包括电阻器、压电膜和/或其他这样的部件。例如，图1b图示了喷嘴101-m的剖面的示图。参照图1b，在x轴和y轴上图示了流体喷射管芯100的顶视图，而在x轴和z轴上图示了喷嘴101-m的剖面图。虽然针对喷嘴101-m图示了剖面图，但是应当理解的是，也可以针对喷嘴101-1、101-2和101-3图示出相同的剖面图。除其他部件之外，喷嘴101-m可包括衬底层113、流体喷射器115和喷嘴传感器111-r。如本文所述，喷嘴传感器可以由钽及其他组分构成。除其他示例之外，流体喷射器115可以由钽铝和/或钨硅氮化物构成。然而，示例不限于此，并且流体喷射器115可以由集中功率耗散的任何电阻材料构成。喷嘴传感器111-1可以通过电介质117-2与流体喷射器115分离。类似地，流体喷射器115可以通过电介质117-1与衬底113分离。

喷嘴101-m可包括附加的组分，例如金属119-1、119-2和119-3。金属119-1和119-3可以被设置在流体喷射器115的相对侧上。此外，金属119-1和金属119-3可以被设置在电介质117-1的相对于衬底113的相对侧上。类似地，金属119-2可以被设置在电介质117-2的相对于金属119-1的相对侧上，并且设置在喷嘴传感器111-r的相对于电介质117-3的相对侧上。尽管在图1b中未图示，但每个喷嘴可包括流体腔室。例如，喷嘴101-m可包括设置在喷嘴101-m的与电介质117-2相对的表面上的流体腔室。

该多个喷嘴传感器111可以被分组成不同的子集。例如，该多个喷嘴传感器111可包括第一子集和第二子集，该第一子集包括喷嘴传感器111-1和111-3，该第二子集包括喷嘴传感器111-2和111-r。第一子集(喷嘴传感器111-1和111-3)的多个喷嘴传感器中的每个喷嘴传感器可以通过第一组开关中的相应开关105-1、105-n(在本文中统称为开关105)来电耦接到第一控制线103，并且第二子集(喷嘴传感器111-2和111-r)的多个喷嘴传感器中的每个喷嘴传感器可以通过第二组开关中的相应开关107-1、107-p(在本文中统称为开关107)来电耦接到第二控制线109。在一些示例中，第一组开关105可以与第二组开关107具有不同的类型。例如，开关105可以是n型开关，而开关107可以是p型开关。也就是说，喷嘴传感器111-1和111-3可以相应地通过p型开关105-1和105-n来电耦接到控制线103，并且喷嘴传感器111-2和111-r可以相应地通过p型开关107-1和107-p来电耦接到控制线109。如本文所用的，n型开关是指能够使用n型半导体来放大和/或切换电子信号的装置。n型开关的示例可以包括n型场效应晶体管(fet)和/或n型金属氧化物半导体场效应晶体管(mosfet)。然而，示例不限于此，并且所述多个喷嘴传感器可以按其他方式耦接到控制线。如本文所用的，p型开关是指能够使用p型半导体来放大和/或切换电子信号的装置。p型开关的示例可以包括p型fet和/或p型mosfet。尽管开关107和105相应地被图示为p型开关和n型开关，但是示例不限于此。例如，开关107可以是n型开关，并且开关105可以是p型开关。在另一个示例中，开关107和105可以是其他类型的开关，布置成使得在喷嘴传感器111之间产生交变偏压(alternatingbias)。

再次参照图1a，第一组开关105中的每个相应开关可包括电耦接到相应的喷嘴传感器的第一侧，以及电耦接到低偏置电压的第二侧。例如，开关105-1的第一侧可以被电耦接到喷嘴传感器111-1，并且开关105-1的第二侧可以被电耦接到低偏置电压，例如地或1v电源以及其他示例。开关105-1的栅极可以被电耦接到控制线103。类似地，第二组开关107中的每个相应开关可以包括电耦接到供应电压的第一侧，以及电耦接到相应的喷嘴传感器的第二侧。例如，开关107-1的例如栅极之类的第一侧可以经由控制线109来电耦接到供应电压，而开关107-1的第二侧可以被电耦接到喷嘴传感器111-2。也就是说，流体喷射管芯100可以包括电耦接到第一控制线103的第一组开关105的每个相应开关的栅极，以及电耦接到第二控制线109的第二组开关107的每个相应开关的栅极。

流体喷射管芯100还可包括控制电路110，以使用第一控制线103和第二控制线109来执行对所述多个喷嘴的电流泄漏测试。如本文所用的，控制电路是指使用多个控制线在所述多个喷嘴传感器111之间产生交变偏压的电路。也就是说，控制电路110可以使用第一控制线103和第二控制线109在所述多个喷嘴传感器之间产生交变偏压。控制电路110还可以通过对第一控制线103施加高偏置电压并且对第二控制线109施加低偏置电压来执行电流泄漏测试。

图2进一步图示了根据本公开的示例性流体喷射管芯200的示图。流体喷射管芯200可以类似于图1a中所示的流体喷射管芯100。如关于图1a所述，流体喷射管芯200可包括多个喷嘴201，并且该多个喷嘴中的每个喷嘴可包括喷嘴传感器和流体喷射器。而且，如关于图1b所论述的，每个喷嘴传感器也可以相对于相应的流体喷射器靠近流体腔室设置。

如图2中所示，流体喷射管芯200可包括多个下拉线(pull-downline)203-1、203-1(在本文中统称为下拉线203)，其电耦接到所述多个喷嘴传感器。该多个下拉线203中的每一个可以被电耦接到所述多个喷嘴传感器的子集。例如，下拉线203-1可以被电耦接到喷嘴传感器211-1和211-3，而下拉线203-2可以被电耦接到喷嘴传感器211-2和211-r。换句话说，下拉线203-1可以被称为“奇数”下拉线，并且下拉线203-2可以被称为“偶数”下拉线。奇数下拉线(例如，203-1)可以被电耦接到“奇数”编号的喷嘴传感器。例如，喷嘴传感器211-1可以是喷嘴传感器地址编号1，并且喷嘴传感器211-3可以是喷嘴传感器地址编号3。以这样的方式，“奇数”下拉线(203-1)可以被电耦接到“奇数”喷嘴传感器。类似地，偶数下拉线(例如，203-2)可以被电耦接到“偶数”编号的喷嘴传感器。例如，喷嘴传感器211-2可以是喷嘴传感器地址编号2，并且喷嘴传感器211-r可以是喷嘴传感器地址编号4。以这样的方式，“偶数”下拉线(203-2)可以被电耦接到“偶数”喷嘴传感器。换句话说，每个喷嘴的喷嘴传感器可以具有与其相关联的开关。奇数编号的喷嘴传感器可以使它们的开关通过一个下拉线控制，即奇数下拉线，而偶数编号的喷嘴传感器可以使它们的开关通过另一个控制线控制，即偶数下拉线。

如图2中所示，所述多个喷嘴传感器211中的每一个可以被电耦接到开关205-1、205-2、205-3...205-n(统称为开关205)，该开关将相应的喷嘴传感器连接到下拉线203-1或下拉线203-2。当相应的开关205被相应的控制线227-1、227-2、227-3...227-q(统称为控制线227)激活时，相关联的喷嘴传感器可以被电耦接到低电压供应。例如，喷嘴传感器211-1可以通过控制线227-1和开关205-1来电耦接到下拉线203-1。喷嘴传感器211-2可以通过控制线227-2和开关205-2来电耦接到下拉线203-2。喷嘴传感器211-3可以通过控制线227-3和开关205-3来电耦接到下拉线203-1。喷嘴传感器211-r可以通过控制线227-q和开关205-n来电耦接到下拉线203-2。

虽然下拉线203-1在本文中被描述为“奇数”下拉线，并且下拉线203-2在本文中被描述为“偶数”下拉线，但是这些名称仅用于说明目的。如此，下拉线203-1可以被称为“偶数”控制线，并且控制线203-2可以被称为“奇数”控制线。类似地，喷嘴传感器的“奇数”和“偶数”的名称可以颠倒。也就是说，不管命名如何，下拉线203-1和下拉线203-2可以被电耦接到所述多个喷嘴传感器211中的交替的喷嘴传感器，使得可以产生交变偏压。

流体喷射管芯200可包括上拉线(pull-upline)221。所述多个喷嘴传感器211中的每一个可以通过相应的控制线225-1、225-2、225-3...225-t(统称为控制线225)和开关207-1、207-2、207-3...207-p(统称为开关207)来电耦接到上拉线221。例如，喷嘴传感器211-1可以通过控制线225-1和开关207-1来电耦接到上拉线221。喷嘴传感器211-2可以通过控制线225-2和开关207-2来电耦接到上拉线221。喷嘴传感器211-3可以通过控制线227-3和开关207-3来电耦接到上拉线221。喷嘴传感器211-r可以通过控制线227-t和开关207-p来电耦接到上拉线221。上拉线可以相对于阈值电压施加高偏置电压，并且下拉线可以相对于阈值维持低偏置电压。

此外，开关207中的每一个还可以通过控制线229-1、229-2、229-3...229-x(统称为控制线229)来单独地激活。也就是说，开关207-1可以通过控制线229-1来激活(也称为“接通”)。开关207-2可以通过控制线229-2来激活。开关207-3可以通过控制线229-3来激活，并且开关207-p可以通过控制线229-x来激活。虽然本文中提供了一次激活单个控制线229的示例，但是示例不限于此，并且可以一次激活多个控制线229。如此，可以一次激活多个开关207。

如本文所述，可以执行流体喷射管芯200的电流泄漏测试。为了执行电流泄漏测试，可以通过相应的控制线229来激活所述多个开关207中的开关。例如，开关207-1可以通过发送到控制线229-1的信号来激活。在该特定示例中，开关207-2、207-3和207-p可以保持在断开位置。换句话说，为了测试喷嘴211-1和211-2之间的电流泄漏，可以接通开关207-1。接下来和/或同时，开关228可以通过测试信号222激活，这可以将上拉线221连接到高电压供应226。以这样的方式，响应于将特定喷嘴传感器电耦接到上拉线221的开关的激活，高偏置电压可以被施加于所述多个喷嘴传感器211中的特定喷嘴传感器(例如，211-1)。

在另一个示例中，为了执行特定喷嘴传感器、例如喷嘴传感器211-2的电流泄漏测试，开关207-2可以通过控制线229-2来激活，并且开关207-1、207-3和207-p可以保持断开。接下来和/或同时，开关228可以通过测试信号激活，这可以将上拉线221连接到高电压供应226。以这样的方式，开关207-2可以将控制线225-2连接到上拉线221。在另一个示例中，为了执行喷嘴传感器211-3的电流泄漏测试，开关207-3可以通过控制线229-3来激活等等。

如本文所述，上拉线221可以向所述多个喷嘴传感器211提供高偏置电压，而下拉线203可以向所述多个喷嘴传感器211提供低偏置电压。此外，通过交替地耦接下拉线203-1和下拉线203-2，可以在所述多个喷嘴传感器211之间产生交变偏压。例如，例如下拉线203-1的第一低偏置电压线可以被电耦接到所述多个喷嘴传感器的第一子集，例如喷嘴传感器211-1和211-3。当下拉线203-1被激活时，喷嘴传感器211-1和211-3可以维持低偏置电压。例如下拉线203-2的第二低偏置电压线可以被电耦接到所述多个喷嘴传感器的第二子集，例如喷嘴传感器211-2和211-r。当下拉线203-2被激活时，喷嘴传感器211-2和211-r可以维持低偏置电压。

如本文所述，流体喷射管芯200可响应于使用下拉线的低偏置电压的维持和使用上拉线的高偏置电压的施加，来执行所述多个喷嘴传感器211的电流泄漏测试。如本文所用的，低偏置电压的维持可以指例如1伏(1v)或2v之类的低电压的施加，和/或低偏置电压的维持可以指接地。可以响应于将测试电压施加于所述多个喷嘴传感器211中的特定喷嘴传感器以及施加所述多个喷嘴传感器中的不同喷嘴传感器的低偏置电压来执行电流泄漏测试，其中，所述不同喷嘴传感器与所述特定喷嘴传感器相邻。例如，可以通过使用下拉线203-2维持喷嘴传感器211-2和211-r上的低电压偏置，通过激活开关207-1将高电压偏置施加于喷嘴传感器211-1，以及对上拉线221施加高电压，来执行喷嘴传感器211-1的电流泄漏测试。当电流从226流动通过开关228，通过开关207-1和喷嘴传感器211-1，从而泄漏到喷嘴传感器211-2，通过开关205-2(其通过下拉线203-2激活)并到达低电压供应时，可以检测到形式为传感器到传感器泄漏的电流泄漏。喷嘴传感器211-1和211-2之间的电流的这种泄漏可以被检测为整个流体喷射管芯200所吸取的升高的电流。

在另一个示例中，流体喷射管芯200可以执行喷嘴传感器211-2的电流泄漏测试。在这样的示例中，可以使用下拉线203-1在喷嘴传感器211-2和211-3上维持低电压偏置。通过激活开关207-2并对上拉线221施加高电压，高电压偏置可以被施加于喷嘴传感器211-2。当电流从226流动通过开关228，通过开关207-2和喷嘴传感器211-2，从而泄漏到喷嘴传感器211-3，通过开关205-3(其通过下拉线203-1激活)并到达低电压供应时，可以检测到形式为传感器到传感器泄漏的电流泄漏。同样，喷嘴传感器211-2和211-3之间的电流的这种泄漏可以被检测为整个流体喷射管芯200所吸取的升高的电流。

在又一个示例中，可以一次测试多个喷嘴传感器。例如，可以同时针对喷嘴传感器的子集，例如喷嘴传感器211-1和211-3，执行电流泄漏测试。在这样的示例中，可以通过激活下拉线203-2在喷嘴传感器的子集(喷嘴传感器211-2和211-r)上维持低偏置电压。开关207-1和207-3二者可以相应地通过控制线229-1和229-3来激活。可以接通开关228，并且高偏置电压可以被施加于两个喷嘴传感器211-1和211-3，同时可以在喷嘴传感器211-2和211-r上维持低偏置电压。同样，喷嘴传感器211中的任何一个之间的电流泄漏可以被检测为整个流体喷射管芯200所吸取的升高的电流。

图3是根据本公开的示例性系统330的框图。系统330可以包括能够与至少一个远程系统通信的至少一个计算装置。在图3的示例中，系统330包括处理器331和机器可读介质333。尽管下面的描述涉及单个处理器和单个机器可读介质，但是描述也可适用于具有多个处理器和机器可读介质的系统。在这样的示例中，指令可以跨多个机器可读介质分布(例如，存储)，并且指令可以跨多个处理器分布(例如，通过其执行)。

处理器331可以是中央处理单元(cpu)、微处理器和/或适于检索和执行存储在机器可读介质333中的指令的其他硬件设备。在图3中所示的特定示例中，处理器331可以接收、确定和发送用于流体喷射管芯的电流泄漏测试的指令335、337、339和341。作为检索和执行指令的替代或补充，处理器331可以包括电子电路，该电子电路包括用于执行机器可读介质333中的指令的功能的多个电子部件。关于本文所描述和示出的可执行指令表示(例如，框)，应当理解的是，包括在一个框内的部分或全部可执行指令和/或电子电路在替代实施例中可以包括在图中所示的不同框中或未示出的不同框中。

机器可读介质333可以是存储可执行指令的任何电子、磁性、光学或其他物理存储设备。因此，例如，机器可读介质333可以是随机存取存储器(ram)、电可擦除可编程只读存储器(eeprom)、存储驱动器、光盘等。机器可读介质333可以被设置在系统330内，如图3中所示。在这种状况下，可执行指令可以被“安装”在系统330上。附加地和/或替代地，机器可读介质333可以是便携式、外部或远程的存储介质，例如，其允许系统330从便携式/外部/远程存储介质下载指令。在这种状况下，可执行指令可以是“安装包”的一部分。如本文所述，机器可读介质333可以编码有用于喷嘴传感器的低电压偏置的可执行指令。

参照图3，指令335当通过处理器(例如，331)执行时可以使系统330识别流体喷射管芯上的多个喷嘴用于电流泄漏测试。参照图1和图2，可以选择喷嘴和相关联的喷嘴传感器的全部或子集用于电流泄漏测试。也就是说，可以一次一个地寻址单个喷嘴，并且可以隔离泄漏。在其他示例中，可以在一列喷嘴(和相关联的喷嘴传感器)上执行电流泄漏测试。如果在该列中检测到电流泄漏，则可以对喷嘴(和相关联的喷嘴传感器)的基元(primitive)执行电流泄漏测试。如本文所用的，基元是指一组喷嘴，其中多个基元包括列。此外，如果在基元中检测到电流泄漏，则可以通过寻址该特定基元中的每个喷嘴(和相关联的喷嘴传感器)来识别泄漏的确切位置。

当通过处理器(例如，331)执行时，指令337可以使系统330使用下拉线和上拉线在所述多个喷嘴之间产生交变偏压。也就是说，在泄漏检测测试期间，可以激活例如下拉线203-1或203-2之类的低电压偏置线，并且可以激活例如上拉线221之类的高电压偏置线。

指令339当通过处理器(例如，331)执行时可以使系统330使用上拉线将测试电压(也称为高偏置电压)施加于所述多个喷嘴的子集，并且低偏置电压使用下拉线施加于所述多个喷嘴的其余部分。当通过处理器(例如，331)执行时，指令341可以使系统330响应于施加测试电压和将低偏置电压施加于所述多个喷嘴的其余部分，而执行所述多个喷嘴的电流泄漏测试。

在一些示例中，机器可读介质可以包括指令，其当通过处理器(例如，331)执行时，可以使系统330识别所述多个喷嘴中的一列喷嘴用于电流泄漏测试，使用上拉线将测试电压施加于该列喷嘴的子集，并且使用下拉线将低偏置电压施加于该列的其余部分。

在一些示例中，机器可读介质可以包括指令，其当通过处理器(例如，331)执行时，可以使系统330响应于在电流泄漏测试期间检测到电流泄漏，而识别所述多个喷嘴中的特定喷嘴用于后续的电流泄漏测试。也就是说，流体喷射管芯上的一列喷嘴可以指示形式为喷嘴到喷嘴(或更具体而言，传感器到传感器)的泄漏的电流泄漏。可以执行后续的电流泄漏测试以识别泄漏电流的特定喷嘴传感器。在这样的示例中，测试电压可以使用上拉线来施加于特定喷嘴(和相关联的喷嘴传感器)，并且低偏置电压可以使用下拉线来施加于相邻的喷嘴(和相关联的喷嘴传感器)。

图4进一步图示了根据本公开的示例性方法450。在451处，方法450可以包括开始电流泄漏测试。在453处，方法450可以包括设置测试地址。例如，如关于图2所述，可以选择与特定喷嘴传感器相关联的特定地址，使得将该特定喷嘴传感器连接到上拉线的开关被接通。在455处，方法450可以包括确定测试地址是奇数还是偶数。如本文所用的，测试地址是指待测试的喷嘴传感器的地址，如果测试地址是奇数，则方法450可以包括在457处激活偶数下拉线。也就是说，偶数编号的喷嘴传感器可以低偏置。类似地，如果测试地址是偶数，则方法450可以包括在459处激活奇数下拉线。也就是说，奇数编号的喷嘴传感器可以低偏置。在461处，方法450可以包括将用于测试地址的喷嘴传感器连接到高偏置电压。也就是说，用于分配给正被测试的地址的喷嘴的喷嘴传感器可以被电连接到上拉线(例如，图2中所示的221)。在463处，方法450可以包括确定是否存在电流泄漏。如果检测到电流泄漏，则方法450可以继续进行到467，以结束电流泄漏测试。如果未检测到电流泄漏，则方法450继续在465处确定测试地址是否等于管芯上的喷嘴数量。也就是说，如果8个喷嘴处于流体喷射管芯上，则可以确定最后的测试地址是否为地址8。如果测试地址不等于管芯上的喷嘴数量，则地址递增1，并且方法450从453重复。类似地，如果在465处测试地址等于管芯上的喷嘴数量，则方法450可以继续进行到467，以结束电流泄漏测试。

在本公开的前述详细描述中，参考了形成其一部分的附图，并且在附图中通过图示的方式示出了可以如何实践本公开的示例。这些示例被足够详细地描述，以使本领域技术人员能够实践本公开的示例，并且要理解的是，可以利用其他示例，并且可以进行过程、电气和/或结构变化，而不脱离本公开的范围。

本文中的附图遵循编号惯例，其中，第一个数字对应于附图图号，并且其余的数字标示附图中的元件或部件。可以添加、交换和/或消除在本文的各个附图中所示的元件，以便提供本公开的多个附加示例。此外，附图中提供的元件的比例和相对尺度旨在说明本公开的示例，并且不应被理解为具有限制性的意义。如本文所用的，特别是关于附图中的附图标记的指示符“m”、“n”、“p”、“r”和“t”表示如此标示的多个特定特征可以包括在本公开的示例内。这些指示符可以表示相同或不同数量的特定特征。