基于成像盒芯片的数据处理装置、方法、芯片及成像盒与流程

本发明涉及打印成像技术领域，具体涉及一种基于成像盒芯片的数据处理装置、方法、芯片及成像盒。

背景技术：

成像设备，例如打印机、复印机和传真机等，用于将要成像的信息通过墨水、碳粉等成像材料成像到纸张等介质上。成像设备通常包括成像设备主体和成像盒，该成像盒通常以可拆卸的方式安装到成像设备主体中。为了标记成像盒内成像材料的消耗量或余量信息，成像盒上往往配置有一芯片，该芯片通常以可拆卸的方式安装在成像盒上。芯片上通常设置有非易失性存储模块，用于存储成像材料的消耗量或余量等可改写数据，以及其它与成像盒相关的只读数据。当成像盒安装到成像设备上时，成像盒上的芯片与成像设备之间进行数据通信。

基于多色成像的需求，成像设备上往往安装有多个成像盒，每个成像盒上分别安装有芯片，多个成像盒的芯片通常以共总线的方式与成像设备构建通信通道，比如，分别从成像设备延伸出电源线vcc、接地线gnd、时钟线clk和数据线dat构成的通信总线，每个芯片分别连接至电源线vcc和接地线gnd以获取电能，并基于时钟线clk来通过数据线dat与成像设备进行数据通信。为了避免连接至总线的多个芯片的响应冲突，芯片的非易失性存储模块内通常存储有各自单独的识别码(identification，简称id)信息。当成像设备需要访问连接至总线的某一成像盒(即目标成像盒)时，成像设备通过数据线dat发送需要响应的目标成像盒的id和读/写指令，连接至总线的各个成像盒分别接收来自成像设备的目标id和读/写指令，将所接收的目标id和自身所存储的id信息比较是否匹配，如果id相匹配(即所接收的目标id和所存储的id信息相同)，芯片响应成像设备的读/写指令执行数据读/写操作，如果id不匹配(即所接收的目标id和所存储的id信息不同)，本次通信芯片不做响应。

现有的这种成像设备与目标成像盒之间通过id呼叫响应的通信模式，在id不匹配时芯片不参与总线上的数据通信，然而，当参与通信的目标成像盒芯片异常时，没有监视总线上数据通信的话，是难以根据总线上的数据来判断是否是由于目标成像盒芯片内部的数据处理模块异常所引发的问题。

技术实现要素：

本发明提供了一种基于成像盒芯片的数据处理装置、方法、芯片及成像盒，解决了现有技术中存在的当参与通信的目标成像盒芯片异常时，没有监视总线上数据通信的话，是难以根据总线上的数据来判断是否是由于目标成像盒芯片内部的数据处理模块异常所引发的问题。

本发明的第一方面是为了提供一种基于成像盒芯片的数据处理装置，所述芯片包括：易失性存储模块和与所述易失性存储模块连接的非易失性存储模块，所述非易失性存储模块内存储有所述芯片的id，所述数据处理装置包括：

通信模块，用于连接至成像设备的总线，接收成像设备发送的访问指令，所述访问指令中携带有目标id；

指令分析模块，与所述通信模块连接，用于分析所述访问指令是读指令还是写指令；

判断模块，与通信模块连接，用于判断所述目标id与所述芯片的id是否匹配；

数据写入单元，分别与所述指令分析模块、判断模块和所述易失性存储模块连接，用于在判断所述目标id与所述芯片的id是否匹配之前，若所述访问指令为写指令，则将所述访问指令中的数据内容写入到所述易失性存储模块中。

本发明的第二方面是为了提供另一种基于成像盒芯片的数据处理装置，所述芯片包括：易失性存储模块和与所述易失性存储模块连接的非易失性存储模块，所述非易失性存储模块内存储有所述芯片的id，所述易失性存储模块包括：数据读写区和数据恢复区，所述数据读写区用于数据的写入和读出，所述数据恢复区用于恢复所述数据读写区的数据，所述数据处理装置包括：

通信模块，用于连接至成像设备的总线，接收成像设备发送的访问指令，所述访问指令中携带有目标id；

指令分析模块，与所述通信模块连接，用于分析所述访问指令是读指令还是写指令；

判断模块，与通信模块连接，用于判断所述目标id与所述芯片的id是否匹配；

数据写入单元，分别与所述指令分析模块、判断模块和所述易失性存储模块连接，用于在判断所述目标id与所述芯片的id是否匹配之前，若所述访问指令为写指令，则将所述访问指令中的数据内容写入到所述数据读写区。

本发明的第三方面是为了提供又一种基于成像盒芯片的数据处理装置，所述芯片包括：易失性存储模块和与所述易失性存储模块连接的非易失性存储模块，所述非易失性存储模块内存储有所述芯片的id，所述易失性存储模块包括数据写入区和数据读出区，所述数据写入区用于存储欲写入的数据，所述数据读出区用于存储欲读出的数据，所述数据处理装置包括：

通信模块，用于连接至成像设备的总线，接收成像设备发送的访问指令，所述访问指令中携带有目标id；

指令分析模块，与所述通信模块连接，用于分析所述访问指令是读指令还是写指令；

判断模块，与通信模块连接，用于判断所述目标id与所述芯片的id是否匹配；

数据写入单元，分别与所述指令分析模块、判断模块和所述易失性存储模块连接，用于在判断所述目标id与所述芯片的id是否匹配之前，若所述访问指令为写指令，则将所述访问指令中的数据内容写入到所述数据写入区。

本发明的第四方面是为了提供一种基于成像盒芯片的数据处理方法，所述芯片包括：易失性存储模块和与所述易失性存储模块连接的非易失性存储模块，所述非易失性存储模块内存储有所述芯片的id，所述数据处理方法包括：

接收成像设备发送的访问指令，所述访问指令中携带有目标id；

分析所述访问指令是读指令还是写指令；

若所述访问指令为写指令，则在判断所述目标id与所述芯片的id是否匹配之前，将所述访问指令中的数据内容写入到所述易失性存储模块中。

本发明的第五方面是为了提供另一种基于成像盒芯片的数据处理方法，所述芯片包括：易失性存储模块和与所述易失性存储模块连接的非易失性存储模块，所述非易失性存储模块内存储有所述芯片的id，所述易失性存储模块包括：数据读写区和数据恢复区，所述数据读写区用于数据的写入和读出，所述数据恢复区用于恢复所述数据读写区的数据，所述数据处理方法包括：

接收成像设备发送的访问指令，所述访问指令中携带有目标id；

分析所述访问指令是读指令还是写指令；

若所述访问指令为写指令，则在判断所述目标id与所述芯片的id是否匹配之前，将所述访问指令中的数据内容写入到所述数据读写区。

本发明的第六方面是为了提供又一种基于成像盒芯片的数据处理方法，所述芯片包括：易失性存储模块和与所述易失性存储模块连接的非易失性存储模块，所述非易失性存储模块内存储有所述芯片的id，所述易失性存储模块包括数据写入区和数据读出区，所述数据写入区用于存储欲写入的数据，所述数据读出区用于存储欲读出的数据，所述数据处理方法包括：

接收成像设备发送的访问指令，所述访问指令中携带有目标id；

分析所述访问指令是读指令还是写指令；

若所述访问指令为写指令，则在判断所述目标id与所述芯片的id是否匹配之前，将所述访问指令中的数据内容写入到所述数据写入区。

本发明的第七方面是为了提供一种芯片，所述芯片包括：易失性存储模块、与所述易失性存储模块连接的非易失性存储模块以及上述基于成像盒芯片的数据处理装置，其中，所述非易失性存储模块内存储有所述芯片的id。

本发明的第八方面是为了提供一种成像盒，包括上述的芯片。

本发明提供的基于成像盒芯片的数据处理装置、方法、芯片及成像盒，通过将芯片内设置有易失性存储模块，具体的，易失性存储模块与非易失性存储模块连接，并且易失性存储模块与处理模块连接，而处理模块在根据指令分析模块和/或判断模块输出的判断结果，会对易失性存储模块进行访问处理和/或触发易失性存储模块进行相应的操作，使得无论访问指令是读指令还是写指令以及id是否相匹配时，对于易失性存储模块均具有相应的执行操作，进而保证了芯片为成像设备的目标芯片时的数据通信，提高了该数据处理装置的实用性，有利于市场的推广与应用。

附图说明

图1为本发明实施例所给出的基于成像盒芯片的数据处理装置的结构示意图；

图2为本发明一实施例所给出的基于成像盒芯片的数据处理方法的流程示意图；

图3为本发明再一实施例所给出的基于成像盒芯片的数据处理方法的流程示意图；

图4为本发明又一实施例所给出的基于成像盒芯片的数据处理方法的流程示意图。

图中：

2、芯片；21、通信模块；

22、处理模块；221、数据写入单元；

222、数据读出单元；223、数据转存单元；

23、非易失性存储模块；24、易失性存储模块；

25、指令分析模块；26、判断模块。

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。给予本发明的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

下面结合附图和实施例，对本发明的具体实施方式作进一步详细描述。以下实例用于说明本发明，但不用来限制本发明的范围。

图1为本发明实施例所给出的基于成像盒芯片2的数据处理装置的结构示意图，参考附图1可知，本实施例提供了一种基于成像盒芯片的数据处理装置，该数据处理装置用于对芯片2与成像设备之间的数据进行分析处理，以保证芯片2作为成像设备的目标芯片2时的正常数据通信，具体的，上述芯片2包括：易失性存储模块24和与易失性存储模块24连接的非易失性存储模块23，其中，易失性存储模块24用于对从成像设备的总线接收的数据内容进行暂存，非易失性存储模块23存储有成像材料的消耗量或余量等可改写数据，以及芯片2的识别码(id)信息和其它与成像盒相关的只读数据等；数据处理装置包括：

通信模块21，在具有芯片2的成像盒安装至成像设备时连接至成像设备的总线，用于接收成像设备发送的访问指令，访问指令中携带有目标id；

其中，对于通信模块21的具体结构不做限定，例如，通信模块21可以是用于与成像设备侧的探针相抵接接触的通信触点，也可以是能够与成像设备建立无线通信的天线，多个芯片2的通信模块21可以同时通过总线接收成像设备所发送的指令或数据，也可以在总线上监视到其它芯片2发送给成像设备的数据；另外，通信模块21通过总线与成像设备相连接，以实现与成像设备进行数据通信，例如：接收成像设备发送的访问指令，其中，对于访问指令的具体内容不做限定，只要能够保证访问指令中携带有目标id即可，例如，可以将访问指令设置为包括：id、读/写指令的呼叫信息以及从成像设备的总线接收要写入芯片2的数据内容或将芯片2本地存储的内容发送至总线的指令信息等。

指令分析模块25，与通信模块21连接，用于分析访问指令是读指令还是写指令；

其中，对于指令分析模块25分析访问指令的具体方式不做限定，本领域技术人员可以根据具体的设计需求进行设置，例如，可以将访问指令中设置有特征标识位，通过对访问指令中的特征标识位的分析即可确认是读指令或者是写指令。

判断模块26，与通信模块21连接，用于判断目标id与芯片的id是否匹配；

对于判断模块26判断目标id与芯片的id是否匹配的判断方法不做限定，本领域技术人员可以根据具体的设计需求进行设置，其中，本实施例中的匹配可以为目标id与芯片的id完全相同或者目标id与芯片的id的相似度大于或等于预设阈值(预设阈值的具体范围根据具体的设计需求进行设置)，为了提高对比的精确可靠性，较为优选的，将该实施例中的匹配设置为完全相同，即判断模块26判断目标id与芯片的id是否完全相同，若目标id与芯片的id完全相同，则匹配；若目标id与芯片的id不相同，则为不匹配。

处理模块22，分别与指令分析模块25、判断模块26、易失性存储模块24和非易失性存储模块23连接，用于根据指令分析模块25和/或判断模块26输出的判断结果，对易失性存储模块24进行访问处理和/或触发易失性存储模块24进行相应的操作。

其中，对于处理模块22的具体结构不做限定，例如：处理模块22可以是单独设置的单片机控制器，也可以是与存储模块集成于一体的多个控制电路组合等；另外，对于处理模块22的处理策略不做限定，本领域技术人员可以根据具体的设计需求进行设置，其中，由于指令分析模块25和判断模块26会输出不同的判断结果，例如：指令分析模块25的输出结果包括：分析访问指令是读指令或者分析访问指令是写指令，同样的，判断模块26的输出结果包括：目标id与芯片的id相匹配或者目标id与芯片的id不匹配，而在对易失性存储模块24进行控制时，会根据上述输出结果的不同组合而执行不同的操作，执行不同的操作包括：对易失性存储模块24进行访问处理和/或触发易失性存储模块24进行相应的操作，其中，访问处理包括读取信息、写入信息等，进而实现了芯片2上的易失性存储模块24与成像设备进行通信，提高了芯片2的数据处理速度。

其中，在芯片2上电时(有电能供给)，处理模块22将非易失性存储模块23的至少一部分数据加载至易失性存储模块24，以便芯片2直接通过易失性存储模块24执行数据的读取，以及，当易失性存储模块24的数据更新后或芯片2断电时(切断电能供给)，处理模块22将易失性存储模块24的至少一部分数据转存至非易失性存储模块23，以便写入芯片2的数据能够稳定存储。

上述至少一部分数据是指，非易失性存储模块23和易失性存储模块24的数据加载和转存可以是仅将非易失性存储模块23所存储的成像材料的消耗量或余量等成像设备经常读写的可改写数据加载至易失性存储模块24，并由易失性存储模块24全部转存至非易失性存储模块23，也可以是将非易失性存储模块23所存储的成像设备所有可能会读写的可改写数据和只读数据加载至易失性存储模块24，并由易失性存储模块24仅转存所更新的部分数据或将全部转存至非易失性存储模块23。而且，该转存操作可以是更新非易失性存储模块23中所存储的相应的数据，也可以是选取新的存储地址加以重新存储。

对于非易失性存储模块23和易失性存储模块24的具体结构不做限定，非易失性存储模块23可以采用eeprom，易失性存储模块24可以采用sram来实现，当然，也可以采用其他合理的元器件或电路组合来实现，例如，非易失性存储模块23还可以采用eprom、flash、铁电存储器或相变存储器等其它类型的非易失性存储器件来实现，或sram和电池/电容的供电装置的组合电路来实现，易失性存储模块24还可以采用寄存器、暂存器以及ram中的一种或几种来实现，只要能够实现数据暂存和稳定存储即可。

其中，本实施例所提供的芯片2中的易失性存储模块24，可以仅设置一个数据暂存区，完成非易失性存储模块23的数据加载、数据写入单元221的数据写入、数据读出单元222的数据读出和数据转存单元223所控制的数据转存至非易失性存储模块23的操作；也可以设置多个数据暂存区，分别完成数据的读写和加载转存，还可以设置多个数据暂存区，分别完成数据写入、读出以及相应的加载转存。

实施例一

继续参考附图1，访问指令的类型包括读指令和写指令，相应的处理模块22包括用于写操作的数据写入单元221、用于读操作的数据读出单元222，以及用于数据加载和转存操作的数据转存单元223。

当指令分析模块25的输出结果为写指令时，处理模块22设置为：

数据写入单元221，用于在分析访问指令为写指令时，则将访问指令中的数据内容写入到易失性存储模块24中；

其中，当访问指令为写指令时，访问指令中包括有欲写入芯片2内的数据内容，为了提高数据处理的效率，而无论目标id与芯片的id是否匹配，较为优选的，则直接将数据内容写入到易失性存储模块24中进行暂存。

数据转存单元223，用于若目标id与芯片的id相匹配，则触发易失性存储模块24将本地存储的内容转存到非易失性存储模块23。

其中，在将访问指令中的数据内容写入到易失性存储模块24中之后，由于易失性存储模块24只用于对数据进行暂存，因此，当判断模块26的输出结果为目标id与芯片的id相匹配时，则需要对欲写入芯片2的数据内容进行稳定存储，具体的，将数据转存单元223设置为，当易失性存储模块24的数据更新后或芯片2断电时，触发易失性存储模块24将至少一部分本地存储的内容转存到非易失性存储模块23，其中，本地存储的内容包括访问指令中的数据内容，当易失性存储模块24将本地存储的内容转存到非易失性存储模块23中后，实现了非易失性存储模块23对数据的稳定存储，在保证对数据处理效率的同时，提高了数据存储的稳定可靠性。

基于本发明的技术方案，针对现有技术中存在的问题：由于成像设备与目标成像盒之间采用id呼叫响应的通信模式，在id不匹配时，芯片2不参与总线上的数据通信；同时也存在另一种情况，当参与通信的目标成像盒芯片2出现异常时，其它成像盒芯片2仍然不参与总线上的数据通信，此时，由于没有监视总线上的通信数据，难以根据总线上的数据来判断目标成像盒芯片2不参与数据通信的原因是否是由于目标成像盒芯片2内部发生异常所引发的问题。

本实施例所提供的芯片2在访问指令为写指令时直接将总线的数据写入至易失性存储模块24，用于监视总线上的数据，还可以监视成像设备发送给其它目标芯片的数据并写入至易失性存储模块24，该存储至易失性存储模块24的监视数据可以直接转存至非易失性存储模块23，也可以在成像设备与目标芯片正常通讯时仅存储在易失性存储模块24中而不转存至非易失性存储模块23，在通讯异常时再转存至非易失性存储模块23，也可以从不转存至非易失性存储模块23，而是由附加至成像设备上的或独立的附属设备通过芯片2的后门直接从易失性存储模块24中读取数据进行异常分析，针对监视数据的处理方式不做限定，本领域技术人员可以根据具体的设计需求进行设置，只要能够实现上述监控功能效果即可。

然而，当目标id与芯片的id不匹配时，也已经将访问指令中的数据内容写入到了易失性存储模块24中，为了使易失性存储模块24存储着能够直接响应成像设备的数据，

数据转存单元223，设置为还用于：

在将访问指令中的数据内容写入到易失性存储模块24中之后，若目标id与芯片的id不匹配，则触发非易失性存储模块23将本地存储的内容重新加载到易失性存储模块24。

在将访问指令中的数据内容写入到易失性存储模块24中之后，当判断模块26的输出结果为目标id与芯片的id不匹配时，那么也就是说，成像设备所要写入数据内容的芯片2并不是当前的芯片2，此时，芯片2的易失性存储模块24已经写入了访问指令中的数据内容，需要触发非易失性存储模块23将本地存储的内容重新加载到易失性存储模块24，使得易失性存储模块24存储着能够直接响应成像设备的本芯片2的数据，便于下一次访问指令的执行。

当指令分析模块25的输出结果为读指令时，将处理模块22设置为：

数据读出单元222，用于在分析访问指令为读指令、且目标id与芯片的id相匹配时，则读取易失性存储模块24本地存储的内容。

并且还可以将数据读出单元222设置为，用于在分析访问指令为读指令、且目标id与芯片的id不匹配时，不执行读取操作。

其中，对于数据读出单元222的具体结构不做限定，本领域技术人员可以根据具体的设计需求进行设置，只要能够实现上述功能效果即可，在此不再赘述。

当分析访问指令为读指令时，则说明成像设备的需求为读取目标芯片2本地存储的某一内容，因此需要判断当前芯片2是否为目标芯片2，在判断模块26的输出结果为目标id与芯片的id相匹配时，则说明当前芯片2为目标芯片2，即可以使得成像设备读取该芯片2中的数据内容，其中，在芯片2上电后，将非易失性存储模块23中存储的至少部分数据加载到易失性存储模块24，这样使得成像设备可以直接读取易失性存储模块24中存储的内容信息，提高了数据读取的速度和效率；并且判断模块26的输出结果为目标id与芯片的id不匹配时，则说明当前芯片2不是成像设备所要读取内容的目标芯片2，因此，不执行读取操作；通过上述操作过程，可以有效地减少数据读取的时间，提高了数据处理的速度和效率，并且保证了该装置使用的稳定可靠性。

虽然本实施例在分析访问指令为读指令且目标id与芯片的id不匹配时数据读出单元222设置为并不执行读取操作，优选的是，处理模块22的数据读出单元222不执行读出操作，同时数据写入单元221也不执行写入操作，以缩减芯片2的工作量，但是，基于其它数据监视目的的需要，也可以在访问指令为读指令且目标id与芯片的id不匹配时将处理模块22设置为：

数据写入单元221用于在分析访问指令为读指令、且目标id与芯片的id不匹配时，将从总线接收的数据内容写入到易失性存储模块24中。

当处理模块22设置为上述操作时，进一步还可以在将总线接收的数据内容写入到易失性存储模块24中后，或者以后的某一时间比如芯片空闲时，由数据转存单元223基于目标id与芯片的id不匹配触发非易失性存储模块23将本地存储的内容重新加载到易失性存储模块24，以使易失性存储模块24存储着能够直接响应成像设备的读写请求的数据。

实施例二

继续参考附图1，本实施例的易失性存储模块24不同于实施例一所提供的易失性存储模块24，本实施例中的易失性存储模块24设置为包括：数据读写区和数据恢复区，其中，数据读写区用于数据的写入和读出，数据恢复区用于恢复数据读写区的数据；相对应的：

当指令分析模块25的输出结果为写指令时，处理模块22设置为包括：

数据写入单元221，还用于在分析访问指令为写指令时，则将访问指令中的数据内容写入到数据读写区；

其中，数据写入单元221在分析访问指令为写指令时，需要将访问指令中的数据内容写入到易失性存储模块24中的数据读写区，以实现数据写入的过程。

数据转存单元223，还用于若目标id与芯片的id相匹配，则触发数据读写区将本地存储的内容转存到数据恢复区和/或非易失性存储模块23。

在将访问指令中的数据内容写入到数据读写区之后，当判断模块26的输出结果为目标id与芯片的id相匹配时，则说明当前芯片2即为成像设备欲写入数据内容的目标芯片2，因此，需要对写入到数据读写区的数据内容进行稳定存储，具体的，可以触发数据读写区先将本地存储的内容转存到数据恢复区，在后续的空闲时间或芯片2断电时，再将数据恢复区的数据回写转存到非易失性存储模块23，或者，也可以触发数据读写区同时将本地存储的内容转存到数据恢复区和非易失性存储模块23，或者，还可以触发数据读写区只将本地存储的内容转存到非易失性存储模块23，而且可附加的在以后的某一时间由数据转存单元223控制将非易失性存储模块23的数据重加载至数据恢复区，其中，数据读写区内本地存储的内容包括访问指令中的数据内容。

当数据读写区将本地存储的内容转存到数据恢复区之后，并不能够保证数据内容存储的稳定可靠性，因此，将数据转存单元223设置为还用于：在触发数据读写区将本地存储的内容转存到数据恢复区之后，将数据恢复区本地存储的内容转存到非易失性存储模块23。该转存到非易失性存储模块23的操作可以在转存到数据恢复区后立即执行，也可以在芯片2空闲时或芯片2断电时才触发执行，这样使得访问指令中的数据内容最终会转存到非易失性存储模块23中，进而有效地实现了将访问指令中的数据内容写入到芯片2中，并通过非易失性存储模块23进行稳定存储的效果，提高了成像盒芯片2的数据处理装置使用的稳定可靠性，而且，在将访问指令中的数据内容写入到数据读写区后，先将数据读写区本地存储的内容转存到数据恢复区，能够有效缩短数据转存所需的时间，提高数据处理的速度和效率。

在将访问指令中的数据内容写入到数据读写区后，在判断模块26输出的结果为目标id与芯片的id不匹配时，将数据转存单元223，设置为还用于：

在将访问指令中的数据内容写入到数据读写区之后，若目标id与芯片的id不匹配，则触发数据恢复区将本地存储的内容加载到数据读写区。

当判断模块26输出的结果为目标id与芯片的id不匹配时，则说明当前芯片2并不是成像设备欲写入数据内容的目标芯片2，一般情况下，数据读写区的内存空间会直接影响到数据读写区的数据处理速度，因此，为了保证并提高易失性存储模块24中数据读写区的数据处理速度，触发数据恢复区将本地存储的内容加载到数据读写区，这样会覆盖掉数据读写区内写入的数据内容，保证了数据读写区的处理速度，使得数据读写区存储着能够直接响应成像设备的本芯片2的数据，便于下一次访问指令的执行，而且从数据恢复区加载数据至数据读写区，不必从非易失性存储模块23加载，提高了数据加载恢复的速度，有效减少数据读取时间。

当指令分析模块25的输出结果为读指令时，将处理模块22设置为：

数据读出单元222，用于在分析访问指令为读指令、且目标id与芯片的id相匹配时，则读取数据读写区本地存储的内容。

并且，还可以将数据读出单元222设置为，用于在分析访问指令为读指令、且目标id与芯片的id不匹配时，不执行读取操作。

通过上述操作过程，同样可以有效地减少数据读取的时间，提高了数据处理的速度和效率，并且保证了该装置使用的稳定可靠性。

同样的，虽然本实施例在分析访问指令为读指令且目标id与芯片的id不匹配时数据读出单元222设置为并不执行读取操作，优选的是，数据读出单元222不执行读出操作，同时数据写入单元221也不执行写入操作，但是，基于其它数据监视目的的需要，也可以在访问指令为读指令且目标id与芯片的id不匹配时将处理模块22设置为：

数据写入单元221用于在分析访问指令为读指令、且目标id与芯片的id不匹配时，将从总线接收的数据内容写入到数据读写区中。

当处理模块22设置为上述操作时，进一步还可以在将总线接收的数据内容写入到数据读写区后，或者以后的某一时间比如芯片空闲时，由数据转存单元223基于目标id与芯片的id不匹配的结果触发数据恢复区将本地存储的内容加载到数据读写区，以使数据读写区存储着能够直接响应成像设备的读写请求的数据。

实施例三

继续参考附图1，本实施例的易失性存储模块24不同于实施例一或实施例二所提供的易失性存储模块24，本实施例中的易失性存储模块24设置为包括：数据写入区和数据读出区，其中，数据写入区用于存储欲写入的数据，数据读出区，用于存储欲读出的数据；相对应的：

当指令分析模块25的输出结果为写指令时，处理模块22设置为：

数据写入单元221，还用于在分析访问指令为写指令时，则将访问指令中的数据内容写入到数据写入区。

当指令分析模块25的输出结果为访问指令为写指令时，则说明此时成像设备存在写入芯片2的数据内容，因此，为了提高数据处理的效率，将访问指令中的数据内容写入到数据写入区。

数据转存单元223，还用于若目标id与芯片的id相匹配，则触发数据写入区将本地存储的内容转存到数据读出区和/或非易失性存储模块23。

在将访问指令中的数据内容写入到数据写入区之后，当判断模块26的输出结果为目标id与芯片的id相匹配时，则说明当前芯片2即为成像设备欲写入数据内容的目标芯片2，因此，需要对写入到数据写入区的数据内容进行稳定存储，具体的，可以触发数据写入区先将本地存储的内容转存到数据读出区，在后续的芯片2空闲时间或芯片2断电时，再将数据读出区的数据回写转存到非易失性存储模块23，或者，也可以触发数据写入区同时将本地存储的内容转存到数据读出区和非易失性存储模块23，或者，还可以触发数据写入区只将本地存储的内容转存至非易失性存储模块23，而且可附加的在以后的某一时间由数据转存单元223控制将非易失性存储模块23的数据重转存至数据读出区，其中，数据写入区内本地存储的内容包括访问指令中的数据内容。

同样的，为了保证数据内容存储的稳定可靠性，数据转存单元223，设置为还用于：在触发数据写入区将本地存储的内容转存到数据读出区之后，将数据读出区本地存储的内容转存到非易失性存储模块23。该转存到非易失性存储模块23的操作可以在转存到数据读出区后立即执行，也可以在芯片2空闲时或芯片2断电时才触发执行，而且，先将数据写入区本地存储的内容转存到数据读出区，同样能够提高数据处理的速度和效率。

基于本实施例，在数据写入单元221将访问指令中的数据内容写入到数据写入区之后，若目标id与芯片的id不匹配，数据转存单元223不执行将数据写入区的数据进行转存的操作，也不必执行从数据读出区加载并恢复数据写入区的数据的操作。从而，本实施例的芯片2在id不匹配时也不需向数据写入区加载或恢复数据，节省了数据加载时间，提高了完成写入操作的效率。

当指令分析模块25的输出结果为读指令时，将处理模块22设置为：

数据读出单元222，用于在分析访问指令为读指令、且目标id与芯片的id相匹配时，则读取数据读出区本地存储的内容。

其中，数据读出区本地存储的内容为预先从非易失性存储模块23中加载的或从数据写入区转存的数据内容，以供成像设备进行读取操作，从而可以有效地提高数据读取的速度和效率。

可选的，在分析访问指令为读指令且目标id与芯片的id不匹配时，可以将数据读出单元222设置为不执行读取操作，同时，将数据写入单元221设置为不执行写入操作。

也可选的，基于其它数据监视目的的需要，在访问指令为读指令且目标id与芯片的id不匹配时将处理模块22设置为：

数据写入单元221用于在分析访问指令为读指令、且目标id与芯片的id不匹配时，将从总线接收的数据内容写入到数据写入区。

在分析访问指令为读指令且目标id与芯片的id不匹配时，通过将目标芯片发送至成像设备的总线上的数据内容写入至数据写入区，可以达到监视其它芯片的数据通信的目的，而且，在写入完成后不必向数据写入区的数据加载恢复操作，提高芯片2的工作效率，相比于以上实施例，省去了数据加载恢复的时间，使芯片2以更简单的步骤实现监视其他芯片2发送给成像设备的数据，进一步提高了芯片2的监视性能和工作效率。

需要说明的是，上述实施例所提供的易失性存储模块24所包括的至少两个数据区：数据读写区和数据恢复区，或者，数据写入区和数据读出区，这至少两个数据区可以设置在同一易失性存储器件中的不同数据暂存地址，也可以采用至少两个易失性存储器件或至少两组多个易失性存储器件构成的数据暂存模组来实现该至少两个数据区的数据存储和读取功能。

实施例四

本实施例提供了一种基于成像盒芯片的数据处理方法，该数据处理方法的执行主体为上述实施例一至三所提供的基于成像盒芯片2的数据处理装置，该数据处理方法用于对芯片2与成像设备之间的数据进行分析处理，具体的，该处理方法是与实施例一至三相对应的，其中，芯片2包括：易失性存储模块24和与易失性存储模块24连接的非易失性存储模块23，易失性存储模块24用于对从成像设备的总线接收的数据内容进行暂存，非易失性存储模块23存储有成像材料的消耗量或余量等可改写数据，以及芯片2的识别码(id)信息和其它与成像盒相关的只读数据等。

整体上来说，该数据处理方法主要包括：

s101：接收成像设备发送的访问指令，访问指令中携带有目标id；

数据处理装置通过总线接收成像设备发送的访问指令，其中，对于访问指令的具体内容不做限定，只要能够保证访问指令中携带有目标id即可，例如，可以将访问指令设置为包括：id、读/写指令的呼叫信息以及从成像设备的总线接收的要写入芯片2的数据内容或将芯片2存储的数据发送至总线的指令信息等。

s102：分析访问指令是读指令还是写指令；

其中，对于分析访问指令的具体方式不做限定，例如，可以将访问指令中设置有特征标识位，通过对访问指令中的特征标识位的分析即可确认是读指令或者是写指令。

s103：判断目标id与芯片的id是否匹配；

对于判断目标id与芯片的id是否匹配的判断方法不做限定，其中，本实施例中的匹配可以为目标id与芯片的id完全相同或者目标id与芯片的id的相似度大于或等于预设阈值(预设阈值的具体范围根据具体的设计需求进行设置)，为了提高对比的精确可靠性，较为优选的，将该实施例中的匹配设置为完全相同，即判断模块26判断目标id与芯片的id是否完全相同，若目标id与芯片的id完全相同，则匹配；若目标id与芯片的id不相同，则为不匹配。

s104：根据分析访问指令的分析结果和/或判断目标id与芯片的id是否匹配的判断结果，对易失性存储模块24进行访问处理和/或触发易失性存储模块24进行相应的操作。

其中，由于分析的访问指令的分析结果和判断目标id与芯片的id是否匹配的判断结果会输出不同的结果，例如：分析的访问指令的分析结果包括：分析访问指令是读指令或者分析访问指令是写指令，同样的，判断目标id与芯片的id是否匹配的判断结果包括：目标id与芯片的id相匹配或者目标id与芯片的id不匹配，而在对易失性存储模块24进行控制时，会根据上述输出结果的单个不同结果或者多个结果的不同组合而执行不同的操作，执行不同的操作包括：对易失性存储模块24进行访问处理和/或触发易失性存储模块24进行相应的操作，其中，访问处理包括读取信息、写入信息等，进而实现了芯片2上的易失性存储模块24与成像设备进行通信，提高了芯片2的数据处理速度。

其中，在芯片2上电时(有电能供给)，该方法包括：将非易失性存储模块23的至少一部分数据加载至易失性存储模块24，以便芯片2直接通过易失性存储模块24执行数据的读取，以及，当易失性存储模块24的数据更新后或芯片2断电时(切断电能供给)，将易失性存储模块24的至少一部分数据转存至非易失性存储模块23，以便写入芯片2的数据能够稳定存储。

上述至少一部分数据的具体含义与上述实施例中的“至少一部分数据”的具体含义相同，具体可参考上述实施例中的陈述内容，在此不再赘述。

此外，本实施例中非易失性存储模块23和易失性存储模块24的具体结构与上述实施例中非易失性存储模块23和易失性存储模块24的具体结构的具体结构相同，具体结构内容可参考上述实施例中非易失性存储模块23和易失性存储模块24的具体描述，在此不再赘述。

另外，对于上述步骤102、步骤103和步骤104虽然在描述和标号上设置为步骤102至104的先后顺序，但此顺序仅是为了描述清楚整个数据处理流程所做出的排序，本领域普通技术人员应当理解的是，由于步骤102中由指令分析模块25所执行的指令分析动作和步骤103中由判断模块26所执行的id判断动作是相互独立的，两者可以同时执行，也可以分别先后执行，只需在依据指令分析结果和/或id判断结果对易失性存储模块操作之前完成相应的动作即可；同样的，当步骤104中设置为仅需要单独根据步骤102中分析的访问指令的分析结果，或者，单独根据步骤103中判断目标id与芯片的id是否匹配的判断结果来对易失性存储模块操作时，步骤104的执行顺序也可以优先于其不需要根据的动作来执行，例如：在步骤102的指令分析动作后直接执行步骤104中的根据分析的访问指令的分析结果来对易失性存储模块操作，然后才执行步骤103的id判断动作以及后续的操作。

其中，本实施例所提供数据处理方法在具体实施时，可以将芯片2中的易失性存储模块24可以仅设置一个数据暂存区，完成非易失性存储模块23的数据加载、数据写入单元221的数据写入、数据读出单元222的数据读出和数据转存单元223所控制的数据转存至非易失性存储模块23的操作；也可以设置多个数据暂存区，分别完成数据的读写和加载转存，还可以设置多个数据暂存区，分别完成数据写入、读出以及相应的加载转存。

实施例五

图2为本发明实施例所给出的基于成像盒芯片的数据处理方法的具体流程示意图，在实施例四的基础上，参考附图2，其中，访问指令的类型包括读指令和写指令，因此，当在步骤s102中分析访问指令的类型为写指令时，该方法进一步包括：

s1041：在分析访问指令为写指令时，则将访问指令中的数据内容写入到易失性存储模块24中；

当访问指令为写指令时，访问指令中包括有欲写入芯片2内的数据内容，为了提高数据处理的效率，而无论目标id与芯片的id是否匹配，较为优选的，则直接将数据内容写入到易失性存储模块24中进行暂存。

s1042：若目标id与芯片的id相匹配，则触发易失性存储模块24将本地存储的内容转存到非易失性存储模块23。

在步骤s1041中将访问指令中的数据内容写入到易失性存储模块24中之后，由于易失性存储模块24只用于对数据进行暂存，因此，在步骤s103中当判断目标id与芯片的id相匹配时，则需要对欲写入芯片2的数据内容进行稳定存储，具体的，触发易失性存储模块24将本地存储的内容转存到非易失性存储模块23，其中，本地存储的内容包括访问指令中的数据内容，当易失性存储模块24将本地存储的内容转存到非易失性存储模块23中后，实现了非易失性存储模块23对数据的稳定存储，在保证对数据处理效率的同时，提高了数据存储的稳定可靠性。

基于本发明的技术方案，针对现有技术中存在的问题：由于成像设备与目标成像盒之间采用id呼叫响应的通信模式，在id不匹配时，芯片2不参与总线上的数据通信；同时也存在另一种情况，当参与通信的目标成像盒芯片2出现异常时，其它成像盒芯片2仍然不参与总线上的数据通信，此时，由于没有监视总线上的通信数据，难以根据总线上的数据来判断目标成像盒芯片2不参与数据通信的原因是否是由于目标成像盒芯片2内部发生异常所引发的问题。

从而，本实施例所提供的芯片的数据处理方法在访问指令为写指令时直接将总线的数据写入至易失性存储模块24，用于监视总线上的数据，还可以监视成像设备发送给其它目标芯片的数据并写入至易失性存储模块24，该存储至易失性存储模块24的监视数据可以直接转存至非易失性存储模块23，也可以在成像设备与目标芯片正常通讯时仅存储在易失性存储模块24中而不转存至非易失性存储模块23，在通讯异常时再转存至非易失性存储模块23，也可以从不转存至非易失性存储模块23，而是由附加至成像设备上的或独立的附属设备通过芯片2的后门直接从易失性存储模块24中读取数据进行异常分析，针对监视数据的处理方式不做限定，本领域技术人员可以根据具体的设计需求进行设置，只要能够实现上述监控功能效果即可。

然而，当在步骤s103中判断目标id与芯片的id不匹配时，也已经在步骤s1041中将访问指令中的数据内容写入到了易失性存储模块24中，为了使易失性存储模块24存储着能够直接响应成像设备的数据，继续参考附图2，本实施例的数据处理方法设置为还包括：

s1043：在将访问指令中的数据内容写入到易失性存储模块24中之后，若目标id与芯片的id不匹配，则触发非易失性存储模块23将本地存储的内容重新加载到易失性存储模块24。

在将访问指令中的数据内容写入到易失性存储模块24中之后，当判断模块26的输出结果为目标id与芯片的id不匹配时，那么也就是说，成像设备所要写入数据内容的芯片2并不是当前的芯片2，此时，此时，芯片2的易失性存储模块24已经写入了访问指令中的数据内容，需要触发非易失性存储模块23将本地存储的内容重新加载到易失性存储模块24，使得易失性存储模块24存储着能够直接响应成像设备的本芯片2的数据，便于下一次访问指令的执行。

进一步的，继续参考附图2，由于访问指令的类型包括读指令和写指令，而上述实施例对于指令分析模块25的输出结果为写指令的方法步骤进行了具体说明，那么当指令分析模块25的输出结果为读指令时，将方法设置为还包括：

s1044：在分析访问指令为读指令、且目标id与芯片的id相匹配时，则读取易失性存储模块24本地存储的内容。

s1045：在分析访问指令为读指令、且目标id与芯片的id不匹配时，不执行读取操作。

其中，当分析访问指令为读指令时，则说明成像设备的需求为读取目标芯片2本地存储的某一数据内容，因此需要判断当前芯片2是否为目标芯片2，在判断结果为目标id与芯片的id相匹配时，则说明当前芯片2为目标芯片2，即可以使得成像设备读取该芯片2中的数据内容；判断结果为目标id与芯片的id不匹配时，则说明当前芯片2不是成像设备所要读取内容的目标芯片2，因此，不执行读取操作，保证了该方法使用的稳定可靠性。

其中，为了提高数据读取的速度和效率，将方法设置为还包括：

s105：在芯片2上电后，将非易失性存储模块23中存储的至少部分数据加载到易失性存储模块24；

其中，上述步骤中的至少部分数据包括部分和全部，这样使得成像设备可以直接读取易失性存储模块24中存储的内容信息。

虽然本实施例在分析访问指令为读指令且目标id与芯片的id不匹配时将方法设置为并不执行读取操作，优选的是，该方法也不执行读出操作，同时也不执行写入操作，以缩减芯片2的工作量，但是，基于其它数据监视目的的需要，也可以在访问指令为读指令且目标id与芯片的id不匹配时，将方法具体设置为：

在分析访问指令为读指令、且目标id与芯片的id不匹配时，将从总线接收的数据内容写入到易失性存储模块24中。

当将方法设置为将数据内容写入到易失性存储模块24中时，进一步还可以在将总线接收的数据内容写入到易失性存储模块24中后，或者以后的某一时间比如芯片空闲时，基于目标id与芯片的id不匹配触发非易失性存储模块23将本地存储的内容重新加载到易失性存储模块24，以使易失性存储模块24存储着能够直接响应成像设备的读写请求的数据。

实施例六

在上述实施例四的基础上，参考附图3，本实施例的易失性存储模块24不同于实施例五所提供的易失性存储模块24，本实施例中的易失性存储模块24包括：数据读写区和数据恢复区，其中，数据读写区用于数据的写入和读出，数据恢复区用于恢复数据读写区的数据；相对应的，方法还包括：

s2041：在分析访问指令为写指令时，则将访问指令中的数据内容写入到数据读写区；

其中，在分析访问指令为写指令时，需要将访问指令中的数据内容写入到易失性存储模块24中的数据读写区，以实现的数据写入的过程。

s2042：若目标id与芯片的id相匹配，则触发数据读写区将本地存储的内容转存到数据恢复区和/或非易失性存储模块23。

在将访问指令中的数据内容写入到数据读写区之后，当判断模块26的输出结果为目标id与芯片的id相匹配时，则说明当前芯片2即为成像设备欲写入数据内容的目标芯片2，因此，需要对写入到数据读写区的数据内容进行稳定存储，具体的，可以触发数据读写区将本地存储的内容转存到数据恢复区，在后续的空闲时间或芯片2断电时，再将数据恢复区的数据回写转存到非易失性存储模块23，或者，也可以触发数据读写区同时将本地存储的内容转存到数据恢复区和非易失性存储模块23，或者，还可以触发数据读写区只将本地存储的内容转存到非易失性存储模块23，而且可附加的在以后的某一时间由数据转存单元223控制将非易失性存储模块23的数据重加载至数据恢复区，其中，数据读写区内本地存储的内容包括访问指令中的数据内容。

本实施例优选的，在步骤s2042中触发数据读写区将本地存储的内容转存到数据恢复区，然而，在触发数据读写区将本地存储的内容转存到数据恢复区之后，并不能够保证数据内容存储的稳定可靠性，因此，将方法设置为还包括：

s2046：将数据恢复区本地存储的内容转存到非易失性存储模块23。

该转存到非易失性存储模块23的操作可以在转存到数据恢复区后立即执行，也可以在芯片2空闲时或芯片2断电时才触发执行，这样使得访问指令中的数据内容最终会转存到非易失性存储模块23中，进而有效地实现了将访问指令中的数据内容写入到芯片2中，并通过非易失性存储模块23进行稳定存储的效果，提高了成像盒芯片2的数据处理方法使用的稳定可靠性。

从而，通过上述方法在将访问指令中的数据内容写入到数据读写区后，先将数据读写区本地存储的内容转存到数据恢复区，能够有效缩短数据转存所需的时间，提高数据处理的速度和效率。

另外，在步骤s2041中将访问指令中的数据内容写入到数据读写区之后，且在步骤s203所判断的目标id与芯片的id不匹配时，将方法设置为还包括：

s2043：若目标id与芯片的id不匹配，则触发数据恢复区将本地存储的内容加载到数据读写区。

当判断结果为目标id与芯片的id不匹配时，则说明当前芯片2并不是成像设备欲写入数据内容的目标芯片2，一般情况下，数据读写区的内存空间会直接影响到数据读写区的数据处理速度，因此，为了保证并提高易失性存储模块24中数据读写区的数据处理速度，触发数据恢复区将本地存储的内容加载到数据读写区，这样会覆盖掉数据读写区内写入的数据内容，保证了数据读写区的处理速度；使得数据读写区存储着能够直接响应成像设备的本芯片2的数据，便于下一次访问指令的执行，而且从数据恢复区加载数据至数据读写区，不必从非易失性存储模块23加载，提高了数据加载恢复的速度，有效减少数据读取时间。

当步骤s202中访问指令的分析结果为读指令时，方法还包括：

s2044：在分析访问指令为读指令、且目标id与芯片的id相匹配时，则读取数据读写区本地存储的内容。

s2045：在分析访问指令为读指令、且目标id与芯片的id不匹配时，不执行读取操作。

通过上述操作过程，同样可以有效地减少数据读取的时间，提高了数据处理的速度和效率，并且保证了该装置使用的稳定可靠性。

同样的，虽然本实施例在分析访问指令为读指令且目标id与芯片的id不匹配时，该数据处理方法设置为并不执行读取操作，优选的是，此时即不执行读出操作，同时也不执行写入操作，但是，基于其它数据监视目的的需要，也可以在访问指令为读指令且目标id与芯片的id不匹配时，将方法设置为：在分析访问指令为读指令、且目标id与芯片的id不匹配时，将从总线接收的数据内容写入到数据读写区中。

进一步还可以在将总线接收的数据内容写入到数据读写区后，或者以后的某一时间比如芯片空闲时，基于目标id与芯片的id不匹配的结果触发数据恢复区将本地存储的内容加载到数据读写区，以使数据读写区存储着能够直接响应成像设备的读写请求的数据。

实施例七

在上述实施例四的基础上，参考附图4，本实施例的易失性存储模块24不同于实施例五或实施例六所提供的易失性存储模块24，本实施例将易失性存储模块24设置为包括：数据写入区和数据读出区，其中，数据写入区用于存储欲写入的数据，数据读出区，用于存储欲读出的数据；相对应的，方法还包括：

s3041：在分析访问指令为写指令时，则将访问指令中的数据内容写入到数据写入区。

当判断结果为访问指令为写指令时，则说明此时成像设备存在写入芯片2的数据内容，因此，为了提高数据处理的效率，可以将访问指令中的数据内容写入到数据写入区。

s3042：若目标id与芯片的id相匹配，则触发数据写入区将本地存储的内容转存到数据读出区和/或非易失性存储模块23。

在将访问指令中的数据内容写入到数据写入区之后，当判断结果为目标id与芯片的id相匹配时，则说明当前芯片2即为成像设备欲写入数据内容的目标芯片2，因此，需要对写入到数据写入区的数据内容进行稳定存储，具体的，可以触发数据写入区将本地存储的内容转存到数据读出区，在后续的芯片2空闲时间或芯片2断电时，再将数据读出区的数据回写转存到非易失性存储模块23，或者，也可以触发数据写入区先将本地存储的内容转存到非易失性存储模块23，或者，还可以触发数据写入区只将本地存储的内容转存至非易失性存储模块23，而且可附加的在以后的某一时间由数据转存单元223控制将非易失性存储模块23的数据重加载至数据读出区，其中，数据写入区内本地存储的内容包括访问指令中的数据内容。

本实施例优选的，在步骤s3042中触发数据写入区将本地存储的内容转存到数据读出区，为了保证数据内容存储的稳定可靠性，在触发数据写入区将本地存储的内容转存到数据读出区之后，方法还包括：

s3046：将数据读出区本地存储的内容转存到非易失性存储模块23。

该转存到非易失性存储模块23的操作可以在转存到数据读出区后立即执行，也可以在芯片2空闲时或芯片2断电时才触发执行，而且，先将数据写入区本地存储的内容转存到数据读出区，同样能够提高数据处理的速度和效率。

基于本实施例，在将访问指令中的数据内容写入到数据写入区之后，若目标id与芯片的id不匹配，该方法不执行将数据写入区的数据进行转存的操作，也不必执行从数据读出区加载并恢复数据写入区的数据的操作。从而，本实施例的芯片2在id不匹配时也不需向数据写入区加载或恢复数据，节省了数据加载时间，提高了完成写入操作的效率。

当步骤s302中访问指令的分析结果为读指令时，将方法设置为还包括：

s3044：在分析访问指令为读指令、且目标id与芯片的id相匹配时，则读取数据读出区本地存储的内容。

其中，数据读出区本地存储的内容为预先从非易失性存储模块23中加载的数据内容，以供成像设备进行读取操作，这样可以有效地提高数据读取的速度和效率，进一步提高了该方法的实用性。

可选的，在分析访问指令为读指令且目标id与芯片的id不匹配时，可以不执行读取操作，同时也不执行写入操作。

本实施例优选的，基于其它数据监视目的的需要，在分析访问指令为读指令且目标id与芯片的id不匹配时，将方法设置为：

s3045：在分析访问指令为读指令、且目标id与芯片的id不匹配时，则将从总线接收的数据内容写入到数据写入区。

在分析访问指令为读指令且目标id与芯片的id不匹配时，通过将目标芯片发送至成像设备的总线上的数据内容写入至数据写入区，可以达到监视其它芯片的数据通信的目的，而且，在写入完成后不必向数据写入区的数据加载恢复操作，提高芯片2的工作效率，相比于以上实施例，省去了数据加载恢复的时间，使芯片2以更简单的步骤实现监视其他芯片2发送给成像设备的数据，进一步提高了芯片2的监视性能和工作效率。

需要说明的是，上述实施例所提供的易失性存储模块24所包括的至少两个数据区：数据读写区和数据恢复区，或者，数据写入区和数据读出区，这至少两个数据区可以设置在同一易失性存储器件中的不同数据暂存地址，也可以采用至少两个易失性存储器件或至少两组多个易失性存储器件构成的数据暂存模组来实现该至少两个数据区的数据存储和读取功能。

实施例八

本实施例的另一方面，提供了一种芯片2，该芯片2包括：易失性存储模块24、与易失性存储模块24连接的非易失性存储模块23以及上述基于成像盒芯片的数据处理装置，其中，非易失性存储模块23内存储有芯片的id。

实施例九

本实施例的又一方面提供了一种成像盒，包括上述的芯片2。

本实施例提供的成像盒，通过设置的上述芯片2，有效地保证了成像盒的正常工作效果，并且缩短了数据处理的时间，有效地提高了成像盒的工作效率，进而提高了成像盒的市场竞争力。

与现有技术相比，本技术方案所提供的芯片2、成像盒、芯片数据读写方法，芯片2在成像设备的读/写指令为写指令时直接将总线的数据写入至易失性存储模块24，并在id匹配时将数据转存，而在读指令且id匹配时将易失性存储模块24所存储的数据发送至总线，还可以在读指令且id不匹配时将总线的数据写入至易失性存储模块24，保证了芯片2为成像设备的目标芯片2时的数据通信，同时，芯片2也能够监视成像设备发送给其它目标芯片2的数据以及监视其它芯片2发送给成像设备的数据并写入至易失性存储模块24。

最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的范围。