一种墨盒检测仪的制作方法

本实用新型属于检测技术领域，具体涉及一种墨盒检测仪。

背景技术：

全世界每年消耗高达几亿个的墨盒。原装厂商、第三方耗材回收商都已经意识到回收废旧空壳的社会责任，然而，绝大多数墨盒上的原装却没有得到合理的回收和重复利用，由此产生的电子垃圾正在肆意污染者我们共同维护的环境。在回收并且重复利用大量旧的墨盒过程，如果每个都装上打印机进行测试将耗费大量时间和精力,而本测试仪则旨在测试目标佳能带头墨盒包括40/41，815/816，840/841，845/846等系列之电气性能的好坏；并检测出通路好坏，温控好坏，有效喷嘴数，墨盒型号和剩余墨水量等信息，大大提高批量生产的效率。

技术实现要素：

本实用新型要解决的技术问题是提供一种墨盒检测仪，用于回收并且重复利用大量旧的墨盒，解决电子垃圾正在肆意污染者生活环境的问题。

为解决上述技术问题，本实用新型采用如下的技术方案：

墨盒测试仪，包括MCU主控模块、电源模块、显示模块、输入模块、报警模块，其中，

所述电源模块用于给MCU主控模块、显示模块、报警模块提供电源；

所述显示模块的输入端与所述MCU主控模块的输出端连接，用于根据墨盒反馈的数据测试出目标墨盒通路，温控好坏，有效喷嘴数，墨盒型号和剩余墨水量；

所述输入模块的输入端与所述MCU主控模块的输出端连接，用于选择要测试的墨盒的型号；

所述报警模块的输入端与所述MCU主控模块的输出端连接，用于根据MCU主控模块输出相应的报警信号，驱动报警电路发出报警响声提示是否测试成功。

进一步地，所述电源模块采用24V/1A的适配器，将输入的24V将输入的24V电压转换成主控模块，显示模块，报警模块所要求的3.3V电源。

进一步地，所述MCU主控模块的MCU采用NEC 78K0系列的78F0513,该MCU有32K的FLASH程序存储器，2K的RAM空间，高达37个I/O端口，8通道10位A/D转换，3通道串行接口，电源电压工作范围为1.8V-5.5V。

进一步地，所述显示模块为液晶显示模块，显示屏可多行显示。

进一步地，所述输入模块采用5个独立按键分别为上，下，左，右，选择确认键。

进一步地，所述声光报警模块采用光传感器与蜂鸣器。

进一步地，所述温控电路通过MCU的一个端口对温控端口输出3.3V电压，MCU的另一个端口对PAD7的反馈电压进行AD采样。

采用本实用新型具有如下的有益效果：

1、使得绝大多数墨盒能得到合理的回收和重复利用，减少电子垃圾对环境的污染。

2、测试目标佳能带头墨盒包括40/41，815/816，840/841，845/846等系列之电气性能的好坏；并检测出通路好坏，温控好坏，有效喷嘴数，墨盒型号和剩余墨水量等信息，大大提高批量生产的效率。

附图说明

图1为本实用新型实施例的墨盒检测仪的电路结构图；

图2为本实用新型实施例的输入模块的电路原理图。

具体实施方式

参加图1，所示为本实用新型实施例墨盒检测仪的电路结构图，墨盒测试仪，包括MCU主控模块1、电源模块2、显示模块3、输入模块5、报警模块4，其中，电源模块2用于给MCU主控模块1、显示模块3、报警模块4提供电源；MCU主控模块1与其他外围模块电连接，用于控制其他外围模块，以及和它们之间进行通信和数据交换；显示模块3的输入端与所述MCU主控模块1的输出端连接，用于根据墨盒反馈的数据测试出目标墨盒通路，温控好坏，喷嘴数，墨盒型号和剩余墨水量；输入模块5的输入端与所述MCU主控模块1的输出端连接，用于选择要测试的墨盒的型号；报警模块4的输入端与所述MCU主控模块1的输出端连接，用于根据MCU主控模块1输出相应的报警信号，驱动报警电路发出报警响声提示是否测试成功。在本实用的实施方式中，MCU主控模块1是整个墨盒检测仪控制系统的控制核心，MCU主控模块1通过I/O口对墨盒发送数据后再采集墨盒返回的数据。该模块的主控芯片采用NEC 78K0系列的78F0513，该MCU有32K的FLASH程序存储器，2K的RAM空间，高达37个I/O端口，8通道10位A/D转换，3通道串行接口，电源电压工作范围为1.8V-5.5V，完全可以满足产品的应用要求。

电源模块2采用24V/1A的适配器，将输入的24V电压转换成主控模块，显示模块3，报警模块4所要求的3.3V电源。插上适配器后，显示模块3显示屏显示状态为Ready，则说明工作正常，其中，显示模块3为液晶显示模块3，显示屏可多行显示。支持中英文双显示，能清楚显示各种状态和参数信息；第一行为状态，第二行为型号，第三行为通路，第四行为温控，第五行为喷嘴，第六行为总结。然后原装墨盒贴上芯片之后，放入模具需要注意圆框所标注的地方要卡到位，再是墨盒按下，避免会出错；采用放好墨盒按输入模块5的“选择确认”键，进行检测；其中，参见图2，输入模块5采用5个独立按键分别为上，下，左，右，选择确认键。

其中，通路判断：通过对墨盒中的一个触点进行施加电压，从各个不同管脚得到反馈电压进行分析得出结果。比如：对VDD触点，如果该型号的几个VDD触点是导通的，则可以通过MCU_IO8输出“1”，使一个VDD触点加3.3伏电压，读取IO03上的电压，如果为“1”，则表示这两个VDD触点都是好的；如果读到的是“0”，则表示其中至少有一个VDD触点是坏的。

温控判断：温控电路通过MCU_IO7对温控端口输出3.3伏电压，MCU_IO11对PAD7的反馈电压进行AD采样。如两个管脚一个(MCU_IO7)输出3.3伏电压，另一个(MCU_IO11)在触点处测量电压值，依据TSR工作情况，会在PAD7触点处的电压产生变化，可以通过采样电压值进行判断。

喷嘴判断：在管脚间输入数据，监视管脚的反馈数据能够判断喷头在墨盒电路中的情况，墨盒中的管脚会根据喷头的状态给出不同的数据，分析这些数据能判断墨盒内部喷头的情况。

有益效果：一方面使得绝大多数墨盒能得到合理的回收和重复利用，减少电子垃圾对环境的污染；另一方面能带头墨盒包括40/41，815/816，840/841，845/846等系列之电气性能的好坏；并检测出通路好坏，温控好坏，有效喷嘴数，墨盒型号和剩余墨水量等信息，大大提高批量生产的效率。

应当理解，本文所述的示例性实施例是说明性的而非限制性的。尽管结合附图描述了本实用新型的一个或多个实施例，本领域普通技术人员应当理解，在不脱离通过所附权利要求所限定的本实用新型的精神和范围的情况下，可以做出各种形式和细节的改变。