一种远程电子电路实验系统的制作方法

本实用新型属于电子实验设备技术领域，具体涉及一种远程电子电路实验系统。

背景技术：

在实验课上，学生可以在实验室现场使用相关设备进行电子试验，相关设备包括信号源发生器、实验箱、示波器及电压电流测量仪等，但是当学生身处实验室外的时候，就不能再做实验了，不仅实验时间受到限制，实验设备也在长期闲置过程中被浪费，长时间关机后的开启对设备的损伤尤其严重，实验设备的寿命普遍缩短，不能完全发挥实验设备的价值，现有的脱离实验室的实验系统都是模拟实验，并不是真实的实验，与真实实验有一定的差异，对于实验者的实验水平帮助有限，近年来，随着远程控制技术的日益成熟，可以开发一种基于远程控制技术的电子电路实验系统。

技术实现要素：

本实用新型克服了现有远程电路实验系统的不足，提供了一种远程电子电路实验系统，使用该实验系统能够通过远程客户端控制实验箱中各个电路元器件的开闭运行，并将波形、电流、电压等信号反馈至远程客户端，增加了操作人员的真实实验时间，实验箱也能够得到充分利用。

本实用新型的具体技术方案是：

一种远程电子电路实验系统，包括带有处理器的实验箱，关键点是，实验箱中的各个电路元器件两端增设受控开关，受控开关的受控端均与处理器的控制端连接，系统中还增设远程客户端、与处理器连接的信号发生电路、波形输出电路、显示电路及电流电压测量电路，远程客户端借助网络及通信接口与处理器建立通信连接。

所述的处理器为STM32处理器。

所述的远程客户端与处理器之间的通信接口是基于硬件协议栈芯片的以太网接口。

本实用新型的有益效果是：本实用新型通过在实验箱中添加设置处理器和受控开关来进行实验箱中各个电路元器件开闭的远程控制，同时将信号发生、波形输出、信息显示及电流电压测量设备适应性地改进为相应的电路，处理器控制相应电路实现所需的信号发生、波形输出、显示及电流电压的测量工作，将测量结果反馈至远程客户端可以直观地呈现在操作者面前，操作者可以根据反馈进行远程操控，实现了真正的远程操作实验，既能够使学员可以脱离实验室而较为灵活地进行掌握实验时间，又能够避免实验设备的闲置浪费，对于设备的加速老化也有改善。

附图说明

图1是本实用新型的结构示意图。

附图中，1、处理器，2、远程客户端，3、信号发生电路，4、波形输出电路,5、显示电路，6、电流电压测量电路，7、硬件协议栈芯片，8、实验模块。

具体实施方式

本实用新型涉及一种远程电子电路实验系统，所述的电子电路实验系统包括带有处理器1的实验箱，实验箱中的各个电路元器件两端增设受控开关，受控开关的受控端均与处理器1的控制端连接，系统中还增设远程客户端2、与处理器1连接的信号发生电路3、波形输出电路4、显示电路5及电流电压测量电路6，上述电路位于实验箱外部且与实验箱中的处理器1相连接，分别进行信号发生、波形输出、显示及电流电压测量的信号模拟，远程客户端2借助网络及通信接口与处理器1建立通信连接。

具体实施例，如图1所示，所述的处理器1为STM32处理器，实验箱中的各个电路元器件组成实验模块8，各个电路元器件两端连接受控开关，受控开关为矩阵开关，上述结构的电子电路实验箱，用于进行远程电子电路的相关实验，使用该实验系统的实验方法具体步骤如下：

A、用户借助远程客户端2与实验箱的处理器1建立通信连接，远程客户端2与处理器1之间的通信接口是基于硬件协议栈芯片7的以太网接口，网络连接是通过硬件协议栈芯片7直接将模拟信号转换成符合TCP/IP协议的数据报在Internet网络传输，远程客户端2的界面通过用户登录实验系统进行操作，所有操作均与实验箱中实际电路连接相对应；

B、用户在远程客户端2输入命令并经由Internet网络传输到STM32处理器，STM32处理器根据命令选择相应的电路元器件的矩阵开关触点进行闭合；

C、处理器1控制信号发生电路3、波形输出电路4、显示电路5及电流电压测量电路6启动，由STM32处理器控制信号发生电路3进行信号的产生，波形输出电路4进行波形信号输出，显示电路5将波形信号处理后显示在远程客户端2的屏幕上，电流电压测量电路6测量实验模块8中的相关实验电流、电压，信号发生电路3、波形输出电路4、显示电路5以及电流电压测量电路6均采用TTL信号传输，共用STM32核心芯片，通过程序控制实现。

本实用新型通过在实验箱中添加处理器和受控开关来实现实验箱中电路元器件的远程开闭控制，为远程实验提供了硬件支撑，同时将信号发生、波形输出、信息显示及电流电压测量设备适应性地改进为相应的电路，为远程实验提供了控制技术支持，处理器控制相应电路实现所需的信号产生、波形输出、显示及电流电压测量的工作，反馈至远程客户端后可以直观地呈现在操作者面前，相对于现有的远程模拟实验，本实用新型实现了真正的远程操作实验，既能够使学员可以脱离实验室而较为灵活地进行掌握实验时间，又能够避免实验设备的闲置浪费，实验设备的使用寿命会相应地延长。