本发明属于艺术品防伪技术领域，尤其涉及一种陶瓷烧结前后隐形防伪标记的建模定位方法和装置。
背景技术：
陶瓷物品是一种应用广泛的应用材料，不只是在日常生活中用途广泛，也同时被当作高档的工艺品或者收藏品。在某些特定的领域，由于陶瓷耐高温、耐磨损的特征，也被应用于工业领域作为部件使用。鉴于陶瓷材料的广泛应用，且某些陶瓷物品价值较高，因此也成为伪造的对象。由于陶瓷材料本身的抗破碎能力较弱，且再加工较难，陶瓷材质物品的防伪标识区如果有形直接可辨别，则破坏整体艺术效果。针对现有技术中陶瓷防伪技术的缺陷，申请人之前提出过一种隐性防伪标记(cn107578254a)，该防伪标记是肉眼无法直接看见的，需要借助能量色散x荧光光谱仪等设备检测标记点的元素含量，这样就不会在陶瓷表面留下印记而损坏陶瓷制品价值，且标记位置的选取可根据创作者个人习惯任意选择，仿制者根本无从知晓。但是实际使用中发现，陶瓷在烧结后会有一定程度的收缩，在烧结成品中无法按照烧制前记录的标记位置的三维坐标准确找到隐形标记位置，隐形的标识只能放在特定纹饰细节处或者陶瓷底面的旋转中心处，而不能以任意区域做标识；要么需要将标识区面积做的很大，以抵消烧结的收缩量。这就在添加标识区工序和防伪鉴定工作上造成了很大的问题。
技术实现要素：
针对现有技术的不足之处，本发明提供了一种陶瓷烧结前后隐形防伪标记的建模定位方法，步骤包括：
1)上釉烧制前，测量陶瓷坯体总高度或者内腔深度，然后确定隐形标识区的坐标位置；
2)上釉烧制后，测量陶瓷成品总高度或者内腔深度；
3)以上釉烧制前、后陶瓷总高度的变化或者内腔深度的变化，计算上釉烧制后所述标识区的坐标位置。
进一步地，上釉烧制前，所述隐形标识区的坐标位置采用柱面坐标系确定，测量所述隐形标识区在柱面坐标系中的竖坐标z和极坐标的θ角。
进一步地，以陶瓷正常放置状态下的放置平面为所述柱面坐标系的投影平面，以陶瓷艺术品顶部开口的水平方向内接圆圆心在所述投影平面的投影点为极坐标中心来确定所述θ角。
进一步地，上釉烧制前测量的竖坐标z和极坐标的θ角、上釉烧制后陶瓷艺术品的六面视图照片均存入防伪鉴定数据库中，以便防伪鉴定时随时查询使用。
进一步地，上釉烧制后标识区坐标位置的计算方法为：
(1)计算烧结收缩比率φ：
其中h1为上釉烧制后陶瓷的总高度，h为上釉烧制前陶瓷坯体总高度，
或者h1为上釉烧制后陶瓷的内腔深度，h为上釉烧制前陶瓷坯体的内腔深度；
(2)以所述竖坐标z计算上釉烧制后隐形标识区的竖坐标z＇：
(3)上釉烧制后的陶瓷表面在柱面坐标系中竖坐标为z＇极坐标为θ角的点，即为上釉烧制后标识区的坐标位置。
本发明还公开了一种实现上述建模定位方法的测量装置，包括水平调整板、总高度测量绳、角度测量杆和竖坐标测量绳，所述水平调整板的上表面平整，下表面为锥面，所述锥面表面刻有一圈一圈0刻度在上方的刻度圈，水平调整板的中心开设有贯穿水平调整板上、下表面的通孔，所述总高度测量绳从所述通孔中穿过，总高度测量绳的末端设有重物球，总高度测量绳上刻有刻度线，所述水平调整板的上表面绕水平调整板的中心刻有角度刻度线，水平调整板的中心处装有两根所述角度测量杆，角度测量杆能够绕所述水平调整板的中心转动，角度测量杆上加工有沿角度测量杆长度方向延伸的条形通孔，所述竖坐标测量绳穿过条形通孔，竖坐标测量绳的末端设有重力锥，竖坐标测量绳上也刻有刻度线。
进一步地，所述水平调整板的上表面设有水平仪。
进一步地，所述重物球和重力锥外表面均包覆有防止碰伤陶瓷的橡胶层。
从以上技术方案可以看出，本发明的优点是：
1.一般情况下，陶瓷的合格烧制成品各部分收缩率是相对均匀的，利用这一点，本发明提供了一种定位方法，在涂抹隐形标识区后，测量记录隐形标识区在柱面坐标系中的竖坐标z和极坐标的θ角，通过计算烧结收缩比率φ值(陶瓷各部位的收缩比率是大致相同的)和烧制前竖坐标z，即可得到烧制后隐形标识区的竖坐标z＇，由于烧制后隐形标识区在同一柱面坐标系中的θ角是不变的，所以通过定位陶瓷成品表面在柱面坐标系中竖坐标为z＇极坐标为θ角的点，即可知道上釉烧制后标识区的坐标位置。操作简易，精度较高；
2.现有技术中没有采用上述方法定位隐形防伪标记的相关报道，也没有用于实现该定位方法的工具。本发明设计了适合于本发明定位方法的测量工具，设计结构合理，操作起来十分简便，单人即可独立操作测量，且测量数据准确可靠，实用性强。
附图说明
图1为实施例中所述上釉烧制前、后陶瓷表面各参数所表示的位置(实线轮廓为上釉烧制前，虚线轮廓为上釉烧制后，黑点为隐形标识区的位置)；
图2为θ角的测量方法；
图3为本发明所述测量工具的结构示意图。
具体实施方式
一种陶瓷烧结前后隐形防伪标记的建模定位方法，步骤包括：
1)上釉烧制前，测量陶瓷坯体总高度或者内腔深度，然后确定隐形标识区的坐标位置。一般说来，由于合格的陶瓷成品在烧结过程中各部分收缩率是相对均匀的，因此测量任意两个点在上釉烧制前后的距离变化都可以得出烧结收缩比率φ，之所以选择总高度或者内腔深度是由于这两个数值比较好测量，当然本发明也不排除测量其他任意两个点距离变化的方式，这些都属于等同替换方案。隐形标识区的坐标位置可以采用普通的三维直角坐标系标定，也可以通过柱面坐标系标定，采用三维直角坐标系标定时，通过标识点位在三视图方向上的投影确定坐标(x,y,z)，这属于本领域的公知常识，测量也较复杂，本发明不做特别要求；隐形标识区的坐标位置也可以采用柱面坐标系确定，测量所述隐形标识区在柱面坐标系中的竖坐标z和极坐标的θ角，其中极坐标的θ角的确定方法可以采用：
以陶瓷正常放置状态下的放置平面为所述柱面坐标系的投影平面，以陶瓷艺术品顶部开口的水平方向内接圆圆心在所述投影平面的投影点为极坐标中心来确定所述θ角；其中，确定θ角的起始边时，可采用陶瓷俯视图上的特征位置，比如把手、壶口、缺口、特殊花纹等处，反正易于识别即可，θ角的终边即为通过俯视图中隐形标识区投影点的边。
2)上釉烧制后，测量陶瓷成品总高度或者内腔深度，再计算烧结收缩比率φ：
其中h1为上釉烧制后陶瓷的总高度，h为上釉烧制前陶瓷坯体总高度，
或者h1为上釉烧制后陶瓷的内腔深度，h为上釉烧制前陶瓷坯体的内腔深度；
3)以上釉烧制前、后陶瓷总高度的变化或者内腔深度的变化，计算上釉烧制后所述标识区的坐标位置。计算方法为：
(1)计算烧结收缩比率φ：
其中h1为上釉烧制后陶瓷的总高度，h为上釉烧制前陶瓷坯体总高度，
或者h1为上釉烧制后陶瓷的内腔深度，h为上釉烧制前陶瓷坯体的内腔深度；
(2)由于陶瓷的合格烧制成品各部分收缩率是相对均匀的，以所述竖坐标z计算上釉烧制后隐形标识区的竖坐标z＇：
(3)上釉烧制后的陶瓷表面在柱面坐标系中竖坐标为z＇极坐标为θ角的点，即为上釉烧制后标识区的坐标位置。
本实施例还公开了实现上述建模定位方法的测量装置，如图3所示，包括水平调整板1、总高度测量绳2、角度测量杆3和竖坐标测量绳4，水平调整板1的上表面平整，下表面为锥面5，锥面5表面刻有一圈一圈0刻度在上方的刻度圈，水平调整板1的中心开设有贯穿水平调整板上、下表面的通孔6，总高度测量绳2从通孔6中穿过，总高度测量绳2的末端设有重物球7，总高度测量绳2上刻有刻度线，总高度测量绳2的刻度线在设计时考虑重物球7的直径，以重物球7最底部的点为刻度线起始0刻度点。水平调整板1的上表面绕水平调整板的中心刻有角度刻度线8，水平调整板1的中心处装有两根角度测量杆3，角度测量杆3能够绕水平调整板1的中心转动，角度测量杆3上加工有沿角度测量杆长度方向延伸的条形通孔9，竖坐标测量绳4穿过条形通孔9，竖坐标测量绳4的末端设有重力锥10，竖坐标测量绳4上也刻有刻度线。水平调整板1的上表面设有水平仪11。重物球7和重力锥10外表面均包覆有防止碰伤陶瓷的橡胶层。
上釉烧制前，在陶瓷表面的任意位置涂抹隐形标识区，并用上述测量工具测量隐形标识区在柱面坐标系中的竖坐标z和极坐标的θ角，其使用方法为：
将陶瓷放置在水平桌面或台面上，用水平调整板1的锥面5扣在陶瓷上部开口处，调节水平调整板，使得水平仪11中的调节气泡位于中心位置，说明水平调整板已经水平；读出陶瓷开口上沿处锥面5表面刻度圈的读数，然后拉扯位于通孔6内的总高度测量绳2，使得总高度测量绳2绷紧但拉扯力小于重物球7的重量，读出总高度测量绳2上位于通孔6上边缘的刻度值，总高度测量绳2的刻度值减去锥面5表面刻度圈的读数值即为上釉烧制前陶瓷坯体的内腔深度h；然后以陶瓷表面上的特征位置(比如把手、壶口、缺口、特殊花纹等处)作为θ角的起始边，例如选用特殊花纹处的位置，先转动其中一个角度测量杆3，使得角度测量杆3和选用的特殊花纹几乎在同一竖直平面上，然后通过该角度测量杆3上的竖坐标测量绳4和重力锥10对角度测量杆3进行微调整，使得竖坐标测量绳4在绷直(不弯曲)的情况下重力锥的顶点紧靠在所选用的特殊花纹上；再转动另一个角度测量杆3确定终边，使得该角度测量杆3和隐形标识区几乎在同一竖直平面上，然后通过该角度测量杆3上的竖坐标测量绳4和重力锥10对角度测量杆3进行微调整，使得竖坐标测量绳4在绷直(不弯曲)的情况下重力锥的顶点紧靠在隐形标识区上；然后通过角度刻度线8读出两根角度测量杆3之间的夹角即为所需要的隐形标识区在柱面坐标系中极坐标的θ角，作为终边的角度测量杆3上的竖坐标测量绳4在条形通孔9边缘的刻度值记为竖坐标z。
上釉烧制后，按照上釉烧制前测量内腔深度h相同的方法测量上釉烧制后陶瓷的内腔深度h1，再按上述方法计算上釉烧制后所述标识区的坐标位置，计算得到上釉烧制后隐形标识区的竖坐标z＇。上釉烧制后隐形标识区的同一柱面坐标系下的θ角是不变的。因此上釉烧制后利用上述测量工具定位隐形标识区的方法为：
上釉烧制后，将陶瓷放置在水平桌面或台面上，用水平调整板1的锥面5扣在陶瓷上部开口处，调节水平调整板，使得水平仪11中的调节气泡位于中心位置，说明水平调整板已经水平；然后以测量上釉烧制前θ角起始边相同的参考特征位置作为起始边位置，例如选用特殊花纹处的位置(选用的特殊花纹处的位置应当和上釉烧制前测量选用的特殊花纹处的位置完全相同)，先转动其中一个角度测量杆3，使得角度测量杆3和选用的特殊花纹几乎在同一竖直平面上，然后通过该角度测量杆3上的竖坐标测量绳4和重力锥10对角度测量杆3进行微调整，使得竖坐标测量绳4在绷直(不弯曲)的情况下重力锥的顶点紧靠在所选用的特殊花纹上；再按照所述θ角转动另一个角度测量杆3，使得两根角度测量杆3之间的夹角为θ角值，和上釉烧制前一样；然后拉起作为终边的角度测量杆3上的竖坐标测量绳4，使得重力锥10悬空，且使得条形通孔9上边缘处竖坐标测量绳4的刻度值为竖坐标z＇值；然后在角度测量杆3不动的情况下，沿条形通孔9的长度方向移动作为终边的角度测量杆3上的竖坐标测量绳4，使得重力锥10的尖端触碰陶瓷的外表面，移动过程中竖坐标测量绳4的高度不变。与重力锥10的尖端触碰的陶瓷外表面处即为上釉烧制后隐形标识区的位置。
以上对本发明所提供的技术方案进行了详细介绍，对于本领域的一般技术人员，依据本发明实施例的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。