一种GOA电路及嵌入式触控显示面板的制作方法

本发明涉及液晶显示技术领域，尤其涉及一种goa电路及嵌入式触控显示面板。

背景技术

goa(gatedriveronarray)技术即阵列基板行驱动技术，是利用薄膜晶体管液晶显示器阵列制程将栅极扫描驱动电路制作在薄膜晶体管阵列基板上，以实现逐行扫描的驱动方式。

目前随着集成触控面板技术发展成熟，显示面板都会选择内嵌入触控显示面板。在内嵌入触控显示面板中，goa电路是否能够正常输出驱动信号，是影响产品良率的重要因素。

技术实现要素：

本发明提供一种goa电路及嵌入式触控显示面板，能够保证goa电路正常输出驱动信号。

为解决上述问题，本发明提供的技术方案如下：

本发明提供一种goa电路，其包括：至少一个goa单元、goa检测单元、以及goa修复单元，其中，

所述goa单元的信号输出端电连接嵌入式触控显示面板中的像素，用于向所述像素输出扫描信号；

所述goa检测单元电连接goa单元的信号输出端，用于采集goa单元输出的扫描信号，并检测goa单元输出的扫描信号是否异常，以确定异常goa单元；

所述goa修复单元电连接goa单元的信号输出端，用于修复所述异常goa单元输出的扫描信号。

在本发明的goa电路中，所述goa检测单元包括：至少一个信号采集单元、采集控制单元和脉冲检测单元；

各信号采集单元分别电连接一个goa单元的信号输出端，用于将对应goa单元输出的扫描信号传输至所述脉冲检测单元；

所述采集控制单元电连接所有的信号采集单元，用于输出控制信号，以控制各信号采集单元的通断；

所述脉冲检测单元用于检测各goa单元输出的扫描信号是否存在脉冲，若goa单元输出的扫描信号不存在脉冲，将对应goa单元标记为异常goa单元。

在本发明的goa电路中，所述信号采集单元包括第一薄膜晶体管，所述采集控制单元的输出端电连接所述第一薄膜晶体管的栅极。

在本发明的goa电路中，所述信号采集单元还包括作为单向导通器件的第二薄膜晶体管，所述第二薄膜晶体管设置于所述goa单元的信号输出端与所述第一薄膜晶体管之间。

在本发明的goa电路中，所述脉冲检测单元包括第三薄膜晶体管、电压测试装置以及电容，其中，

所述第三薄膜晶体管的栅极电连接复位信号，所述第三薄膜晶体管的源极连接控制电平信号，所述第三薄膜晶体管的漏极电连接所述电压测试装置以及所述电容的一端；

所述电容的另一端接电源；

所述电压测试装置用于检测各goa单元输出的扫描信号是否存在对应的电压脉冲。

在本发明的goa电路中，所述goa修复单元包括至少一个修复信号输出单元，所述修复信号输出单元通过修复点物理连接goa单元的信号输出端，用于输出与对应goa单元的扫描信号相同的修复信号。

在本发明的goa电路中，所述修复信号输出单元通过至少两个修复点连接至少两个goa单元的信号输出端。

在本发明的goa电路中，所述修复点具备导通状态和绝缘状态，修复点处于导通状态时，所述修复信号输出单元电连接所述goa单元的信号输出端。

在本发明的goa电路中，所述修复点包括第一金属层、第二金属层、以及设置在第一金属层与第二金属层之间的绝缘层，所述第一金属层电连接所述goa单元的信号输出端，所述电连接第二金属层修复信号输出单元。

本发明提供一种嵌入式触控显示面板，其包括以上所述的goa电路。

本发明的有益效果为：本发明所述提供的goa电路及嵌入式触控显示面板，通过采集goa单元输出的扫描信号，并检测goa单元输出的扫描信号是否异常，以确定异常goa单元之后，修复所述异常goa单元输出的扫描信号，保证了goa电路可以正常的输出驱动信号，提高了产品良率。

附图说明

为了更清楚地说明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明goa电路的第一种电路示意图；

图2为本发明goa电路正常时的第一种信号示意图；

图3为本发明goa电路异常时的第一种信号示意图；

图4为本发明goa电路修复时的第一种信号示意图；

图5为本发明goa电路的第二种电路示意图；

图6为本发明goa电路正常时的第二种信号示意图；

图7为本发明goa电路异常时的第二种信号示意图；

图8为本发明goa电路修复时的第二种信号示意图；

图9为本发明第二薄膜晶体管的电路示意图；

图10为本发明修复点绝缘状态时的俯视图；

图11为本发明修复点绝缘状态时的剖面图；

图12为本发明修复点导通状态时的俯视图；

图13为本发明修复点导通状态时的剖面图；

图14为本发明goa电路维护方法的流程图。

具体实施方式

以下各实施例的说明是参考附加的图示，用以例示本发明可用以实施的特定实施例。本发明所提到的方向用语，例如[上]、[下]、[前]、[后]、[左]、[右]、[内]、[外]、[侧面]等，仅是参考附加图式的方向。因此，使用的方向用语是用以说明及理解本发明，而非用以限制本发明。在图中，结构相似的单元是用以相同标号表示。

本发明针对现有技术无法保证goa电路正常输出驱动信号的技术问题；本实施例能够解决该缺陷。

goa电路中的goa单元包括正压goa脉冲级传电路和负压goa脉冲级传电路，本发明针对这两种设计方式都进行了描述。

针对正压goa脉冲级传电路，如图1所示，本发明提供的goa电路包括：至少一个goa单元11，如图1中的11【n】至11【n+2】、goa检测单元12、以及goa修复单元13，其中，

所述goa单元11的信号输出端电连接嵌入式触控显示面板中的像素，用于向所述像素输出扫描信号em，即图1中的em【n】至em【n+2】；

所述goa检测单元12电连接goa单元11的信号输出端，用于采集goa单元输出的扫描信号，并检测goa单元输出的扫描信号是否异常，以确定异常goa单元；

所述goa修复单元13电连接goa单元11的信号输出端，用于修复所述异常goa单元11输出的扫描信号。

在一些实施例中，如图1所示，所述goa检测单元12包括：至少一个信号采集单元121、采集控制单元122和脉冲检测单元123；

各信号采集单元121，如图1中的121【n】至121【n+2】，分别电连接一个goa单元11的信号输出端，用于将对应goa单元输出的扫描信号传输至所述脉冲检测单元123；

所述采集控制单元122电连接所有的信号采集单元，用于输出控制信号test，以控制各信号采集单元的通断；

所述脉冲检测单元123用于检测各goa单元输出的扫描信号是否存在脉冲，若goa单元输出的扫描信号不存在脉冲，将对应goa单元标记为异常goa单元。

在一些实施例中，如图1所示，所述信号采集单元121包括第一薄膜晶体管1211，所述采集控制单元122的输出端电连接所述第一薄膜晶体管1211的栅极g。

在一些实施例中，如图1所示，所述信号采集单元还包括作为单向导通器件的第二薄膜晶体管1212，所述第二薄膜晶体管1212设置于所述goa单元的信号输出端与所述第一薄膜晶体管之间。

在一些实施例中，如图1所示，所述脉冲检测单元123包括第三薄膜晶体管1231、电压测试装置1232以及电容1233，其中，

所述第三薄膜晶体管1231的栅极电连接复位信号reset，所述第三薄膜晶体管的源极s连接控制电平信号，在本应用场景中，为低电平(vgl)所述第三薄膜晶体管的漏极d电连接所述电压测试装置以及所述电容的一端；

所述电容的另一端接电源dc；

所述电压测试装置1232用于检测各goa单元输出的扫描信号是否存在对应的电压脉冲。

在一些实施例中，如图1所示，所述goa修复单元13包括至少一个修复信号输出单元131，所述修复信号输出单元131通过修复点132物理连接goa单元11的信号输出端，用于输出与对应goa单元的扫描信号相同的修复信号input。修复点132包括图1中的132【n】至132【n+2】。

在一些实施例中，如图1所示，所述修复信号输出单元通过至少两个修复点连接至少两个goa单元的信号输出端。在其他一些实施例中，可以包括多个修复信号输出单元131，这样就可以输出多个不同的修复信号input，实现对多个异常goa单元的修复。

在本应用场景中，test给入高电平，即可关闭goa电路维护功能。将test信号给入vgh(高电平)，可以关闭goa维护系统，goa可以正常工作。将test信号给入低电平(vgl),开启goa维护系统，在单向导通器件的保护下，goa信号级传功能不受检测系统影响。如图2或3所示，em[n]～[n+4]表示每级goa输出信号，reset信号是ac信号，会在每级goa信号开启前开启，对整个检测系统复位，goa_test_pinoutput为电压测试装置1232探测出来的波形。如图3所示，em[n+2]信号损坏(ng),在检测波形中显示在em[n+2]对应的时间未出现对应脉冲pulse；而在图2中em[n]～[n+4]都正常，在检测波形中显示每一级goa都对应一个正常的检测pulse。所以利用该方法可以快速、精确找到每一级goang信号，有利于goaissue精确定位解析以及面板筛选。在定位异常之后，如图4所示，input信号配置为与正常的em[n+2]信号，这样就实现了对em[n+2]信号的修复。

针对负压goa脉冲级传电路，如图5所示，本发明提供的goa电路包括：至少一个goa单元51，如图5中的51【n】至51【n+2】、goa检测单元52、以及goa修复单元53，其中，

所述goa单元51的信号输出端电连接嵌入式触控显示面板中的像素，用于向所述像素输出扫描信号scan，即图5中的scan【n】至scan【n+2】；

所述goa检测单元52电连接goa单元51的信号输出端，用于采集goa单元输出的扫描信号，并检测goa单元输出的扫描信号是否异常，以确定异常goa单元；

所述goa修复单元53电连接goa单元51的信号输出端，用于修复所述异常goa单元51输出的扫描信号。

在一些实施例中，如图5所示，所述goa检测单元52包括：至少一个信号采集单元521、采集控制单元522和脉冲检测单元523；

各信号采集单元521，如图5中的521【n】至521【n+2】，分别电连接一个goa单元51的信号输出端，用于将对应goa单元输出的扫描信号传输至所述脉冲检测单元523；

所述采集控制单元电522连接所有的信号采集单元，用于输出控制信号，以控制各信号采集单元的通断；

所述脉冲检测单元523用于检测各goa单元输出的扫描信号是否存在脉冲，若goa单元输出的扫描信号不存在脉冲，将对应goa单元标记为异常goa单元。

在一些实施例中，如图5所示，所述信号采集单元521包括第一薄膜晶体管5211，所述采集控制单元522的输出端电连接所述第一薄膜晶体管5211的栅极g。

在一些实施例中，如图5所示，所述信号采集单元还包括作为单向导通器件的第二薄膜晶体管5212，所述第二薄膜晶体管5212设置于所述goa单元的信号输出端与所述第一薄膜晶体管之间。

在一些实施例中，如图5所示，所述脉冲检测单元523包括第三薄膜晶体管5231、电压测试装置5232以及电容5233，其中，

所述第三薄膜晶体管5231的栅极电连接复位信号reset，所述第三薄膜晶体管的源极s连接控制电平信号，在本应用场景中，控制电平信号为高电平(vgh)，所述第三薄膜晶体管的漏极d电连接所述电压测试装置以及所述电容的一端；

所述电容的另一端接电源dc；

所述电压测试装置5232用于检测各goa单元输出的扫描信号是否存在对应的电压脉冲。

在一些实施例中，如图5所示，所述goa修复单元53包括至少一个修复信号输出单元531，所述修复信号输出单元531通过修复点532物理连接goa单元51的信号输出端，用于输出与对应goa单元的扫描信号相同的修复信号input。

在一些实施例中，如图5所示，所述修复信号输出单元通过至少两个修复点连接至少两个goa单元的信号输出端。在其他一些实施例中，可以包括多个修复信号输出单元531，这样就可以输出多个不同的修复信号input，实现对多个异常goa单元的修复。

在本应用场景中，test给入高电平，即可关闭goa电路维护功能。将test信号给入vgh(高电平)，可以关闭goa维护系统，goa可以正常工作。将test信号给入低电平(vgl),开启goa维护系统，在单向导通器件的保护下，goa信号级传功能不受检测系统影响。如图6或7所示，sacn[n]～[n+4]表示每级goa输出信号，reset信号是ac信号，会在每级goa信号开启前开启，对整个检测系统复位，goa_test_pinoutput为电压测试装置5232探测出来的波形。如图7所示，sacn[n+2]信号损坏(ng),在检测波形中显示在sacn[n+2]对应的时间未出现对应脉冲pulse；而在图6中sacn[n]～[n+4]都正常，在检测波形中显示每一级goa都对应一个正常的检测pulse。所以利用该方法可以快速、精确找到每一级goang信号，有利于goaissue精确定位解析以及面板筛选。

在一些实施例中，如图9所示，第二薄膜晶体管可以是pmos形式的薄膜晶体管，也可以是nmos形式的薄膜晶体管，其电连接方式如图9所示，不再赘述。

在一些实施例中，所述修复点具备导通状态和绝缘状态，修复点处于导通状态时，所述修复信号输出单元电连接所述goa单元的信号输出端。

在一些实施例中，如图10至13所示，所述修复点(132或者632)包括第一金属层、第二金属层、以及设置在第一金属层与第二金属层之间的绝缘层，所述第一金属层电连接所述goa单元的信号输出端，所述电连接第二金属层修复信号输出单元。

绝缘层可以通过激光等方式打通，因此，在需要对goa单元输出的扫描信号进行修复时，可以通过激光方式打通。

基于本发明提供的goa电路，以goa电路包括20个goa单元、仅第14个goa单元异常为例进行说明。

如图14所示，本发明提供的goa电路维护方法包括以下步骤：

s141：电路维护初始化。

针对正压goa脉冲级传电路，配置第三薄膜晶体管2231的源极s连接低电平vgl，针对负压goa脉冲级传电路，配置第三薄膜晶体管5231的源极s连接高电平vgh。

配置test信号为低电平vgl。

s142：定位故障goa单元。

通过goa电路的正常运行，检测到第14个goa单元异常。

s143：修复故障goa单元。

将input信号配置为与第14个goa单元应该输出的驱动信号相同，如图4或者图8所示。

采用激光方式打通修复单元与第14个goa单元之间的修复点的绝缘层，完成修复。

具体的，如图3所示，通过检测功能得知em[n+2]无法正常输出信号。此时，如图4所示，将input信号设置为正常goaem[n+2]波形，将input线与goa[n+2]的输出信号em[n+2]之间的修复点(焊接点)进行激光熔接连接。goa驱动时input信号灌入异常goa中，从而达到修补失效goa的作用。

具体的，如图7所示，通过检测功能得知scan[n+2]无法正常输出信号。此时，如图8所示，将input信号设置为正常goascan[n+2]波形，将input线与goa[n+2]的输出信号scan[n+2]之间的修复点(焊接点)进行激光熔接连接。goa驱动时input信号灌入异常goa中，从而达到修补失效goa的作用。

本发明实施例还提供一种嵌入式触控显示面板，其包括以上所述的goa电路，具体可参照以上所述，在此不做赘述。

根据上述实施例可知：

本发明所述提供的goa电路及嵌入式触控显示面板，通过采集goa单元输出的扫描信号，并检测goa单元输出的扫描信号是否异常，以确定异常goa单元之后，修复所述异常goa单元输出的扫描信号，保证了goa电路可以正常的输出驱动信号，提高了产品良率。

综上所述，虽然本发明已以优选实施例揭露如上，但上述优选实施例并非用以限制本发明，本领域的普通技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，均可作各种更动与润饰，因此本发明的保护范围以权利要求界定的范围为准。