显示面板和补偿数据传输校验方法与流程

本申请涉及显示技术领域，特别是涉及一种显示面板和补偿数据传输校验方法。

背景技术

目前，有源矩阵驱动有机发光二极管(activematrixdrivingoled，简称amoled)由于同时具有自发光、显示对比度高、厚度薄、视角广、反应速度快、使用温度范围广、构造及制程较简单等优异的特性被广泛的应用。但是，有机发光二极管的电流均会随着驱动晶体管的阈值电压偏移有所变化，使得amoled显示面板产生显示亮度不均匀mura(色斑缺陷)现象。mura现象即部分像素的实际亮度比应显示的理论亮度偏暗或偏亮，进而影响amoled显示面板的亮度均匀性与亮度恒定性。

目前，在对显示面板的mura现象进行补偿时，通常采用将处理好的补偿数据一次性全部写入显示面板的数据驱动电路的ram中，再从ram将补偿数据存储到显示面板的flashrom。而对mura现象进行补偿的过程中补偿数据经常会出现校验错误，需要重新写入全部的补偿数据。重新写入全部的补偿数据使得显示面板的补偿数据传输效率低，耗时长。另外，今后的显示面板分辨率越高，补偿数据的量相对越大，效率也就越低。

技术实现要素：

基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种显示面板和补偿数据传输校验方法。

一种补偿数据传输校验方法，用于实现显示面板的补偿数据的传输校验，所述显示面板包括屏体模组、数据驱动电路，所述数据驱动电路与所述屏体模组电连接，所述数据驱动电路包括第一存储器，所述方法包括：

获取当前补偿数据，以及与所述当前补偿数据对应的第一校验码，所述屏体模组分为m个分区，所述m个分区对应m组补偿数据，所述当前补偿数据为所述m组补偿数据中的一组，m为正整数；

将所述当前补偿数据存储于所述第一存储器，并生成第二校验码；

判断所述第一校验码和所述第二校验码是否匹配成功；

若是，则进一步获取下一组补偿数据，直至所述m组补偿数据全部存储于所述第一存储器；

若否，则返回所述获取当前补偿数据，以及与所述当前补偿数据对应的第一校验码的步骤，重新写入所述当前补偿数据。

在一个实施例中，所述显示面板还包括flash存储器，所述flash存储器与所述屏体模组电连接，所述方法还包括：

将经过校验后的所述m组补偿数据从所述第一存储器写入所述flash存储器。

在一个实施例中，在所述屏体模组上包括多个像素单元，所述多个像素单元沿第一方向间隔排布，并沿第二方向逐行延伸设置，每一行的所述多个像素单元的补偿数据为所述m组补偿数据中的一组。

在一个实施例中，在所述屏体模组上包括多个像素单元，所述多个像素单元沿第一方向间隔排布，并沿第二方向逐行延伸设置，每n行的所述多个像素单元的补偿数据为所述m组补偿数据中的一组，其中n≤m，m/n为正整数，且n不等于1。

在一个实施例中，生成所述m组补偿数据的方法包括：

对所述屏体模组上设置的所述多个像素单元进行分区，以得到m个分区，每个分区包括至少一个像素单元；

获取所述屏体模组上m个分区的图像信息；

利用demure补偿算法对所述图像信息进行处理，以得到所述m组补偿数据。

在一个实施例中，所述第一校验码和所述第二校验码的位宽为16位。

一种显示面板，包括：

屏体模组，用于实现像素显示；

数据驱动电路，与所述屏体模组电连接，所述数据驱动电路包括第一存储器、数据获取单元、和校验检测单元，所述第一存储器为随机存储器，所述数据获取单元用于获取当前补偿数据以及与所述当前补偿数据对应的第一校验码，所述校验检测单元用于根据所述当前补偿数据生成第二校验码以及判断所述第一校验码和所述第二校验码是否匹配成功。

在一个实施例中，还包括：

flash存储器，与所述屏体模组电连接，用于存储经过所述数据驱动电路校验后的所述m组补偿数据。

在一个实施例中，还包括：

柔性电路板，与所述数据驱动电路电连接。

在一个实施例中，还包括：

覆晶薄膜，与所述屏体模组和所述数据驱动电路分别电连接；以及

柔性电路板，与所述覆晶薄膜电连接。

本申请涉及一种显示面板和补偿数据传输校验方法。所述补偿数据传输校验方法包括：将所述显示面板的所述补偿数据分为m组补偿数据。所述数据驱动电路可以获取每一组所述当前补偿数据和对应的所述第一校验码。所述数据驱动电路可以将所述当前补偿数据存储于所述第一存储器。同时，所述数据驱动电路可以针对每一组的所述当前补偿数据生成所述第二校验码。所述数据驱动电路可以判断同一组所述当前补偿数据的所述第一校验码和所述第二校验码是否相同或者相匹配。如果相同或者相匹配则进一步获取下一组补偿数据，直至所述m组补偿数据全部存储于所述第一存储器。如果不同或者不相匹配，则返回所述获取当前补偿数据，以及与所述当前补偿数据对应的第一校验码的步骤，重新写入所述当前补偿数据。本实施中，对进行传输的m组所述补偿数据中的每一组的所述补偿数据都进行校验。如果某一组的所述当前补偿数据出现错误时，则只需要重新写入出错一组的所述当前补偿数据，无需对所述显示面板整体的所述补偿数据进行重新输入，极大的提高了补偿数据的传输效率。

附图说明

图1为本申请一个实施例中所述补偿数据传输校验方法的流程图；

图2为本申请一个实施例中所述补偿数据传输校验方法的流程示意图；

图3为本申请一个实施例中所述显示面板中补偿数据传输校验的示意图；

图4为本申请一个实施例中所述显示面板中补偿数据传输校验的示意图；

图5为本申请一个实施例中所述屏体模组的结构示意图；

图6为本申请另一个实施例中所述屏体模组的结构示意图；

图7为本申请一个实施例中所述屏体模组的剖面图。

附图标号说明：

显示面板10

屏体模组100

基底101

像素单元102

像素阵列控制电路112

电致发光二极管113

数据驱动电路200

数据获取单元210

校验检测单元220

第一存储器230

flash存储器300

柔性电路板400

覆晶薄膜500

具体实施方式

为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。

请参阅图1，提供一种补偿数据传输校验方法，用于实现显示面板10的补偿数据的传输与校验。

所述显示面板10可以包括屏体模组100和数据驱动电路200。所述屏体模组100和所述数据驱动电路200电连接。所述屏体模组100包括了基底、设置于基底表面的阵列式像素单元。所述数据驱动电路200用于向所述屏体模组100传送各种数据。比如，可以传送像素单元的控制信息。所述数据驱动电路200可以包括第一存储器230。所述方法包括：

s100，获取当前补偿数据，以及与所述当前补偿数据对应的第一校验码，所述屏体模组100分为m个分区。所述m个分区对应m组补偿数据，所述当前补偿数据为所述m组补偿数据中的一组，其中，m为正整数。

本步骤中，所述屏体模组100被分为m个分区，所述显示面板10共可以形成有m组补偿数据。m为正整数，比如m可以取2，即可以将所述显示面板10分为上部和下部。计算机可以获取所述显示面板10上部的补偿数据和所述显示面板10下部的补偿数据，并对这两组的补偿数据生成校验码。这里的对应所述当前补偿数据生成的第一校验码可以是计算机在生成将两组补偿数据时同时生成的校验码。所述数据驱动电路200可以分别获取所述当前补偿数据和所述第一校验码。所述数据驱动电路200可以接收外界计算机传送的所述m组补偿数据，并对所述m组补偿数据中的每一组生成第一校验码。每一组的补偿数据对应的所述第一校验码可能都不相同。本步骤中，将所述显示面板10的补偿数据分为m组，并对每一组的所述补偿数据形成所述第一校验码。在补偿数据传送过程中每一组的所述补偿数据都可以作为当前补偿数据。

s200，将所述当前补偿数据存储于所述第一存储器230，并生成第二校验码

所述第一存储器230可以为随机存储器。所述随机存储器是randomaccessmemory，ram的简称。所述随机存储器是与控制器直接交换数据的内部存储器。ram可以随时读写，而且速度很快，通常作为操作系统或其他正在运行中的程序的临时数据存储媒介。存储的内容可按需随意取出或存入，且存取的速度与存储单元的位置无关的存储器。这种存储器在断电时将丢失其存储内容。按照存储单元的工作原理，随机存储器又分为静态随机存储器(staticram，sram)和动态随机存储器(dynamicram，dram)。所述第一存储器230可以采用sram或者dram。

具体的，所述第一存储器230采用ram，可以对其中的任一存储单元进行读或写操作。所述屏体模组100关闭电源后其内的信息将不在保存。当所述屏体模组100再次开机需要重新装入，通常用来存放操作系统，各种正在运行的软件、输入和输出数据、中间结果及与外存交换信息。

本步骤中，所述数据驱动电路200可对应不同的数据驱动芯片。所述数据驱动电路200可以控制各种数据的传输。所述数据驱动电路200本身也可以设置两个ram。两个ram中可以设置一个muraram，用于存储mura补偿数据，可以是本申请中的所述第一存储器230。另外的ram可存储其他数据。

本步骤中，所述数据驱动电路200可以针对所述当前补偿数据生成第二校验码。所述第二校验码可以根据的不同所述当前补偿数据进行生成。比如，所述第二校验码可以是所述当前补偿数据的数据量大小的表示。所述第二校验码也可以是所述当前补偿数据的数据位数的表示。

s300，判断所述第一校验码和所述第二校验码是否匹配成功。

所述第一校验码可以是计算机在生成所述m组补偿数据时自动生成的。所述第一校验码和所述第二校验码的具体表征形式是相同的。比如，所述第一校验码和所述第二校验码都是表征所述当前补偿数据的数据量的大小。或者所述第一校验码和所述第二校验码都是表征所述当前补偿数据的数据位数的多少。在一个实施例中，所述第一校验码和所述第二校验码的位宽为16位。16位位宽的数据作为所述第一校验码和所述第二校验码能够使得校验过程更加简单有效。比如，当判断所述当前补偿数据传输是否正确时，只需判断16位的所述第一校验码和16位的所述第二校验码是否一致即可。

s410，若是，则进一步获取下一组补偿数据，直至所述m组补偿数据全部存储于所述第一存储器230。本步骤中，如果所述当前补偿数据的所述第一校验码和所述第二校验码能够匹配一致，则进一步获取下一组补偿数据。直至所述m组补偿数据全部存储于所述第一存储器230。

s420，若否，则返回所述获取当前补偿数据，以及与所述当前补偿数据对应的第一校验码的步骤，重新写入所述当前补偿数据。本步骤中，如果所述当前补偿数据的所述第一校验码和所述第二校验码不能够匹配一致，则可能是所述当前补偿数据写入错误，不能进一步的写入下一组补偿数据。这时需要返回重新获取所述当前补偿数据，同时获取所述当前补偿数据的所述第一校验码。

本实施例中，将所述显示面板10的所述补偿数据分为m组补偿数据。所述数据驱动电路200可以获取每一组所述当前补偿数据和对应的所述第一校验码。所述数据驱动电路200可以将所述当前补偿数据存储于所述第一存储器230。同时，所述数据驱动电路200可以针对每一组的所述当前补偿数据生成所述第二校验码。所述数据驱动电路200可以判断同一组所述当前补偿数据的所述第一校验码和所述第二校验码是否相同或者相匹配。如果相同或者相匹配则进一步获取下一组补偿数据，直至所述m组补偿数据全部存储于所述第一存储器230。如果不同或者不相匹配，则返回所述获取当前补偿数据，以及与所述当前补偿数据对应的第一校验码的步骤，重新写入所述当前补偿数据。本实施中，对进行传输的m组所述补偿数据中的每一组的所述补偿数据都进行校验。当所述当前补偿数据的所述第一校验码和所述第二校验码能够对应匹配时，则说明写入了正确的一组所述当前补偿数据。如果某一组的所述当前补偿数据出现错误时，则只需要重新写入出错一组的所述当前补偿数据，无需对所述显示面板10整体的所述补偿数据进行重新输入。本实施例中，当出现某一组的所述当前补偿数据出现校验错误时，无需花费很长时间重写全部的所述补偿数据，只需重新写入出错的那一组的所述补偿数据，极大的提高了补偿数据的传输效率。

请参阅图2，在一个实施例中提供了将所述补偿数据存入所述数据驱动电路200中所述第一存储器230的具体的步骤：

s101，将屏体模组分为m个分区，所述m个分区对应m组补偿数据，m为正整数，每一组补偿数据对应一组第一校验码。

s102，将第一组补偿数据与第一组第一校验码写入数据驱动电路200的第一存储器230，同时生成第一组补偿数据的第二校验码。

s103，判断第一组第一校验码与第一组第二校验码是否一致。

若否，则返回所述步骤s102。

s104，若是，则将第二组补偿数据与第二组第一校验码写入数据驱动电路的第一存储器，同时生成第二组补偿数据的第二校验码。

s105，判断第二组第一校验码与第二组第二校验码是否一致。

若否，则返回所述步骤s104。若是则进一步将第三组补偿数据与第三组补偿数据对应的第一校验码写入所述数据驱动电路200的所述第一存储器230中。

一直到s108，将第m组补偿数据与第m组第一校验码写入数据驱动电路的第一存储器，同时生成第m组补偿数据的第二校验码。

s109，判断第m组第一校验码与第m组第二校验码是否一致。若是，则结束进程。若否则进一步返回所述步骤s108。

本实施例中，给出了所述显示面板10在传输所述补偿数据的具体流程图。本实施中，对进行传输的m组所述补偿数据中的每一组的所述补偿数据都进行校验。当所述当前补偿数据的所述第一校验码和所述第二校验码能够对应匹配时，则说明写入了正确的一组所述当前补偿数据。如果某一组的所述当前补偿数据出现错误时，则只需要重新写入出错一组的所述当前补偿数据，无需对所述显示面板10整体的所述补偿数据进行重新输入。本实施例中，当出现某一组的所述当前补偿数据出现校验错误时，无需花费很长时间重写全部的所述补偿数据，只需重新写入出错的那一组的所述补偿数据，极大的提高了补偿数据的传输效率。

请参阅图3，在一个实施例中，所述显示面板10还包括flash存储器300。所述flash存储器300设置在所述屏体模组100的外部。所述flash存储器300与所述屏体模组100电连接。所述方法还包括：

s400，将经过校验后的所述m组补偿数据从所述第一存储器230写入所述flash存储器300。

本步骤中，将所述m组补偿数据从所述第一存储器230写入所述flash存储器300的过程可以采用将所述m组补偿数据整体的写入所述flash存储器300。将所述m组补偿数据整体的写入所述flash存储器中可以使得所述补偿数据的传输效率较高。或者将所述m组补偿数据按照不同的分组，一组一组的写入所述flash存储器300。分组校验和分组传输的方式可以进一步的检测传输到所述flash存储器中的每一组所述补偿数据是否正确无误。

请参阅图4，在一个实施例中，在所述屏体模组100上包括多个像素单元102。所述多个像素单元102沿第一方向间隔排布，并沿第二方向逐行延伸设置。每一行的所述多个像素单元102的补偿数据为所述m组补偿数据中的一组。

本实施例中，所述屏体模组100包括基板101和设置于所述基板101表面的所述多个像素单元102。本实施例中，每一行的所述多个像素单元102的补偿数据为所述m组补偿数据中的一组。每一行所述多个像素单元102形成一组所述补偿数据。本实施例中，利用所述显示面板10在水平方向的多个所述像素单元具有相似的分辨率，按照行对所述显示面板10进行区分。

在一个实施例中，在所述屏体模组100上包括多个像素单元102。所述多个像素单元102沿第一方向间隔排布，并沿第二方向逐行延伸设置。每n行的所述多个像素单元102的补偿数据为所述m组补偿数据中的一组，其中n≤m，m/n为正整数，且n不等于1。本实施例中n可以是除1之外的正整数，并且要满足n≤m，m/n为正整数。本实施例中，每n行的所述多个像素单元102的补偿数据为所述m组补偿数据中的一组，这样可以使得所述显示面板10可以分为更少的组。并且每一组的所述补偿数据的容量可以保证合适的范围。

在一个实施例中，生成所述m组补偿数据的方法包括：

s10，对所述屏体模组100上设置的所述多个像素单元102进行分区，以得到m个分区，每个分区包括至少一个像素单元102。

s20，获取所述屏体模组100上m个分区的图像信息。

s30，利用demure补偿算法对所述图像信息进行处理，以得到所述m组补偿数据。

本实施例中，首先，对所述屏体模组100上设置的所述多个像素单元102进行分区，以得到m个分区，每个分区包括至少一个像素单元102。然后，获取所述屏体模组100上m个分区的图像信息。具体的可以对所述屏体模组100上所显示的纯灰阶图像进行拍摄，并得到拍摄图像。根据拍摄图像的亮度数据来获得该拍摄图像中的每个像素点的灰阶数据。最后，利用demure补偿算法对所述图像信息进行处理，通过对每个像素点的灰阶数据的修正来实现对mura缺陷的补偿修正，以得到所述m组补偿数据。

请参阅图5，一种显示面板10包括屏体模组100和数据驱动电路200。

所述屏体模组100，用于实现像素显示。所述屏体模组100可以包括依次层叠设置的基底、像素阵列控制电路和电致发光二极管。

所述数据驱动电路200，与所述屏体模组100电连接，所述数据驱动电路200包括第一存储器230、数据获取单元210、和校验检测单元220，所述第一存储器230为随机存储器，所述数据获取单元210用于获取当前补偿数据以及与所述当前补偿数据对应的第一校验码，所述校验检测单元220用于根据所述当前补偿数据生成第二校验码以及判断所述第一校验码和所述第二校验码是否匹配成功。

所述数据驱动电路200与所述屏体模组100电连接。所述数据驱动电路200包括第一存储器230。所述第一存储器230为随机存储器。所述数据驱动电路200用于获取当前补偿数据，以及与所述当前补偿数据对应的第一校验码。所述数据驱动电路200还用于将所述当前补偿数据存储于所述第一存储器230，并生成第二校验码。所述数据驱动电路200还用于判断所述第一校验码和所述第二校验码是否匹配成功。

本实施例中，提供所述显示面板10的各个结构的选择以及各个结构之间的数据传输方法可以参照上述的所述补偿数据传输校验方法，在此不再赘述。

在一个实施例中，所述显示面板10还包括flash存储器300，与所述屏体模组100电连接。所述flash存储器300用于存储经过所述数据驱动电路200校验后的所述m组补偿数据。

本实施例中，设置所述flash存储器300可以减轻所述第一存储器230的存储数据的压力。在所述flash存储器300中可以对数据进行修改，而不需要将所述flash存储器300拔下来重新写入数据。所述flash存储器300当电源关掉后储存在里面的数据并不会流失掉，在写入数据时必须先将原本的数据清除掉，然后才能再写入新的数据，缺点为写入数据的速度太慢。

请参阅图5和图6，在一个实施例中，所述显示面板10还包括：柔性电路板400。

本实施例中，所述柔性电路板400与所述数据驱动电路200电连接。所述数据驱动电路200可以印刷设置在所述柔性电路板400的一个面上。所述显示面板10为非柔性的显示面板。所述屏体模组100中的基底101为硬质材料。所述数据驱动电路200和所述柔性电路板400内部的具体结构可以根据本领域合技术人员进行设置。

请参阅图6，在一个实施例中，所述显示面板10还包括柔性电路板400和覆晶薄膜500。

所述覆晶薄膜500(chiponflex或者chiponfilm，简称cof)是一种可以将数据驱动电路固定于柔性线路板上的晶粒软膜封装薄膜。所述覆晶薄膜500可以运用软质(柔性)附加电路板作封装芯片载体将芯片与软性(柔性)基板电路接合。

本实施例中的所述显示面板10为柔性的显示面板。所述覆晶薄膜500与所述屏体模组100和所述数据驱动电路200分别电连接。所述柔性电路板400与所述覆晶薄膜500电连接。所述数据驱动电路200通过所述覆晶薄膜500与所述柔性电路板400贴合(固定连接)。

请参阅图7，在一个实施例中，所述屏体模组100包括依次层叠设置的基底101、像素阵列控制电路112和电致发光二极管113。

所述基底101可以采用玻璃基底、柔性基底或者硅基底，在此不作限定。在一个实施例中，所述基底101为柔性基底，所述基底101可以沿着某个界线进行翻折，将不作为像素显示的部分翻折至所述显示面板10的背面。所述基底101能够沿着某个界线进行翻折。

所述像素阵列控制电路112设置于所述基底101的表面。所述像素阵列控制电路112可以包括一个或多个薄膜晶体管(thinfilmtransistor，简称tft)和电容。

所述电致发光二极管113设置于所述像素阵列控制电路112远离所述基底101的表面。所述电致发光二极管113与所述像素阵列控制电路112电连接。所述电致发光二极管113可以选自有机发光二极管(organiclight-emittingdiode,简称oled)或微型发光二极管(microled)等电致发光器件。

本实施例中，所述屏体模组100包括所述基底101、所述像素阵列控制电路112和所述电致发光二极管113。所述屏体模组100可以是柔性显示模组也可以非柔性显示模组。

在一个实施例中，提供一种显示装置，包括上述任一项所述的显示面板。

以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。