一种显示面板、显示装置和显示装置的驱动方法与流程

文档序号:17074097发布日期:2019-03-08 23:34阅读:148来源:国知局
一种显示面板、显示装置和显示装置的驱动方法与流程

本发明实施例涉及显示技术领域,尤其涉及一种显示面板、显示装置和显示装置的驱动方法。



背景技术:

目前显示装置已被广泛应用于电视、笔记本电脑、移动电话、个人数字助理等产品中,而显示面板是显示装置的关键元件,很多显示面板都通过连接一个带封装的驱动电路实现显示功能。

在显示面板实现显示功能之前,需要对显示面板进行可靠性测试。在可靠性测试过程中,显示面板与检测端子通过信号线电连接,检测电路通过检测端子驱动显示进行测试。而在可靠性测试结束后,显示面板需要与驱动电路连接实现显示功能,此时检测端子通过信号线存在电信号,并与环境中的水氧形成化学反应,出现电化学腐蚀,当腐蚀严重时,显示面板内会出现短路现象,造成显示面板显示异常。



技术实现要素:

本发明提供一种显示面板、显示装置和显示装置的驱动方法,可以大大的降低显示面板的腐蚀现象,从而减少了显示面板显示异常的现象,提高了显示面板的可靠性。

第一方面,本发明实施例提供了一种显示面板,包括显示区和非显示区,所述非显示区设置有检测端子、驱动信号端子、单向导通单元、扫描驱动电路,以及与所述扫描驱动电路电连接的驱动信号线;

所述驱动信号端子与所述驱动信号线电连接;

所述检测端子通过所述单向导通单元与所述驱动信号线电连接;

若所述驱动信号端子向驱动信号线传输驱动信号,所述单向导通单元截止。

第二方面,本发明实施例还提供了一种显示装置,包括本发明任意实施例提供的显示面板。

第三方面,本发明实施例还提供了一种显示装置的驱动方法,用于驱动本发明任意实施例提供的显示装置,包括:

向所述驱动信号端子提供驱动信号;所述单向导通单元截止。

本发明通过设置驱动信号端子与驱动信号线电连接,检测端子通过单向导通单元与驱动信号线电连接。在显示面板的检测过程中,检测端子输出信号通过单向导通单元由驱动信号线输出至扫描驱动电路,使扫描驱动电路正常工作,实现显示面板的检测。在显示面板的驱动过程中,检测端子停止输出信号,驱动信号端子输出驱动信号通过驱动信号线至扫描驱动电路,实现显示面板的正常显示。而且驱动信号使单向导通单元截止,驱动信号端子输出的驱动信号无法通过单向单元导通输入至检测端子,因此在驱动过程中检测端子处没有电信号,从而可以避免检测端子处因电信号与环境中的水氧形成化学反应,出现电化学腐蚀现象,进而减少了显示面板显示异常的现象,提高了显示面板的可靠性。

附图说明

图1为本发明实施例提供的一种显示面板的结构示意图;

图2为本发明实施例提供的一种检测电路的结构示意图;

图3为本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图;

图4为本发明实施例提供的一种显示面板的剖面结构示意图;

图5为本发明实施例提供的一种显示装置的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是,此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明,而非对本发明的限定。另外还需要说明的是,为了便于描述,附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部结构。

图1为本发明实施例提供的一种显示面板的结构示意图,如图1所示,该显示面板100包括显示区10和非显示区20,非显示区20设置有检测端子21、驱动信号端子22、单向导通单元23、扫描驱动电路24,以及与扫描驱动电路24电连接的驱动信号线25。驱动信号端子22与驱动信号线25电连接,检测端子24通过单向导通单元23与驱动信号线25电连接。若驱动信号端子22向驱动信号线25传输驱动信号,单向导通单元23截止。

具体地,显示面板100的非显示区20还包括检测电路26和检测电路端子27,显示区10包括阵列排布的像素11,每行的像素11通过一条扫描线g与扫描驱动电路24电连接,每列的像素11通过一条数据线d与检测电路26电连接。检测电路端子27与检测电路26电连接,用于为检测电路26提供检测信号。单向导通单元23具有单向导通的性质,可以通过单向导通单元23两端施加的电压大小实现单向导通单元23的单向导通性。例如,单向导通单元23的一端施加高电平,另一端施加低电平,单向导通单元23导通。当单向导通单元23的一端施加低电平,另一端施加高电平,单向导通单元23截止。

在显示面板100进行驱动显示之前,通过检测电路26对显示面板进行可靠性的测试过程。在测试过程中,单向导通单元23导通,检测端子21与驱动信号线25实现电连接,检测端子21通过驱动信号线25输出信号至扫描驱动电路24,使扫描驱动电路24可以正常工作,扫描电路24逐行输出扫描信号至像素11。同时检测电路端子27为检测电路26提供检测信号,使得扫描驱动电路24输出扫描信号时,对应的像素11的数据线d输入检测信号,从而实现像素11的检测。一般情况下,检测端子21输出的信号的电平不变,即检测端子21输出的信号的电平可以为高电平或低电平,保证在检测过程中单向导通单元23一直处于导通状态,以使检测过程实现正常检测。

示例性地,图2为本发明实施例提供的一种检测电路的结构示意图。结合图1和图2,检测电路26可以为奇偶测试电路,包括多个开关晶体管t。检测电路端子27包括控制端子271、第一数据信号输入端子272和第二数据信号输入端子273。多个开关晶体管t的栅极与控制端子271电连接,多个开关晶体管t的第一极与数据线d电连接。与奇数列数据线d电连接的开关晶体管t的第二极与第一数据信号输入端子272电连接,与偶数列数据线电连接的开关晶体管t的第二极与第二数据信号输入端子273电连接。在显示面板100的检测过程中,控制端子271输入控制信号控制多个开关晶体管t导通,第一数据信号输入端子272交替的输入第一电平和第二电平,第二数据信号输入端子273交替的输入第二电平和第一电平,第一数据信号输入端子272和第二数据信号输入端子273输入的数据信号不同,从而使得奇数列数据线d对应的奇数列像素11与偶数列数据线d对应的偶数列像素11交替的发光或者黑态,从而检测显示面板100是否能够正常点亮。

在可靠性测试结束后,显示面板100开始正常的驱动过程。检测端子21停止输入信号,驱动信号端子22输出驱动信号,单向导通单元23截止,驱动信号端子22输出的驱动信号通过驱动信号线25输出至扫描驱动电路24,使扫描驱动电路24可以正常工作,扫描电路24逐行输出扫描信号至像素11。另外,非显示区20还包括数据信号输入端子,用于在驱动过程中输入数据信号,使得像素11根据数据信号进行显示。而且,在驱动过程中驱动信号可以使单向导通单元23截止,驱动信号端子22输出的驱动信号无法通过单向导通单元23输入至检测端子21,因此在驱动过程中检测端子21处没有电信号,从而可以避免检测端子21处因电信号与环境中的水氧形成化学反应,出现电化学腐蚀现象,进而减少了显示面板100显示异常的现象,提高了显示面板100的可靠性。

本实施例的技术方案,通过设置驱动信号端子与驱动信号线电连接,检测端子通过单向导通单元与驱动信号线电连接。在显示面板的检测过程中,检测端子输出信号通过单向导通单元由驱动信号线输出至扫描驱动电路,使扫描驱动电路正常工作,实现显示面板的检测。在显示面板的驱动过程中,检测端子停止输出信号,驱动信号端子输出驱动信号通过驱动信号线至扫描驱动电路,实现显示面板的正常显示。而且驱动信号使单向导通单元截止,驱动信号端子输出的驱动信号无法通过单向单元导通输入至检测端子,因此在驱动过程中检测端子处没有电信号,从而可以避免检测端子处因电信号与环境中的水氧形成化学反应,出现电化学腐蚀现象,进而减少了显示面板显示异常的现象,提高了显示面板的可靠性。

在上述技术方案的基础上,图3为本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图。如图3所示,驱动信号线25包括第一电源线251和第二电源线252,扫描驱动电路24包括第一电源输入端in1和第二电源输入端in2,第一电源输入端in1输入的第一电平大于第二电源输入端输入in2的第二电平,第一电源线251与第一电源输入端in1电连接,第二电源线252与第二电源输入端in2电连接。

驱动信号端子22包括第一驱动信号端子221和第二驱动信号端子222,第一驱动信号端子221与第一电源线251电连接,第二驱动信号端子222与第二电源线252电连接。检测端子21包括第一检测端子211和第二检测端子212,单向导通单元23包括第一单向导通单元231和第二单向导通单元232,第一单向导通单元231的第一端a1与第一检测端子211电连接,第一单向导通单元231的第二端b1与第一电源线251电连接,第二单向导通单元212的第一端a2与第二电源线252电连接,第二单向导通单元212的第二端b2与第二检测端子212电连接。

具体地,第一电源线251与第一电源输入端in1电连接,第二电源线252与第二电源输入端in2电连接,而且第一电源输入端in1输入的第一电平大于第二电源输入端输入in2的第二电平,因此与第一电源线251电连接的第一检测端子211输入第一电平,与第二电源线252电连接的第二检测端子212输入第二电平,第一驱动信号端子221输入第一电平,第二驱动信号端子222输入第二电平,第一电平大于第二电平。示例性地,第一电平可以为高电平,第二电平可以为低电平。

单向导通单元23包括第一单向导通单元231和第二单向导通单元232,第一单向导通单元231和第二单向导通单元232的第一端输入高电平,第二端输入低电平时导通。相反的,第一单向导通单元231和第二单向导通单元232的第一端输入低电平,第二端输入高电平时截止。示例性地,第一单向导通单元211和第二单向导通单元212均为二极管,第一单向导通单元211的第一端a1和第二单向导通单元212的第一端a2为二极管的阳极,第一单向导通单元211的第二端b1和第二单向导通单元212的第二端b2为二极管的阴极。当二极管的阳极输入高电平或阴极输入低电平时二极管导通,当二极管的阳极输入低电平或阴极输入高电平时二极管截止。

在检测过程中,驱动信号端子22不提供驱动信号。第一单向导通单元231的第一端a1输入第一电平,第二单向单挑单元232的第二端b2输入第二电平,因此第一单向导通单元231和第二单向导通单元232均导通,第一检测端子211和第二检测端子212为扫描驱动电路提供信号。在驱动过程中,单向导通单元23不提供信号,第一驱动信号端子221向第一单向导通单元231的第二端b1输入第一电平,第二驱动信号端子222向第二单向导通单元232的第二端b2输入第二电平,因此第一单向导通单元231和第二单向导通单元232均截止。驱动信号不仅使扫描驱动电路24正常工作,驱动像素11正常显示,而且可以使得单向导通单元23截止,避免驱动信号通过单向导通单元23输入至检测端子21,因此在驱动过程中检测端子21处没有电信号,从而可以避免检测端子21处因电信号与环境中的水氧形成化学反应,出现电化学腐蚀现象,进而减少了显示面板100显示异常的现象,提高了显示面板100的可靠性。

需要说明的是扫描驱动电路24还包括其他的信号输入端子,用于直接输入脉冲信号,使得扫描驱动电路24可以逐行输出扫描信号,用于逐行驱动显示区10的像素11正常显示。

在上述各技术方案的基础上,图4为本发明实施例提供的一种显示面板的剖面结构示意图。如图4所示,显示面板100还包括基板110和缓冲层111,缓冲层111覆盖基板110。

非显示区20包括半导体有源层112,半导体有源层112设置于缓冲层111远离基板110的一侧,半导体有源层112包括本征多晶硅的第一半导体区1121和第二半导体区1122,第一半导体区1121和第二半导体区1122至少一个掺杂n型或p型多晶硅,掺杂n型的半导体区为二极管的阴极,掺杂p型的半导体区为二极管的阳极。

具体地,结合图1和图4,显示面板的像素一般包括多个晶体管阵列和存储电容,晶体管阵列可以位于缓冲层111上,缓冲层111位于基板110上,缓冲层111覆盖基板110的整个上表面。缓冲层111包括无机层或有机层。缓冲层111阻挡氧和湿气,防止湿气或杂质通过基板110扩散,并且在基板110的上表面上提供平坦的表面。以顶栅型的晶体管为例,显示面板100包括位于缓冲层111上的半导体有源层112,显示区10的半导体有源层112包括一个本征多晶硅的半导体区1123和两个掺杂了杂质的多晶硅半导体区1124,本征多晶硅的半导体区1123被设置在两个掺杂了杂质的多晶硅半导体区1124的中心部,掺杂了杂质的多晶硅的半导体区1124被设置在本征多晶硅的半导体区1123的两侧。本征多晶硅的半导体区1123用作晶体管的沟道,掺杂了杂质的多晶硅半导体区1124用作晶体管的源区和漏区。

非显示区20的半导体有源层112还设置有第一半导体区1121和第二半导体区1122,第一半导体区1121和第二半导体区1122为本征多晶硅的半导体区,通过在第一半导体区1121和第二半导体区1122中至少一个掺杂n型或p型多晶硅,使得第一半导体区1121和第二半导体区1122形成一个pn结,即形成一个二极管。示例性地,第一半导体区1121和第二半导体区1122中的一个掺杂n型多晶硅,相对于没有掺杂n型多晶硅的另一半导体区域电子大于空穴,因此掺杂n型多晶硅的半导体区域为二极管的阴极,另一半导体区域为二极管的阳极。同理,第一半导体区1121和第二半导体区1122中的一个掺杂p型多晶硅,相对于没有掺杂p型多晶硅的另一半导体区域空穴大于电子,因此掺杂p型多晶硅的半导体区域为二极管的阳极,另一半导体区域为二极管的阴极。或者,第一半导体区1121和第二半导体区1122中的一个半导体区域掺杂n型多晶硅,另一个半导体区域掺杂p型多晶硅,则掺杂n型多晶硅的半导体区域电子大于空穴,掺杂p型多晶硅的半导体区域空穴大于电子,因此掺杂n型多晶硅的半导体区为二极管的阴极,掺杂p型多晶硅的半导体区域为二极管的阳极。

示例性地,第一半导体区1121掺杂n型多晶硅,第二半导体区1122为本征多晶硅,则第一半导体区1121为二极管的阴极,第二半导体区1122为二极管的阳极。或者,第一半导体区1121掺杂p型多晶硅,第二半导体区1122为本征多晶硅,则第一半导体区1121为二极管的阳极,第二半导体区1122为二极管的阴极。

又或者,第二半导体区1122掺杂n型多晶硅,第一半导体区1121为本征多晶硅,则第二半导体区1122为二极管的阴极,第一半导体区1121为二极管的阳极。或者,第二半导体区1122掺杂p型多晶硅,第一半导体区1121为本征多晶硅,则第二半导体区1122为二极管的阳极,第一半导体区1121为二极管的阴极。

又或者,第一半导体区1121掺杂n型多晶硅,第二半导体区1122掺杂p型多晶硅,第一半导体区1121为二极管的阴极,第二半导体区1122为二极管的阳极。或者,第一半导体区1121掺杂p型多晶硅,第二半导体区1122掺杂n型多晶硅,第一半导体区1121为二极管的阳极,第二半导体区1122为二极管的阴极。

由图4可知,二极管与显示区10的晶体管的半导体有源层112同层设置,不仅结构简单,而且可以简化制作显示面板的工艺流程。另外无需在显示面板上额外设置二极管器件,可以节省显示面板的非显示区的空间,有利于显示面板窄边框的实现。

本发明实施例还提供一种显示装置,图5为本发明实施例提供的一种显示装置的结构示意图。如图5所示,该显示装置00包括本发明任意实施例提供的显示面板100。

继续参考图5,显示装置还包括功能驱动电路28。功能驱动电路28与驱动信号端子22电连接,功能驱动电路28为显示面板100提供驱动信号。

具体地,功能驱动电路28可以是驱动芯片,为显示面板100显示时提供驱动信号。在检测过程中,功能驱动电路28与显示面板100还没有与显示面板100上的驱动信号端子22实现电连接,因此功能驱动电路28无法为显示面板100提供驱动信号。同时单向导通单元23导通,检测端子21为驱动信号线25提供信号。在驱动过程中,功能驱动电路28与显示面板100上的驱动信号端子22实现电连接,为显示面板100提供驱动信号。同时驱动信号使得单向导通单元23截止,驱动信号端子22输出的驱动信号无法通过单向导通单元23输入至检测端子21,因此在驱动过程中检测端子21处没有电信号,从而可以避免检测端子21处因电信号与环境中的水氧形成化学反应,出现电化学腐蚀现象,进而减少了显示面板100显示异常的现象,提高了显示面板100的可靠性。

示例性地,继续参考图5,驱动信号线25包括第一电源线251和第二电源线252,扫描驱动电路24包括第一电源输入端in1和第二电源输入端in2,第一电源线251与第一电源输入端in1电连接,第二电源线252与第二电源输入端in2电连接。

驱动信号端子22包括第一驱动信号端子221和第二驱动信号端子222,第一驱动信号端子221与第一电源线251电连接,第二驱动信号端子222与第二电源线252电连接,第一驱动信号端子221输入高电平,第二驱动信号端子222输入低电平。检测端子21包括第一检测端子211和第二检测端子212,单向导通单元23包括第一单向导通单元231和第二单向导通单元232,第一单向导通单元231的第一端a1与第一检测端子211电连接,第一单向导通单元231的第二端b1与第一电源线251电连接,第一单向导通单元211截止。第二单向导通单元212的第一端a2与第二电源线252电连接,第二单向导通单元212的第二端b2与第二检测端子212电连接,第二单向导通单元212截止。

在驱动过程中,单向导通单元23不提供信号,第一驱动信号端子221向第一单向导通单元231的第二端b1输入第一电平,第二驱动信号端子222向第二单向导通单元232的第二端b2输入第二电平,因此第一单向导通单元231和第二单向导通单元232均截止。驱动信号不仅使扫描驱动电路24正常工作,驱动像素11正常显示,而且可以使得单向导通单元23截止,避免驱动信号通过单向导通单元23输入至检测端子21,因此在驱动过程中检测端子21处没有电信号,从而可以避免检测端子21处因电信号与环境中的水氧形成化学反应,出现电化学腐蚀现象,进而减少了显示面板100显示异常的现象,提高了显示面板100的可靠性。

本发明实施例还提供一种显示装置的驱动方法,用于驱动本发明任意实施例提供的显示装置,该驱动方法包括:

向驱动信号端子提供驱动信号,单向导通单元截止。

具体地,在显示装置的显示过程中,驱动信号可以时显示面板正常显示。同时驱动信号使单向导通单元截止,从而使得驱动信号无法通过单向导通单元输入至检测端子,因此在驱动过程中检测端子处没有电信号,从而可以避免检测端子处因电信号与环境中的水氧形成化学反应,出现电化学腐蚀现象,进而减少了显示面板100显示异常的现象,提高了显示面板的可靠性。

本实施例的技术方案,通过向驱动信号端子提供驱动信号,使单向导通单元截止,驱动信号端子输出的驱动信号无法通过单向导通单元输入至检测端子,因此在驱动过程中检测端子处没有电信号,从而可以避免检测端子处因电信号与环境中的水氧形成化学反应,出现电化学腐蚀现象,进而减少了显示面板100显示异常的现象,提高了显示面板的可靠性。

在上述技术方案的基础上,当驱动信号线包括第一电源线和第二电源线,扫描驱动电路包括第一电源输入端和第二电源输入端,第一电源线与第一电源输入端电连接,第二电源线与第二电源输入端电连接。

驱动信号端子包括第一驱动信号端子和第二驱动信号端子,第一驱动信号端子与第一电源线电连接,第二驱动信号端子与第二电源线电连接。

检测端子包括第一检测端子和第二检测端子,单向导通单元包括第一单向导通单元和第二单向导通单元,第一单向导通单元的第一端与第一检测端子电连接,第一单向导通单元的第二端与第一电源线电连接,第二单向导通单元的第一端与第二电源线电连接,第二单向导通单元的第二端与第二检测端子电连接。

驱动信号包括高电平驱动信号和低电平驱动信号,该驱动方法包括:

向第一驱动信号端子输出高电平驱动信号,第一单向导通单元截止;向第二驱动信号端子输出低电平驱动信号,第二单向导通单元截止。

注意,上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解,本发明不限于这里所述的特定实施例,对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此,虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明,但是本发明不仅仅限于以上实施例,在不脱离本发明构思的情况下,还可以包括更多其他等效实施例,而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。

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