一种显示面板的残影测量方法及装置与流程

[0001]
本发明实施例涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示面板的残影测量方法及装置。


背景技术：

[0002]
在显示面板的生产过程中，为了保证性能和质量，需要对显示面板的残影现象进行检测与判定。残影现象是指显示面板在进行画面切换时，上一帧画面不会立即消失，从而影响下一帧画面显示的现象。具体的，显示面板的刷新率决定着画面的切换时间，当刷新率越低时，画面切换的时间越长，上一帧画面对下一帧画面的影响越明显。
[0003]
现有的显示面板的残影测量方法往往依靠人眼观察，但是该方法具有很强的主观性，准确率较低，导致技术人员无法针对残影现象对显示面板进行全面、有针对性的改进，大大降低了产品的质量以及良率。


技术实现要素：

[0004]
本发明提供一种显示面板的残影测量方法及装置，能够实现对显示面板残影现象的标准量化和评价。
[0005]
第一方面，本发明实施例提供了一种显示面板的残影测量方法，包括：
[0006]
获取第一基准时间t1和第二基准时间t2，其中，第一基准时间t1为待测显示面板从第一画面切换到第二画面的时间，第二基准时间t2为待测显示面板从第三画面切换到第二画面的时间，第一画面为显示第一颜色的纯色画面，第二画面为显示第二颜色的纯色画面，第三画面为显示第三颜色的纯色画面；
[0007]
在控制待测显示面板显示第四画面预设时长后，控制待测显示面板从第四画面切换到第二画面，并获取第一量变时间t3和第二量变时间t4，其中，第四画面包括间隔设置的第一区域和第二区域，第一区域显示第一颜色，第二区域显示第三颜色，第一量变时间t3为待测显示面板从第四画面的第一区域切换到第二画面的时间，第二量变时间t4为待测显示面板从第四画面的第二区域切换到第二画面的时间；
[0008]
根据第一基准时间t1、第二基准时间t2、第一量变时间t3和第二量变时间t4，计算待测显示面板的残影时间t。
[0009]
如上的显示面板的残影测量方法，可选地，获取第一基准时间t1和第二基准时间t2，包括：
[0010]
在待测显示面板显示第一画面时，控制待测显示面板从第一画面切换到第二画面，并记录第一基准时间t1；
[0011]
在待测显示面板显示第三画面时，控制待测显示面板从第三画面切换到第二画面，并记录第二基准时间t2。
[0012]
如上的显示面板的残影测量方法，可选地，计算待测显示面板的残影时间t，包括：
[0013]
待测显示面板的残影时间t＝(t3-t1)+(t4-t2)；或者，
[0014]
待测显示面板的残影时间t＝(t3+t4-t1-t2)/2；或者，
[0015]
待测显示面板的残影时间t＝max((t3-t1),(t4-t2))。
[0016]
如上的显示面板的残影测量方法，可选地，第一画面的亮度l1小于第二画面的亮度l2，第二画面的亮度l2小于第三画面的亮度l3；或者，
[0017]
第一画面的亮度l1大于第二画面的亮度l2，第二画面的亮度l2大于第三画面的亮度l3。
[0018]
如上的显示面板的残影测量方法，可选地，第一颜色为黑色，第三颜色为白色；或者，第一颜色为白色，第三颜色为黑色。
[0019]
如上的显示面板的残影测量方法，可选地，第四画面为棋盘格画面或者条纹画面。
[0020]
第二方面，本发明实施例还提供了一种显示面板的残影测量装置，适用于具有上述第一方面任一特征的显示面板的残影测量方法，显示面板的残影测量装置包括：环境模拟单元、亮度采集单元、处理单元和控制单元；
[0021]
待测显示面板固定在环境模拟单元内；
[0022]
控制单元与待测显示面板电连接，用于控制待测显示面板显示并切换画面；
[0023]
亮度采集单元分别与待测显示面板和处理单元电连接，用于采集画面的亮度和画面切换的时间，并将画面的亮度和画面切换的时间发送至处理单元；
[0024]
处理单元，用于计算待测显示面板的残影时间。
[0025]
如上的显示面板的残影测量装置，可选地，环境模拟单元用于模拟暗室环境；
[0026]
环境模拟单元内设置有固定台，待测显示面板固定在固定台上。
[0027]
如上的显示面板的残影测量装置，可选地，亮度采集单元包括至少一个亮度采集探头，每个亮度采集探头与待测显示面板电连接。
[0028]
第三方面，本发明实施例还提供了一种显示面板的残影测量装置，包括：处理器和存储器，存储器用于存储计算机程序，处理器用于在执行计算机程序时实现上述第一方面任一特征的显示面板的残影测量方法。
[0029]
本发明提供一种显示面板的残影测量方法及装置，在将待测显示面板置于残影测量装置中后，控制待测显示面板显示并切换画面，依次记录待测显示面板从第一画面切换到第二画面的时间t1、待测显示面板从第三画面切换到第二画面的时间t2、待测显示面板从第四画面的第一区域切换到第二画面的时间t3和待测显示面板从第四画面的第二区域切换到第二画面的时间t4，计算待测显示面板的残影时间t，从而能够将残影现象通过残影时间t来体现，实现对显示面板残影现象的标准量化和评价。
附图说明
[0030]
图1是本发明实施例提供的一种显示面板的残影测量装置的结构示意图；
[0031]
图2是本发明实施例提供的一种显示面板的残影测量方法的流程示意图；
[0032]
图3是本发明实施例提供的另一种显示面板的残影测量方法的流程示意图；
[0033]
图4是本发明实施例提供的一种待测显示面板显示画面的示意图；
[0034]
图5是本发明实施例提供的一种待测显示面板画面切换时间的示意图；
[0035]
图6是本发明实施例提供的另一种显示面板的残影测量装置的结构示意图。
具体实施方式
[0036]
下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，而非对本发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部结构。
[0037]
同时，除非明确地描述为相反，否则词语“包括”和诸如“包含”或“具有”的变形将被理解为暗示包含该元件，但不排除任意其它元件。
[0038]
还需要说明的是，本发明实施例中提到的“和/或”是指包括一个或更多个相关所列项目的任何和所有组合。本发明实施例中用“第一”、“第二”、“第三”等来描述各种组件，但是这些组件不应该受这些术语限制。这些术语仅用来将一个组件与另一组件区分开。并且，除非上下文另有明确指示，否则单数形式“一个”、“一种”和“该()”也意图包括复数形式。
[0039]
当可以不同地实施某个实施例时，具体的工艺顺序可以与所描述的顺序不同地执行。例如，两个连续描述的工艺可以基本上在同一时间执行或者按与所描述顺序相反的顺序来执行。
[0040]
图1示出了本发明实施例提供的一种显示面板的残影测量装置的结构示意图。如图1所示，显示面板的残影测量装置包括：环境模拟单元1、亮度采集单元2、处理单元3和控制单元4。
[0041]
待测显示面板5固定在环境模拟单元1内；
[0042]
在一实施例中，环境模拟单元1用于模拟暗室环境，即环境模拟单元1为一封闭的单元、环境模拟单元1内无照明且呈黑暗状态，如此，可以排除外界的光对待测显示面板5的影响，保证残影测量结果的准确性。
[0043]
继续参考图1，环境模拟单元1内设置有固定台6，待测显示面板5固定在固定台6上，防止待测显示面板5受到外力造成损害。
[0044]
控制单元4与待测显示面板5电连接，用于控制待测显示面板5显示并切换画面。
[0045]
亮度采集单元2分别与待测显示面板5和处理单元3电连接，用于采集画面的亮度和画面切换的时间，并将画面的亮度和画面切换的时间发送至处理单元3。在一实施例中，亮度采集单元2可以持续采集画面的亮度和画面切换的时间。
[0046]
亮度采集单元2包括至少一个亮度采集探头(图1中以亮度采集单元2包括一个亮度采集探头为例进行绘制)，每个亮度采集探头与待测显示面板5电连接。
[0047]
处理单元3，用于计算待测显示面板5的残影时间。处理单元3还可以具有显示功能，显示待测显示面板5显示的画面，以供测试人员查验。
[0048]
待测显示面板5为具有显示功能的设备，具体的，可以为显示屏(显示面板)，也可以是包含显示面板的产品。例如，显示器、电视、数码相机、手机、平板电脑等任何具有显示功能的产品或者部件。其中，待测显示面板5可以是液晶显示面板，也可以是发光二极管(light-emitting diode，led)(如有机发光二极管(organic light-emitting diode，oled)、有源矩阵有机发光二极管(active-matrix organic light-emitting diode，amoled)等)显示面板等。
[0049]
图2示出了本发明实施例提供的一种显示面板的残影测量方法的流程示意图。如图2所示，该方法采用如图1所示的显示面板的残影测量装置执行，包括：
[0050]
s101、获取第一基准时间t1和第二基准时间t2，其中，第一基准时间t1为待测显示面板从第一画面切换到第二画面的时间，第二基准时间t2为待测显示面板从第三画面切换到第二画面的时间，第一画面为显示第一颜色的纯色画面，第二画面为显示第二颜色的纯色画面，第三画面为显示第三颜色的纯色画面。
[0051]
在一实施例中，步骤s101获取第一基准时间t1和第二基准时间t2的方法可以包括如下两个步骤：
[0052]
步骤1、在待测显示面板显示第一画面时，控制待测显示面板从第一画面切换到第二画面，并记录第一基准时间t1。
[0053]
步骤2、在待测显示面板显示第三画面时，控制待测显示面板从第三画面切换到第二画面，并记录第二基准时间t2。
[0054]
上述步骤1和步骤2之间没有执行先后的关系。
[0055]
需要说明的是，本发明中提到的亮度可以理解为灰度值或者灰阶值。r(red)g(green)b(blue)色彩模式是使用rgb模型为图像中每个像素的rgb分量分配一个0-255范围内的强度值。rgb图像仅仅使用三种颜色就能够使它们依照不同的比例混合，在屏幕上呈现16777216(256*256*256)种颜色。在rgb模型中，如果r＝g＝b时，则彩色表示一种灰度颜色，其中r＝g＝b的值叫灰度值，因此，灰度图像每个像素只需一个字节存放灰度值(又称强度值、亮度值)，灰度范围为0-255。例如，白色的灰度rgb数值是255,255,255；黑色的灰度rgb数值是0,0,0。
[0056]
在一实施例中，第一画面的亮度l1小于第二画面的亮度l2，第二画面的亮度l2小于第三画面的亮度l3；可选的，第一颜色为黑色(即亮度为0)，第三颜色为白色(即亮度为255)，第二画面的亮度l2为位于(0,255)范围内的任意数值，如64,127,128等。
[0057]
或者，第一画面的亮度l1大于第二画面的亮度l2，第二画面的亮度l2大于第三画面的亮度l3；可选的，第一颜色为白色(即亮度为255)，第三颜色为黑色(即亮度为0)，第二画面的亮度l2为位于(0,255)范围内的任意数值，如64,127,128等。
[0058]
s102、在控制待测显示面板显示第四画面预设时长后，控制待测显示面板从第四画面切换到第二画面，并获取第一量变时间t3和第二量变时间t4，其中，第四画面包括间隔设置的第一区域和第二区域，第一区域显示第一颜色，第二区域显示第三颜色，第一量变时间t3为待测显示面板从第四画面的第一区域切换到第二画面的时间，第二量变时间t4为待测显示面板从第四画面的第二区域切换到第二画面的时间。
[0059]
在一实施例中，第四画面为棋盘格画面或者条纹画面。
[0060]
s103、根据第一基准时间t1、第二基准时间t2、第一量变时间t3和第二量变时间t4，计算待测显示面板的残影时间t。
[0061]
在一实施例中，待测显示面板的残影时间t＝(t3-t1)+(t4-t2)；或者，待测显示面板的残影时间t＝(t3+t4-t1-t2)/2；或者，待测显示面板的残影时间t＝max((t3-t1),(t4-t2))。
[0062]
下面，结合图1和图2，以第一颜色为黑色、第三颜色为白色、第四画面为黑白棋盘格画面为例，对本发明实施例提供的显示面板的残影测量方法及其技术效果进行示例性描述。
[0063]
图3示出了本发明实施例提供的另一种显示面板的残影测量方法的流程示意图，
图4示出了本发明实施例提供的一种待测显示面板显示画面的示意图。如图3所示，该方法包括：
[0064]
s201、控制单元控制待测显示面板显示第一画面，亮度采集单元记录第一画面的亮度l1。
[0065]
在将待测显示面板设置在环境模拟单元中后，控制单元控制待测显示面板显示第一画面，第一画面如图4(a)所示，第一画面的亮度l1为0。
[0066]
s202、控制单元控制待测显示面板从第一画面切换到第二画面，亮度采集单元记录第二画面的亮度l2和第一基准时间t1。
[0067]
第二画面如图4(b)所示，第二画面的亮度l2为位于(0,255)范围内的任意数值，如64,127,128等。
[0068]
第一基准时间t1为待测显示面板从第一画面切换到第二画面的时间。
[0069]
s203、控制单元控制待测显示面板从第二画面切换到第三画面，亮度采集单元记录第三画面的亮度l3。
[0070]
第三画面如图4(c)所示，第三画面的亮度l3为255。
[0071]
s204、控制单元控制待测显示面板从第三画面切换到第二画面，亮度采集单元记录第二基准时间t2。
[0072]
第二基准时间t2为待测显示面板从第三画面切换到第二画面的时间。
[0073]
s205、控制单元控制待测显示面板从第二画面切换到第四画面，并控制待测显示面板持续显示第四画面预设时长。
[0074]
可以理解的是，对于同一个待测显示面板，待测显示面板保持显示第四画面的时间越长，切换画面所产生的残影现象越严重。因此，测试人员可以根据不同的需求设置不同的预设时长进行检测。
[0075]
第四画面如图4(d)所示，第四画面为第一区域(图4(d)中黑色区域)和第二区域(图4(d)中白色区域)间隔排列组成的黑白棋盘格画面。
[0076]
s206、在控制单元控制待测显示面板显示第四画面预设时长后，控制待测显示面板从第四画面切换到第二画面，亮度采集单元记录第一量变时间t3和第二量变时间t4。
[0077]
第一量变时间t3为待测显示面板从第四画面的第一区域切换到第二画面的时间，第二量变时间t4为待测显示面板从第四画面的第二区域切换到第二画面的时间。当待测显示面板从第四画面切换到第二画面，由于残影现象的存在，实际显示画面如图4(e)所示，亮度采集单元记录的第一量变时间t3即为图4(e)中第一区域切换到第二画面的时间；亮度采集单元记录的第二量变时间t4即为图4(e)中第二区域切换到第二画面的时间。
[0078]
亮度采集单元的一个亮度采集探头可以覆盖一个黑白棋盘格，或者一个亮度采集探头可以覆盖多个黑白棋盘格。当一个亮度采集探头覆盖一个黑白棋盘格时，亮度采集单元可以分别设置两个亮度采集探头(一个覆盖白棋格，另一个覆盖黑棋格)，也可以设置一个亮度采集探头执行步骤s206两次，以记录第一量变时间t3和第二量变时间t4。
[0079]
s207、亮度采集单元将第一基准时间t1、第二基准时间t2、第一量变时间t3和第二量变时间t4发送至处理单元，处理单元根据第一基准时间t1、第二基准时间t2、第一量变时间t3和第二量变时间t4，计算待测显示面板的残影时间t。
[0080]
图5示出了本发明实施例提供的一种待测显示面板画面切换时间的示意图。如图5
所示，对于第一区域，其残影时间为t3-t1；对于第二区域，其残影时间为t4-t2。因此，待测显示面板的残影时间t可以按照下述任一规则确定，并以待测显示面板的残影时间t作为残影的量化评价指标：
[0081]
规则一、待测显示面板的残影时间t＝(t3-t1)+(t4-t2)。
[0082]
规则二、待测显示面板的残影时间t＝(t3+t4-t1-t2)/2。
[0083]
规则三、待测显示面板的残影时间t＝max((t3-t1),(t4-t2))。
[0084]
本发明实施例提供了一种显示面板的残影测量方法，包括：获取第一基准时间t1和第二基准时间t2，其中，第一基准时间t1为待测显示面板从第一画面切换到第二画面的时间，第二基准时间t2为待测显示面板从第三画面切换到第二画面的时间，第一画面为显示第一颜色的纯色画面，第二画面为显示第二颜色的纯色画面，第三画面为显示第三颜色的纯色画面；在控制待测显示面板显示第四画面预设时长后，控制待测显示面板从第四画面切换到第二画面，并获取第一量变时间t3和第二量变时间t4，其中，第四画面包括间隔设置的第一区域和第二区域，第一区域显示第一颜色，第二区域显示第三颜色，第一量变时间t3为待测显示面板从第四画面的第一区域切换到第二画面的时间，第二量变时间t4为待测显示面板从第四画面的第二区域切换到第二画面的时间；根据第一基准时间t1、第二基准时间t2、第一量变时间t3和第二量变时间t4，计算待测显示面板的残影时间t。在将待测显示面板置于残影测量装置中后，控制待测显示面板显示并切换画面，依次记录待测显示面板从第一画面切换到第二画面的时间t1、待测显示面板从第三画面切换到第二画面的时间t2、待测显示面板从第四画面的第一区域切换到第二画面的时间t3和待测显示面板从第四画面的第二区域切换到第二画面的时间t4，计算待测显示面板的残影时间t，从而能够将残影现象通过残影时间t来体现，实现了短时间残影的及时捕获，从显示面板的亮度差异上实现对显示面板残影现象的标准量化和评价。
[0085]
本发明实施例还提供了一种显示面板的残影测量装置，包括：处理器和存储器，存储器用于存储计算机程序，处理器用于在执行计算机程序时实现如本发明任意实施例所提供的方法。示例性的，图6为本发明实施例提供的另一种显示面板的残影测量装置的结构示意图，如图6所示，该显示面板的残影测量装置包括处理器30、存储器31和通信接口32；显示面板的残影测量装置中处理器30的数量可以是一个或多个，图6中以一个处理器30为例；显示面板的残影测量装置中的处理器30、存储器31、通信接口32可以通过总线或其他方式连接，图6中以通过总线连接为例。总线表示几类总线结构中的一种或多种，包括存储器总线或者存储器控制器，外围总线，图形加速端口，处理器或者使用多种总线结构中的任意总线结构的局域总线。
[0086]
存储器31作为一种计算机可读存储介质，可设置为存储软件程序、计算机可执行程序以及模块，如本发明实施例中的方法对应的程序指令/模块。处理器30通过运行存储在存储器31中的软件程序、指令以及模块，从而执行显示面板的残影测量装置的至少一种功能应用以及数据处理，即实现上述的显示面板的残影测量方法。
[0087]
存储器31可包括存储程序区和存储数据区，其中，存储程序区可存储操作系统、至少一个功能所需的应用程序；存储数据区可存储根据显示面板的残影测量装置的使用所创建的数据等。此外，存储器31可以包括高速随机存取存储器，还可以包括非易失性存储器，例如至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他非易失性固态存储器件。在一些实例中，存
储器31可包括相对于处理器30远程设置的存储器，这些远程存储器可以通过网络连接至显示面板的残影测量装置。上述网络的实例包括但不限于互联网、企业内部网、局域网、移动通信网及其组合。
[0088]
通信接口32可设置为数据的接收与发送。
[0089]
本发明实施例还提供了一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现如本发明任意实施例所提供的方法。
[0090]
本发明实施例的计算机存储介质，可以采用一个或多个计算机可读的介质的任意组合。计算机可读介质可以是计算机可读信号介质或者计算机可读存储介质。计算机可读存储介质例如可以是但不限于：电、磁、光、电磁、红外线、或半导体的系统、装置或器件，或者任意以上的组合。计算机可读存储介质包括(非穷举的列表)：具有一个或多个导线的电连接、便携式计算机磁盘、硬盘、随机存取存储器(random access memory，ram)、只读存储器(read-only memory，rom)、可擦式可编程只读存储器(electrically erasable,programmable read-only memory，eprom)、闪存、光纤、便携式紧凑磁盘只读存储器(compact disc read-only memory，cd-rom)、光存储器件、磁存储器件、或者上述的任意合适的组合。在本发明中，计算机可读存储介质可以是任何包含或存储程序的有形介质，该程序可以被指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用。
[0091]
计算机可读的信号介质可以包括在基带中或者作为载波一部分传播的数据信号，数据信号中承载了计算机可读的程序代码。这种传播的数据信号可以采用多种形式，包括但不限于电磁信号、光信号或上述的任意合适的组合。计算机可读的信号介质还可以是计算机可读存储介质以外的任何计算机可读介质，该计算机可读介质可以发送、传播或者传输用于由指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用的程序。
[0092]
计算机可读介质上包含的程序代码可以用任何适当的介质传输，包括但不限于无线、电线、光缆、射频(radio frequency，rf)等等，或者上述的任意合适的组合。
[0093]
可以以一种或多种程序设计语言或多种程序设计语言组合来编写用于执行本公开操作的计算机程序代码，程序设计语言包括面向对象的程序设计语言诸如java、smalltalk、c++、ruby、go，还包括常规的过程式程序设计语言诸如“c”语言或类似的程序设计语言。程序代码可以完全地在用户计算机上执行、部分地在用户计算机上执行、作为一个独立的软件包执行、部分在用户计算机上部分在远程计算机上执行、或者完全在远程计算机或服务器上执行。在涉及远程计算机的情形中，远程计算机可以通过任意种类的网络(包括局域网(local area network，lan)或广域网(wide area network，wan))连接到用户计算机，或者，可以连接到外部计算机(例如利用因特网服务提供商来通过因特网连接)。
[0094]
本领域内的技术人员应明白，术语用户终端涵盖任何适合类型的无线用户设备，例如移动电话、便携数据处理装置、便携网络浏览器或车载移动台。
[0095]
一般来说，本发明的多种实施例可以在硬件或专用电路、软件、逻辑或其任何组合中实现。例如，一些方面可以被实现在硬件中，而其它方面可以被实现在可以被控制器、微处理器或其它计算装置执行的固件或软件中，尽管本发明不限于此。
[0096]
本发明的实施例可以通过移动装置的数据处理器执行计算机程序指令来实现，例如在处理器实体中，或者通过硬件，或者通过软件和硬件的组合。计算机程序指令可以是汇编指令、指令集架构(instruction set architecture，isa)指令、机器指令、机器相关指
令、微代码、固件指令、状态设置数据、或者以一种或多种编程语言的任意组合编写的源代码或目标代码。
[0097]
本发明附图中的任何逻辑流程的框图可以表示程序步骤，或者可以表示相互连接的逻辑电路、模块和功能，或者可以表示程序步骤与逻辑电路、模块和功能的组合。计算机程序可以存储在存储器上。存储器可以具有任何适合于本地技术环境的类型并且可以使用任何适合的数据存储技术实现，例如但不限于只读存储器(rom)、随机访问存储器(ram)、光存储器装置和系统(数码多功能光碟dvd或cd光盘)等。计算机可读介质可以包括非瞬时性存储介质。数据处理器可以是任何适合于本地技术环境的类型，例如但不限于通用计算机、专用计算机、微处理器、数字信号处理器(digital signal processing，dsp)、专用集成电路(application specific integrated circuit，asic)、可编程逻辑器件(field－programmable gate array，fgpa)以及基于多核处理器架构的处理器。
[0098]
本发明实施例还提供一种显示面板，该显示面板是利用上述实施例所描述的显示面板的残影测量装置，采用上述实施例所描述的显示面板的残影测量方法进行残影测量和评价的。其中，显示面板的类型可以为有机发光二极管(organic light-emitting diode，oled)显示面板、平面转换(in-plane switching，ips)显示面板、扭曲向列型(twisted nematic，tn)显示面板、垂直配向技术(vertical alignment，va)显示面板、电子纸、qled(quantum dot light emitting diodes，量子点发光)显示面板或者micro led(微发光二极管，μled)显示面板等显示面板中的任意一种，本发明对此并不具体限制。显示面板的发光模式可以是顶发光、底发光或者双面发光。
[0099]
显示面板还可以封装在显示装置中，显示装置可以应用在智能穿戴设备(如智能手环、智能手表)中，也可以应用在智能手机、平板电脑、显示器等设备中。
[0100]
注意，上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本发明不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明，但是本发明不仅仅限于以上实施例，在不脱离本发明构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。