显示面板及其测试端子的制作方法

1.本技术涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示面板及其测试端子。


背景技术：

2.显示面板的制程往往是较复杂的，以液晶显示面板为例，其中就包括阵列基板制程工艺、彩膜基板制程工艺，对盒工艺，而且还包括切割工艺，将一大块显示面板母板切割成多个显示面板子板。而由于制程良率的原因，在每一步关键制程后都需要进行一定检测，以保证后续工艺的正常进行，这里以阵列基板的布线工艺为例，阵列基板上的驱动走线，例如扫描线、数据线等信号线需要检测是否存在制程不良例如断线等问题。此时的阵列基板还未进行绑定芯片等制程，因此为了测试良率，一般在阵列基板上形成测试走线，通过测试走线裸露的测试端子连接外部信号，来对阵列基板内部的测试走线进行检测。
3.但是裸露的测试端子暴露在环境中，很容易被环境中的水汽所腐蚀，而且测试端子中的金属层一旦发生腐蚀，该腐蚀是具有连续性的，会导致整条测试走线无法使用，更有甚者会导致测试走线腐蚀导致显示面板整体报废。因此如何解决测试端子的腐蚀问题成为本领域技术人员亟需解决的问题。


技术实现要素：

4.本技术的目的是提供一种显示面板及其测试端子，以提高显示面板的测试端子的抗腐蚀性能。
5.本技术公开了一种显示面板的测试端子，所述显示面板包括测试走线和测试端子，所述测试走线设置在所述显示面板内部，所述测试端子连接于所述测试走线，所述测试端子包括：包括金属层、绝缘层和导电层，所述金属层至少包括第一金属衬垫和第二金属衬垫，所述第一金属衬垫和所述第二金属衬垫连接到同一条所述测试走线；所述绝缘层设置在所述金属层上，且所述第一金属衬垫和第二金属衬垫之间通过所述绝缘层隔离，所述绝缘层对应所述第一金属衬垫和所述第二金属衬垫的位置设置有多个过孔；所述导电层设置在所述绝缘层上，且通过多个所述过孔与第一金属衬垫和第二金属衬垫电连接；所述第一金属衬垫与所述第二金属衬垫之间的间距大于等于第一预设长度。
6.可选的，所述第一预设长度为20um，所述第一金属衬垫与所述第二金属衬垫之间的间距大于等于20um。
7.可选的，所述金属层还包括第一分支和第二分支，所述第一金属衬垫通过所述第一分支连接到测试走线，所述第二金属衬垫通过所述第二分支连接到测试走线；所述第一分支与所述第二分支通过所述绝缘层隔离；所述第一分支的长度大于等于第二预设长度，所述第二分支的长度大于等于第二预设长度。
8.可选的，所述第一分支的宽度等于所述第二分支的宽度，所述第一分支的宽度小于所述测试走线的宽度；且所述第一分支与所述第二分支之间的间距大于等于所述第一预设长度。
9.可选的，以第一金属衬垫朝向所述测试走线的方向为第一方向，所述第一分支的宽度沿所述第一方向上逐渐变窄，所述第二分支的宽度沿所述第一方向逐渐变窄，所述第一分支的最小宽度、所述第二分支的最小宽度与所述第一分支和所述第二分支之间的间距，三者之和等于所述测试走线的宽度，所述第一分支的最大宽度等于所述第一金属衬垫的宽度，所述第二分支的最大宽度等于所述第二金属衬垫的宽度。
10.可选的，所述第一分支的宽度等于所述第一金属衬垫的宽度，所述第二分支的宽度等于所述第二金属衬垫的宽度；所述金属层还包括连接部，所述第一分支和第二分支通过所述连接部连接所述测试走线，所述连接部在沿第一方向上的宽度逐渐减小，所述连接部的最大宽度等于所述第一金属衬垫的宽度、所述第二金属衬垫的宽度和所述第一金属衬垫与所述第二金属衬垫之间的间距，三者之和；所述连接部的最小宽度等于所述测试走线的宽度。
11.可选的，所述测试端子还包括保护层，所述保护层设置在所述导电层上，且所述保护层对应所述第一金属衬垫设置。
12.可选的，所述保护层与所述第一金属衬垫的正投影完全重合。
13.可选的，所述金属层还包括第三分支、第四分支和延伸部，所述延伸部分别通过所述第三分支和所述第四分支连接所述第一金属衬垫和所述第二金属衬垫；所述第三分支与所述第一分支设置在所述第一金属衬垫的不同侧，所述第四分支与所述第二分支设置在所述第二金属衬垫的不同侧。
14.本技术还公开了一种显示面板，包括多条测试走线和多个上述的测试端子，多个所述测试端子与多条所述测试走线一一对应连接
15.本技术通过将测试端子内的金属层分块设置，即分割成两块金属衬垫，且两块金属衬垫仍然是一个测试端子，同时连接到同一条测试走线上，因此该两款金属衬垫上实际上还是传输的同一个测试信号。而将其金属层分块设置后，即使其中一块受到水汽腐蚀，也不会将这个测试端子内的金属层完全腐蚀，通过分块设置后，例如第一金属衬垫发生腐蚀后，由于金属腐蚀具有连续性，会持续腐蚀更多的金属，而第二金属衬垫由于不与第一金属衬垫直接接触，而且与第一金属衬垫设置一定距离，因此不会直接蔓延至第二金属衬垫。相对来说，即使第一金属衬垫与第二金属衬垫之间虽然分隔开，但是两者之间的间距若是较小，在第一金属衬垫腐蚀后，第二金属衬垫仍有较大可能被第一金属衬垫连续腐蚀。因此本技术还设置所述第一金属衬垫与所述第二金属衬垫之间的间距大于等于一第一预设长度，来保证在该间距下，即使第一金属衬垫被腐蚀，第二金属衬垫也不会受到第一金属衬垫的影响，从而可以保护测试端子的正常工作，进而提升测试端子的抗腐蚀能力。
附图说明
16.所包括的附图用来提供对本技术实施例的进一步的理解，其构成了说明书的一部分，用于例示本技术的实施方式，并与文字描述一起来阐释本技术的原理。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。在附图中：
17.图1是本技术的第一实施例的一种显示面板的示意图；
18.图2是本技术的第一实施例的第一种测试端子的俯视示意图；
19.图3是本技术图2沿aa线的剖面示意图；
20.图4是本技术的第一实施例的第二种测试端子的示意图；
21.图5是本技术的第一实施例的第三种测试端子的示意图；
22.图6是本技术的第二实施例的第一种测试端子的示意图；
23.图7是本技术的第二实施例的第二种测试端子的示意图；
24.图8是本技术的第三实施例的一种测试端子的俯视示意图；
25.图9是本技术图8沿bb线的剖面示意图；
26.图10是本技术的第四实施例的一种测试端子的示意图。
27.其中，10、显示面板；100、测试端子；110、金属层；111、第一金属衬垫；112、第二金属衬垫；113、第一分支；114、第二分支；115、连接部；116、第三分支；117、第四分支；118、延伸部；120、绝缘层；121、过孔；130、导电层；140、保护层；200、测试走线；300、驱动走线。
具体实施方式
28.需要理解的是，这里所使用的术语、公开的具体结构和功能细节，仅仅是为了描述具体实施例，是代表性的，但是本技术可以通过许多替换形式来具体实现，不应被解释成仅受限于这里所阐述的实施例。
29.在本技术的描述中，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示相对重要性，或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，除非另有说明，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征；“多个”的含义是两个或两个以上。术语“包括”及其任何变形，意为不排他的包含，可能存在或添加一个或更多其他特征、整数、步骤、操作、单元、组件和/或其组合。
30.另外，“中心”、“横向”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系的术语，是基于附图所示的方位或相对位置关系描述的，仅是为了便于描述本技术的简化描述，而不是指示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。
31.此外，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，或是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。
32.下面参考附图和可选的实施例对本技术作详细说明。
33.实施例一：
34.如图1所示，作为本技术的第一实施例，公开了一种显示面板10的示意图，包括多条测试走线200和多个测试端子100，多个所述测试端子100与多条所述测试走线200一一对应连接，所述测试走线200连接与显示面板10内部的驱动走线300，该驱动走线300可包括数据线、扫描线、栅极驱动线、源极驱动线、时钟信号线等。需要说明的是，本技术主要改进在于测试端子100的结构方面，而该测试端子100不仅限与连接测试走线200，而对应显示面板10内部需要连接测试端子100的走线都可适用，属于本技术的保护范围。以下以测试端子100来具体说明：
35.如图2所示，作为本技术第一实施例的测试端子100的俯视示意图，进一步结合图3
示出了图2沿aa线的测试端子100的截面示意图，公开了一种显示面板10的测试端子100，包括金属层110、绝缘层120和导电层130，所述金属层110设置在显示面板10的衬底上，所述绝缘层120设置在所述金属层110上，所述导电层130设置在绝缘层120上；需要说明的是，该导电层130可采用透明导电层的设计，也可以采用金属层的设计，本技术中，以导电层为透明导电层为例。所述金属层110至少包括第一金属衬垫111和第二金属衬垫112，所述第一金属衬垫111和所述第二金属衬垫112连接到同一条所述测试走线200；绝缘层120设置在所述金属层110上，且所述第一金属衬垫111和第二金属衬垫112之间通过所述绝缘层120隔离，所述绝缘层120对应所述第一金属衬垫111和所述第二金属衬垫112的位置设置有多个过孔121；导电层130设置在所述绝缘层120上，且通过多个过孔121与第一金属衬垫111和第二金属衬垫112电连接；所述第一金属衬垫111与所述第二金属衬垫112之间的距离l大于等于一第一预设长度。
36.本技术通过将测试端子100内的金属层110分块设置，即分割成两块金属衬垫，且两块金属衬垫仍然是一个测试端子100，同时连接到同一条测试走线200上，因此该两款金属衬垫上实际上还是传输的同一个测试信号。而将其金属层110分块设置后，即使其中一块受到水汽腐蚀，也不会将这个测试端子100内的金属层110完全腐蚀，通过分块设置后，例如第一金属衬垫111发生腐蚀后，由于金属腐蚀具有连续性，会持续腐蚀更多的金属，而第二金属衬垫112由于不与第一金属衬垫111直接接触，而且与第一金属衬垫111设置一定距离，因此不会直接蔓延至第二金属衬垫112。相对来说，即使第一金属衬垫111与第二金属衬垫112之间虽然分隔开，但是两者之间的间距若是较小，在第一金属衬垫111腐蚀后，第二金属衬垫112仍有较大可能被第一金属衬垫111连续腐蚀。因此本技术还设置所述第一金属衬垫111与所述第二金属衬垫112之间的距离大于等于一第一预设长度，来保证在该间距下，即使第一金属衬垫111被腐蚀，第二金属衬垫112也不会受到第一金属衬垫111的影响，从而可以保护测试端子100的正常工作，进而提升测试端子100的抗腐蚀能力。
37.其中，第一预设长度为20um，也就是说所述第一金属衬垫111与所述第二金属衬垫112之间的距离l大于等于20um。本技术通过在温度为85摄氏度，湿度为85％rh条件下，测试第一金属衬垫111腐蚀后，第二金属衬垫112在不同间距，例如5um、10um、20um和30um的腐蚀情况，具体查看下表：其中，表中横坐标表示测试时间，单位为小时，纵坐标表示不同间距，单位为微米，表中为电阻测试值，单位为欧姆。
38.表1：高温高湿存储验证
[0039][0040]
通过数据说明，在第一金属衬垫111和第二金属衬垫112的间距为10um时，在500h之后，产生了较大电阻变异，说明此事的金属衬垫已经被腐蚀了，则在第一金属衬垫111腐蚀后，第二金属衬垫112仍然有被腐蚀的风险；而在第一金属衬垫111和第二金属衬垫112的
间距为20um时，第二金属衬垫112不被腐蚀的可能性大大提升，即使在1000h的情况下，仍然未突破1000欧姆。可以看出子啊20um及其以上，金属衬垫的腐蚀蔓延情况是较好的。
[0041]
需要说明的是，本实施例中，仅以第一金属衬垫111和第二金属衬垫112，即将测试端子100分成两个金属衬垫为例，在不同情况下，还可以分成三个、四个或以上；在此不做限定，在实际应用中，可视情况选择。
[0042]
如图2所示，所述金属层110还可包括第一分支113和第二分支114，所述第一金属衬垫111通过所述第一分支连接到测试走线200，所述第二金属衬垫112通过所述第二分支连接到测试走线200；所述第一分支113与所述第二分支114通过所述绝缘层120隔离；所述第一分支113的长度m大于等于第二预设长度，所述第二分支114的长度m大于等于第二预设长度。
[0043]
第一金属衬垫111或第二金属衬垫112腐蚀后都有向测试走线200蔓延的可能性，如果测试走线200也被腐蚀，首先将导致无法测试，后续还会影响显示面板10内的驱动走线300，造成更大的影响。因此本实施例通过设置分支，使得第一金属衬垫111和第二金属衬垫112分别通过分支连接到测试走线200，那么即使在第一金属衬垫111或第二金属衬垫112受到腐蚀的情况下，即使向测试走线200方向进行腐蚀，仍然存在第一分支113或第二分支114的减缓作用，防止腐蚀蔓延到测试走线200。而且第一分支113和第二分支114设置的长度m大于等于一第二预设长度，该第二预设长度在上述同样的条件下进行测试：在温度为85摄氏度，湿度为85％rh条件下，测试第一金属衬垫111腐蚀后，第一分支在不同长度，例如10um、30um、50um、70um和100um的腐蚀情况，具体查看下表：其中，表中横坐标表示测试时间，单位为小时，纵坐标表示不同间距，单位为微米，表中为电阻测试值，单位为欧姆。由上述实验数据可知，在第二预设长度为50um的情况下，第一分支的腐蚀蔓延情况较好。
[0044]
表2：高温高湿存储验证
[0045][0046][0047]
具体地，所述第一分支113的宽度等于所述第二分支114的宽度，所述第一分支113的宽度小于所述测试走线200的宽度；且所述第一分支113与所述第二分支114之间的间距大于等于所述第一预设长度。一般而言测试端子100中的金属层110的宽度是大于测试走线
200的宽度的，因此，以第一金属衬垫111和第一分支113为例，第一金属衬垫111的宽度时大于第一分支113的宽度的，而且第一分支113与第一金属衬垫111的连接处存在由宽到窄的突变，第一分支113较窄，减小了第一金属衬垫111腐蚀蔓延至第一分支113的可能性。这里所说的测试走线200、第一分支113、第二分支114、第一金属衬垫111、第二金属衬垫112的长度方向都一致。所述第一分支113的内边界与第一金属衬垫111的内边界对齐，所述第二分支114的内边界与所述第二金属衬垫112的内边界对齐；所述第一分支113的外边界、第二分支114的外边界分别与测试走线200的边界对齐。
[0048]
如图4所示，示出了本技术第一实施例的一种变形，公开了第二种测试端子100的应用方案，所述测试端子100的设计如图3的测试端子100，不同的是，测试走线200与端子的走向方向不同，属于垂直关系，对应的第一分支113连接的是测试走线200的一端，而第二分支114会连接到测试走线200的线上。而本方案中，第一分支113与第二分支114之间的间距不在受限与测试走线200的宽度，通常情况下，分支与测试走线200之间的连接，分支的线宽的边界与测试走线200的线宽的边界对齐，例如图3中，第一分支113的边界即与测试走线200的边界对齐，因此受限与测试走线的线宽，第一分支113与第二分支114之间的距离有限。而对于图4的方案来说，第一分支113与第二分支114之间的距离可以做的更大。
[0049]
需要说明的是，本实施例中的第一分支113和第二分支114、第一金属衬垫111和第二金属衬垫112对称设置，且相应的大小一致，形状一致。但是在实际选择中，并不仅限于此，根据不同的设计，可以设计不同形状、不同大小的第一金属衬垫111和第二金属衬垫112、第一分支113和第二分支114。而导电层130覆盖在第一金属衬垫111和第二金属衬垫112上，该导电层130为一整块设计，使得在测试时，外部的探针与其接触，可分别导通第一金属衬垫111和第二金属衬垫112。
[0050]
如图5所示，作为本技术第一实施例的第二种变形，公开了第三种测试端子100的应用方案，一般来说，测试走线200除了连接测试端子100外，对于多个显示面板10形成的母板来说，在母板上，需要将各个显示面板10的测试走线200分别连接到一起，由母板的一侧设置测试板，在母板完成制程后，即对母板上各个显示面板10进行统一的测试，以检测良率。而对应的各个显示面板10上的测试端子100连接的测试走线200会贯穿对应的测试端子100，具体地，所述金属层110还包括第三分支116、第四分支117和延伸部118，该延伸部118即为测试走线200；所述延伸部118分别通过所述第三分支116和所述第四分支117连接所述第一金属衬垫111和所述第二金属衬垫112；所述第三分支116与所述第一分支113设置在所述第一金属衬垫111的不同侧，所述第四分支117与所述第二分支114设置在所述第二金属衬垫112的不同侧。因为金属层110腐蚀之后具有连续性和方向性，该方向性即金属层110会朝金属层110延伸方向进行腐蚀蔓延，对应的需要将与测试端子100相连的测试走线200皆设置分支结构，来防止测试端子100腐蚀后蔓延至测试走线200上。
[0051]
实施例二：
[0052]
如图6所示，作为本技术的第二实施例，公开了一种测试端子100的示意图，该测试端子100包括第一金属衬垫111、第一分支113、第二金属衬垫112、第二分支114和测试走线200。以第一金属衬垫111朝向所述测试走线200的方向为第一方向，所述第一分支113的宽度沿所述第一方向上逐渐变窄，所述第二分支114的宽度沿所述第一方向逐渐变窄，所述第一分支113的最小宽度、所述第二分支114的最小宽度与所述第一分支113和所述第二分支
114之间的间距，三者之和等于所述测试走线200的宽度，所述第一分支113的最大宽度等于所述第一金属衬垫111的宽度，所述第二分支114的最大宽度等于所述第二金属衬垫112的宽度。
[0053]
具体地，第一分支113与第二分支114的宽度渐变，但是第一分支113与第二分支114靠近的一侧的边界仍然与第一金属衬垫111平齐，第二分支114同理，第一分支113与第二分支114之间的间距，始终和第一金属衬垫111与第二金属衬垫112之间的间距保持一致，第一分支113远离第二分支114的一侧的边界，沿第一方向，逐渐向靠近第二分支114的方向延伸。本实施例中，第一分支113和第二分支114的宽度在第一方向上都是逐渐缩小的，来达到分支与测试走线200的宽度一致，可以解决测试走线200与分支连接处的电阻突变的问题，此处分支相较于实施例一中的分支较宽，使得此处电阻较小。而且即使在某一金属衬垫腐蚀后，甚至该对应的分支也腐蚀后，仅通过另一金属衬垫和分支也能正常工作。
[0054]
如图7所示，作为本技术的第二实施例的一种变形，公开了第二种测试端子100的示意图，该测试端子100包括第一金属衬垫111、第一分支113、第二金属衬垫112、第二分支114、连接部115和测试走线200，上述结构皆为金属层110上的机构，即采用金属层110制程。所述第一分支113的宽度等于所述第一金属衬垫111的宽度，所述第二分支114的宽度等于所述第二金属衬垫112的宽度；所述第一分支113和第二分支114通过所述连接部115连接所述测试走线200，所述连接部115在沿第一方向上的宽度逐渐减小，所述连接部115的最大宽度等于所述第一金属衬垫111的宽度、所述第二金属衬垫112的宽度和所述第一金属衬垫111与所述第二金属衬垫112之间的间距，三者之和；所述连接部115的最小宽度等于所述测试走线200的宽度。该实施例主要解决分支处的电阻问题，分支电阻较大的话，对测试信号有影响，导致测试结果不准确的问题。
[0055]
实施例三：
[0056]
如图8和9所示，作为本技术的第三实施例，公开了一种测试端子100的示意图，该测试端子100包括第一金属衬垫111、第一分支113、第二金属衬垫112、第二分支114和测试走线200。该结构与上述实施例一、二中的结构相同，可选取上述实施例的任意一种结构，其中，重要的是，所述测试端子100还包括保护层140，所述保护层140设置在所述导电层130上，且所述保护层140对应所述第一金属衬垫111设置。
[0057]
本实施例通过设置保护层140，该保护层140覆盖其中一个金属衬垫设置，这里是以第一金属衬垫111为例，第一金属衬垫111裸露的位置皆存在保护层140覆盖，因而第一金属衬垫111不会在裸露。该测试端子100内的第一金属衬垫111和第二金属衬垫112虽然分开，但是该导电层130却是一整块，在外部的探针与第二金属衬垫112上方的导电层130接触时，实际上也是与第一金属衬垫111与探针进行导电连接。通过保护层140的设置，可以较好的保护其中一个金属衬垫，使其受到水汽腐蚀的可能性大大降低，从而抗腐蚀能力大大提升。通过将测试端子100的一部分金属衬垫即第二金属衬垫112裸露，一部分金属保护即第一金属衬垫111覆盖保护层140，来实现既能与外部的探针接触，也能保护一部分的金属衬垫。而且在金属衬垫腐蚀后，这一部分被保护的金属衬垫被腐蚀的风险仍然是较低的。进一步的，所述保护层140与所述第一金属衬垫111的正投影完全重合。这里所陈述的正投影指的是，显示面板的衬底上的膜层，例如第一金属衬垫、保护层在衬底上的投影为正投影。
[0058]
具体地，所述第一分支113的宽度大于第二分支114的宽度，在设置有保护层140的
方案中，如果发生腐蚀，也只能是裸露的第二金属衬垫112发生腐蚀的可能性较大，而最后起到传输信号作用的还得是第一金属衬垫111和第一分支113，因此将第一分支113的宽度设置的稍大，对应的电阻也就更小，对测试信号的影响也会更小。其结合与图4而言，可以实现使得第二分支114的宽度更大。而考虑到实际探针的大小，本技术还可以对第一金属衬垫111和第二金属衬垫112的大小进行设计，例如，第一金属衬垫111的面积小于第二金属衬垫112的面积，实际使用中，探针需要对于的金属层110的面积是一定的，这里更希望第二金属衬垫112与外部探针接触能够较佳的传输信号。
[0059]
实施例四：
[0060]
如图10所示，作为本技术的第四实施例，考虑到第一金属衬垫与第二金属衬垫之间的间距至少要大于20um，而且第一分支与第二分支之间的间距至少要大于20um，这里的间距刻蚀也需要一定要求，避免刻蚀不完全，留下金属残余，而导致分块设置无法阻挡腐蚀蔓延，因此，本技术还公开了一种测试端子的截面示意图，该测试端子包括：第一金属层11、第一绝缘层12、第二金属层13、第二绝缘层14和导电层15，其中第二金属层为第一金属衬垫111、第二金属衬垫112设置的层，第一金属层仅对应两块金属衬垫之间的间隙设置，在形成间隙的位置处，第一金属层形成凸起。在制程中，突出的表面可以扩大与蚀刻液的接触面积，可以帮助蚀刻液更充分的接触金属层，减少短路的发生。减小刻蚀的最细精度，有利于窄边框，或减少短路发生的可能。
[0061]
需要说明的是,本实施例可以结合至上述实施例一、二、三的不同设计，本技术的发明构思可以形成非常多的实施例，但是申请文件的篇幅有限，无法一一列出，因而，在不相冲突的前提下,以上描述的各实施例之间或各技术特征之间可以任意组合形成新的实施例，各实施例或技术特征组合之后，将会增强原有的技术效果
[0062]
本技术的技术方案可以广泛用于各种显示面板，如tn(twisted nematic，扭曲向列型)显示面板、ips(in
‑
plane switching，平面转换型)显示面板、va(vertical alignment，垂直配向型)显示面板、mva(multi
‑
domain vertical alignment，多象限垂直配向型)显示面板，当然，也可以是其他类型的显示面板，如oled(organic light
‑
emitting diode，有机发光二极管)显示面板，均可适用上述方案。
[0063]
以上内容是结合具体的可选实施方式对本技术所作的进一步详细说明，不能认定本技术的具体实施只局限于这些说明。对于本技术所属技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本技术构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换，都应当视为属于本技术的保护范围。