液晶面板挠曲电效应评价方法、装置、设备和存储介质与流程

本发明涉及液晶面板，尤其涉及一种液晶面板挠曲电效应评价方法、装置、设备和存储介质。

背景技术：

1、液晶面板的工作原理是：在电场的作用下，利用液晶分子的排列方向发生变化，使光源透光液晶面板的光发生改变(调制)，完成电-光变换。液晶分子受到电场影响发生展曲和弯曲的形变现象，这种效应称为挠曲电效应。液晶面板的显示效果的好坏在一定程度上会受到挠曲电效应的影响，因此研究挠曲电效应是当今液晶面板领域的重要内容之一。

2、液晶分子挠曲电效应一般是使用展曲和弯曲的挠曲电系数(e1,e3)来表征。传统测量挠曲电系数的方法通常为光程差测量和混合排列的测试盒测量。对于传统的测量挠曲电系数的方法，一方面，测量系统较为复杂，而液晶分子的挠曲电系数较小，测量难度高，另一方面，挠曲电效应在液晶面板中对实际显示效果的影响与电极形状、电极结构、盒厚等多种因素有关，单纯的液晶挠曲电系数，很难直观地用于评估其对液晶面板显示效果的影响。

技术实现思路

1、本发明提供一种液晶面板挠曲电效应评价方法、装置、设备和存储介质，用以解决现有技术中，传统的测量挠曲电系数的方法中测量系统较为复杂，测量难度高，单纯的液晶挠曲电系数很难直观地用于评估其对液晶面板显示效果的影响的问题，实现利用闪烁测量的方法来直观的评估挠曲电效应对液晶面板显示效果的影响。

2、本发明提供一种液晶面板挠曲电效应评价方法，包括：为被测的液晶面板提供工作电压；

3、打开所述液晶面板的tft的开关，为所述液晶面板的data信号线提供测量透过率所需的驱动信号；

4、获取所述液晶面板的屏幕亮度数据，根据所述屏幕亮度数据绘制液晶面板的电压对透过率曲线；

5、从所述电压对透过率曲线中选取需要测量的透过率序列，测量所述透过率序列中各个透过率下对应的闪烁波形数据；

6、对所述闪烁波形数据进行分析，评估其挠曲电效应强弱。

7、根据本发明提供的一种液晶面板挠曲电效应评价方法，对所述闪烁波形数据进行分析，评估其挠曲电效应强弱，具体包括：

8、获取所述闪烁波形数据对应的频谱数据，记录所述频谱数据中的特定频率处对应的闪烁强度；

9、绘制所述特定频率处的闪烁强度对透过率的变化曲线，通过对比所述变化曲线各测量点闪烁强度大小和特定透过率附近的闪烁强度来评价挠曲电效应的强弱。

10、根据本发明提供的一种液晶面板挠曲电效应评价方法，所述特定频率为所述驱动信号的信号频率的二倍。

11、根据本发明提供的一种液晶面板挠曲电效应评价方法，所述驱动信号为从低到高的不同幅值的方波驱动信号。

12、根据本发明提供的一种液晶面板挠曲电效应评价方法，所述驱动信号的频率为所述液晶面板的设计工作频率的一半。

13、根据本发明提供的一种液晶面板挠曲电效应评价方法，使用快速傅里叶变换获取所述闪烁波形对应的所述频谱数据。

14、本发明还提供一种液晶面板挠曲电效应评价装置，包括：光接收单元、驱动单元、测控单元和数据处理单元；

15、光接收单元用于测量液晶面板的屏幕的亮度数据；

16、驱动单元用于为被测的所述液晶面板提供工作电压，打开所述液晶面板的tft的开关，为所述液晶面板的data信号线提供测量透过率所需的驱动信号；

17、测控单元用于获取所述亮度数据，并将所述亮度数据发送给数据处理单元；

18、数据处理单元用于获取所述液晶面板的屏幕亮度数据，根据所述屏幕亮度数据绘制所述液晶面板的电压对透过率曲线，从所述电压对透过率曲线中选取需要测量的透过率序列，测量所述透过率序列中各个透过率下对应的闪烁波形数据，对所述闪烁波形数据进行分析，评估其挠曲电效应强弱。

19、根据本发明提供的一种液晶面板挠曲电效应评价装置，所述测控单元测量单元的采样速率大于10千次每秒。

20、本发明还提供一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现如上述任一种所述的液晶面板挠曲电效应评价方法。

21、本发明还提供一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现如上述任一种所述的液晶面板挠曲电效应评价方法。

22、本发明提供的一种液晶面板挠曲电效应评价方法、装置、设备和存储介质，通过为被测的液晶面板提供工作电压，使液晶面板能正常显示不同灰阶画面，打开液晶面板的tft的开关，为所述液晶面板的data信号线提供测量透过率所需的驱动信号，获取所述液晶面板的屏幕亮度数据，根据所述屏幕亮度数据绘制液晶面板的电压对透过率曲线，从所述电压-透过率曲线中选取需要测量的透过率序列，测量所述透过率序列中各个透过率下对应的闪烁波形数据，最后对所述闪烁波形数据进行分析，评估其挠曲电效应强弱，通过利用闪烁测量的方法来评估挠曲电效应对液晶面板显示效果的影响，相比于传统的测量挠曲电系数的方法，测量难度更低，且测量的结果更加直观，能够更加准确的评估挠曲电效应对液晶面板显示效果的影响。

技术特征：

1.一种液晶面板挠曲电效应评价方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的液晶面板挠曲电效应评价方法，其特征在于，对所述闪烁波形数据进行分析，评估其挠曲电效应强弱，具体包括：

3.根据权利要求2所述的液晶面板挠曲电效应评价方法，其特征在于，所述特定频率为所述驱动信号的信号频率的二倍。

4.根据权利要求1所述的液晶面板挠曲电效应评价方法，其特征在于，所述驱动信号为从低到高的不同幅值的方波驱动信号。

5.根据权利要求4所述的液晶面板挠曲电效应评价方法，其特征在于，所述驱动信号的频率为所述液晶面板的设计工作频率的一半。

6.根据权利要求1所述的液晶面板挠曲电效应评价方法，其特征在于，获取所述闪烁波形数据对应的频谱数据，具体包括：

7.一种液晶面板挠曲电效应评价装置，用于执行如权利要求1-6中任一项所述的液晶面板挠曲电效应评价方法，其特征在于，包括：光接收单元、驱动单元、测控单元和数据处理单元；

8.根据权利要求7所述的液晶面板挠曲电效应评价装置，其特征在于，所述测控单元的采样速率大于10千次每秒。

9.一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现如权利要求1至6任一项所述的液晶面板挠曲电效应评价方法。

10.一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至6任一项所述的液晶面板挠曲电效应评价方法。

技术总结
本发明提供一种液晶面板挠曲电效应评价方法、装置、设备和存储介质，通过为液晶面板提供工作电压，使其能正常显示不同灰阶画面，打开液晶面板的TFT的开关，为Data信号线提供测量透过率所需的驱动信号，获取液晶面板的屏幕亮度数据，根据屏幕亮度数据绘制电压对透过率曲线，从电压‑透过率曲线中选取需要测量的透过率序列，测量透过率序列中各个透过率下对应的闪烁波形数据，最后对闪烁波形数据进行分析，评估其挠曲电效应强弱，通过利用闪烁测量的方法来评估挠曲电效应对液晶面板显示效果的影响，相比于传统的测量挠曲电系数的方法，测量难度更低，且测量的结果更加直观，能够更加准确的评估挠曲电效应对液晶面板显示效果的影响。

技术研发人员：杨雪彪,张嫣然,刘文平,陈卯先
受保护的技术使用者：北京八亿时空液晶科技股份有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/13