一种LCD点阵驱动集成电路的低成本测试电路及方法与流程

本发明涉及电路，特别涉及测试电路及测试方法，具体是指一种lcd点阵驱动集成电路的低成本测试电路及方法。

背景技术：

1、lcd（液晶显示）是目前市场上应用规模极大的显示电路，为了提高显示的对比度，驱动波形通常用1/3 bais（偏置）电压，也就是驱动波形有三个电压台阶。对于这种周期性的、三个台阶的电压，现有技术中一般用商用数字ate（自动化测试仪）来测试其逻辑关系以及驱动波形的电压台阶分布。由于lcd驱动电路驱动管脚数量较多，需要较多的ate管脚测试资源，一般ate只能做到1工位或2工位，严重影响测试效率和测试产能。又由于驱动波形是周期性扫描的，不能静态停止，精确测试驱动波形的电压台阶较为困难。

2、所以，目前针对lcd点阵显示驱动电路的测试，缺少实用性强、成本低廉以及可以大批量的测试方法，难以满足生产中的大批量测试产能需求。

技术实现思路

1、本发明的目的是克服了上述现有技术中的缺点，提供一种有效实现对lcd显示ram、lcd驱动端口的逻辑关系以及驱动端口的驱动能力进行测试，测试参数过程自动化，提高测试产能并降低测试成本的lcd点阵驱动集成电路的低成本测试电路及方法。

2、为了实现上述的目的，本发明的lcd点阵驱动集成电路的低成本测试电路具有如下构成：

3、该lcd点阵驱动集成电路的低成本测试电路包括：mcu模块、电源模块、电平转换电路、逻辑关系测试模块和波形台阶测试电路。

4、电源模块由所述的mcu模块控制向被测电路供电；

5、电平转换电路从所述的电源模块获得供电，由所述的mcu模块控制向所述的被测电路写入控制指令及显示数据；所述的mcu模块还通过该电平转换电路读取所述被测电路中的数据用以校验与写入的是否相同；

6、逻辑关系测试模块从所述的被测电路的com管脚和seg管脚获得驱动波形，将所述的驱动波形转换为二值化波形并送至所述的mcu模块；并利用比较电压测试所述被测电路的com管脚和seg管脚的逻辑关系；

7、波形台阶测试电路用以对所述的被测电路的com管脚的台阶电压进行测试。

8、该lcd点阵驱动集成电路的低成本测试电路中，所述的电源模块为可编程电源，该可编程电源包括12 bit dac和线性稳压电路，该可编程电源向所述的被测电路和所述的电平转换电路的提供精确电源。

9、该lcd点阵驱动集成电路的低成本测试电路中，所述的逻辑关系测试模块包括比较器阵列，该比较器阵列的高低比较电平通过所述的12 bit dac确定。

10、该lcd点阵驱动集成电路的低成本测试电路中，所述的逻辑关系测试模块包括还包括锁存器阵列，该锁存器阵列用于在所述的com管脚和seg管脚的高低电平判定时刻，同时锁定32个seg管脚的电平，32个seg管脚分为8个组，高低电平各4组，利用译码器选择所述8组中的任意一组测试com管脚和seg管脚的逻辑关系。

11、该lcd点阵驱动集成电路的低成本测试电路中，所述的波形台阶测试电路包括采样保持电路和16 bit adc，实现了com和seg的驱动波形的的台阶电压测试，在com管脚波形的高电平判定时刻，所述的mcu模块控制所述的采样保持电路瞬间采样第一台阶电压值且一直将该com管脚电平稳定保持，所述的mcu模块控制所述的16 bit adc采样并读取该com管脚的台阶电压；在完成所述第一台阶电压测试后，在com管脚波形的高电平判定时刻，延时t时间，进行第二台阶电压测试，在完成该第二台阶电压测试后，在com管脚波形的高电平判定时刻，延时t时间，进行第三台阶电压测试。

12、本发明还提供一种lcd点阵驱动集成电路的低成本测试方法，该方法包括：

13、mcu模块控制电源模块向被测电路及电平转换电路供电；

14、所述的mcu模块控制所述的电平转换电路向所述的被测电路写入控制指令及显示数据；该mcu模块通过该电平转换电路读取所述被测电路中的数据用以校验与写入的是否相同；

15、逻辑关系测试模块从所述的被测电路的com管脚和seg管脚获得驱动波形，将所述的驱动波形转换为二值化波形并送至所述的mcu模块；并利用比较电压测试所述被测电路的com管脚和seg管脚的逻辑关系；

16、波形台阶测试电路对所述的被测电路的com管脚的台阶电压进行测试。

17、该lcd点阵驱动集成电路的低成本测试方法中，

18、所述的逻辑关系测试模块包括比较器阵列，所述的利用比较电压测试所述被测电路的com管脚和seg管脚的逻辑关系，具体包括：

19、所述的比较器阵列的高低比较电平通过所述的12 bit dac确定；

20、利用所述的高低比较电平测试所述被测电路的com管脚和seg管脚的逻辑关系。

21、该lcd点阵驱动集成电路的低成本测试方法中，所述的逻辑关系测试模块包括还包括锁存器阵列，

22、所述的利用所述的高低比较电平测试所述被测电路的com管脚和seg管脚的逻辑关系，具体为：

23、在所述的com管脚和seg管脚的高低电平判定时刻，所述的锁存器阵列同时锁定32个seg管脚的电平，32个seg管脚分为8个组，高低电平各4组，利用译码器选择所述8组中的任意一组测试com管脚和seg管脚的逻辑关系。

24、该lcd点阵驱动集成电路的低成本测试方法中，

25、所述的波形台阶测试电路包括采样保持电路和16 bit adc，

26、所述的波形台阶测试电路对所述的被测电路的com管脚的台阶电压进行测试具体为：

27、在com管脚波形的高电平判定时刻，所述的mcu模块控制所述的采样保持电路瞬间采样第一台阶电压值且一直将该com管脚电平稳定保持，所述的mcu模块控制所述的16 bitadc采样并读取该com管脚的台阶电压；

28、在完成所述第一台阶电压测试后，在com管脚波形的高电平判定时刻，延时t时间，利用与所述第一台阶电压测试相同的方式进行第二台阶电压测试；

29、在完成所述第二台阶电压测试后，在com管脚波形的高电平判定时刻，延时t时间，进利用与所述第一台阶电压测试相同的方式进行第三台阶电压测试。

30、该lcd点阵驱动集成电路的低成本测试方法中，所述的测试所述被测电路的com管脚和seg管脚的逻辑关系还包括对测试数据进行优化，剔除相连ram单元短路失效以及剔除相连com或者seg管脚短路失效。

31、采用了该发明的lcd点阵驱动集成电路的低成本测试电路及方法，其包括mcu模块、电源模块、电平转换电路、逻辑关系测试模块和波形台阶测试电路。其通过采样保持电路和16 bit adc的使用，精确稳定地对于com和seg驱动波形的3个台阶电压的进行测试，进一步的，通过比较器电路的优化；以及锁存器阵列的使用，节省了测试硬件，提高了测试速度；本发明能有效实现对lcd点阵驱动集成电路的测试，经过批量使用，完全替代了现有的商用ate设备，测试过程可控，提高测试的效率以及降低了测试成本，提高了测试产能。