专利名称：二次曝光的方法
技术领域：
本发明涉及一种二次曝光(Doppelbelichtung)的方法，尤其涉及一种光监控和评估例如纺织业或印刷业材料条的方法。
背景技术：
公知的是，借助线扫描摄像机(Zeilenkameras)在透射光和入射光中进行材料条的检验。而在某些情况下，所希望的是，既在例如用于材料分布的透射光中又在用于表面检测的入射光(Auflicht)中进行材料鉴定。
发明内容
本发明的目的是简化二次鉴定。
根据本发明，通过采用EP01123929.0中所描述的条传感器(Bahnsensoren)，一发光条(Beleuchtungsleiste)设置在一侧，匹配的两灯互相发光，其光由相同的传感器接收。在实际应用中，条传感器和发光条至少配有一发光二极管(LED)行，它在要检测的条宽度上延伸。其透射光和入射光的照射行被交替施加电流(Strom)。其施加的动作周期准确地与这样的周期对应，在该周期中从线传感器(Zeilensensor)发出光敏元件的数据。由此，通过其透射光数据选择扫描行，而通过入射光数据选择下一扫描行。
其计算机分别存储透射光行和入射光行的数据并分别对它们进行处理。这样，可以以较小的费用同时快速地进行透射光和入射光的控制。也可以想到，采用交替光源，用于透射光照射和在暗阶段进行入射光照射。然后扫描行的选择由照射触发。由于照射和扫描行选择的过程在很快地顺序下进行，实际上同时形成入射光和透射光的图像。
图1为根据本发明方法采用的装置的结构示意图。
具体实施例方式
纤维条1牵过壳体轮廓2，其壳体轮廓2由玻璃板3盖住。在该壳体中设置一列光敏传感器5，其穿过一个透镜4接收条信号。入射光照射至少通过一列发光二极管(LED)7实现，穿过一个透镜6入射光照射到纤维条上。相反，在由玻璃板3封闭的另一壳体2中设置借助发光二极管(LED)7和透镜6构成的透光照射装置。
权利要求
1.一种通过形成的透射光和入射光监控运动材料条的方法，其中使用传感器行，其在条的宽度上单独或分组地延伸，其特征在于入射光源和透射光源产生进行其它照射的暗阶段，其明暗阶段通过选择传感器行调节。
2.如权利要求1的方法，其特征在于入射光和透射光交替照射。
3.如权利要求1或2的方法，其特征在于入射光和透射光以规定的时间周期照射。
4.如权利要求1-3之一的方法，其特征在于采用多个发光二极管用于照射。
5.如权利要求1-4之一的方法，其特征在于计算机调节透射光和入射光的照射及传感器行的触发。
6.如权利要求1-5之一的方法，其特征在于其传感器行的选择通过光的照射触发。
7.如权利要求1-6之一的方法，其特征在于所选择的行被存储然后列入确定的照射状态。
全文摘要
本发明涉及一种二次曝光(Doppelbelichrung)的方法，尤其涉及一种光监控和评估例如纺织业或印刷业材料条的方法。这是一种通过形成的透射光和入射光监控运动材料条的方法，其中使用传感器行，其在条的宽度上单独或分组地延伸。本发明的特征在于入射光源和透射光源产生进行其它照射的暗阶段，其明暗阶段通过选择传感器行调节。本发明可简化二次鉴定。
文档编号G02F1/01GK1624529SQ20031011878
公开日2005年6月8日 申请日期2003年12月2日 优先权日2003年12月2日
发明者胡贝特·A·赫格斯 申请人:胡贝特·A·赫格斯