遥感仪器红外后光学系统光轴与系统轴配准的校正方法

文档序号:2786650阅读:194来源:国知局
专利名称:遥感仪器红外后光学系统光轴与系统轴配准的校正方法
技术领域
本发明涉及一种多波段光学遥感仪器光学系统的装校方法,具体是指光学系统中的红外后光学系统光轴与主光学系统光轴配准的校正方法。
背景技术
多波段光学遥感仪器通常采用倾斜分色片分光的方式,光线透过倾斜分色片会产生平移。红外后光学系统中通常需要采用诸如锗材料作分色片使得红外光能够透过,但是锗材料在可见光波段是不透光的,因此直接用锗倾斜分色片,红外后光学系统的光轴不可见,其产生的平移就看不见,也就无法校准红外后光学系统的光轴。

发明内容
本发明的目的在于提供一种借助辅助分色片用目视就能校准多波段光学遥感仪器主光学系统光轴与红外后光学系统光轴配准的方法。
为实现上述目的,本发明方法的步骤如下1.先根据锗分色片的折射率和厚度计算出45°入射光射入锗分色片产生的光轴平移量,再用一种可透可见光的玻璃材料计算出该入射角度能够产生上述光轴平移量所需的该种材料厚度,加工出该厚度的该种可见光玻璃材料辅助分色片。
2.将辅助分色片装入光学系统中锗分色片的位置,调整辅助分色片和红外后光学系统使红外后光学系统光轴与主光学系统光轴重合。固定辅助分色片的调节机构,取出辅助分色片换入锗分色片并固封其调节机构。
本发明方法的优点是只需一片可见光辅助分色片就可实现将多光谱波段光学遥感仪器光学系统装校过程中不可见的红外后光学系统光轴与系统光轴配准。


图1为本发明的应用实例光学系统结构示意图。
图2a为锗分色片的结构示意图,图2b为辅助K9玻璃分色片的结构示意图。
具体实施例方式
以下结合附图与实施例对本发明作进一步的详细说明。
本实施例的光学系统结构如图1所示,光线经过45°扫描镜1反射后进入由主反射镜2和次反射镜3组成的主光学系统,再通过可见/红外分色片4分成透射和反射二束光。由分色片4分束的透射光再经分色片5分成二束光,其中一束反射光进入可见透镜组7,另一束透射光进入近红外透镜组8。由分色片4分束的反射光再经锗分色片6分成二束光,其中一束反射光进入短波红外透镜组9,另一束透射光经直角棱镜11反射进入长波红外透镜组10,也就是本发明所称的红外后光学系统。由于光束透过锗分色片6时,光束轴线发生平移,光学装校需要调整由锗分色片6产生的平移量,因此发明了上述的校准方法。
根据本发明的实施例,所用锗分色片6的厚度为5毫米,见图2a,先计算出45°倾斜的锗分色片5毫米厚度产生的光轴平移量为2.90毫米,再用K9玻璃材料根据其折射率计算出能够产生上述光轴平移量所需的K9分色片材料厚度为8.68毫米,加工出8.68毫米厚度K9材料的辅助分色片12,见图2b,辅助分色片12的倾斜角度与锗分色片6倾斜角度相同均为45度,将辅助分色片装入光学系统中的锗分色片6的位置,调整辅助分色片和红外后光学系统使红外后光学系统光轴与透过辅助分色片的光束轴线重合。固定辅助分色片的调节机构,取出辅助分色片12换入锗分色片6,保证锗分色片6与辅助分色片倾斜角度一致,红外后光学系统光轴与主光学系统光轴校准完毕。
以上所述的实施例仅为了说明本发明的技术思想及特点,其目的在于使本领域的普通技术人员能够了解本发明的内容并据以实施,本发明的范围并不仅局限于上述具体实施例,即凡依本发明所揭示的精神所作的同等变化或修饰,仍涵盖在本发明的保护范围内。
权利要求
1.一种遥感仪器红外后光学系统光轴与系统光轴配准的校正方法,其特征在于步骤如下A.先根据锗分色片(6)的折射率和厚度计算出45°入射光射入锗分色片产生的光轴平移量,再用一种可透可见光的玻璃材料计算出该入射角度能够产生上述光轴平移量所需的该种材料厚度,加工出该厚度的该种可见光玻璃材料辅助分色片(12);B.将辅助分色片(12)装入光学系统中锗分色片的位置,调整辅助分色片和红外后光学系统使红外后光学系统光轴与系统光轴重合;固定辅助分色片的调节机构,取出辅助分色片换入锗分色片并固封其调节机构。
全文摘要
本发明公开了一种遥感仪器红外后光学系统光轴与系统光轴配准的校正方法,该方法是先计算出红外后光学系统中倾斜锗分色片产生的光轴平移量,再用一种可见光玻璃材料的折射率计算出能够产生上述光轴平移量的该可见光玻璃材料所需厚度,加工出该厚度可见光玻璃材料的辅助分色片,将辅助分色片装入光学系统中,调整辅助分色片和红外后光学系统使红外后光学系统光轴与系统光轴重合。固定分色片的调节机构,取出辅助分色片换入锗分色片并固定。本发明采用可见光辅助分色片将多波段光学遥感仪器光学系统装校过程中不可见的红外后光学系统光轴与系统光轴配准。
文档编号G02B27/10GK1632642SQ20041008945
公开日2005年6月29日 申请日期2004年12月13日 优先权日2004年12月13日
发明者张锷, 郑亲波 申请人:中国科学院上海技术物理研究所
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