显示板检查装置和方法

专利名称：显示板检查装置和方法
技术领域：
本发明涉及适用于检测诸如LCD (液晶显示器)的显示板中的漏线 (line omission)故障的显示板检查装置和方法。
背景技术：
通常，已知诸如LCD (液晶显示器)的显示板有时包含不能实现其 原定功能的有缺陷像素。此外，作为显示板的这种有缺陷像素，公知有由于以像素为单位出 现有缺陷像素而导致的漏点故障和由于有缺陷像素以线的形式连续出现 而导致的漏线故障。如果显示板包含有缺陷像素，则有缺陷像素导致诸如难以正常显示 和显示与原定颜色不同的颜色的缺陷，并且，在此生产线中，将包含例 如特定比例的有缺陷像素的显示板处理为残品。例如，对于上述漏点故障，在许多情况下，构成显示板的几十万或 者几百万像素中散布有极少数像素作为有缺陷像素。散布在显示板中的 这些极少数有缺陷像素在使用中并不明显，往往不将有缺陷像素小于特 定像素比例的显示板处理为残品。迄今为止，存在对显示板中的有缺陷像素进行检测以防止残品流入 市场的需求。作为这种检测显示板中的有缺陷像素的方法，例如，以下 的专利文献1公开了如下方法拾取液晶板的显示屏的图像以对所拾取 的图像进行差分处理，由此精确地检测基于超低量亮度差异的亮点缺陷 和暗点缺陷。专利文献1:日本特开平11-119684号公报同时，因为由于有缺陷像素连续出现在显示板中而使得漏线故障非 常显著并且常常很难看，所以优选为与漏点故障相比更有效地检测漏线
故障。此外，出现这种漏线故障主要是因为在显示板的电极之间混入了 杂质。此外，出现显示板的漏线故障也例如是因为以下原因由于显示板 内部的温度上升而导致电极、绝缘材料和混入显示板中的杂质发生热膨 胀，在显示板发生振动而使得其中的杂质移动的情况下在电极之间出现 短路(半接触故障)，或者电极线出现断开或破裂(半断开故障)，并且, 在许多情况下，例如，由于涉及显示板的工作环境的变化(例如显示板 内部的温度变化和显示板自身的振动)，短暂地(瞬间地)出现半接触故 障或者半断开故障。然而，伴随着常规技术出现以下问题难以检测短暂出现的漏线故 障。例如，上述专利文献1的技术仅仅拾取显示屏的图像一次，因此， 在图像拾取时不出现半接触故障或者半断开故障就使得难以检测这些故 障，即使在将显示板从工厂投放市场时进行的检査没有检测到漏线故障 的情况下，这也可能导致在以后的使用中出现漏线故障。此外，在上述专利文献1中公开的技术的情况下，如果超过一次地 进行对显示屏的图像拾取，则对每一个显示板耗费的检测时间变长，这 导致操作员的负担或者制造成本增大。发明内容考虑到上述问题而开发了本发明，因此，本发明的目的是可靠且容 易地执行对例如由于工作环境的变化(例如半接触故障或者半断开故障 的)而短暂出现的有缺陷像素的检测。出于上述目的，根据本发明，提供了一种被制造为对由多个像素组 成的显示板进行检查的显示板检查装置，该显示板检査装置包括检测 单元，其检测各个像素是否是有缺陷像素；和保持单元，其保持检测单 元的检测结果。优选的是，所述检测单元包括光检测单元，其产生与来自像素的 输出光对应的检测状态；和判断单元，其基于所述检测状态对该像素是 否是有缺陷像素进行判断，并且当判断结果表示该像素是有缺陷像素时
输出检测信号，并且，所述保持单元保持从所述判断单元输出的检测信 号的状态。此外，优选的是，所述光检测单元包括根据所述多个像素的排列方 向而设置的多个光检测元件，所述判断单元包括分别按与所述多个光检 测元件相关联的状态而连接的多个有缺陷像素确定单元，并且所述保持 单元包括分别按与所述多个光检测元件相关联的状态而连接的多个锁存 单元。此外，同样恰当的是，沿着具有矩形结构的显示板的一条边设置所 述多个光检测元件，或者沿着具有矩形结构的显示板的对角线设置所述 多个光检测元件。此外，所述显示板检査装置还包括对从所述判断单元输出了检测信 号进行通知的通知单元。此外，优选的是，所述显示板检查装置还包括改变显示板的工作环 境的工作环境改变单元。此外，优选的是，所述工作环境改变单元包括改变显示板的温度环 境的温度环境改变单元。此外，同样恰当的是，所述工作环境改变单元包括对显示板施加振 动的振动施加单元。此外，根据本发明，提供了一种对由多个像素组成的显示板进行检 查的显示板检查方法，所述显示板检査方法包括以下步骤检测步骤， 其检测各个像素是否是有缺陷像素；和保持步骤，其保持所述检测步骤中的检测结果。优选的是，所述检测步骤包括光检测步骤，其产生与来自像素的 输出光对应的检测状态；和判断步骤，其基于所述检测状态来判断该像 素是否是有缺陷像素，并且当判断结果表示该像素是有缺陷像素时输出 检测信号，在所述保持步骤中保持在所述判断步骤中输出的检测信号的 状态。此外，优选的是，根据所述多个像素的排列方向多于一次地执行所 述光检测步骤，并且与所述多于一次地执行的光检测步骤中的每一次相
关联地执行所述判断步骤和所述保持步骤。此外，同样恰当的是，沿着具有矩形结构的显示板的一条边执行所 述光检测步骤，或者沿着具有矩形结构的显示板的对角线执行所述光检 测步骤。此外，所述显示板检査方法还包括对在所述判断歩骤中输出了检测 信号进行通知的通知步骤。此外，优选的是，所述显示板检查方法还包括改变显示板的工作环 境的工作环境改变步骤。此外，优选的是，在所述工作环境改变步骤中改变显示板的温度环境。此外，同样恰当的是，在所述工作环境改变步骤中对显示板施加振动。本发明被设计为检测像素是有缺陷像素并且保持检测结果，这使得 即使在短暂地出现由于半接触故障或半断开故障等而导致的漏线故障的 情况下也能够可靠地检测漏线故障。此外，在完成了检查之后可以确认 对短暂出现的漏线故障的检测结果，这使得不需要检査员在检査过程中 通过视觉观察进行确认，由此减少了检査员的工作负担。这可以在不对 检査员造成负担的情况下改进对漏线故障的检测精度。此外，基于与像素的输出光对应的检测状态来判断该像素是否是有 缺陷像素，由此可靠且容易地指定出现了漏线故障的点。此外，由于可以改变显示板的工作环境，所以可以可靠地检测伴随 着工作环境的各种变化而出现的漏线故障。具体来说，关于显示板的温度环境的改变可以实现对由于因显示板 内部的温度上升而导致电极、绝缘材料和杂质发生热膨胀从而出现的漏 线故障的可靠检测。此外，沿着显示板的一条边设置多个光检测单元使得能够在短时间 段内进行对漏线故障的检测。此外，可以减少光检测单元、判断单元和 保持单元的数量，这可以简化装置结构并且降低制造成本。对于判断单元输出检测信号的通知使得可以容易地指定出现了漏线
故障的点。


图1示例性地示出根据本发明实施例的显示板检査装置的结构的示例；图2是用于说明根据本发明实施例的显示板检查装置的光检测单元 中的配置状态的示例的图；图3是用于说明根据本发明实施例的显示板检査装置中的从光检测 单元到通知单元的连接状态的图；图4是示出根据本发明实施例的显示板检查装置中的将亮线检査为 漏线故障的过程的流程图；图5示例性地示出根据本发明实施例的第一变型例的显示板检査装 置的结构的示例；图6示例性地示出根据本发明实施例的第二变型例的显示板检査装 置的结构的示例；图7是用于说明根据本发明实施例的显示板检查装置的光检测单元 中的另一配置状态的示例的图；以及图8是用于说明根据本发明实施例的显示板检査装置的光检测单元 中的不同配置状态的示例的图。
具体实施方式
以下参照附图对本发明的实施例进行描述。 [1]对本发明实施例的描述图1示例性地示出在根据本发明实施例的显示板检査装置中将亮线 检测为漏线故障的情况下的结构的示例，图2是用于说明其光检查单元 中的配置状态的示例的图，图3是用于说明其中的从光检测单元到通知 单元的连接状态的图。如图1所示，根据本实施例的显示板检査装置IO是用于检査由多个 像素11构成的矩形LCD (液晶显示器；显示板)12中的漏线故障的装
置，并且被构成为包括以下部件的电路光检测元件(检测单元、光检 测单元)25、电压比较器(判断单元、检测单元、有缺陷像素判断单元) 26、 二极管(保持单元、锁存单元)28以及LED (发光二极管；通知单 元)30，并且还配置有工作环境改变单元17。漏线故障表示构成LCD的多个像素中的不能实现其原定功能的有 缺陷像素以线的形式连续出现，在本实施例中，对如下的漏线故障的示 例进行描述其中，如图1所示，在LCD12的整个表面上显示诸如黑色 的低亮度颜色的情况下出现亮线20。通常投入市场的LCD由几十万或几百万个像素组成，虽然本实施例 也被构成为对具有几十万或几百万个像素的LCD进行处理，但是仅仅为 了方便起见，从图中省略了部分像素。此外，在以下对像素的描述中，将多个像素称为多个像素11，将单 个像素简称为像素ll。在该显示板检查装置10中，将光检测元件25设计为具有集电极侧 端子21a和发射极侧端子21b的光电二极管，电压比较器26和二极管28 并联连接于光检测元件25的集电极侧端子21a。此外，LED30连接到电 压比较器26和二极管28的输出侧。电源单元(未示出)通过电阻器R2 连接到LED30，以通过电阻器R2提供外加电压V2。电源单元(未示出) 通过电阻器R1连接到光检测元件25的集电极侧端子21a，由此通过电阻 器R1提供外加电压V1。此外，光检测元件25的发射极侧端子21b连接 到地22。如图1所示，各个光检测元件25 (检测单元)用于产生与像素11 的输出光对应的检测状态，并且用作稍后描述的光检测单元13。响应于检测到输出光24，该光检测元件25根据输出光24的光量来 增大其中的电流量，以使光检测元件25的集电极侧电压Vd从外加电压 VI下降，此电压降用作检测状态。此外，作为光检测元件25,使用将来自上述光电晶体管、光电二极 管或CCD (电荷耦合器件)等的光(或者光量)转换为电信号(电流、 电压)的装置。
可以根据漏线故障的判断标准或者电路布置来任意设置要由光检测元件25检测的输出光24的光量，例如，可以通过调整光检测元件25内 部的S/N比、或者通过改变/调整电阻器Rl、 R2或稍后提及的基准电压 Vref的值来进行各种设置。如图2所示，在根据本实施例的显示板检查装置10中，沿着具有矩 形结构的LCD 12的一条边设置多个光检测元件25，并且将所述多个光 检测元件25相同地称为光检测元件13 (参见图3)。如图2所示，所述多个光检测元件25固定地紧固于在沿着具有矩形 结构的LCD12的一条边(在图2所示的示例中，沿着纸面的横向方向) 的直线上的板31。在图2所示的示例中， 一个光检测元件25主要检测彼 此相邻的三个像素11的输出光24。此外，基于光检测元件25的特性来 确定LCD 12与光检测元件25之间的距离。如图1所示，使得电压比较器(检测单元、有缺陷像素判断单元) 26基于光检测元件25的检测状态来判断像素11是否是有缺陷像素，并 且如果该判断表示像素11是有缺陷像素，则输出检测信号dl。电压比较器26被设计为具有正输入端子27a、负输入端子27b以及 输出端子27c的运算放大器。正输入端子27a连接到光检测元件25的集 电极侧端子21a，输出端子27c连接到LED 30，向负输入端子27b施加 基准电压Vref。可以根据漏线故障的判断标准而将该基准电压Vref任意 设置为低于外加电压V1的值。在电压比较器26中的正输入端子27a的检测电压Vd与负输入端子 27b的基准电压Vref之间的比较结果表示检测电压Vd高于基准电压Vref 的情况下，输出端子27c的电压电平为高(High)态。另一方面，当检 测电压Vd低于基准电压Vref时，输出端子27c的电压电平为低(Low) 态。因此，在输出端子27c处电压电平为低的状态用作检测信号dl。如图3所示，与各个光检测元件25对应地设置所述电压比较器26， 将这些多个电压比较器26相同地称为判断单元14。二极管(保持单元，锁存单元)28用于保持(锁存)从如图l所示 的电压比较器26输出的检测信号dl，并且用作稍后提及的保持单元15， 其阴极侧端子29a连接到LED 30，而其阳极侧端子29b连接到光检测元 件25的集电极侧端子21a。如图3所示，与各个光检测元件25对应地设置所述二极管28，将 这些多个二极管28相同地称为保持单元15。LED (通知单元)30用于向外部(例如检査员)通知已经从电压比 较器26输出了检测信号dl的事实，并且在从电压比较器26输出了检测 信号dl的情况下(即，当在输出端子27c处电压电平变为低态时)点亮。 因此，其用作通知单元16。此外，如图1所示，在LED 30中，其阴极 侧端子32b连接到电压比较器26的输出侧端子27c，而其阳极侧端子32a 连接到电阻器R2。如图3所示，与各个光检测元件25对应地设置所述LED 30，将这 些多个LED 30相同地称为通知单元16。工作环境改变单元17用于改变显示板12的工作环境，例如，其配 备有用于通过按环绕状态将具有光检测单元的LCD 12加湿/冷却到任意 温度来改变LCD 12的温度环境的加湿器/冷却器等(温度环境改变单元)、 或者配备有用于对LCD 12施加振动的振动施加单元。可以用各种现有技 术来实现这些加湿器、冷却器和振动施加单元。艮P，如图3所示，根据本实施例的显示板检查装置10在光检测单元 13的集电极侧端子21a处配备有判断单元14和保持单元15。判断单元 14由按对应关系分别连接到多个光检测元件25的多个电压比较器(有缺 陷像素判断单元)26组成，保持单元15由按对应关系分别连接到多个光 检测元件25的多个二极管(锁存单元)28组成。通知单元16设置在判 断单元14和保持单元15的输出侧，并且该通知单元16由按对应关系分 别连接到多个电压比较器26和多个二极管28的多个LED 30组成。参照图4的流程图(步骤S11到S20)，下面描述通过根据本实施例 如此构成的显示板检查装置10检测出亮线20为漏线故障的过程。首先，检查员将光检测元件25 (光检测单元13)的受光部分(未示出)定位在作为检查对象的像素11的发光面的上方以使它们彼此面对， 并且将组成LCD 12的所有多个像素11设置为黑屏显示状态(步骤Sll)。
随后，将外加电压VI施加到电阻器R1，并且将外加电压V2施加 到电阻器R2。此外，将低于外加电压V1的基准电压Vref施加到电压比 较器26的负输入端子27b，使得输出端子27c的电压电平被设置为高态 (步骤S12)。此外，通过使用工作环境改变单元17，改变LCD12的温 度环境或者使该LCD 12振动(步骤S13;工作环境改变步骤)。
在此状态下，如果在作为检查对象的像素11中出现漏线故障(亮线 20)，则引起漏线故障的像素11发出输出光24(发光)，设置为与发出输 出光24的像素11面对的光检测元件25检测到来自亮线20的输出光(步 骤S14)。
响应于检测到来自亮线20的输出光24,光检测元件25根据输出光 24的光量而增大光检测元件25的电流量，因此电压比较器26的正输入 端子27a的检测电压Vd相对于外加电压Vl下降(步骤S15;光检测步 骤，检测步骤)。
在正输入端子27a的检测龟压Vd与负输入端子27b的基准电压Vref 之间的比较结果表示检测电压Vd变得低于基准电压Vref的情况下，各 个电压比较器26将输出端子27c的电压电平从高态设置为低态。这在输 出端子27c与电阻器Rl和R2之间产生电势差(步骤S16;判断步骤， 检测步骤)。
因此，电流从电阻器Rl经过二极管28流到电压比较器26的输出端 子27c，并且电流从电阻器R2经过LED 30流到电压比较器26的输出端 子27c，由此LED30点亮(步骤S17;通知步骤)。
此外，即使在从LCD12瞬间地出现输出光24的情况下，输出端子 27c的电压电平也保持在低态，二极管28继续着从电阻器Rl经过二极管 28到电压比较器26的输出端子27c的电流的流动，由此将检测电压Vd 保持在低于基准电压Vref的状态(步骤S18;保持步骤)。
因此，通过二极管28将龟压比较器26的输出端子27c的电压电平 保持在低态，并且来自电阻器R2的电流持续地经过LED30流动到电压 比较器26的输出端子27c，由此LED30—直发光。
检查员可以通过用视觉观察来确认LED 30的发光状态从而知晓漏
线故障的出现，并且基于与该发光LED 30对应的光检测元件25的位置 来指定出现了作为漏线故障的亮线20的点(步骤S19)。此后，检査员将 LED 30发光处的电路的基准电压Vref降低到低于检测电压Vd的值以熄 灭LED 30,并且将显示板检査装置10复位(步骤S20)。由此，检査结 束。由于如上所述，根据本发明实施例的显示板检査装置IO被设计为检 测作为亮线20的其中出现了漏线故障的像素11并且保持检测结果，因 此，即使在由于诸如半接触故障或者半断开故障的漏线故障而发出了短 暂的输出光24的情况下，也可以识别出漏线故障的出现，并且进一步可 以可靠地指定出现了漏线故障的像素11。此外，由于可以在完成检査之 后确认对因短暂出现的漏线故障而产生的输出光24的检测结果，所以不 需要检査员在检査期间通过视觉观察来进行确认，这可以减少检査员的 工作负担。因此，可以在不对检查员造成负担的情况下改进漏线故障的 检测精度。此外，由于基于对来自像素11的输出光24的检测状态来判断像素 11是否是有缺陷像素，所以仅通过检测来自像素11的输出光24就可以 可靠且容易地指定出现了漏线故障的像素11。此外，由于可以通过改变施加到LCD 12的温度或者通过振动LCD 12来改变LCD 12的工作环境，所以可以在各种工作环境下进行对可能 的漏线故障的检测。此外，沿着LCD 12的一条边设置多个光检测元件25使得能够在短 时间段内检测漏线故障。此外还可以减少光检测元件25、电压比较器26、 二极管28以及LED 30的数量，由此简化装置结果并且减少制造成本。此外，通过使用LED30来通知对输出光24的检测结果，可以视觉 上指定出现了漏线故障的点。其他应该理解，本发明不限于上述实施例，并且旨在覆盖本文所述的本 发明实施例的不脱离本发明精神和范围的全部修改和变型。例如，虽然在上述实施例中，在整个全黑屏显示中将漏线故障检测
为亮线20，但本发明不限于此，在整个LCD表面显示高亮度画面(例如 白色)的情况下(此后称为全白屏显示)，将暗线检测为漏线故障也是适当的。图5是根据本发明实施例的第一变型例的显示板检查装置的图，其 示例性地示出了在将暗线41检测为漏线故障的情况下显示板检査装置40 的结构的示例。在图中，与以上使用的标号相同的标号表示相同或者总体相同的部 件，为了简洁起见省略其详细描述。除了图1所示的显示板检査装置10的部件之外，图5所示的显示板 检査装置40还设置有位于光检测元件(光检测单元)25与电阻器R1的 上流侧之间的信号反相电路42。此信号反相电路42用于对来自光检测元 件25的检测状态进行反相(反转)，将经反相的检测状态输出到电压比 较器(判断单元)26和二极管(保持单元)28。例如，如图5所示，信号反相电路42由电阻器R3、晶体管43和二 极管44构成。电阻器R3在其一端部连接到电阻器R1，此外在其另一端 部连接到光检测元件25的集电极侧端子21a。晶体管43是具有发射极侧 端子45a、集电极侧端子45b和基极侧端子45c的NPN型，发射极侧端 子45a连接到光检测元件25的发射极侧端子21b，而集电极侧端子45b 连接到电阻器R1和电阻器R3的一端侧。此外，基极侧端子45c连接到 二极管44的阴极侧端子(省略其标号)。在二极管44中，其阴极侧端子 (省略其标号)连接到晶体管43的基侧端子45c，并且其阳极侧端子(省 略其标号)连接到光检测元件25的集电极侧端子21a以及电阻器R3的此外，也可以采用除了上述设置之外的设置作为信号反相电路42， 并且也可以使用对由光检测单元13产生的检测状态进行反相并且将经反 相的检测状态输入电压比较器26 (判断单元14)和二极管28 (保持单元 15)的各种现有技术。在该显示板检查装置40中，当光检测单元13没有检测到来自像素 11的输出光(暗线41)时，光检测元件25的电流量增大，从而使光检
测元件25的集电极侧电压相对于外加电压V1降低，由此电压比较器确 定亮线的形成部分是正常的、暗线41的形成部分产生漏线故障。此外，对上述亮线20和暗线41两者都进行检测也是恰当的。图6示例性地示出根据本发明实施例的第二变型例的显示板检査装 置的结构示例，并且示出可以按切换方式检测亮线和暗线两者的显示板 检査装置50的结构。在图中，与以上使用的标号相同的标号表示相同或者总体上相同的 部件，为了简洁起见省略其详细描述。图6所示的显示板检查装置50包括设置有光检测单元13的亮线检 测电路52、以及设置有光检测单元13和信号反相电路42的暗线检测电 路53，并且还包括设置在亮线检测电路52的光检测单元13与电压比较 器26、 二极管28之间的切换开关51，该切换开关51用于针对连接到二 极管28和电压比较器26在亮线检测电路52与暗线检测电路53之间执 行切换。在显示板检查装置50中，可以通过根据所检测到的漏线故障对切换 开关51进行切换控制来以共享的方式使用二极管28、电压比较器26和 LED 30等，由此改进便利性，减少制造成本并且实现空间的节省。虽然在本实施例中，通过一个光检测元件25来检测三个像素11的 输出光24，但本发明不限于此，增加由一个光检测元件25检测的输出光 的数量也是恰当的。在此情况下，根据光检测元件25的受光面的尺寸(面 积)或者像素11的发光面的尺寸来多样地确定要检测的输出光24的数 量，具体来说，当与各个像素11按对应关系设置光检测元件25以由一 个光检测元件25来检测一个输出光24时，可以容易地指定出现了漏线 故障的点。此外，在LCD 12上按多行而不是一行来设置光检测元件25以基于 多行的受光结果来指定出现了漏线故障的点也是恰当的。例如，可以按 交错的方式将多个光检测元件25设置为三行，或者可以增加其行数以釆 用不同的设置图案，以使得可以基于所述多个光检测元件25的检测结果 的组合来指定漏线故障的出现位置。 此外，虽然在本实施例中，如图2所示地沿着LCD 12的一条边设 置多个光检测元件25，但本发明不限于此。图7和8是用于说明根据本发明实施例的显示板检査装置中的光检 测单元的不同设置状态的图。图7是用于说明沿着LCD的不同边的光检 测单元的设置状态的图，图8是用于说明沿着LCD的对角线的光检测单 元的设置状态的图。例如，如图7所示地沿着LCD12的不同边(在图7所示的示例中， 沿着纸面的垂直方向)设置多个光检测元件25、或者如图8所示地沿着 LCD 25的对角线设置多个光检测元件25也是恰当的。当沿着LCD12的对角线设置多个光检测元件25时，可以同时检测 来自在LCD 12的垂直和水平方向上直线形成的像素11的输出光24,这 能够减少光检测元件25的数量并且能够快速且可靠地检测漏线故障。此外，虽然在本实施例中使用电压比较器26作为判断单元14，但 本发明不限于此，采用基于来自光检测单元13的检测状态来判断像素11 是否是有缺陷像素、从而当该判断表示其为有缺陷像素时输出检测信号 dl的各种现有技术也是可接受的。此外，虽然在本实施例中使用二极管28作为保持单元15，但本发 明不限于此，也可以采用保持从判断单元14输出的检测信号dl的各种 现有技术。例如，可以使用具有锁存功能的电路(例如触发器)来取代 二极管28。此外，例如，当使用触发器作为保持单元15时，优选地将保 持单元15串联连接到判断单元14的输出侧。g卩，这使得能够根据用于 保持单元15等的部件而多样地改变显示板检查装置10的电路设置。此外，虽然在本实施例中使用LED 30作为通知单元16，但本发明 不限于此，采用对外部进行通知的各种现有技术也是可接受的。此外，除了上述技术之外的技术也是可接受的，也可以采用检测像 素11是有缺陷像素并且保持检测状态的各种现有技术。此外，将多个光检测元件25的集电极侧端子2la连接到微计算机(未 示出)以在所述多个光检测元件25的电压之间进行相对比较也是恰当的。 例如，微计算机计算所述多个光检测元件25的电压的平均值，以检测电
压低于平均值的部位作为漏线故障的出现位置。虽然在此实施例中将工作环境改变单元17设计为包括加湿器、冷却 器以及振动施加单元，但本发明不限于此。例如，可以仅使用这些装置 中的一部分来设置工作环境改变单元17，并且，改变诸如温度的温度环 境或者改变除了振动之外的工作环境也是可接受的。可以采用各种现有 技术来改变这些工作环境。此外，除了LCD之外，上述显示板检查装置还可以应用于不同类型 的显示板，具体来说，它对于点阵型显示板是有效的，例如可以应用于 PDP (等离子显示板)或者有机EL显示器(有机电致发光显示器)。
权利要求
1、一种显示板检查装置(10，40，50)，该显示板检查装置(10，40，50)对由多个像素(11)组成的显示板(12)进行检查，所述显示板检查装置(10，40，50)包括检测单元(13，14)，其检测所述多个像素(11)中的每一个是否是有缺陷像素；和保持单元(15)，其保持所述检测单元(13，14)的检测结果。
2、 根据权利要求1所述的显示板检査装置，其中，所述检测单元(13， 14)包括光检测单元(13)，其产生与来自所述像素(11)的输出光(24) 对应的检测状态；和判断单元(14)，其基于所述检测状态来判断所述像 素(11)是否是有缺陷像素，并且当该判断表示所述像素(11)是有缺 陷像素时输出检测信号(dl),并且所述保持单元(15)保持从所述判断单元(14)输出的检测信号(dl) 的状态。
3、 根据权利要求2所述的显示板检查装置，其中，所述光检测单元 (13)包括根据所述多个像素(11)的排列方向而设置的多个光检测元件(25)，所述判断单元(14)包括多个有缺陷像素判断单元(26),所述多个 有缺陷像素判断单元(26)各自按对应关系与所述多个光检测元件(25) 中的相应光检测元件(25)相连接，并且所述保持单元(15)包括多个锁存单元(28)，所述多个锁存单元(28) 各自按对应关系与所述多个光检测元件(25)中的相应光检测元件(25) 相连接。
4、 根据权利要求3所述的显示板检査装置，其中，所述多个光检测 元件(25)是沿着具有矩形结构的所述显示板(12)的一条边设置的。
5、 根据权利要求3所述的显示板检查装置，其中，所述多个光检测 元件(25)是沿着具有矩形结构的所述显示板(12)的对角线设置的。
6、 根据权利要求2到5中的任一项所述的显示板检查装置，该显示板检查装置进一步包括通知单元(16)，所述通知单元(16)对从所述判 断单元(14)输出了检测信号(dl)进行通知。
7、 根据权利要求1到5中的任一项所述的显示板检査装置，该显示 板检查装置进一步包括用于改变所述显示板(12)的工作环境的工作环 境改变单元(17)。
8、 根据权利要求6所述的显示板检查装置，该显示板检査装置进一 步包括用于改变所述显示板(12)的工作环境的工作环境改变单元(17)。
9、 根据权利要求7所述的显示板检查装置，其中，所述工作环境改 变单元(17)包括用于改变所述显示板(12)的温度环境的温度环境改 变单元。
10、 根据权利要求7所述的显示板检査装置，其中，所述工作环境 改变单元(17)包括用于对所述显示板(12)施加振动的振动施加单元。
11、 一种显示板检查方法，该显示板检査方法检査由多个像素(11) 组成的显示板(12)，所述显示板检查方法包括以下步骤检测步骤，其检测所述多个像素(11)的每一个是否是有缺陷像素；和保持步骤，其保持所述检测步骤中的检测结果。
12、 根据权利要求11所述的显示板检查方法，其中，所述检测步骤 包括光检测步骤，其产生与来自所述像素(11)的输出光(24)对应 的检测状态；和判断步骤，其基于所述检测状态来判断所述像素(11) 是否是有缺陷像素，并且当该判断表示所述像素(11)是有缺陷像素时 输出检测信号(dl)，在所述保持步骤中保持在所述判断步骤中输出的检测信号(dl)的 状态。
13、 根据权利要求12所述的显示板检查方法，其中，根据所述多个 像素(11)的排列方向而多于一次地执行所述光检测步骤，并且与所述多于一次地执行的光检测步骤中的每一次相关联地执行所述 判断步骤和所述保持步骤。
14、 根据权利要求13所述的显示板检查方法，其中，沿着具有矩形 结构的所述显示板(12)的一条边执行所述光检测步骤。
15、 根据权利要求13所述的显示板检査方法，其中，沿着具有矩形 结构的所述显示板(12)的对角线执行所述光检测步骤。
16、 根据权利要求12到15中的任一项所述的显示板检査方法，该 显示板检查方法进一步包括通知在所述判断步骤中输出了检测信号(dl) 的通知步骤。
17、 根据权利要求11到15中的任一项所述的显示板检査方法，该 显示板检査方法进一步包括改变所述显示板(12)的工作环境的工作环 境改变步骤。
18、 根据权利要求16所述的显示板检査方法，该显示板检査方法进 一步包括改变所述显示板(12)的工作环境的工作环境改变步骤。
19、 根据权利要求17所述的显示板检査方法，其中，在所述工作环 境改变步骤中改变所述显示板(12)的温度环境。
20、 根据权利要求17所述的显示板检査方法，其中，在所述工作环 境改变步骤中对所述显示板(12)施加振动。
全文摘要
本发明提供显示板检查装置和方法。本发明涉及用于对由多个像素(11)组成的显示板(12)进行检查的显示板检查装置(10)。该显示板检查装置(10)包括检测各个像素(11)是否是有缺陷像素的检测单元(13，14)、以及保持所述检测单元(13，14)的检测结果的保持单元(15)，由此使得能够可靠并且容易地检测由于诸如半接触故障或半断开故障的工作环境变化等而导致的短暂出现的有缺陷像素。
文档编号G02F1/13GK101118713SQ20071007911
公开日2008年2月6日 申请日期2007年2月13日 优先权日2006年8月2日
发明者蜂须贺生治 申请人:富士通株式会社