Tft-lcd屏幕亮线缺陷测试方法
【专利摘要】一种TFT-LCD屏幕亮线缺陷测试方法，包括以下步骤：采用开关电源以周期T对所述TFT-LCD屏幕供电和断电；其中，周期T为8-12秒；检测所述TFT-LCD屏幕经过开关电源开关冲击测试后是否正常，若是，则在常温下采用所述开关电源对所述TFT-LCD屏幕连续供电；将连续供电中的TFT-LCD屏幕置于预设温度及预设湿度的环境中测试，达到测试时间阈值后关闭开关电源；检测进行湿热测试后的TFT-LCD屏幕是否正常，若是，则将所述TFT-LCD屏幕在常温下进行冷却，并对冷却后的TFT-LCD屏幕进行检测及记录检测结果。从而能够快速测试出TFT-LCD屏幕在经过长期使用后是否会出现亮线缺陷，进而达到测试TFT-LCD屏幕的目的。
【专利说明】TFT-LCD屏幕亮线缺陷测试方法
【技术领域】
[0001] 本发明涉及LCD屏幕测试技术，特别是涉及一种TFT-LCD屏幕亮线缺陷测试方法。
【背景技术】
[0002] IXD (Liquid Crystal Display)也称液晶显示屏，为平面超薄的显示设备，它由一 定数量的彩色或黑白像素组成，放置于光源或者反射面前方。液晶显示器功耗很低，因此倍 受工程师青睐，适用于使用电池的电子设备。它的主要原理是以电流刺激液晶分子产生点、 线、面配合背部灯管构成画面。
[0003] 从液晶显示器的结构来看，无论是笔记本电脑还是桌面系统，采用的LCD显示屏 都是由不同部分组成的分层结构。LCD由两块玻璃板构成，厚约1mm，其间由包含有液晶 (LC)材料的5μπι均匀间隔隔开。因为液晶材料本身并不发光，所以在显示屏两边都设有作 为光源的灯管，而在LCD背面有一块背光板(或称勻光板)和反光膜，背光板是由突光物质组 成的可以发射光线，其作用主要是提供均匀的背景光源。背光板发出的光线在穿过第一层 偏振过滤层之后进入包含成千上万水晶液滴的液晶层。液晶层中的水晶液滴都被包含在细 小的单元格结构中，一个或多个单元格构成屏幕上的一个像素。在玻璃板与液晶材料之间 是透明的电极，电极分为行和列，在行与列的交叉点上，通过改变电压而改变液晶的旋光状 态，液晶材料的作用类似于一个个小的光阀。
[0004] 在液晶材料周边是控制电路部分和驱动电路部分。当LCD中的电极产生电场时， 液晶分子就会产生扭曲，从而将穿越其中的光线进行有规则的折射，然后经过第二层过滤 层的过滤在屏幕上显示出来。彩色LCD显示器的工作原理对于笔记本电脑或者桌面型的 LCD显示器需要采用的更加复杂的彩色显示器而言，还要具备专门处理彩色显示的色彩过 滤层。通常，在彩色LCD面板中，每一个像素都是由三个液晶单元格构成，其中每一个单元 格前面都分别有红色，绿色，或蓝色的过滤器。这样，通过不同单元格的光线就可以在屏幕 上显示出不同的颜色。
[0005] TFT是"Thin Film Transistor"的缩写，又称为"真彩"，它属于有源矩阵液晶屏， 它是由薄膜晶体管组成的屏幕，它的每个液晶像素点都是由薄膜晶体管来驱动，每个像素 点后面都有四个相互独立的薄膜晶。
[0006] TFT-LCD (Thin Film Transistor Liquid Crystal Display，真彩液晶显不屏）屏 幕由上基板组件、下基板组件、液晶、驱动电路单元、背光灯模组和其他附件组成，其中：下 基板组件主要包括下玻璃基板和TFT阵列，而上基板组件由上玻璃基板、偏振板及覆于上 玻璃基板的膜结构，液晶填充于上、下基板形成的空隙内。在下玻璃基板的内侧面上，布满 了一系列与显示器像素点对应的导电玻璃微板、TFT半导体开关器件以及连接半导体开关 器件的纵横线，它们均由光刻、刻蚀等微电子制造工艺形成。在上玻璃基板的内侧面上，敷 有一层透明的导电玻璃板，一般为氧化铟锡（Indium Tin Oxide，简称ΙΤ0)材料制成，它作 为公共电极与下基板上的众多导电微板形成一系列电场。
[0007] TFT-IXD屏幕在投入市场后，经过客户长时间使用，经常看到TFT-IXD屏幕出现一 根或者几根垂直、水平亮线，这是由于产品在设计过程中导电玻璃微板设计不合理，ITO线 路存在一定的设计缺陷，在经过一段时间的光电作用后，ΙΤ0线路出现击穿异常，导致击穿 ΙΤ0线路对应的位置出现液晶不偏转或者偏转角度异常，造成了亮线的出现，影响客户使 用。
【发明内容】
[0008] 基于此，有必要提供一种能够快速检测TFT-IXD亮线缺陷的TFT-IXD屏幕亮线缺 陷测试方法。
[0009] 一种TFT-IXD屏幕亮线缺陷测试方法，包括以下步骤：
[0010] 采用开关电源以周期T对所述TFT-IXD屏幕供电和断电；其中，周期T为8-12秒；
[0011] 检测所述TFT-IXD屏幕经过开关电源开关冲击测试后是否正常，若是，则在常温 下采用所述开关电源对所述TFT-LCD屏幕连续供电；
[0012] 将连续供电中的TFT-IXD屏幕置于预设温度及预设湿度的环境中测试，达到测试 时间阈值后关闭开关电源；
[0013] 检测进行湿热测试后的TFT-IXD屏幕是否正常，若是，则将所述TFT-IXD屏幕在常 温下进行冷却，并对冷却后的TFT-IXD屏幕进行检测及记录检测结果。
[0014] 在其中一个实施例中，所述开关电源对所述TFT-LCD屏幕供电和断电的周期为10 秒。
[0015] 在其中一个实施例中，在常温下采用所述开关电源对所述TFT-IXD屏幕连续供电 0· 4-0. 6 小时。
[0016] 在其中一个实施例中，所述预设温度为65°C -75°C。
[0017] 在其中一个实施例中，所述预设湿度为75%RH-85%RH。
[0018] 在其中一个实施例中，所述测试时间阈值的范围为480小时-520小时。
[0019] 在其中一个实施例中，所述常温下进行冷却的环境温度为20°C -30°C，湿度为 45%RH-55%RH〇
[0020] 在其中一个实施例中，所述TFT-IXD屏幕在常温下至少冷却2个小时以上。
[0021] 上述TFT-IXD屏幕亮线缺陷测试方法通过对TFT-IXD屏幕进行开关冲击测试，用 于加快TFT-IXD屏幕的ΙΤ0线路电化学反应，再对TFT-IXD屏幕进行高温高湿的模拟老化 测试，从而能够快速测试出TFT-LCD屏幕在经过长期使用后是否会出现亮线缺陷，进而达 到测试TFT-IXD屏幕的目的。
【专利附图】
【附图说明】
[0022] 图1为TFT-IXD屏幕亮线缺陷测试方法的流程图。
【具体实施方式】
[0023] 如图1所示，为TFT-LCD屏幕亮线缺陷测试方法的流程图。
[0024] 在新生产出来的TFT-IXD屏幕样品中随机抽取5台TFT-IXD屏幕，然后接通 电源，对TFT-IXD屏幕的讯号及常规画面品质进行检测，要求常规检查的环境照度为 200± lOLux。通过随机抽样检测，并进行常规品质检查，为后续的测试有效性提供保障。
[0025] -种TFT-IXD屏幕亮线缺陷测试方法，包括以下步骤：
[0026] 在测试之前，将TFT-IXD屏幕与开关电源连接，步骤S110,采用开关电源以周期T 对所述TFT-IXD屏幕供电和断电；其中，周期T为8-12秒。
[0027] 开关电源用于提供开关冲击信号，即用于对TFT-LCD屏幕进行开关冲击。开关冲 击信号的周期为8-12秒，优选地，开关电源对所述TFT-LCD屏幕供电和断电的周期为10 秒。即对TFT-IXD屏幕供电10秒后，再断电10秒，依次循环。
[0028] 在其中一个实施例中，步骤S110的具体包括：将TFT-IXD屏幕与开关电源连接，设 置开关电源10秒供电、10秒断电的供电方式，并设置循环次数10000次。即对TFT-IXD屏 幕间断供电、断电10000次后停止测试。通过开关电源的开关冲击信号测试，模拟TFT-IXD 屏幕长期使用的状态，加速TFT-LCD屏幕的ΙΤ0线路电化学反应，使得ΙΤ0线路的腐蚀产 生。
[0029] 步骤S110用于模拟TFT-IXD屏幕开关长期使用后的状态。
[0030] 步骤S120,检测所述TFT-IXD屏幕经过开关电源开关冲击测试后是否正常，若是， 则在常温下采用所述开关电源对所述TFT-IXD屏幕连续供电。具体的，在常温下采用所述 开关电源对所述TFT-IXD屏幕连续供电0. 4-0. 6小时。优选地，连续供电时间为0. 5小时。 常温状态为：环境温度25°C、湿度50%RH。
[0031] 在对TFT-IXD屏幕进行湿热测试之前，需要排除环境和电学因素对TFT-IXD屏幕 的影响。因而，在常温下采用开关电源对TFT-IXD屏幕连续供电。其中，在检测经过开关冲 击测试后的TFT-IXD屏幕出现异常时，则终止TFT-IXD屏幕亮线缺陷测试，若正常，则进行 下一步测试。
[0032] 步骤S120用于排除环境因素及电学因素对TFT-IXD屏幕产生的影响，保证后续测 试的有效性。
[0033] 步骤S130,将连续供电中的TFT-IXD屏幕置于预设温度及预设湿度的环境中测 试，达到测试时间阈值后关闭开关电源。
[0034] 在本实施例中，预设温度为65°C -75°C。优选地，预设温度为70°C。
[0035] 预设湿度为75%RH-85%RH。优选地，预设湿度为80%RH。
[0036] 测试时间阈值的范围为480小时-520小时。优选地，测试时间阈值为500小时。
[0037] 在其中一个实施例中，步骤S130的具体步骤为：将TFT-IXD屏幕置于恒温箱中，一 般地，同时检测的TFT-IXD屏幕为多个，优选地为3台TFT-IXD屏幕一起测试，因而TFT-IXD 屏幕在恒温箱中相互之间的间距至少大于5cm，TFT-IXD屏幕与恒温箱的箱壁距离至少大 于20cm。上述保证TFT-IXD屏幕之间的间距，是为了降低测试TFT-IXD屏幕之间的相互影 响，避免TFT-LCD屏幕靠近恒温箱壁，是为了保证测试条件一致，确保测试过程的合理性。
[0038] 将处于恒温箱中的TFT-IXD屏幕通电，并设置恒温箱内的温度为70°C且湿度为 80%RH，在上述温度及湿度的条件下对TFT-IXD屏幕连续通电500小时。
[0039] 上述过程为了模拟高温高湿的恶劣环境下TFT-IXD屏幕的ΙΤ0线路可靠性，从而 将存在缺陷的TFT-LCD屏幕检测出来。
[0040] 步骤S130用于模拟高温高湿环境下TFT-IXD屏幕的使用后的性能。
[0041] 步骤S140,检测进行湿热测试后的TFT-IXD屏幕是否正常，若是，则将所述 TFT-IXD屏幕在常温下进行冷却，并对冷却后的TFT-IXD屏幕进行检测及记录检测结果。
[0042] 对经过高温高湿测试并持续通电的TFT-IXD屏幕进行检测，若正常，则在常温下 冷却。确保TFT-IXD屏幕恢复到常态。
[0043] 所述常温下进行冷却的环境温度为20°C -30°C，湿度为45%RH-55%RH。
[0044] 所述TFT-IXD屏幕在常温下至少冷却2个小时以上。
[0045] 步骤S140用于检测经过开关冲击测试及高温高湿测试之后的TFT-IXD屏幕冷却 后，在常温下的性能是否正常。
[0046] 上述TFT-IXD屏幕亮线缺陷测试方法通过对TFT-IXD屏幕进行开关冲击测试，用 于加快TFT-IXD屏幕的ΙΤ0线路电化学反应，再对TFT-IXD屏幕进行高温高湿的模拟老化 测试，从而能够快速测试出TFT-LCD屏幕在经过长期使用后是否会出现亮线缺陷，进而达 到测试TFT-IXD屏幕的目的。
[0047] 目前常规的功能测试和出货检验无法有效检测出TFT-LCD屏幕设计时可能潜在 的ΙΤ0线路缺陷和可能隐藏的各种不良，特别是经过用户使用后可能存在的亮线缺陷更是 无法控制，导致了后续产品上市后产品的维修成本增加等问题。通过TFT-LCD屏幕亮线缺 陷的测试方法，可以在短时间内暴露出TFT-LCD屏幕在设计阶段潜在的需经过长时间用户 使用后可能出现的亮线缺陷，同时通过发现ΙΤ0线路缺陷并经过技术部门的整改，最终通 过根除亮线缺陷异常，能有效地降低存在ΙΤ0线路设计缺陷的TFT-LCD屏幕流入市场，保证 产品质量的可靠性。
[0048] 基于上述所有实施例，采用TFT-IXD屏幕亮线缺陷测试方法测试一批TFT-IXD屏 幕的具体步骤为：
[0049] 从TFT-LCD屏幕样机中抽取测试样机3台，经过画面品质检查，未发现异常，则将 测试样品放置于恒温恒湿箱，并通过开关电源（Power 0n/0ff)机台对测试样品讯号进行 开关（0n/0ff)控制，同时设置开关电源10秒供电、10秒断电的供电方式及设置循环次数 10000次的条件进行机台运行条件设置，完成开关冲击信号测试后，对TFT-LCD屏幕进行常 规检测，若出现异常，则终止本次测试，并记录检测结果。若未出现异常，则进行高温高湿测 试，即开启恒温恒湿箱进行高温高湿测试，待测试完毕后，对TFT-IXD屏幕进行常规品质测 试，若出现异常，则终止本次测试，若正常，则进行后续测试。即将测试样品放在常温下静 置最2个小时后，进行测试样品画面检测，未发现TFT-LCD屏幕出现亮线缺陷异常，则该款 TFT-LCD屏幕设计可以避免产品在经过长期使用后可能出现的亮线异常，符合产品长期使 用的要求，可靠性较高。
[0050] 采用TFT-IXD屏幕亮线缺陷的测试方法，可以有效地暴露TFT-IXD屏幕在经过长 期使用后可能存在亮线不良，亮线可导致TFT-LCD屏幕无法正常工作或者影响客户使用， 通过TFT-LCD屏幕亮线缺陷的测试方法可以检测出可能存在ΙΤ0线路设计缺陷的液晶面 板，并通过技术整改和再验证的通过，可为市场提供优质TFT-LCD屏幕提供依据，使产品能 在经过长期使用后，仍具有较高的品质水准，满足用户长期使用的需求，同时也有益于提高 产品的可靠度，制造出可靠的可供客户长期使用的产品。
[0051] 以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并 不能因此而理解为对本发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员 来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保 护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。
【权利要求】
1. 一种TFT-IXD屏幕亮线缺陷测试方法，包括以下步骤： 采用开关电源以周期T对所述TFT-LCD屏幕供电和断电；其中，周期T为8-12秒； 检测所述TFT-IXD屏幕经过开关电源开关冲击测试后是否正常，若是，则在常温下采 用所述开关电源对所述TFT-IXD屏幕连续供电； 将连续供电中的TFT-LCD屏幕置于预设温度及预设湿度的环境中测试，达到测试时间 阈值后关闭开关电源； 检测进行湿热测试后的TFT-IXD屏幕是否正常，若是，则将所述TFT-IXD屏幕在常温下 进行冷却，并对冷却后的TFT-LCD屏幕进行检测及记录检测结果。
2. 根据权利要求1所述的TFT-LCD屏幕亮线缺陷测试方法，其特征在于，所述开关电源 对所述TFT-IXD屏幕供电和断电的周期为10秒。
3. 根据权利要求1所述的TFT-LCD屏幕亮线缺陷测试方法，其特征在于，在常温下采用 所述开关电源对所述TFT-IXD屏幕连续供电0. 4-0. 6小时。
4. 根据权利要求1所述的TFT-LCD屏幕亮线缺陷测试方法，其特征在于，所述预设温度 为 65°C _75°C。
5. 根据权利要求1所述的TFT-LCD屏幕亮线缺陷测试方法，其特征在于，所述预设湿度 为 75%RH-85%RH。
6. 根据权利要求1所述的TFT-LCD屏幕亮线缺陷测试方法，其特征在于，所述测试时间 阈值的范围为480小时-520小时。
7. 根据权利要求1所述的TFT-LCD屏幕亮线缺陷测试方法，其特征在于，所述常温下进 行冷却的环境温度为20°C -30°C，湿度为45%RH-55%RH。
8. 根据权利要求1所述的TFT-LCD屏幕亮线缺陷测试方法，其特征在于，所述TFT-LCD 屏幕在常温下至少冷却2个小时以上。
【文档编号】G02F1/13GK104062777SQ201310096550
【公开日】2014年9月24日 申请日期:2013年3月22日 优先权日:2013年3月22日
【发明者】周明杰, 王永清 申请人:深圳市海洋王照明工程有限公司, 海洋王照明科技股份有限公司