专利名称：反射式显微分析仪的制作方法
技术领域：
本发明涉及显微分析仪，特别是反射式显微分析仪。
背景技术：
现有显微镜都是通过目镜观察，使用者长期使用会产生严重的视觉疲劳从而影响视力，如果通过摄像头使用电脑观察，显示器和仪器分离，不能很好地正面观察，不利于作业。而且传统的显微镜在光学设计上都是以目镜观察为基础的设计，局限性很大，并且会加大产品成本和生产周期以及加工技术的复杂性。光学系统采用垂直的方法会使屏幕加高，不符合人机科学。
发明内容
为了解决现有技术中存在的问题，本发明的目的是提供一种可以实现屏幕观察代替目镜观察，并且采用光学系统横置，有效降低了屏幕的高度，符合人机科学，大大增加了使用者的舒适程度的单反光镜分析仪。为了达到上述目的，本发明采用以下技术方案:反射式显微分析仪，包括适配镜组、镜臂和底座，所述的适配镜组横向放置，所述的适配镜组位于镜臂上端，所述的底座位于镜臂下端，所述的适配镜组的光线入射端设有反光镜，所述反光镜下方设有物镜接口，所述的物镜接口连接有物镜，所述的反光镜的入射光线为物镜的中轴线，所述反光镜的反射光线为适配镜组的中轴线，所述适配镜组的光线出射端设有摄影部件，所述的底座与物镜之间设有载物台，所述的载物台与底座之间设有自带光源的聚光镜，所述的摄影部件将图像直接或通过计算机在显示器上显示出来，所述的显示器位于反光镜的入射光线延长线的后方。所述的底座上设有调焦装置，所述调焦装置位于反光镜的入射光线延长线的前方，所述的调焦装置用于调节载物台的高度。所述的自带光源的聚光镜包括聚光系统，所述的聚光系统的下方紧贴有孔径光栏，所述的孔径光栏下方设有光源，所述聚光系统、孔径光栏、光源通过螺钉或镶嵌结构连接，所述聚光系统、孔径光栏、光源的中心在一个轴线上。采用上述技术方案，本发明具有以下有益效果:可以实现屏幕取景代替目镜取景，并且采用光学系统横置和自带光源的聚光镜，有效降低了屏幕的高度，调焦装置前置，符合人机科学，大大增加了使用者的舒适程度。
图1为本发明反射式显微分析仪的结构示意图。图2为本发明反射式显微分析仪中自带光源聚光镜的结构示意图。图中:1、适配镜组2、镜臂 3、底座 4、反光镜5、物镜接口 6、物镜 7、摄影部件8、载物台9、自带光源的聚光镜 10、显示器 11、调焦装置12、聚光系统13、孔径光栏14、光源 15、电源线。
具体实施例方式下面根据说明书附图和具体实施例对本发明作进一步的解释。如图1所示，反射式显微分析仪，包括适配镜组1、镜臂2和底座3，所述的适配镜组I横向放置，所述的适配镜组I位于镜臂2上端，所述的底座3位于镜臂2下端，所述的适配镜组I的光线入射端设有反光镜4，所述反光镜4下方设有物镜6接口 5，所述的物镜6接口 5连接有物镜6，所述的反光镜4的入射光线为物镜6的中轴线，所述反光镜4的反射光线为适配镜组I的中轴线，所述适配镜组I的光线出射端设有摄影部件7，所述的底座3与物镜6之间设有载物台8，所述的载物台8与底座3之间设有自带光源14的聚光镜9，所述的摄影部件7将图像直接或通过计算机在显示器10上显示出来，所述的显示器10位于反光镜4的入射光线延长线的后方。所述显示器10为触摸式或非触摸式显示器10。所述显示器10通过转轴可旋转180度。所述计算机可以装载测量分析软件对所取图像进行测量分析。所述的底座3上设有调焦装置11，所述调焦装置11位于反光镜4的入射光线延长线的前方，所述的调焦装置11用于调节载物台8的高度。所述的自带光源14的聚光镜9包括聚光系统12，所述的聚光系统12的下方紧贴有孔径光栏13，所述的孔径光栏13下方设有光源14，所述聚光系统12、孔径光栏13、光源14通过螺钉或镶嵌结构连接，所述聚光系统12、孔径光栏13、光源14的中心在一个轴线上。所述的光源14为贴片式LED发光板或侧面辅助光源14入射式发光板。所述的光源14不大于聚光系统12的通光口径。所述的自带光源14的聚光镜9在传统聚光镜的厚度基础上增加厚度不超过15毫米。本发明可以实现屏幕代替目镜观察，采用光学系统横置，有效降低了屏幕的高度，符合人机科学，大大增加了使用者的舒适程度。该设计还有效提高了显微镜的自动化程度，并在本机上就可以实现图像数字化处理。使远程控制更简便，一体化设计节省空间，也便于管理。
权利要求
1.反射式显微分析仪，包括适配镜组、镜臂和底座，其特征在于所述的适配镜组横向放置，所述的适配镜组位于镜臂上端，所述的底座位于镜臂下端，所述的适配镜组的光线入射端设有反光镜，所述反光镜下方设有物镜接口，所述的物镜接口连接有物镜，所述的反光镜的入射光线为物镜的中轴线，所述反光镜的反射光线为适配镜组的中轴线，所述适配镜组的光线出射端设有摄影部件，所述的底座与物镜之间设有载物台，所述的载物台与底座之间设有自带光源的聚光镜，所述的摄影部件将图像直接或通过计算机在显示器上显示出来，所述的显示器位于反光镜的入射光线延长线的后方。
2.根据权利要求1所述的反射式显微分析仪，其特征在于所述的底座上设有调焦装置，所述调焦装置位于反光镜的入射光线延长线的前方，所述的调焦装置用于调节载物台的高度。
3.根据权利要求1所述的反射式显微分析仪，其特征在于所述的自带光源的聚光镜包括聚光系统，其特征在于所述的聚光系统的下方紧贴有孔径光栏，所述的孔径光栏下方设有光源，所述聚光系统、孔径光栏、光源通过螺钉或镶嵌结构连接，所述聚光系统、孔径光栏、光源的中心在一个轴线上。
全文摘要
本发明公开了反射式显微分析仪，包括适配镜组、镜臂和底座，所述的适配镜组横向放置，所述的适配镜组位于镜臂上端，所述的底座位于镜臂下端，所述的适配镜组的光线入射端设有反光镜，所述反光镜下方设有物镜接口，所述的物镜接口连接有物镜，所述的反光镜的入射光线为物镜的中轴线，所述反光镜的反射光线为适配镜组的中轴线，所述适配镜组的光线出射端设有摄影部件，所述的底座与物镜之间设有载物台，所述的载物台与底座之间设有自带光源的聚光镜，所述的摄影部件将图像直接或通过计算机在显示器上显示出来，所述的显示器位于反光镜的入射光线延长线的后方。
文档编号G02B21/24GK103149674SQ20131010708
公开日2013年6月12日 申请日期2013年3月29日 优先权日2013年3月29日
发明者姜建明, 庄重, 康铁宝, 仲昭朝, 姜晓宏, 周纪文 申请人:南京大学, 南京祥图仪器科技有限公司