改善sinlcd和coglcd显示斜纹不良的方法
【专利摘要】本发明公开了一种改善SIN-LCD和COG-LCD显示斜纹不良的方法，其特征在于涂布完钛化硅固化后再印PI时，将台阶上也涂上PI，台阶的PI位置大于钛化硅的位置。通过在台阶的钛化硅层上印上PI，可以使盒内的PI高度与台阶的PI高度一致，摩擦时不存在台阶，摩擦后不会出现台阶钛化硅层大小的斜纹不良。
【专利说明】改善SINLCD和COGLCD显示斜纹不良的方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及ー种IXD的生产エ艺方法，尤其涉及ー种改善SIN-1XD和COG-1XD显示斜纹不良的方法。
【背景技术】
[0002]IXD屏由于显示内容丰富、功耗低，被广泛应用于エ业生产的各个领域，现有的IXD屏是由IT0、液晶、偏光片或针脚组成；在一般的环境温度下，可以很好的显示使用者需要的各种信息；其中STN-LCD (COG)的高路数产品生产难度大，良率较低。其中摩擦斜纹不良是影响良率的主要因数之一，尤其是对STN-1XD (COG)灰阶产品的良率影响。
[0003]一般来说，COG产品会在盒内、台阶端子走线区域(非绑定区域)印上钛化硅层，台阶钛化硅层保护端子走线不被腐蚀。采用毛轮不能转向的摩擦机，摩擦出沟槽，锚定液晶分子时，沿着端子上的钛化硅层出现与摩擦方向一致的摩擦斜纹，灌液晶通电点亮吋，LCD显示的深浅不一致。
【发明内容】
[0004]为了解决上述问题，本发明提供了改善SIN-LCD和COG-1XD显示斜纹不良的方法。
[0005]本发明是这样来实现的:改善SIN-1XD和COG-1XD显示斜纹不良的方法，其特征在于涂布完钛化硅固化后再印PI吋，将台阶上也涂上PI，台阶的PI位置大于钛化硅的位置。
[0006]本发明的有益效果是:通过在台阶的钛化硅层上印上PI，可以使盒内的PI高度与台阶的PI高度一致，摩擦时不存在台阶，摩擦后不会出现台阶钛化硅层大小的斜纹不良。
【具体实施方式】
[0007]为了便于理解，下面结合实施例对本发明进行详细说明。
[0008]实施例1
SIN-1XD涂布完钛化硅固化后再印PI吋，将台阶上也涂上PI，台阶的PI位置大于钛化娃的位置0.5mm。
[0009]实施例2
COG-1XD涂布完钛化硅固化后再印PI吋，将台阶上也涂上PI，台阶的PI位置大于钛化娃的位置0.5mm。
[0010]上述实施例对本发明的实施方式作了详细说明，但是本发明并不限于上述实施方式，在本领域的普通技术人员所具备的知识范围内，还可以在不脱离本发明宗g的前提下作出各种变化。
【权利要求】
1.改善SIN-1XD和COG-1XD显示斜纹不良的方法，其特征在于涂布完钛化硅固化后再印PI时，将台阶上也涂上PI。
2.根据权利要求1所述的改善SIN-LCD和COG-LCD显示斜纹不良的方法，其特征在于台阶的PI位置大于钛化硅的位置。
3.根据权利要求2所述的改善SIN-LCD和COG-LCD显示斜纹不良的方法，其特征在于台阶的PI位置大于钛化硅的位置0.5_。
【文档编号】G02F1/1333GK103605227SQ201310525502
【公开日】2014年2月26日 申请日期:2013年10月31日 优先权日:2013年10月31日
【发明者】范燕辉, 文开福 申请人:江西合力泰科技股份有限公司