一种检测液晶面板柱状隔垫物缺陷的方法及装置制造方法
【专利摘要】本发明公开了一种检测液晶面板柱状隔垫物缺陷的方法及装置，用以准确的检测柱状隔垫物的缺陷，实时监控柱状隔垫物工艺，确保柱状隔垫物良率的稳定增长。所述检测液晶面板柱状隔垫物缺陷的方法，包括获取包含所述柱状隔垫物的液晶面板俯视图像；将所述液晶面板俯视图像以预先设置的标准图像的像素大小为单位划分为若干区域，将每个区域的图像与所述标准图像进行比对，确定与所述标准图像不同的第一子区域图像；检测每个所述第一子区域图像的灰度值，确定不在预设灰度值范围的第二子区域图像；计算所述第二子区域图像中的柱状隔垫物在所述液晶面板俯视图像中的位置坐标。
【专利说明】一种检测液晶面板柱状隔垫物缺陷的方法及装置
【技术领域】
[0001]本发明涉及显示器【技术领域】，尤其涉及一种检测液晶面板柱状隔垫物缺陷的方法及装置。
【背景技术】
[0002]液晶面板中的柱状隔垫物的良率会直接影响整个液晶面板的显示效果，目前，在彩膜工厂使用全数检查机检测柱状隔垫物的缺陷，并监控各个型号产品的柱状隔垫物良率。柱状隔垫物的图像具有周期性，而目前对于柱状隔垫物的检出存在很大的漏检和误检，由于在制作柱状隔垫物工艺中存在柱状隔垫物异物和柱状隔垫物缺失等问题，导致严重影响其柱状隔垫物的良率。
[0003]现有技术针对柱状隔垫物检测是通过五点比对方法来检测的，具体的检测如图1所示。图中，10表示彩膜基板中的红色(R)子像素俯视图，11表示彩膜基板中的绿色(G)子像素俯视图，12表示彩膜基板中的蓝色(B)子像素俯视图，13、14、15、16和17分别表示位于彩膜基板和阵列基板之间的柱状隔垫物俯视图，其中，以柱状隔垫物俯视图13为测试点，柱状隔垫物俯视图14、15、16和17为参考点，在测试过程中，若13的灰度值为Al，14的灰度值为A2，15的灰度值为A3，16的灰度值为A4，17的灰度值为A5。若上述五个灰度值的大小关系为:A2<A3<A5<A4<A1，取五个灰度值的中间值A5，当I A1-A5 I大于设定值时，表示测试的柱状隔垫物俯视图13对应的柱状隔垫物存在缺陷，当I A1-A5 I小于设定值时，表示测试的柱状隔垫物俯视图13对应的柱状隔垫物无缺陷，这里的设定值对于不同的生产工艺其值也不同，目前该设定值一般为30或50，这种通过五点比对方法来检测柱状隔垫物的方法存在一定的弊端，由于柱状隔垫物是透明状，对于光源不是特别敏感，其灰度反应出来的数据波动较小。
[0004]综上所述，现有技术中检测柱状隔垫物的方法无法准确的检查出柱状隔垫物存在的缺陷，并且当有大范围面积的柱状隔垫物缺失时，则无法进行检测，从而无法监控柱状隔
垫物工艺。
【发明内容】
[0005]本发明实施例提供了一种检测液晶面板柱状隔垫物缺陷的方法及装置，用以准确的检测柱状隔垫物的缺陷，实时监控柱状隔垫物工艺，确保柱状隔垫物良率的稳定增长。
[0006]本发明实施例提供的一种检测液晶面板柱状隔垫物缺陷的方法，所述方法包括:
[0007]获取包含所述柱状隔垫物的液晶面板俯视图像；
[0008]将所述液晶面板俯视图像以预先设置的标准图像的像素大小为单位划分为若干区域，将每个区域的图像与所述标准图像进行比对，确定与所述标准图像不同的第一子区域图像；
[0009]检测每个所述第一子区域图像的灰度值，确定不在预设灰度值范围的第二子区域图像；[0010]计算所述第二子区域图像中的柱状隔垫物在所述液晶面板俯视图像中的位置坐标。
[0011]由本发明实施例提供的检测液晶面板柱状隔垫物缺陷的方法，包括:获取包含所述柱状隔垫物的液晶面板俯视图像；将所述液晶面板俯视图像以预先设置的标准图像的像素大小为单位划分为若干区域，将每个区域的图像与所述标准图像进行比对，确定与所述标准图像不同的第一子区域图像；检测每个所述第一子区域图像的灰度值，确定不在预设灰度值范围的第二子区域图像；计算所述第二子区域图像中的柱状隔垫物在所述液晶面板俯视图像中的位置坐标，因此，本发明实施例提供的检测液晶面板柱状隔垫物缺陷的方法能够准确的检测柱状隔垫物的缺陷，实时监控柱状隔垫物工艺，确保柱状隔垫物良率的稳定增长。
[0012]较佳地，所述计算所述第二子区域图像中的柱状隔垫物在所述液晶面板俯视图像中的位置坐标后，所述方法还包括:
[0013]计算所述第二子区域图像中的柱状隔垫物的缺陷类型。
[0014]这样，由于计算所述第二子区域图像中的柱状隔垫物在所述液晶面板俯视图像中的位置坐标后，所述方法还包括计算所述第二子区域图像中的柱状隔垫物的缺陷类型，极大的方便了后续对柱状隔垫物缺陷的修复。
[0015]较佳地，所述获取包含所述柱状隔垫物的液晶面板俯视图像，包括:
[0016]通过CXD相机获取包含所述柱状隔垫物的液晶面板俯视图像。
[0017]这样，通过C⑶相机获取包含所述柱状隔垫物的液晶面板俯视图像，在实际检测过程中方便、简单。
[0018]较佳地，所述将每个区域的图像与所述标准图像进行比对，包括:通过模板匹配法将每个区域的图像与所述标准图像进行比对。
[0019]这样，通过模板匹配法将每个区域的图像与所述标准图像进行比对，在实际检测过程中可以方便、简单的确定与所述标准图像不同的第一子区域图像。
[0020]本发明实施例还提供了一种检测液晶面板柱状隔垫物缺陷的装置，所述装置包括:
[0021]图像获取单元，用于获取包含所述柱状隔垫物的液晶面板俯视图像；
[0022]图像比对单元，用于将所述液晶面板俯视图像以预先设置的标准图像的像素大小为单位划分为若干区域，将每个区域的图像与所述标准图像进行比对，确定与所述标准图像不同的第一子区域图像；
[0023]灰度检测单元，用于检测每个所述第一子区域图像的灰度值，确定不在预设灰度值范围的第二子区域图像；
[0024]计算单元，用于计算所述第二子区域图像中的柱状隔垫物在所述液晶面板俯视图像中的位置坐标。
[0025]由本发明实施例提供的检测液晶面板柱状隔垫物缺陷的装置，包括:图像获取单元，用于获取包含所述柱状隔垫物的液晶面板俯视图像；图像比对单元，用于将所述液晶面板俯视图像以预先设置的标准图像的像素大小为单位划分为若干区域，将每个区域的图像与所述标准图像进行比对，确定与所述标准图像不同的第一子区域图像；灰度检测单元，用于检测每个所述第一子区域图像的灰度值，确定不在预设灰度值范围的第二子区域图像；计算单元，用于计算所述第二子区域图像中的柱状隔垫物在所述液晶面板俯视图像中的位置坐标，因此，本发明实施例提供的检测液晶面板柱状隔垫物缺陷的装置能够准确的检测柱状隔垫物的缺陷，实时监控柱状隔垫物工艺，确保柱状隔垫物良率的稳定增长。
[0026]较佳地，所述装置还包括缺陷类型计算单元，用于计算所述第二子区域图像中的柱状隔垫物的缺陷类型。
[0027]这样，当所述装置包括用于计算所述第二子区域图像中的柱状隔垫物的缺陷类型的缺陷类型计算单元时，极大的方便了后续对柱状隔垫物缺陷的修复。
[0028]较佳地，所述缺陷类型包括:灰度值较正常柱状隔垫物图像灰度大的白缺陷和/或灰度值较正常柱状隔垫物图像灰度小的黑缺陷。
[0029]这样，将缺陷类型分为灰度值较正常柱状隔垫物图像灰度大的白缺陷和灰度值较正常柱状隔垫物图像灰度小的黑缺陷，在实际检测中更加方便、简单。
[0030]较佳地，所述图像获取单元为CXD相机。
[0031]这样，图像获取单元为CXD相机时，在实际检测过程中方便、简单。
[0032]较佳地，所述图像比对单元具体用于，通过模板匹配法将每个区域的图像与所述标准图像进行比对。
[0033]这样，当所述图像比对单元具体用于，通过模板匹配法将每个区域的图像与所述标准图像进行比对，在实际检测过程中方便、简单。
【专利附图】
【附图说明】
[0034]图1为现有技术检测柱状隔垫物缺陷的示意图；
[0035]图2为本发明实施例提供的一种检测液晶面板柱状隔垫物缺陷的方法流程图；
[0036]图3为本发明实施例提供的一种检测液晶面板柱状隔垫物缺陷的装置示意图。
【具体实施方式】
[0037]本发明实施例提供了一种检测液晶面板柱状隔垫物缺陷的方法及装置，用以准确的检测柱状隔垫物的缺陷，实时监控柱状隔垫物工艺，确保柱状隔垫物良率的稳定增长。
[0038]如图2所示，本发明具体实施例提供了一种检测液晶面板柱状隔垫物缺陷的方法，所述方法包括:
[0039]S201、获取包含所述柱状隔垫物的液晶面板俯视图像；
[0040]S202、将所述液晶面板俯视图像以预先设置的标准图像的像素大小为单位划分为若干区域，将每个区域的图像与所述标准图像进行比对，确定与所述标准图像不同的第一子区域图像；
[0041]S203、检测每个所述第一子区域图像的灰度值，确定不在预设灰度值范围的第二子区域图像；
[0042]S204、计算所述第二子区域图像中的柱状隔垫物在所述液晶面板俯视图像中的位
置坐标。
[0043]下面结合附图详细介绍本发明具体实施例中检测液晶面板柱状隔垫物缺陷的方法。
[0044]本发明具体实施例检测液晶面板柱状隔垫物缺陷时，首先需要预先设置一个标准图像，并将该标准图像存入测试系统中，所述标准图像是从正常的检测基板上截取下来的图像，在实际生产过程中，柱状隔垫物的图像分布跟正常的RGB图形分布一样，也是具有一定的周期性的，在一个周期内包括多个尺寸的主要柱状隔垫物和次要柱状隔垫物，本发明具体实施例预先设置的标准图像中包含一个周期内的正常柱状隔垫物图像，所述标准图像中包含的正常柱状隔垫物图像中柱状隔垫物的具体个数依据实际生产得到的柱状隔垫物图像而定。另外，在设置好标准图像后，本发明具体实施例还需要设置一个测试标准模板，并将设置的测试标准模板写入检测系统的软件中，设置的标准模板里需要设置尺寸较大的主要柱状隔垫物的个数及尺寸、尺寸较小的次要柱状隔垫物的个数及尺寸，同时还需要设置柱状隔垫物一个周期的分布情况，具体如表1所示。
[0045]表1
[0046]
【权利要求】
1.一种检测液晶面板柱状隔垫物缺陷的方法，其特征在于，所述方法包括: 获取包含所述柱状隔垫物的液晶面板俯视图像； 将所述液晶面板俯视图像以预先设置的标准图像的像素大小为单位划分为若干区域，将每个区域的图像与所述标准图像进行比对，确定与所述标准图像不同的第一子区域图像； 检测每个所述第一子区域图像的灰度值，确定不在预设灰度值范围的第二子区域图像； 计算所述第二子区域图像中的柱状隔垫物在所述液晶面板俯视图像中的位置坐标。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述计算所述第二子区域图像中的柱状隔垫物在所述液晶面板俯视图像中的位置坐标后，所述方法还包括: 计算所述第二子区域图像中的柱状隔垫物的缺陷类型。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取包含所述柱状隔垫物的液晶面板俯视图像，包括: 通过CCD相机获取包含所述柱状隔垫物的液晶面板俯视图像。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将每个区域的图像与所述标准图像进行比对，包括:通过模板匹配法将每个区域的图像与所述标准图像进行比对。
5.一种检测液晶面板柱状隔垫物缺陷的装置，其特征在于，所述装置包括: 图像获取单元，用于获取包含所述柱状隔垫物的液晶面板俯视图像； 图像比对单元，用于将所述液晶面板俯视图像以预先设置的标准图像的像素大小为单位划分为若干区域，将每个区域的图像与所述标准图像进行比对，确定与所述标准图像不同的第一子区域图像； 灰度检测单元，用于检测每个所述第一子区域图像的灰度值，确定不在预设灰度值范围的第二子区域图像； 计算单元，用于计算所述第二子区域图像中的柱状隔垫物在所述液晶面板俯视图像中的位置坐标。
6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述装置还包括缺陷类型计算单元，用于计算所述第二子区域图像中的柱状隔垫物的缺陷类型。
7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述缺陷类型包括:灰度值较正常柱状隔垫物图像灰度大的白缺陷和/或灰度值较正常柱状隔垫物图像灰度小的黑缺陷。
8.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述图像获取单元为CCD相机。
9.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述图像比对单元具体用于，通过模板匹配法将每个区域的图像与所述标准图像进行比对。
【文档编号】G02F1/1339GK103885217SQ201410086067
【公开日】2014年6月25日 申请日期:2014年3月10日 优先权日:2014年3月10日
【发明者】罗鹏, 王贺, 刘响 申请人:京东方科技集团股份有限公司, 合肥鑫晟光电科技有限公司