一种多接口光纤测试线的制作方法

文档序号:12446945阅读:301来源:国知局
一种多接口光纤测试线的制作方法与工艺

本实用新型涉及一种光纤测试装置,具体地说是一种多接口光纤测试线,尤其适用于智能变电站二次系统的调试与故障分析诊断。



背景技术:

近年来智能变电站逐渐普及,智能变电站的二次回路采用光纤连接为物理基础。在现场对二次设备进行调试或故障分析诊断过程中,需要将智能试验仪经光纤测试线与二次设备进行物理链路连接。

二次设备的光纤接口基本分为两类:LC口(方口),ST口(圆口),智能实验仪的光纤接口则基本为ST口,现有的光纤测试线分为三类:LC-LC型;ST-ST型;ST-LC型。使用传统的光纤测试线存在以下三点不足:一、工作前需要准备多条不同类型的测试线;二、工作过程中经常需要更换不同类型的测试线,降低了工作效率;三、光纤接口较为脆弱,频繁插拔光纤测试线容易造成光纤接口的损坏。



技术实现要素:

为克服上述现有技术存在的不足,本实用新型的目的在于提供一种多接口光纤测试线,使用该测试线对二次设备进行调试或故障分析诊断时,可以只使用一种类型的测试线,减少光纤接口插拔次数,提高工作效率。

本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是:一种多接口光纤测试线,其特征是:包括第一ST光纤接头、第二ST光纤接头、LC光纤接头和连接器,所述的第一ST光纤接头、第二ST光纤接头和LC光纤接头通过连接器相连;所述的第二ST光纤接头和LC光纤接头并联后与第一ST光纤接头串联。

优选地,所述连接器包括Y型连接器,Y型连接器的单独一端与第一ST光纤接头相连,Y型连接器相邻的两端分别与第二ST光纤接头和LC光纤接头相连。

优选地,所述连接器包括壳体、进线口、第一出线口、第二出线口和熔接光纤分线的熔接管,熔接管设置在壳体内,进线口、第一出线口和第二出线口设置在壳体上,连接第一ST光纤接头的光纤穿过进线口与熔接管相连,连接第二ST光纤接头的光纤穿过第一出线口与熔接管相连,连接LC光纤接头的光纤穿过第二出线口与熔接管相连。

优选地,所述第一出线口与第二出线口的夹角在15°到30°之间。

优选地,在壳体内对应进线口、第一出线口和第二出线口的地方分别设置有固定件。

优选地,所述壳体包括盒体和盒盖,所述盒盖上设置有配合螺钉使用的通孔,所述盒体内部设置有用于与螺钉连接的连接柱。

本实用新型的有益效果是:本实用新型通过连接器将两个ST光纤接头和一个LC光纤接头整合在一起,在现场使用该光纤测试线对二次设备进行调试过程中,一般将第一ST光纤接头接于智能试验仪,第二ST光纤接头和LC光纤接头选择其一接于被试二次设备,这样试验时可以只使用一种类型的测试线,减少光纤接口插拔次数,降低光纤接口顺坏率,同时也提高了工作效率。

附图说明

图1是本实用新型的结构示意图;

图2是本实用新型所述连接器的一种实施例(第一出线口与第二出线口的夹角为15°)的结构示意图;

图3是本实用新型所述连接器的另一种实施例(第一出线口与第二出线口的夹角为30°)的结构示意图;

图中,1第一ST光纤接头、2第二ST光纤接头、3LC光纤接头、4连接器、41壳体、42进线口、43第一出线口、44第二出线口。

具体实施方式

为能清楚说明本方案的技术特点,下面通过具体实施方式,并结合其附图,对本实用新型进行详细阐述。下文的公开提供了许多不同的实施例或例子用来实现本实用新型的不同结构。为了简化本实用新型的公开,下文中对特定例子的部件和设置进行描述。此外,本实用新型可以在不同例子中重复参考数字和/或字母。这种重复是为了简化和清楚的目的,其本身不指示所讨论各种实施例和/或设置之间的关系。应当注意,在附图中所图示的部件不一定按比例绘制。本实用新型省略了对公知组件和处理技术及工艺的描述以避免不必要地限制本实用新型。

如图1至图3所示,本实用新型的一种多接口光纤测试线,它包括第一ST光纤接头1、第二ST光纤接头2、LC光纤接头3和连接器4,所述的第一ST光纤接头1、第二ST光纤接头2和LC光纤接头3通过连接器4相连;所述的第二ST光纤接头2和LC光纤接头3并联后与第一ST光纤接头1串联。

优选地,所述连接器4包括Y型连接器,Y型连接器的单独一端与第一ST光纤接头1相连,Y型连接器相邻的两端分别与第二ST光纤接头2和LC光纤接头3相连。

如图2和图3所示,本实用新型所述的连接器包括壳体41、进线口42、第一出线口43、第二出线口44和熔接光纤分线的熔接管(图中未示出),熔接管设置在壳体41内,进线口42、第一出线口43和第二出线口44设置在壳体41上,连接第一ST光纤接头的光纤穿过进线口与熔接管相连,连接第二ST光纤接头的光纤穿过第一出线口与熔接管相连,连接LC光纤接头的光纤穿过第二出线口与熔接管相连。

优选地,所述第一出线口与第二出线口的夹角在15°到30°之间,方便第二ST光纤接头和LC光纤接头选择其一接于被试二次设备。

优选地,在壳体内对应进线口、第一出线口和第二出线口的地方分别设置有固定件。固定件可采用螺钉或缠绕固定带钩将光纤进行固定。

优选地,所述壳体包括盒体和盒盖,所述盒盖上设置有配合螺钉使用的通孔,所述盒体内部设置有用于与螺钉连接的连接柱,方便连接器的拆卸,便于进行光纤熔接。

本实用新型主要由以下三部分组成:

(1)ST接口(第一ST光纤接头):该接口位于光纤测试线一端,使用时一般接于智能试验仪,由于现有智能实验仪基本为ST接口,当需要对不同接口的二次设备进行测试时,只需更换光纤测试线另一端接口,该接口无需频繁插拔,延长了光纤接口的使用寿命。

(2)ST/LC接口(第二ST光纤接头和LC光纤接头):该接口位于光纤测试线另一端,ST口、LC口属于并联关系,根据二次设备接口的不同选择对应的接口。

(3)Y型连接器:ST接口接于Y型连接器中较长的一条光纤上(Y型连接器的单独一端),ST/LC接口接于Y型连接器中较短的两条线上(Y型连接器相邻的两端)。为减小光信号在测试线中传输的损耗,同时考虑到插拔接头时的操作空间,将连接ST接口和ST/LC接口的光纤通过熔接管相连,ST/LC接口至Y型分叉点处的距离可设计为5cm,两条较短连接线在Y型分叉点处夹角为15°至30°。

本实用新型通过连接器将两个ST光纤接头和一个LC光纤接头整合在一起,在现场使用该光纤测试线对二次设备进行调试过程中,一般将第一ST光纤接头接于智能试验仪,第二ST光纤接头和LC光纤接头选择其一接于被试二次设备,这样试验时可以只使用一种类型的测试线,减少光纤接口插拔次数,降低光纤接口顺坏率,同时也提高了工作效率。为了为减小光信号在测试线中传输的损耗,还可以Y型光纤连接器进行优化设计。

以上所述只是本实用新型的优选实施方式,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本实用新型原理的前提下,还可以做出若干改进和润饰,这些改进和润饰也被视为本实用新型的保护范围。

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