用来处理薄膜的装置以及方法与流程

各实施例涉及一种用来处理薄膜的装置以及一种处理薄膜的方法。更具体而言，各实施例涉及一种用来处理薄膜的装置，其量测并显示薄膜的状态并使得能够确定薄膜的状态。

背景技术：

光学薄膜一般是指用于制造例如液晶显示器(liquidcrystaldisplay，lcd)等显示装置的薄膜，且光学薄膜的实例可包括偏光薄膜、扩散薄膜、反射薄膜、棱镜薄膜等。

作为一种光学薄膜的偏光薄膜是用于向液晶显示装置透射具有某一波长的光的光学元件。

在一般偏光薄膜中，偏光器保护薄膜(例如，三乙酰纤维素(triacetylcellulose，tac)薄膜)堆叠于可包含聚乙烯醇(polyvinylalcohol，pva)的偏光器的一个表面或两个表面上，且偏光器可具有在其中黏着剂层、离型薄膜、表面保护薄膜、功能涂层等堆叠于偏光器保护薄膜上的多层式结构。

此种多层式偏光薄膜一般制造成片形卷绕于滚筒上，且可根据用途切割并使用单独成片的偏光薄膜。

在制造偏光薄膜的一般制程中，以碘或颜料对pva薄膜进行染色，然后向pva薄膜添加硼酸，将碘或颜料联接至pva薄膜，并拉伸pva薄膜。

所述染色、联接及拉伸制程可分别或同时执行，且这些制程的次序可改变。

在完成所述染色、联接及拉伸制程之后，将所制备的偏光器干燥，并将例如tac等偏光器保护薄膜黏着至经干燥的偏光器的一个表面或两个表面以制备偏光板。

在一般光学薄膜中，示出光学薄膜的状态的标记在制造光学薄膜期间可被删除或改变，且使用者可能无法识别光学薄膜的状态或可能无法明确对应于标记的缺陷的位置。因此，可能必须对薄膜状态进行复验，此极为不方便。

此外，可能不容易根据薄膜的状态而明确指定在成品或半成品中的缺陷的存在，且在严苛的条件下对制造薄膜的制程进行控制以防止缺陷，此会降低薄膜制造制程的效率并增大薄膜的成本。

在韩国专利公开案第2016-12441号(发表于2016年2月3日，发明名称：光学薄膜的制备方法、由所述相同方法制备的光学构件及光学薄膜以及包含其的偏光板及液晶显示器)中揭示了现有技术。

技术实现要素：

技术挑战

各实施例是有关于一种用来处理薄膜的装置以及一种处理薄膜的方法，其量测、确定并显示所述薄膜的状态。

技术解决方案

所述实施例可通过提供一种用来处理薄膜的装置而达成，所述装置包括：状态量测构件，拍摄薄膜的图像；状态确定构件，基于由状态量测构件拍摄的薄膜的图像来确定薄膜的位置状态；以及状态显示构件，基于由状态确定构件所确定的薄膜的位置状态，根据薄膜的位置状态来显示标记。

状态量测构件可包括：光照射构件，向薄膜照射光；以及图像拍摄构件，接收被照射至薄膜的光并拍摄薄膜的图像。

光照射构件可照射与薄膜的宽度方向平行的线性光。

用来处理薄膜的装置可包括多个状态量测构件，且状态量测构件可沿薄膜的纵向方向对齐。

状态量测构件可包括：第一状态量测构件，在第一状态量测构件中，第一光照射构件设置于薄膜的第一侧上且第一图像拍摄构件设置于薄膜的第二侧上；以及第二状态量测构件，在第二状态量测构件中，第二光照射构件设置于薄膜的第二侧上且第二图像拍摄构件设置于薄膜的第一侧上。

状态显示构件可根据薄膜的位置状态而在薄膜的对应位置上显示标记。

状态显示构件可包括显示构件，显示构件通过对薄膜喷射墨水而显示薄膜的状态。

用来处理所述薄膜的装置可包括多个显示构件，且显示构件可沿所述薄膜的宽度方向对齐。

显示构件可通过喷射多个喷墨点而显示薄膜的状态。

状态显示构件可还包括：显示支撑构件，支撑显示构件；以及显示转移构件，连接至显示支撑构件并转移显示支撑构件。

显示转移构件可包括：升降转移构件，连接至显示支撑构件并对显示支撑构件进行升降；以及旋转转移构件，对显示支撑构件进行旋转。

状态确定构件可基于由状态量测构件所量测的薄膜的位置图像的灰度(gray)值是否处于参考灰度值范围内来确定薄膜的位置状态。

状态确定构件可基于以下中的至少一者来确定薄膜的位置状态：其中薄膜的灰度值超出参考灰度值范围的缺陷区域的区域大小；缺陷区域的不圆度值；缺陷区域的宽度；或缺陷区域的长度。

实施例可通过一种处理薄膜的方法而达成，所述方法包括：通过拍摄薄膜的图像来量测薄膜的状态；通过基于在薄膜的状态的量测中所量测的薄膜的图像对薄膜的位置状态进行分类来确定薄膜的状态；以及通过基于在薄膜的状态的确定中所确定的薄膜的位置状态而显示薄膜的位置状态的标记来显示薄膜的状态。

量测薄膜的状态可包括由沿薄膜的纵向方向对齐的多个状态量测构件拍摄薄膜的图像。

确定薄膜的状态可包括基于由量测所量测的薄膜的位置图像的灰度(gray)值是否处于参考灰度值范围内来确定薄膜的位置状态。

确定薄膜的状态可包括基于以下中的至少一者来确定薄膜的位置状态：其中薄膜的灰度值超出参考灰度值范围的缺陷区域的区域大小；缺陷区域的不圆度值；缺陷区域的宽度；或缺陷区域的长度。

显示薄膜的状态可包括根据薄膜的位置状态而在薄膜的对应位置上显示标记。

本发明的效果

用来处理薄膜的装置以及处理薄膜的方法量测薄膜的位置状态，并根据薄膜的所量测的状态在薄膜的对应地点上显示标记，此使得能够容易地检测薄膜的状态。

附图说明

图1说明根据实施例的用来处理薄膜的装置的透视图；

图2说明根据实施例的用来处理薄膜的装置的前视图；

图3说明根据实施例的用来处理薄膜的装置的平面图；

图4说明对在根据实施例用来处理薄膜的装置中所量测的薄膜的图像进行处理的制程；

图5说明在根据实施例用来处理薄膜的装置中所量测的薄膜的缺陷区域的区域大小；

图6说明在根据实施例用来处理薄膜的装置中所量测的薄膜的不圆度值；

图7说明在根据实施例用来处理薄膜的装置中所量测的缺陷区域的方向性；

图8说明在根据实施例用来处理薄膜的装置中所量测的缺陷区域的宽长比：

图9说明根据实施例的标记；

图10说明一种根据实施例的处理薄膜的方法。

具体实施方式

在下文中，将参照附图在以下更充分地阐述示例性实施例。在附图中，为说明清晰起见，可夸大各层及区的尺寸。

在本说明书通篇中定义了各种用语，且除如在以下阐述的在具体情况下给出的特定描述或使用的上下文中以外，任意特定用语的意义还将在此整个文件的上下文中进行理解。

图1说明根据实施例的用来处理薄膜的装置的透视图。图2说明根据实施例的用来处理薄膜的装置的前视图。图3说明根据实施例的用来处理薄膜的装置的平面图。

在实施方式中，参照图1至图3，根据实施例的用来处理薄膜的装置(1)可包括状态量测构件(100)、状态确定构件(200)以及状态显示构件(300)。用来处理薄膜的装置(1)可量测并确定薄膜(10)的状态，且可根据薄膜(10)的状态而在薄膜(10)的对应位置上显示标记(70)。

在实施方式中，薄膜(10)可为用于制造例如液晶显示器(liquidcrystaldisplay，lcd)等显示装置的光学薄膜。薄膜(10)的实例可包括偏光薄膜、扩散薄膜、反射薄膜或棱镜薄膜等。

举例而言，在被贴附至液晶显示面板之前，薄膜(10)可为用于液晶显示器的偏光薄膜。在本实施例中，状态量测构件(100)及状态确定构件(200)可各自量测及确定薄膜(10)的位置状态，且状态显示构件(300)可显示示出薄膜(10)的状态的标记(70)。因此，可在将薄膜(10)贴附至显示面板之前抑或甚至在将薄膜(10)贴附至显示面板之后轻易地检测出薄膜(10)的状态。

在实施方式中，当薄膜(10)被薄膜转移构件(30)的转移辊(31)转移至一个方向时，可由状态量测构件(100)对薄膜(10)进行量测，或当薄膜(10)处于薄膜转移构件(30)的转移辊(31)上的停止地点时，可由状态量测构件(100)对薄膜(10)进行量测。

在由状态量测构件(100)对薄膜(10)的状态进行量测时，薄膜(10)的可动性可根据薄膜(10)的种类、状态量测构件(100)的数目或规格等而变化。

状态量测构件(100)可在拍摄薄膜(10)的图像之后获得薄膜(10)的图像。在实施方式中，状态量测构件(100)可包括光照射构件(110)及图像拍摄构件(130)。将光照射至薄膜(10)，且拍摄自薄膜(10)透射或反射的光的图像以获得薄膜(10)的类比图像。

光照射构件(110)可将光照射至薄膜(10)。在实施方式中，光照射构件(110)可照射与薄膜(10)的宽度方向(在图3中，沿左右方向)平行的线性光，且可使图像拍摄构件(130)接收自薄膜(10)透射或反射的光以获得薄膜(10)的图像。

图像拍摄构件(130)可接收自光照射构件(110)照射至薄膜(10)的光，且可拍摄薄膜(10)的类比图像。举例而言，图像拍摄构件(130)可为照相机。

举例而言，图像拍摄构件(130)可为当薄膜(10)处于停止地点或缓慢移动时拍摄薄膜(10)的一个区域(area)的图像的区域照相机(areacamera)。举例而言，图像拍摄构件(130)可为拍摄来自高度移动的薄膜(10)的线性光的图像的线照相机(linecamera)。照相机的类型可根据薄膜(10)的可动性、自光照射构件(110)照射的光的类型等而变化。

在实施方式中，可包括多个状态量测构件(100)，且状态量测构件(100)可沿薄膜(10)的纵向方向(在图3中，沿上下方向)对齐。状态量测构件(100)可在多个地点处获得薄膜(10)的多个图像，以提高图像的准确性并防止为拍摄薄膜(10)的图像而停止薄膜转移或降低薄膜转移速度。在实施方式中，状态量测构件(100)可包括第一状态量测构件(150)及第二状态量测构件(170)，且薄膜(10)的状态可进行多次量测。

在第一状态量测构件(150)中，第一光照射构件(111)可设置于薄膜(10)的第一侧上(在图2中，设置于上侧上)，且第一图像拍摄构件(131)可设置于薄膜(10)的第二侧上(在图2中，设置于下侧上)。第一状态量测构件(150)可从自薄膜(10)的第一侧照射并透射过薄膜(10)的光而获得薄膜(10)的图像。

在第二状态量测构件(170)中，第二光照射构件(113)可设置于薄膜(10)的第二侧上(在图2中，设置于下侧上)，且第二图像拍摄构件(133)可设置于薄膜(10)的第一侧上(在图2中，设置于上侧上)。第二状态量测构件(170)可从自薄膜(10)的第二侧照射并透射过薄膜(10)的光而获得薄膜(10)的图像。

通过调整透射过薄膜(10)的光的方向、获得薄膜(10)的图像的位置等，可获得薄膜(10)的多个图像，并可将所获得的图像转移至状态确定构件(200)。状态确定构件(200)可基于多个图像数据而确定薄膜(10)的状态，并可对所述数据进行分类。

除了调整光照射构件(110)及图像拍摄构件(130)(相对于薄膜(10)的位置)以外，亦可通过调整自光照射构件(110)照射至薄膜(10)的光(相对于薄膜(10)的纵向方向的角度)、图像拍摄构件(130)的倾斜程度(相对于薄膜(10)的纵向方向或宽度方向)等而获得多个图像。

通过图像拍摄构件(130)获得薄膜(10)的图像的方法可根据薄膜(10)的类型、薄膜(10)的可动性等而变化，且除第一状态量测构件(150)及第二状态量测构件(170)以外，亦可添加第三状态量测构件、第四状态量测构件等。

举例而言，第三状态量测构件(190)可包括第三光照射构件(115)及第三图像拍摄构件(135)。第三光照射构件(115)可照射相对于薄膜(10)的纵向方向倾斜角度(θ)的光，且第三图像拍摄构件(135)可拍摄来自第三光照射构件(115)的光的图像，以获得以与第一状态量测构件及第二状态量测构件(150，170)不同的角度而拍摄的薄膜(10)的图像。

状态确定构件(200)可利用自状态量测构件(100)拍摄的薄膜(10)的图像而确定薄膜(10)的位置状态。

图4说明对在根据实施例用来处理薄膜的装置中所量测的薄膜的图像进行处理的制程。图5说明在根据实施例用来处理薄膜的装置中所量测的薄膜的缺陷区域的区域大小。

在实施方式中，参照图4以及图5，状态确定构件(200)可基于由状态量测构件(100)所量测的薄膜(10)的位置图像的灰度值是否处于参考灰度(gray)值范围内来确定薄膜(10)的位置状态。薄膜(10)的所确定的状态历史可储存于储存构件中，抑或可输出至输出构件(90)。

参照图4，状态确定构件(200)可将自状态量测构件(100)所量测的8位元类比图像划分成多个区域，并可将每一区域的灰度(gray)值数位化为介于0与255之间的数字。状态确定构件(200)可基于经数位化的灰阶是否处于参考灰度值范围内来确定每一区域的缺陷的存在。参考灰度值范围可基于量测历史记录而预先确定，抑或可设置为自状态量测构件(100)量测的平均值。

当某一区域的灰度值超出预先确定的参考灰度值范围时，可将所述区域视为缺陷区域。可基于缺陷区域(s)的区域大小、缺陷区域(s)的宽度、缺陷区域(s)的长度等而对薄膜(10)的状态进行分类。

参照图5，可基于被视为被检测的区域(area)的宽度(w)及长度(l)而将缺陷区域(s)的区域大小定义为区域大小＝(w+l)/2。

图6说明在根据实施例用来处理薄膜的装置中所量测的薄膜的不圆度值。图7说明在根据实施例用来处理薄膜的装置中所量测的缺陷区域的方向性。图8说明在根据实施例用来处理薄膜的装置中所量测的缺陷区域的作为方向性的宽长比。

参照图6至图8，除缺陷区域(s)的区域大小以外，亦可通过缺陷区域(s)的不圆度值而对薄膜(10)的位置状态进行分类。例如，对于缺陷区域(s)的低不圆度值，例如零(0)，缺陷区域(s)可被视为因刮痕而存在缺陷。

此外，缺陷区域(s)的斜率(参见图7)、缺陷区域(s)的宽长比(参见图8)以及灰度值差亦可被视为分类薄膜(10)的参考，以确定薄膜(10)的位置状态。

在实施方式中，状态显示构件(300)可根据由状态确定构件(200)所确定的薄膜(10)的位置状态在薄膜(10)的对应位置上显示标记(70)。

状态显示构件(300)通过根据薄膜(10)的位置状态显示与薄膜(10)的位置状态对应的标记(70)，使用者可轻易地检测薄膜(10)的位置状态。

在实施方式中，状态显示构件(300)可包括显示构件(310)。显示构件(310)可通过对薄膜(10)喷射墨水而显示薄膜(10)的位置状态。举例而言，显示构件(310)可沿薄膜(10)的宽度方向对齐。因此，可在不沿薄膜(10)的宽度方向转移显示构件(310)的情况下，通过显示构件(310)在对应位置处的操作而在对应位置上显示标记(70)。

可根据薄膜(10)的状态而以不同长度、区域、大小等来显示标记(70)，以使得操作者可在形成标记(70)后识别出薄膜(10)的状态。

在实施方式中，标记(70)可通过喷射多个喷墨点(71)而形成，且喷墨点(71)的数目、间距、排列等可根据区域的状态而变化。

举例而言，喷墨点(71)可被形成为0.3毫米至5.0毫米的大小，且喷墨点(71)的最小间距可为0.3毫米至5.0毫米，以使得使用者可用肉眼识别出喷墨点(71)。

喷墨点(71)的大小、间距等可根据以下而变化：薄膜(10)的大小；识别标记(70)的使用者或标记检测构件(400)的解析度；显示构件(310)的数目；显示构件(310)的大小等。

喷墨点(71)可显示于例如光学薄膜的载体薄膜或保护薄膜等薄膜以及薄膜(10)上，所述薄膜可在制造装置之后被移除而不干扰装置的制造。

在实施方式中，标记(70)可由被形成为多个行的喷墨点(71)显示。当标记(70)被形成为两行喷墨点(71)时，第一行可显示缺陷的类型且第二行可显示缺陷区域(s)的区域大小。

举例而言，显示于第一行上的一个点(71)可表明缺陷是由刮痕造成的，而显示于第一行上的二个点(71)可表明缺陷是由刺穿造成的。

显示于第二行上的点(71)的数目可表明缺陷区域(s)的区域大小。缺陷区域(s)的区域大小可通过在缺陷区域(s)的区域大小为大时在第二行上示出更多点(71)而显示。

在不同状态中的不同标记(70)亦可以多个点(71)的各种对齐方式或间距而显示。

在实施方式中，状态显示构件(300)可还包括显示支撑构件(330)及显示转移构件(350)。显示支撑构件(330)可连接至显示构件(310)且可支撑显示构件(310)。显示支撑构件(330)可沿薄膜(10)的宽度方向形成，且可支撑多个显示构件(310)。

显示转移构件(350)可连接至显示支撑构件(330)，且可转移显示支撑构件(330)。显示转移构件(350)可改变显示构件(310)显示于薄膜(10)上的标记(70)的位置，抑或可转移显示构件(310)用于修复或控制显示构件(310)。在实施方式中，显示转移构件(350)可包括升降转移构件(351)及旋转转移构件(353)。

升降转移构件(351)可连接至显示支撑构件(330)的端部，且可对显示支撑构件(330)进行升降。举例而言，升降转移构件(351)可利用液压缸或齿条齿轮传动装置来对显示支撑构件(330)进行升降，但亦可使用升降技术领域范围内的其他方法。

旋转转移构件(353)可旋转显示支撑构件(330)。举例而言，旋转转移构件(353)的旋转轴可连接至显示支撑构件(330)，且旋转转移构件(353)可包括产生旋转驱动力的装置(例如，马达)以旋转显示支撑构件(330)并可控制在薄膜(10)上显示标记(70)的位置。

在实施方式中，用来处理薄膜的装置(1)可还包括标记检测构件(400)。标记检测构件(400)可根据薄膜(10)的显示于状态显示构件(300)上的位置状态而读取标记(70)，且可确定薄膜(10)的将来使用或不使用。

举例而言，标记检测构件(400)可检测由条码机(50)显示于薄膜(10)上的条码及薄膜(10)的标记(70)，且基于标记(70)，标记检测构件(400)可判断对应于条码的薄膜(10)是具有缺陷的缺陷薄膜、不具有缺陷的正常薄膜、还是具有缺陷的正常薄膜。

被标记检测构件(400)确定为具有缺陷的薄膜(10)可在穿过面板贴附地点之后与虚设薄膜进行卷绕时与载体薄膜一起被舍弃。

被标记检测构件(400)确定为正常的薄膜(10)可贴附至面板，且可被制造成例如液晶显示器等显示装置。

图10说明一种根据实施例的处理薄膜的方法。将参照图10阐释根据实施例的处理薄膜的方法(s1)。

在实施方式中，处理薄膜的方法(s1)可包括：量测薄膜的状态(s100)、确定薄膜的状态(s200)以及显示薄膜的状态(s300)。

在量测薄膜的状态(s100)中，状态量测构件(100)可拍摄薄膜(10)的图像并获得薄膜(10)的图像。在量测薄膜的状态(s100)时，沿薄膜(10)的纵向方向对齐的多个状态量测构件(100)可拍摄薄膜(10)的图像，且可以多种方式在多个地点中获得薄膜(10)的图像。

在确定薄膜的状态(s200)中，可基于在量测薄膜的状态(s100)中所量测的图像对薄膜(10)的位置状态进行分类。在确定薄膜的状态(s200)时，薄膜(10)的位置状态可基于由量测(s100)所量测的薄膜(10)的位置图像的灰度值是否处于参考灰度值范围内来确定。

在显示薄膜的状态(s300)中，可基于在确定薄膜的状态(s200)中所确定的薄膜(10)的位置状态而于薄膜(10)上显示根据薄膜(10)的位置状态的标记(70)。在显示薄膜的状态(s300)时，根据薄膜(10)的位置状态的标记(70)可显示于薄膜(10)的对应位置上以显示薄膜(10)的状态。

处理薄膜的方法(s1)可还包括检测标记(s400)。在检测标记(s400)中，可自具有标记(70)的薄膜(10)检测出标记(70)且可识别出薄膜(10)的状态，此使得能够确定薄膜(10)的将来使用或不使用。

在根据实施例的用来处理薄膜的装置(1)以及处理薄膜的方法(s1)中，可量测薄膜(10)的位置状态，且可在对应位置上显示根据所量测的状态的标记(70)。因此，可轻易地检测薄膜(10)的状态。

本文中已揭示了各种示例性实施例，且尽管使用具体用语，但这些用语仅用于且被解释为通常意义及阐述性意义，而并非用以限制目的。在某些情形中，除非另外明确地指明，否则如在本申请案提出申请之前此项技术中具有技术人员所理解，结合一特定实施例所阐述的特征、特性、和/或元件可单独使用或与结合其他实施例所述的特征、特性、和/或元件组合使用。因此，本领域技术人员应理解，在不背离由下文权利要求所述的本发明的精神及范围的条件下，可作出各种形式及细节上的变化。

(符号的说明)

1：用来处理薄膜的装置

10：薄膜

30：薄膜转移构件

31：转移辊

50：条码机

70：标记

71：点/喷墨点

90：输出构件

100：状态量测构件

110：光照射构件

111：第一光照射构件

113：第二光照射构件

115：第三光照射构件

130：图像拍摄构件

131：第一图像拍摄构件

133：第二图像拍摄构件

135：第三图像拍摄构件

150：第一状态量测构件

170：第二状态量测构件

190：第三状态量测构件

200：状态确定构件

300：状态显示构件

310：显示构件

330：显示支撑构件

350：显示转移构件

351：升降转移构件

353：旋转转移构件

400：标记检测构件

s：缺陷区域