显示面板缺陷高度检测方法与流程

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示面板缺陷高度检测方法。

背景技术：

薄膜晶体管(thinfilmtransistor，tft)是目前液晶显示装置(liquidcrystaldisplay，lcd)和有源矩阵驱动式有机电致发光显示装置(activematrixorganiclight-emittingdiode，amoled)中的主要驱动元件，直接关系平板显示装置的显示性能。

现有市场上的液晶显示器大部分为背光型液晶显示器，其包括液晶显示面板及背光模组(backlightmodule)。液晶显示面板的工作原理是在薄膜晶体管阵列基板(thinfilmtransistorarraysubstrate，tftarraysubstrate)与彩色滤光片(colorfilter，cf)基板之间灌入液晶分子，并在两片基板上分别施加像素电压和公共电压，通过像素电压和公共电压之间形成的电场控制液晶分子的旋转方向，以将背光模组的光线透射出来产生画面。

oled器件通常包括：基板、设于基板上的阳极、设于阳极上的空穴注入层、设于空穴注入层上的空穴传输层、设于空穴传输层上的发光层、设于发光层上的电子传输层、设于电子传输层上的电子注入层及设于电子注入层上的阴极。oled器件的发光原理为半导体材料和有机发光材料在电场驱动下，通过载流子注入和复合导致发光。具体的，oled器件通常采用氧化铟锡(ito)电极和金属电极分别作为器件的阳极和阴极，在一定电压驱动下，电子和空穴分别从阴极和阳极注入到电子传输层和空穴传输层，电子和空穴分别经过电子传输层和空穴传输层迁移到发光层，并在发光层中相遇，形成激子并使发光分子激发，后者经过辐射弛豫而发出可见光。

在显示面板的生产过程中，工艺制程会不可避免的在显示面板上产生缺陷，后续需要对该缺陷进行修补。现有的缺陷判定逻辑均是基于2d的图像比对，即利用图像的颜色(灰阶)差异以及差异的面积大小进行判定。现有技术通过在显示面板的上方与下方分别设置反射ccd(电荷耦合器件)相机和透射ccd相机，通过反射ccd相机和透射ccd相机分别接收反射光讯号和透射光讯号，利用像素单元图形的重复性，比对若干像素单元重复的图形，判断是否每个像素单元的灰阶是否一致，判定当前的图像中是否存在缺陷。然而在lcd液晶盒厚(cellgap)减薄的工艺技术逐渐成熟以及oled多层蒸镀技术普及的趋势下，缺陷的高度越来越成为影响产品良率的关键，单纯以2d图像的灰阶差异判定缺陷的逻辑会造成小而高的缺陷漏判，无法满足良率的需求。

技术实现要素：

本发明的目的在于提供一种显示面板缺陷高度检测方法，可以避免漏检漏修高度异常的缺陷。

为实现上述目的，本发明提供了一种显示面板缺陷高度检测方法，包括如下步骤：

步骤s1、将显示面板设于白光干涉系统的下方；

步骤s2、该白光干涉系统获取所述显示面板的缺陷；

步骤s3、该白光干涉系统利用白光干涉成像对显示面板中的缺陷进行高度检测；当白光干涉系统形成干涉条纹，则判定显示面板中的缺陷的高度大于或等于预设阈值，当白光干涉系统未形成干涉条纹，则判定显示面板中的缺陷的高度小于预设阈值。

所述白光干涉系统包括：光源、设于所述光源一侧的折射透镜组、设于所述折射透镜组上方的摄像部、设于所述折射透镜组下方的反射镜、设于所述反射镜下方的半透镜；

所述步骤s3具体为：所述光源发出的入射光经过折射透镜组折射到半透镜上时，该入射光分为反射光线与透射光线，反射光线射向反射镜后反射至半透镜，再经半透镜反射至折射透镜组，再经折射透镜组折射至摄像部，透射光线射向显示面板中的缺陷后反射至半透镜，再经半透镜透射至折射透镜组，再经折射透镜组折射至摄像部；

当透射光线到达摄像部的光程等于反射光线到达摄像部的光程时，摄像部会形成干涉条纹，则判定显示面板中的缺陷的高度大于或等于预设阈值；当透射光线到达摄像部的光程大于反射光线到达摄像部的光程时，摄像部无法形成干涉条纹，则判定显示面板中的缺陷的高度小于预设阈值。

所述白光干涉系统还包括与反射镜连接的调节单元，该调节单元用于调节反射镜与半透镜之间预设的距离。

所述调节单元为压电陶瓷。

所述反射镜与半透镜之间预设的距离等于预设阈值的高度的缺陷与半透镜之间的距离。

所述反射镜的长度小于所述半透镜的长度。

所述折射透镜组包括相互平行的第一折射透镜和第二折射透镜，以及设于所述第一折射透镜和第二折射透镜之间的光反射片。

所述光反射片相对于第二折射透镜倾斜，且所述光反射片与光源发出的入射光的入射方向形成预设角度。

所述预设角度为45°。

所述步骤s2具体为：所述白光干涉系统获取显示面板中多个同一颜色的子像素单元的灰阶图像，当一子像素单元的灰阶与预设灰阶相同时，则判定该子像素单元不存在缺陷，当一子像素单元的灰阶与预设灰阶不相同时，则判定该子像素单元存在缺陷。

本发明的有益效果：本发明的显示面板缺陷高度检测方法，将显示面板设于白光干涉系统的下方；该白光干涉系统获取所述显示面板的缺陷；该白光干涉系统利用白光干涉成像对显示面板中的缺陷进行高度检测；当白光干涉系统形成干涉条纹，则判定显示面板中的缺陷的高度大于或等于预设阈值，当白光干涉系统未形成干涉条纹，则判定显示面板中的缺陷的高度小于预设阈值，可以避免漏检漏修高度异常的缺陷，提高工艺制程良率。

附图说明

为了能更进一步了解本发明的特征以及技术内容，请参阅以下有关本发明的详细说明与附图，然而附图仅提供参考与说明用，并非用来对本发明加以限制。

附图中，

图1为本发明的显示面板缺陷高度检测方法的流程图；

图2为本发明的显示面板缺陷高度检测方法的步骤s2的示意图；

图3为本发明的显示面板缺陷高度检测方法的步骤s3的示意图。

具体实施方式

为更进一步阐述本发明所采取的技术手段及其效果，以下结合本发明的优选实施例及其附图进行详细描述。

请参阅图1至图3，本发明提供一种显示面板缺陷高度检测方法，包括如下步骤：

步骤s1、将显示面板10设于白光干涉系统20的下方；

步骤s2、该白光干涉系统20获取所述显示面板10的缺陷11；

步骤s3、该白光干涉系统20利用白光干涉成像对显示面板10中的缺陷11进行高度检测；当白光干涉系统20形成干涉条纹，则判定显示面板10中的缺陷11的高度大于或等于预设阈值，当白光干涉系统20未形成干涉条纹，则判定显示面板10中的缺陷11的高度小于预设阈值。

具体的，所述白光干涉系统20包括：光源21、设于所述光源21一侧的折射透镜组22、设于所述折射透镜组22上方的摄像部23、设于所述折射透镜组22下方的反射镜24、设于所述反射镜24下方的半透镜25；

请参阅图3，所述步骤s3具体为：所述光源21发出的入射光211经过折射透镜组22折射到半透镜25上时，该入射光211分为反射光线212与透射光线213，反射光线212射向反射镜24后反射至半透镜25，再经半透镜25反射至折射透镜组22，再经折射透镜组22折射至摄像部23，透射光线213射向显示面板10中的缺陷11后反射至半透镜25，再经半透镜25透射至折射透镜组22，再经折射透镜组22折射至摄像部23；当透射光线213到达摄像部23的光程等于反射光线212到达摄像部23的光程时，摄像部23会形成明显的干涉条纹，则判定显示面板10中的缺陷11的高度大于或等于预设阈值，即检测到显示面板10上高度异常的缺陷11；当透射光线213到达摄像部23的光程大于反射光线212到达摄像部23的光程时，摄像部23无法形成明显的干涉条纹，则判定显示面板10中的缺陷11的高度小于预设阈值，即检测到显示面板10上高度正常的缺陷11。

具体的，所述白光干涉系统20还包括与反射镜24连接的调节单元26，该调节单元26用于调节反射镜24与半透镜25之间预设的距离。

进一步的，所述调节单元26为压电陶瓷。

进一步的，所述反射镜24与半透镜25之间预设的距离等于预设阈值的高度的缺陷11与半透镜25之间的距离。

需要说明的是，当缺陷11的高度小于预设阈值时，不论透射光线213射向缺陷11的任意位置后反射，该透射光线213到达摄像部23的光程总是会大于反射光线212到达摄像部23的光程；当缺陷11的高度大于或等于预设阈值时，透射光线213射向缺陷11的任意位置后反射，总会有一个位置会使透射光线213到达摄像部23的光程等于反射光线212到达摄像部23的光程，因此，当摄像部23无法形成明显的干涉条纹时，可以判定缺陷11的高度小于预设阈值，检测出高度正常的缺陷11；当摄像部23形成明显的干涉条纹时，可以判定缺陷11的高度大于或等于预设阈值，检测出高度异常的缺陷11，避免漏检漏修高度异常的缺陷11，提高工艺制程良率，尤其针对lcd对组良率以及oled的多层蒸镀良率。

具体的，所述反射镜24的长度小于所述半透镜25的长度。

具体的，所述摄像部23为ccd相机。

具体的，所述折射透镜组22包括相互平行的第一折射透镜221和第二折射透镜222，以及设于所述第一折射透镜221和第二折射透镜222之间的光反射片223。

进一步的，所述光反射片223相对于第二折射透镜222倾斜，且所述光反射片223与光源21发出的入射光211的入射方向形成预设角度。

进一步的，所述预设角度为45°，以使入射光211垂直入射至第二折射透镜222。即入射光211经光反射片223入射至第二折射透镜222，然后反射光线212与透射光线213均经过第二折射透镜222射向第一折射透镜221，通过第一折射透镜221折射至摄像部23。

具体的，请参阅图2，所述步骤s2具体为：所述白光干涉系统20获取显示面板10中多个同一颜色的子像素单元12的灰阶图像，当一子像素单元12的灰阶与预设灰阶相同时，则判定该子像素单元12不存在缺陷11，当一子像素单元12的灰阶与预设灰阶不相同时，则判定该子像素单元12存在缺陷11。

进一步的，所述子像素单元12为红色子像素、绿色子像素或蓝色子像素。

综上所述，本发明的显示面板缺陷高度检测方法，将显示面板设于白光干涉系统的下方；该白光干涉系统获取所述显示面板的缺陷；该白光干涉系统利用白光干涉成像对显示面板中的缺陷进行高度检测；当白光干涉系统形成干涉条纹，则判定显示面板中的缺陷的高度大于或等于预设阈值，当白光干涉系统未形成干涉条纹，则判定显示面板中的缺陷的高度小于预设阈值，可以避免漏检漏修高度异常的缺陷，提高工艺制程良率。

以上所述，对于本领域的普通技术人员来说，可以根据本发明的技术方案和技术构思作出其他各种相应的改变和变形，而所有这些改变和变形都应属于本发明权利要求的保护范围。