技术特征：
技术总结
本发明公开LCM、TP一体测试机，将LCM测试机、TP测试机集成在一起，实施共地处理，以消除分开测试时LCM的零参考电势与TP的零参考电势存在差异引发的性能检测偏差问题，从而提高检测的正确性；LCM、TP测试可同步进行，可提高检测效率，还可由同一人进行，节省人力的投入，降低测试成本。
技术研发人员：姚清菊;黄玮;刘俊为;刘雄杰;陆建树;李志敏;庞真华;李月娥;莫妮;叶小翠;李彬
受保护的技术使用者：广西天山电子股份有限公司
技术研发日：2019.04.18
技术公布日：2019.06.07