基于arm 处理器控制的lcm 测试装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种基于ARM处理器控制的LCM测试装置。
【背景技术】
[0002]IXD以及其他液晶显示屏产品变得越来越轻薄、消耗能源低、辐射小、屏幕图像显示清晰，因此被人们广泛采用。而液晶模组是液晶显示产品的主要组件，它包含着液晶面板和背光灯等元件，伴随着电气元件的生产普遍采用流水线式机械加工，因此液晶模组的测试已经成为显示屏生产中一项重要的任务。不同规格的显示屏需要不同的电流参数和电压参数来支持显示屏的正常工作。现有技术中关于LCM的测试装置功能单一，值能对LCM的一项数据指标进行测试，并且测试方法繁琐。
【发明内容】
[0003]根据现有技术存在的问题，本发明公开了一种基于ARM处理器控制的LCM测试装置，包括电源转换电路和测试控制电路，所述测试控制电路与待测液晶模组相连接，所述电源转换电路上设置有多个外部接口电路，所述电源转换电路上连接有电压调节模块，所述电源转换电路通过电压调节模块与测试控制电路相连接。
[0004]所述测试控制电路包括ARM处理器和存储器，所述存储器内存储有应用程序和处理数据信息以及图形数据信息，所述ARM处理器与存储器相连接、将存储器内部的程序和图像信息加载进行LCM测试。
[0005]该系统还包括用于对测试结果进行数据显示的显示电路。
[0006]本发明公开的基于ARM处理器控制的LCM测试装置，利用测试控制电路与待测液晶模组相连接，首先进行电压转换，将电压值调整到合适待测液晶模组工作的电压范围，然后利用ARM处理器驱动存储器内部的程序和图像信息进行LCM测试，并将测试的图形信息和数据信息显示在显示电路上。
【附图说明】
[0007]为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请中记载的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0008]图1为本发明的结构示意图。
【具体实施方式】
[0009]为使本发明的技术方案和优点更加清楚,下面结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚完整的描述:
[0010]如图1所示的基于ARM处理器控制的LCM测试装置，包括电源转换电路和测试控制电路，所述测试控制电路与待测液晶模组相连接，所述电源转换电路上设置有多个外部接口电路，所述电源转换电路上连接有电压调节模块，所述电源转换电路通过电压调节模块与测试控制电路相连接。通过外部接口电路与其他外围电路相连接。接口可以是RS232接口等串行接口。
[0011]所述测试控制电路包括ARM处理器和存储器，所述存储器内存储有应用程序和处理数据信息以及图形数据信息，所述ARM处理器与存储器相连接、将存储器内部的程序和图像信息加载进行LCM测试。
[0012]该系统还包括用于对测试结果进行数据显示的显示电路。
[0013]以上所述，仅为本发明较佳的【具体实施方式】，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本发明的保护范围之内。
【主权项】
1.一种基于ARM处理器控制的LCM测试装置，其特征在于:包括电源转换电路和测试控制电路，所述测试控制电路与待测液晶模组相连接，所述电源转换电路上设置有多个外部接口电路，所述电源转换电路上连接有电压调节模块，所述电源转换电路通过电压调节模块与测试控制电路相连接。
2.根据权利要求1所述的基于ARM处理器控制的LCM测试装置，其特征还在于:所述测试控制电路包括ARM处理器和存储器，所述存储器内存储有应用程序和处理数据信息以及图形数据信息，所述ARM处理器与存储器相连接、将存储器内部的程序和图像信息加载进行LCM测试。
3.根据权利要求1所述的基于ARM处理器控制的LCM测试装置，其特征还在于:该系统还包括用于对测试结果进行数据显示的显示电路。
【专利摘要】本发明公开了一种基于ARM处理器控制的LCM测试装置，包括电源转换电路和测试控制电路，所述测试控制电路与待测液晶模组相连接，所述电源转换电路上设置有多个外部接口电路，所述电源转换电路上连接有电压调节模块，所述电源转换电路通过电压调节模块与测试控制电路相连接。本发明公开的基于ARM处理器控制的LCM测试装置，利用测试控制电路与待测液晶模组相连接，首先进行电压转换，将电压值调整到合适待测液晶模组工作的电压范围，然后利用ARM处理器驱动存储器内部的程序和图像信息进行LCM测试，并将测试的图形信息和数据信息显示在显示电路上。
【IPC分类】G02F1-13
【公开号】CN104698617
【申请号】CN201310666255
【发明人】高鹏
【申请人】大连龙宁科技有限公司
【公开日】2015年6月10日
【申请日】2013年12月6日