一种超声成像梯度声阻抗匹配层结构及方法与流程

文档序号:44896894发布日期:2026-03-13 22:56阅读:6来源:国知局
技术简介:
本发明针对超声成像中多层结构声阻抗差异大导致强反射、传统匹配层无法宽频适配的问题,提出梯度声阻抗匹配层结构。通过二维周期性排列的二元复合单元,调控材料属性与结构参数,实现声阻抗沿传输方向连续梯度变化,解决宽频带能量传输与复杂曲面适配难题。
关键词:梯度声阻抗匹配层,宽频超声成像

本发明属于超声成像,具体地涉及一种超声成像梯度声阻抗匹配层结构及方法。


背景技术:

1、超声成像是无损检测领域的核心技术之一,凭借其对结构内部缺陷的高灵敏度识别、无辐射污染及实时成像优势,在航空航天、核电装备、海洋工程等高端制造领域具有不可替代的应用价值。近年来,随着工业装备向大型化、复杂化、长寿命化发展,对多层异质结构(如金属-介质复合结构、涂层-基体复合结构等)的无损检测需求日益迫切,要求超声成像技术能够实现深层缺陷的精准定位与量化表征。

2、然而,现有超声成像技术在实际应用中面临两大核心技术瓶颈:其一,多层复杂结构中不同介质的声阻抗差异显著(如金属与水的声阻抗比值可达数十倍),导致超声波在介质界面处发生强烈反射,仅有不足10%的超声能量能够穿透至检测区域内部,严重限制了超声能量的有效聚焦与深层结构的成像清晰度;其二,服役过程中结构外层的腐蚀、磨损等会导致其厚度产生非均匀变化,进一步加剧声阻抗失配程度,使得超声穿透效率大幅下降,检测精度难以满足工程需求。

3、为解决上述问题,现有技术中主要采用单一或多层均匀声阻抗匹配层进行阻抗过渡,但此类方案存在固有缺陷:一方面,均匀匹配层的声阻抗值固定,仅能在特定频率下实现阻抗匹配,无法满足宽频带超声成像的需求;另一方面,传统匹配层依赖特定声阻抗的均质材料,而此类材料的制备工艺复杂、成本高昂,且难以适配曲面或变厚度的异质结构界面,导致其应用场景受到严重限制。因此,开发一种能够实现宽频带传输、适配复杂界面且制备可行性高的梯度声阻抗匹配层结构,成为突破现有超声成像技术瓶颈的关键。


技术实现思路

1、本发明的目的在于针对背景技术中存在的问题,提出一种超声成像梯度声阻抗匹配层结构及方法,实现超声的高效宽带传输。

2、为了解决上述技术问题,本发明通过如下方案实现:

3、一种超声成像梯度声阻抗匹配层结构,包括若干个梯度阻抗单元;各所述梯度阻抗单元沿 x方向和 y方向呈二维周期性阵列排布,超声波沿 z方向传输;其中,(0-xyz)构成三维直角坐标系。

4、所述梯度阻抗单元为二元复合结构,包括沿y方向上下分布、且相互复合的结构1和结构2;所述结构1和结构2由不同的材料制成;结构1对应材料的声阻抗 z材1 =ρ¹ v1,结构2对应材料的声阻抗 z材2 =ρ² v 2,其中 ρ¹为结构1对应材料的密度, v1为结构1对应材料的声速, ρ²为结构2对应材料的密度, v2为结构2对应材料的声速。

5、通过调控所述梯度阻抗单元的结构参数,如材料1与材料2的属性、结构1与结构2的复合比例,使所述梯度阻抗单元沿z方向形成连续梯度变化的等效声阻抗分布,实现宽频带超声能量传输;

6、针对含曲面的任意阻抗失配界面,通过调控所述梯度阻抗单元的二维周期性排列形态(包括阵列排布密度、单元轮廓适配性),实现超声能量的精准匹配。

7、进一步优化,所述梯度阻抗单元,垂直于z方向的截面为正方形,截面的边长为 a;

8、相邻梯度阻抗单元之间呈紧密贴合状态;

9、同一个梯度阻抗单元的结构1与所述结构2之间呈紧密贴合状态;

10、所述紧密贴合为二者无缝隙且无夹层。

11、进一步优化,所述结构1和结构2的复合面在y-z平面上的曲线方程满足:

12、 y=kz²,其中, y为结构2沿 y方向的尺寸参数, z为结构2沿 z方向的尺寸参数, k为常数, k≠a。

13、进一步优化,所述梯度阻抗单元沿z方向的厚度 l满足: l=2 v eff/ f c,其中 v eff为梯度阻抗单元的等效声速, f c为超声波的中心频率。

14、进一步优化,梯度阻抗单元截面边长满足: a≤ v eff/ fmax;其中, v eff为梯度阻抗单元的等效声速, fmax为超声波的最大工作频率。

15、进一步优化,梯度阻抗单元的等效声阻抗 z eff、等效速度 v eff表示为:

16、(1);

17、        (2);

18、    (3);

19、其中,和分别表示结构2与结构1的弹性系数,i、j均为1或2,代表弹性系数的张量下标;n=s1/s2表示结构1相对于梯度阻抗单元的体积比,s1为结构1的垂直于z方向的截面积,s2为梯度阻抗单元的垂直于z方向的截面积,恒为a²;ρ¹为结构1对应材料的密度,ρ²为结构2对应材料的密度。

20、基于上述结构的任意曲面的阻抗匹配方法,包括以下步骤:

21、步骤1:获取待匹配界面的核心参数:

22、通过超声测厚仪测量界面两侧介质的声阻抗z介1、z介2,通过激光轮廓仪测量界面的曲面形态参数,所述曲面形态参数包括曲面曲率半径r、曲面在 x方向和 y方向的延伸范围;

23、步骤2:设计梯度阻抗单元的材料与体积占比:

24、根据步骤1中z介1与z介2的差值,选择对应的材料1和材料2,使z材1与z材2的差值覆盖z介1与z介2的差值;通过公式(1)~(3)计算体积占比 n的调节范围,使梯度阻抗单元的等效声阻抗zeff沿 z方向形成连续梯度,且梯度范围覆盖z介1与z介2;

25、步骤3:确定梯度阻抗单元的几何参数:

26、根据超声波的中心频率 f c和最大工作频率 fmax,结合公式: l=2 v eff/ f c计算单元厚度l,结合公式 a≤ v eff/ fmax确定单元截面边长 a;根据步骤1中界面的曲面曲率半径r,调整结构1和结构2的复合曲面在y-z平面上的曲线方程中的常数 k,使结构2的轮廓与待匹配界面的局部曲率适配;

27、步骤s4:构建匹配层阵列:

28、将步骤2~3设计的梯度阻抗单元沿 x方向和 y方向排布,根据步骤1中曲面的延伸范围确定阵列总尺寸;对于曲面曲率变化区域,按曲率增大比例减小单元排布间距,使阵列整体轮廓与待匹配界面的贴合度≥90%;

29、步骤s5:验证与微调:

30、将构建的匹配层贴合于待匹配界面,采用超声功率计测试超声波在 f c至 fmax频段内的传输效率;若传输效率低于预设阈值,则微调体积占比 n或单元排布间距,直至所有频段的传输效率均达到预设阈值以上。

31、进一步优化,步骤1中所述超声测厚仪的测量精度≤0.01mm,所述激光轮廓仪的曲率测量精度≤0.1mm。

32、进一步优化,步骤5中所述预设阈值为40%,且微调时体积占比 n的调整幅度为±0.05~±0.1,单元排布间距的调整幅度为±0.02mm~±0.05mm。

33、进一步优化,步骤2中所述体积占比n的调节范围为0.3~0.8,且n沿z方向的变化率为0.1~0.2/mm,确保等效声阻抗zeff沿z方向的梯度变化连续无突变。

34、进一步优化,步骤4中所述单元排布间距的减小比例与曲率增大比例的比值为1:1,即曲面曲率半径每减小10mm,单元排布间距对应减小0.04mm~0.08mm。

35、进一步优化,步骤5中所述宽频带的频率范围为2mhz~15mhz,且在该频段内的传输效率波动幅度≤5%。

36、与现有技术相比,本发明具有如下有益的技术效果:

37、1、通过并联一定数目的梯度阻抗单元可以实现对任意曲面的阻抗匹配,实现可定制化。

38、2、通过改变结构1与结构2的材料属性,可以在声传播方向上实现抛物线形式变化的特定阻抗曲线,一定程度上解决了超声的衰减问题。

39、3、本发明解决了传统匹超声配层制作中,特定声阻抗材料制作困难的问题,通过构建沿声传输方向的连续梯度声阻抗分布,大幅减弱超声波在阻抗失配界面的反射损耗,超声能量传输效率较传统匹配层提升,可覆盖宽频率范围的超声成像需求,适配不同频率的超声换能器。

40、4、通过调整单元曲面参数k和阵列排布密度,可适配平面、圆柱形曲面、不规则腐蚀曲面等任意阻抗失配界面,解决现有方案仅适配固定界面的局限性。

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