专利名称：日光灯老化测试架的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种老化测试架，特别涉及一种日光灯老化测试架。
背景技术：
灯具在生产过程中要对灯具的元器件进行老化测试，以保证灯具的质量，现有市面上日光灯老化测试架，体积大重量重，不用时放在那里很占用空间，搬动起来也很费力， 同时对于不同长度的日光灯测试，调节起来很不方便。
发明内容为了克服上述缺陷，本实用新型提供了一种日光灯老化测架，具有结构简单，体积小，易存放不过多占空间的特点，同时还能根据需要一次测试多个日光灯，节约时间。实用新型为了解决其技术问题所采用的技术方案是一种日光灯老化测试架，包括多个架体，固定架，架体的一侧开设一导线槽，导线槽内安装有导线，与导线槽同侧的架体壁上设有与导线槽相通的多个日光灯测试槽，导线槽底部和日光灯测试槽底部相对齐平，固定架设有若干层，固定架每层上都活动安装有可调节位置的架体。作为本实用新型的进一步改进，架体安装在固定架上的结构是固定架每层的两侧边上分别设有平行的滑轨，架体两端活动定位在固定架每层两侧滑轨中，架体两端在固定架每层滑轨中沿滑轨方向同步移动。作为本实用新型的进一步改进，滑轨中设有用于调节架体位置的螺丝。作为本实用新型的进一步改进，架体是长方体。作为本实用新型的进一步改进，导线安装在导线槽底部。作为本实用新型的进一步改进，日光灯测试槽是1至20个。本实用新型的有益效果是结构包括架体、导线槽、导线和日光灯测试槽的日光灯老化测试架，由于结构简单，可以随身携带，不用时可以收起来，不会占用过多空间，对于不同长度的日光灯可以任意调节；且日光灯架体可以是任意形体，增加了日光灯的美感；同时可根据需要开设若干个日光灯角测试槽，一次可测试多个日光灯，节省时间和操作步骤。
图1为本实用新型结构示意图；图2为图1的A处放大图；图3为本实用新型架体的俯视图；图4为本实用新型架体的主视图。
具体实施方式
为了加深对本实用新型的理解，下面将结合实施例和附图对本实用新型作进一步详述，该实施例仅用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型保护范围的限定。[0016] 如图1至图3所示的一种日光灯老化架，包括多个架体1，固定架6，架体1的一侧开设导线槽3，导线槽3内安装有导线4，与导线槽3同侧的架体壁2上设有与导线槽3相通的多个日光灯测试槽5，方便日光灯的灯角直接与导线4接触，同时导线槽3底部和日光灯测试槽5底部相对齐平可以使日光灯灯角和导线4很好的接触，提高测试的准确度，固定架6设有若干层，固定架6每层上都活动安装有可调节位置的架体1，架体安装在所述固定架上的结构是固定架6每层的两侧边上分别设有平行的滑轨7，架体1两端活动定位在固定架每层两侧滑轨7中，架体1两端在固定架每层滑轨7中沿滑轨7方向同步移动，可根据日光灯的长度调节架体1之间的距离，滑轨7中设有用于调节架体1位置的螺丝8，用于固定架体1，其中架体1是长方体，可以减少存放时所占的空间，导线4安装在导线槽3底部使导线4相对固定，易于测试，日光灯测试槽5是广20个，这样老化架不会过长，方便携带。
权利要求1.一种日光灯老化测试架，包括多个架体(1)，固定架(6)，其特征在于所述架体(1) 的一侧开设一导线槽(3)，所述导线槽(3)内安装有导线(4)，与所述导线槽(3)同侧的架体壁(2)上设有与导线槽(3)相通的多个日光灯测试槽(5)，所述日光灯测试槽(5)底部与导线槽(3)相对齐平，所述固定架(6)设有若干层，固定架(6)每层上都活动安装有可调节位置的架体(1)。
2.根据权利要求1所述的日光灯老化测试架，其特征在于所述架体(1)安装在所述固定架(6)上的结构是所述固定架(6)每层的两侧边上分别设有平行的滑轨(7)，所述架体 (1)两端活动定位在固定架每层两侧滑轨(7)中，所述架体(1)两端在固定架每层滑轨(7) 中沿滑轨(7)方向同步移动。
3.根据权利要求1或2所述的日光灯老化测试架，其特征在于所述滑轨(7)中设有用于调节架体(1)位置的螺丝(8)。
4.根据权利要求1或2所述的日光灯老化测试架，其特征在于所述架体(1)是长方体。
5.根据权利要求1所述的日光灯老化测试架，其特征在于所述导线(4)安装在导线槽 (3)底部。
6.根据权利要求1所述的日光灯老化测试架，其特征在于所述日光灯测试槽(5)是1 至20个。
专利摘要本实用新型公开了一种日光灯老化测试架，包括多个架体，固定架，架体的一侧开设导线槽，导线槽内安装有导线，导线槽一侧的架体壁上设有与导线槽相通的日光灯测试槽，导线槽底部和日光灯测试槽底部相对齐平，固定架设有若干层，固定架每层上都活动安装有可调节位置的架体，日光灯老化测试架结构简单，可以随身携带，不用时可以收起来，不会占用过多空间，对于不同长度的日光灯可以任意调节，同时可根据需要开设若干个日光灯角测试槽，一次可测试多个日光灯，节省时间和操作步骤。
文档编号H01J9/44GK202025705SQ201120105659
公开日2011年11月2日 申请日期2011年4月12日 优先权日2011年4月12日
发明者祝德涛 申请人:昆山英睿电子科技有限公司