测量设备、斜切组件及使工具的光学测量装置归零的方法与流程

技术特征：

技术总结
描述了测量设备、斜切组件及使工具的光学测量装置归零的方法。该测量设备可以包括应用于工件的工具、工具的进给路径中的光学测量装置，以及控制器。当工件朝向工具经过进给路径时，光学测量装置可以生成表示工件的位移的位移测量。控制器可以基于多个位移测量生成工件的测量。

技术研发人员：布赖恩·托得·雷泽;科迪·莱尔·迈尔
受保护的技术使用者：西尔品牌有限公司
技术研发日：2016.12.15
技术公布日：2017.07.07