本发明涉及轧制技术领域，特别涉及一种精轧机入口导卫标高控制方法。
背景技术：
精轧机在轧制薄规格时，最重要的环节是头部穿带稳定性。在头部穿带过程中，带钢较薄、速度较快，在后段机架很容易出现头部飞翘现象，导致头部折叠或者下游机架无法正常咬入，一般以F5或F6机架最常见。
精轧机入口导卫高度调节对带钢咬入时的稳定性影响极大，如果带钢咬入轧辊时，在变形区瞬间呈现出不对称咬入状态，将产生异步轧制原理，带钢会因此产生叩头或者翘头趋势。在生产实际过程中，如果本机架出现明显的翘头趋势，其上游机架一般呈现出叩头趋势，反之亦然。
现有技术中的精轧过程在更换支撑辊或工作辊后，轧机轧制线标高会产生变化，导致后段机架容易出现头部飞翘现象，进而导致头部折叠或者下游机架无法正常咬入。
技术实现要素：
本发明提供了一种精轧机入口导卫标高控制方法，解决了或部分解决了现有技术中精轧过程在更换支撑辊或工作辊后，轧机轧制线标高会产生变化，导致后段机架容易出现头部飞翘现象的技术问题。
本申请提供了一种精轧机入口导卫标高控制方法，包括以下步骤：
计算机架的相对轧制线标高的初始值P；
当所述机架的轧制线标高变化后，
根据所述机架的相对轧制线标高的初始值P与所述机架的相对轧制线标高的变化值P1确定所述机架的标高变化量△P，
测量入口导卫的极限位置标高S，
根据所述极限位置标高S及入口导卫的要求标高确定所述入口导卫的标高调整量△S；
根据所述机架的标高变化量△P与所述入口导卫的标高调整量△S确定标高调节装置的调整量△h2；
所述标高调节装置根据所述调整量△h2调整所述入口导卫的高度。
作为优选，所述机架的相对轧制线标高的初始值P＝B/2+D+H-δ，其中所述B为所述机架的下支承辊直径，单位mm；所述D为所述机架的下工作辊的直径，单位mm；H为所述机架的下阶梯垫的厚度，单位mm；所述δ为轧机常数。
作为优选，当所述机架为F1机架、F2机架、F3机架时，所述δ为710mm，当所述机架为F4机架、F5机架、F6机架时，所述δ为620mm。
作为优选，所述测量入口导卫的极限位置标高S，包括：
通过所述标高调节装置将所述机架的入口导卫降低至下限位置；
通过水平尺测量所述入口导卫的极限位置标高S。
作为优选，所述通过水平尺测量所述入口导卫的极限位置标高S，包括：
控制所述水平尺的一端放置于所述机架的下工作辊侧，所述水平尺与所述机架的下工作辊面共面；
测量所述入口导卫距离所述水平尺的最小垂直距离，所述最小垂直距离即为所述极限位置标高S。
作为优选，所述根据所述机架的相对轧制线标高的初始值P与所述机架的相对轧制线标高的变化值P1确定所述机架的标高变化量△P，具体包括：
根据公式△P＝P1-P计算得到所述机架的标高变化量△P。
作为优选，所述根据所述极限位置标高S及入口导卫的要求标高确定所述入口导卫的标高调整量△S，具体包括：
所述标高调整量△S＝S-K，所述K为所述入口导卫的要求标高，所述K取值为10～20mm。
作为优选，
所述机架为精轧机的所述F1机架、所述F2机架、所述F3机架时，所述K取值为10～20mm；
所述机架为精轧机的所述F4机架、所述F5机架、所述F6机架时，所述K取值为10～15mm。
作为优选，所述根据所述机架的标高变化量△P与所述入口导卫的标高调整量△S确定标高调节装置的调整量△h2，包括：
根据所述机架的标高变化量△P与所述入口导卫的标高调整量△S确定垂直标高的调整量△h1；
通过换算公式将所述调整量△h1换算成所述标高调节装置的调整量△h2。
作为优选，所述根据所述机架的标高变化量△P与所述入口导卫的标高调整量△S确定标高调节装置的调整量△h2，具体包括：
所述垂直标高的调整量△h1＝△S+△P；
所述标高调节装置的调整量△h2＝1.66△h1。
本申请中提供的一个或多个技术方案，至少具有如下技术效果或优点：
由于采用了当机架的轧制线标高变化后，根据机架的相对轧制线标高的初始值P与机架的相对轧制线标高的变化值P1确定机架的标高变化量△P，测量入口导卫的极限位置标高S，根据极限位置标高S及入口导卫的标高确定入口导卫的标高调整量△S；根据机架的标高变化量△P与入口导卫的标高调整量△S确定标高调节装置的调整量△h2；标高调节装置根据调整量△h2调整入口导卫的高度，即根据入口导卫极限位置标高，测算出每次换辊时轧制线标高变化之后的调整量，再根据机架的标高变化量，确定垂直标高的调整量及标高调节装置的调整量，保证入口导卫与下工作辊面形成固定的标高差，带钢可以接近对称咬入，同时在生产过程中也可以动态修正标高值。这样，有效解决了现有技术中精轧过程在更换支撑辊或工作辊后，轧机轧制线标高会产生变化，导致后段机架容易出现头部飞翘现象的技术问题，实现了每次轧制线标高变化后，保证入口导卫与下工作辊面形成固定的标高差，带钢可以接近对称咬入，避免精轧机薄规格轧制叩头或翘头现象的技术效果。
附图说明
图1为本发明实施例提供的精轧机入口导卫标高控制方法的流程示意图；
图2为本发明实施例提供的机架的相对轧制线标高与入口导卫的极限位置标高的位置示意图。
具体实施方式
本申请实施例提供了一种精轧机入口导卫标高控制方法，解决了或部分解决了现有技术中精轧过程在更换支撑辊或工作辊后，轧机轧制线标高会产生变化，导致后段机架容易出现头部飞翘现象的技术问题，通过入口导卫极限位置标高，测算出每次换辊时轧制线标高变化之后的调整量，实现了每次轧制线标高变化后，保证入口导卫与下工作辊面形成固定的标高差，带钢可以接近对称咬入，避免精轧机薄规格轧制叩头或翘头现象的技术效果。
参见附图1，本申请提供了一种精轧机入口导卫标高控制方法，包括以下步骤：
S1：计算机架的相对轧制线标高的初始值P；
S2：当机架的轧制线标高变化后，
根据机架的相对轧制线标高的初始值P与机架的相对轧制线标高的变化值P1确定机架的标高变化量△P，
测量入口导卫的极限位置标高S，
根据极限位置标高S及入口导卫的要求标高确定入口导卫的标高调整量△S；
S3：根据机架的标高变化量△P与入口导卫的标高调整量△S确定标高调节装置的调整量△h2；
S4：标高调节装置根据调整量△h2调整入口导卫的高度。
进一步的，机架的相对轧制线标高的初始值P＝B/2+D+H-δ，其中B为机架的下支承辊直径，单位mm；D为机架的下工作辊的直径，单位mm；H为机架的下阶梯垫的厚度，单位mm；δ为轧机常数。其中，当机架为F1机架、F2机架、F3机架时，δ为710mm，当机架为F4机架、F5机架、F6机架时，δ为620mm。
进一步的，参见附图2，步骤S2中的测量入口导卫的极限位置标高S，包括：
S201：通过标高调节装置将机架的入口导卫降低至下限位置；
S202：通过水平尺测量入口导卫的极限位置标高S。
其中，步骤S202包括：
S2021：控制水平尺的一端放置于机架的下工作辊侧，水平尺与机架的下工作辊面共面；
S2022测量入口导卫距离水平尺的最小垂直距离，最小垂直距离即为极限位置标高S。
进一步的，参见附图2，根据公式△P＝P1-P计算得到机架的标高变化量△P。标高调整量△S＝S-K，K为入口导卫的要求标高，K取值为
10～20mm。其中，机架为精轧机的F1机架、F2机架、F3机架时，K取值为10～20mm；机架为精轧机的F4机架、F5机架、F6机架时，K取值为10～15mm。
进一步的，步骤S3包括：
S301：根据机架的标高变化量△P与入口导卫的标高调整量△S确定垂直标高的调整量△h1；
S302：通过换算公式将调整量△h1换算成标高调节装置的调整量△h2。
其中，垂直标高的调整量△h1＝△S+△P；标高调节装置的调整量△h2＝1.66△h1。
下面通过具体实施例来详细说明本申请的精轧机入口导卫标高控制方法：
选择任意精轧机，参见表1，如F5机架为例：
计算出轧机相对轧制线高度P＝B/2+D+H-δ，为934mm。
按照轧机入口导卫极限位置标高测量方法测量出S，为30mm。
标高调整量为△S＝S-K＝30-10＝20mm，K定为10mm。
在工作辊直径变化后，实际轧制线标高变化至P1＝951mm，轧制线标高变化量为△P＝P1-P＝951-934＝17mm。
那么此时需要控制的垂直标高的调整量为：
△h1＝△S+△P＝20+17＝37mm
换算为标高调节装置的调整量则为：
△h2＝1.66△h1＝1.66*37＝61mm
在标高调节装置的输入框内输入61mm进行修正即可。
表1
本申请中提供的一个或多个技术方案，至少具有如下技术效果或优点：
由于采用了当机架的轧制线标高变化后，根据机架的相对轧制线标高的初始值P与机架的相对轧制线标高的变化值P1确定机架的标高变化量△P，测量入口导卫的极限位置标高S，根据极限位置标高S及入口导卫的标高确定入口导卫的标高调整量△S；根据机架的标高变化量△P与入口导卫的标高调整量△S确定标高调节装置的调整量△h2；标高调节装置根据调整量△h2调整入口导卫的高度，即根据入口导卫极限位置标高，测算出每次换辊时轧制线标高变化之后的调整量，再根据机架的标高变化量，确定垂直标高的调整量及标高调节装置的调整量，保证入口导卫与下工作辊面形成固定的标高差，带钢可以接近对称咬入，同时在生产过程中也可以动态修正标高值。这样，有效解决了现有技术中精轧过程在更换支撑辊或工作辊后，轧机轧制线标高会产生变化，导致后段机架容易出现头部飞翘现象的技术问题，实现了每次轧制线标高变化后，保证入口导卫与下工作辊面形成固定的标高差，带钢可以接近对称咬入，避免精轧机薄规格轧制叩头或翘头现象的技术效果。
以上所述的具体实施方式，对本发明的目的、技术方案和有益效果进行了进一步详细说明，所应理解的是，以上所述仅为本发明的具体实施方式而已，并不用于限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。