技术特征：
技术总结
本发明涉及煤质检测技术领域，具体公开一种煤砖的抛光方法。将煤砖经过粗磨、细磨、精磨、抛光、清洗得到粉煤光片，其中，抛光依次采用粒径为3微米的抛光液、粒径为0.3微米的抛光液和粒径为0.04微米的抛光液进行抛光。本发明提供的抛光方法中，粗磨可磨掉煤砖表层的胶，露出粉煤颗粒，使煤砖平整；细磨使煤砖表面划痕进一步缩小，划痕小于23微米；精磨使煤砖表面划痕更细小，划痕小于11微米；抛光使煤砖平整光滑，光学显微镜下几乎看不到划痕，煤砖经过分级研磨和抛光得到的粉煤光片平整光滑，且划痕少，粉煤光片质量优异。
技术研发人员：石志祥;孙玉壮;赵存良;许云;秦身钧;李彦恒;王金喜
受保护的技术使用者：河北工程大学
技术研发日：2018.08.21
技术公布日：2018.12.07