一种检测探针及其磨损后自动补偿出针装置的制作方法

本实用新型涉及检测装置技术领域，具体涉及一种检测探针及其磨损后自动补偿出针装置。

背景技术：

探针是电测试的接触媒介，为高端精密型微加工技术。

探针是一小段单链DNA或者RNA片段(大约是20到500bp)，用于检测与其互补的核酸序列。双链DNA加热变性成为单链，随后用放射性同位素(通常用磷-32)、荧光染料或者酶(如辣根过氧化物酶)标记成为探针。磷-32通常被掺入组成DNA的四种核苷酸之一的磷酸基团中，而荧光染料和酶与核酸序列以共价键相连。

当将探针与样品杂交时，探针和与其互补的核酸(DNA或RNA)序列通过氢键紧密相连，随后，未被杂交的多余探针被洗去。最后，根据探针的标记物种类，可进行放射自显影、荧光发光、酶联化学发光等方法来判断样品中是否，或者何位置含有被测序列(即与探针互补的序列)。

现代生物、信息技术越来越发达，特别是目前芯片、脑科学、生物细胞病理研究等领域核心技术(包括测试)与国外差距很大。人工智能(AI),万物互联的背景下，都离不开硬件支撑，特别是CPU与人工智能的芯片算法结合下。芯片制造技术走向超高精密的集成度。针测技术要求越精密，信号传输高频、高速、微弱电信号少干扰、失真的情况下，从而要求探针材料更为贵重、稀有金属。传统探针测试方式，探针材料。磨损后即需修整或者更换探针，存在浪费又容易误测，误判的可能。

技术实现要素：

本实用新型的目的在于针对现有技术的缺陷和不足，提供一种检测探针及其磨损后自动补偿出针装置，可随意更换探针，且可实现磨损后自动补偿出针，减少需修整或者更换探针的时间，提升多领域的测试水准。

为实现上述目的，本实用新型采用以下技术方案是：它包含探针1、出针装置2、探针出口3、探针入口4、张紧槽5、前侧开口6、后侧开口7、加热装置8、冷却装置9、定长机构10、记忆合金送针机构14、针芯张紧槽15、记忆合金丝张紧套16，所述探针1为具有弹性多种合金丝，所述出针装置2是一个材质为金属或者记忆合金的套管，所述套管的前端呈锥形，所述套管的前端设置有探针出口3，所述套管的后端设置有探针入口4，探针出口3上方设有前侧开口6，探针入口4上方设有后侧开口7，所述套管的中部设置有张紧槽5，所述张紧槽5为开放式的槽状结构，张紧槽5的上方设置有加热装置8和冷却装置9，记忆合金送针机构14设置在套管的内部以及张紧槽5的下方，针芯张紧槽15设置在套管内部的前部，记忆合金丝张紧套16设置在套管的后部，所述探针1穿过探针入口4、后侧开口7、记忆合金丝张紧套16、记忆合金送针机构14、张紧槽5、针芯张紧槽15、前侧开口6和探针出口3向外伸出，位于张紧槽5位置处的部分探针1向上凸起，位于前侧开口6和后侧开口7处的部分探针1呈弓形，所述出针装置2前方设置有定长机构10，定长机构10呈阶梯形，所述探针1的头部与定长机构10抵接。

所述出针装置2的后部设置有材料为记忆合金的弹簧套11，弹簧套11内部设置有弹簧槽12，弹簧槽12内部设置有弹簧13，弹簧13与探针1焊接。

所述探针1的有效长度为0.05mm，探针1的直径为0.1-400μm，探针1的弓形部分曲度为1mm至5mm，探针材质为多种合金加石墨烯涂层。

所述套管的外径为0.5mm。

所述前侧开口6和后侧开口7的内径为0.1-400μm。

所述张紧槽5为V形槽。

所述定长机构10的阶梯部分为35°斜角。

所述加热装置8为红外线激光、半导体等加热器。

采用上述技术方案后，本实用新型有益效果为：可随意更换不同材质探针，且可实现磨损后多根针自动补偿出针，减少需修整或者更换探针的时间，提升周多领域的测试水准

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本实用新型的结构示意图；

图2是对应图1的俯视图；

图3是对应图1的侧视图；

图4为本实用新型的定长机构10的结构示意图；

图5是本实用新型的另一方案结构示意图。

附图标记说明：探针1、出针装置2、探针出口3、探针入口4、张紧槽5、前侧开口6、后侧开口7、加热装置8、冷却装置9、定长机构10、弹簧套11、弹簧槽12、弹簧13、记忆合金送针机构14、针芯张紧槽15、记忆合金丝张紧套16。

具体实施方式

参看图1-图4所示，本具体实施方式采用的技术方案是：它包含探针1、出针装置2、探针出口3、探针入口4、张紧槽5、前侧开口6、后侧开口7、加热装置8、冷却装置9、定长机构10、记忆合金送针机构14、针芯张紧槽15、记忆合金丝张紧套16，所述探针1材料为：多种合金加石墨烯涂层，体现出超强的导电性能，硬度及耐磨性，该材料的探针具有弹性，所述探针1的有效长度为0.05mm，探针1的直径为0.1-400μm，所述出针装置2是一个套管，所述套管的前端呈锥形，所述套管的外径为0.05mm～1mm，所述套管的前端设置有探针出口3，所述套管的后端设置有探针入口4，探针出口3上方设有前侧开口6，探针入口4上方设有后侧开口7，所述前侧开口6和后侧开口7的内径为0.1-400μm，所述套管的中部设置有张紧槽5，所述张紧槽5为开放式的槽状结构，张紧槽5的上方设置有加热装置8和冷却装置9，所述加热装置8为红外线激光、半导体加热器，记忆合金送针机构14设置在套管的内部以及张紧槽5的下方，针芯张紧槽15设置在套管内部的前部，记忆合金丝张紧套16设置在套管的后部，所述探针1穿过探针入口4、后侧开口7、记忆合金丝张紧套16、记忆合金送针机构14、张紧槽5、针芯张紧槽15、前侧开口6和探针出口3向外伸出，位于张紧槽5位置处的部分探针1向上凸起，位于前侧开口6和后侧开口7处的部分探针1呈弓形，探针1的弓形部分曲度为5mm，弓形部分使得探针具有张力，所述出针装置2前方设置有定长机构10，定长机构10呈阶梯形，所述探针1的头部与定长机构10抵接。

所述张紧槽5为V形槽。

所述定长机构10的阶梯部分为35°斜角。

参看图5所示，所述出针装置2的后部还设置有材料为记忆合金的弹簧套11，弹簧套11内部设置有弹簧槽12，弹簧槽12内部设置有弹簧13，弹簧13与探针1焊接。当探针用尽，套管前端与定长机构接触形成压力，侧扣打开，失去对探针的夹紧作用，利用弹簧的弹性探针弹出，压力丧失后，又恢复夹紧。

本实用新型的工作原理：通过加热装置的红外线对具有弹性的记忆合金导丝的进行非接触照射方式加热，使得凸起的导丝部分变形，侧开口爆开，对探针的夹紧作用丧失，通过探针及导丝的弹性和探针弓形部分的张力使探针弹出，当探针到达预定位置时，冷却装置对探针凸起部分进行冷却，冷却后探针回复原来状态；还可以通过弹簧来实现自由出针，当探针用尽，套管前端与定长机构接触形成压力，侧扣打开，失去对探针的夹紧作用，利用弹簧的弹性探针弹出，压力丧失后，又恢复夹紧。

采用上述技术方案后，本实用新型有益效果为：无需更换探针，可实现磨损后多根针自动补偿同时出针

以上所述，仅用以说明本实用新型的技术方案而非限制，本领域普通技术人员对本实用新型的技术方案所做的其它修改或者等同替换，只要不脱离本实用新型技术方案的精神和范围，均应涵盖在本实用新型的权利要求范围当中。