1.一种检测荧光偏振的光学系统，其特征在于，包括：
光源，包括用于发射光束的半导体激光二极管；
准直透镜，设置于所述光束的光径上，用于准直该光束；
偏振板，设置于所述准直透镜旁的光径上，用于偏振该光束；
样本架，用于接收该偏振光束，所述样本架包括样本室，所述样本室用于容纳与探针混合以诱导荧光的样本；和
偏振度测量单元，包括
针孔板，设有使来自所述样本诱导的荧光穿过的针孔，用于减少杂散的荧光，
分光器，用于将穿过所述针孔的该诱导荧光分成水平偏振诱导荧光和垂直偏振诱导荧光，和
两个光电检测器，用于接收所述水平偏振诱导荧光以及所述垂直偏振诱导荧光，以进行现场检测，
其中，所述针孔板附着于所述分光器的表面，且所述两个光电检测器分别附着于所述分光器的不同表面。
2.如权利要求1所述的光学系统，其特征在于，还包括滤光器，设置于所述准直透镜和所述偏振板之间，用于过滤所述准直透镜准直后的光束。
3.如权利要求1所述的光学系统，其特征在于，所述样本室是圆管槽或方形槽。
4.如权利要求1所述的光学系统，其特征在于，所述样本室是玻璃管单元，所述偏振度测量单元设置在所述玻璃管单元周围、且在所述偏振板外部。
5.如权利要求1所述的光学系统，其特征在于，所述光源是复数个光源。
6.如权利要求5所述的光学系统，其特征在于，所述复数个光源的波长相同或不同。
7.如权利要求1所述的光学系统，其特征在于，所述光学系统是可携式的。
8.如权利要求1所述的光学系统，其特征在于，与所述探针混合的所述样本，具有目标dna的互补序列。
9.如权利要求1所述的光学系统，其特征在于，还包括另一光电检测器，设置在所述样本架一侧的附近，且与所述偏振度测量单元的方向垂直。
10.一种检测荧光偏振的偏振度测量单元，其特征在于，包括：
针孔板，设有针孔，用于通过与探针混合的样本所诱导的荧光；
分光器，用于将穿过所述针孔的所述诱导荧光分成水平偏振诱导荧光和垂直偏振诱导荧光，
两个光电检测器，用于接收所述水平偏振诱导荧光和所述垂直偏振诱导荧光，
其中，所述针孔板附着于所述分光器的一个表面，且两个光电检测器分别附着于所述分光器的不同表面。
11.一种检测荧光偏振的光学系统，其特征在于，包括：
包括用于发射激光束的半导体激光二极管的光源；
第一准直透镜，设置于所述激光束的光径上，用于准直所述激光束，
第一偏振板，设置于所述第一准直透镜旁的光径上，用于偏振所述激光束，
样本架，用于接收所述第一偏振板偏振后的激光束，所述样本架包括样本室，所述样本室用于容纳与探针混合以诱导荧光的样本；以及
偏振度检测单元，包括：
两个第二偏振板，各偏振板设置于所述样本架的一侧以偏振所述诱导荧光成水平偏振诱导荧光和垂直偏振诱导荧光，
两个第二准直透镜，各准直透镜分别设置于对应所述两个第二偏振板中的一个第二偏振板的相邻位置，用于准直所述水平偏振诱导荧光和所述垂直偏振诱导荧光；和
两个光电检测器，各光电检测器分别设置于对应所述两个准直透镜中的一个准直透镜的相邻位置，用于接收所述两个第二准直透镜准直得到的准直水平偏振诱导荧光和所述准直垂直偏振诱导荧光，以进行现场检测。
12.如权利要求11所述的光学系统，其特征在于，还包括滤光器，设置于所述第一准直透镜和所述第一偏振板之间，用于过滤所述第一准直透镜准直后的激光束。
13.如权利要求11所述的光学系统，其特征在于，所述两个光电检测器、所述两个第二准直透镜和所述两个第二偏振器板，分别设置于所述样本架的两侧，且设置在相对于所述样本架180°或90°的位置。
14.如权利要求12所述的光学系统，其特征在于，所述样本架是玻璃管或方形玻璃管。
15.如权利要求14所述的光学系统，其特征在于，所述光源的数量在一个以上，且设置于所述样本架的周围。
16.如权利要求15所述的光学系统，其特征在于，半导体激光二极管的波长是相同或不同的波长。
17.如权利要求11所述的光学系统，其特征在于，所述光学系统是可携式的。
18.一种检测荧光偏振的光学系统，其他在于，包括：
包括用于发射激光束的半导体激光二极管的光源；
准直透镜，设置于所述激光束的光径上，用于准直所述激光束，
第一滤光器，设置于所述准直透镜旁的光径上，用于过滤所述准直光，
偏振板，设置于所述第一滤光器旁的光径上，用于偏振所述激光束，
样本架，用于接收所述偏振光束，所述样本架包括样本室，所述样本室用于容纳与探针混合以诱导荧光的所述样本；和
偏振度检测单元，包括：
第二滤光器以过滤所述诱导荧光，
偏振分束器，用于将诱导荧光分成水平偏振诱导荧光和垂直偏振诱导荧光；和
两个光电检测器，设置于所述偏振分光器的两侧，用于接收所述水平偏振诱导荧光和所述垂直偏振诱导荧光，以进行现场检测。
19.如权利要求18所述的光学系统，其特征在于，所述样本架是玻璃管或方形玻璃管。
20.如权利要求18所述的光学系统，其特征在于，所述光学系统是可携式的。