自动上下料机构及MiniLED屏幕芯片测试装置的制作方法

本发明涉及miniled屏幕芯片测试技术领域，尤其涉及自动上下料机构及miniled屏幕芯片测试装置。

背景技术：

随着大众追求超清显示，显示技术需要更高对比度，被称为次时代显示技术的miniled成为众厂商积极布局的领域，采用miniled背光技术的lcd(液晶)显示屏，在亮度、对比度、色彩还原和节能远远优于当今的lcd显示器，甚至可以与amoled竞争，同时还能控制生产成本。由于用于面板背光的led数量大大增加，新技术可以在很大程度上改善lcd屏幕的hdr性能。

miniled屏幕芯片属于新型显示屏幕产品的精密组件，随着电子产品制造行业的蓬勃发展，生产单位针对miniled屏幕芯片品质方面的考虑，对miniled屏幕芯片的精度要求越来越高，因此需要对miniled屏幕芯片进行测试。

传统的测试设备依靠操作人员人工搬运miniled屏幕芯片，以实现miniled屏幕芯片上下料，操作人员劳动强度比较大，上下料速度慢,影响作业效率。同时，在miniled屏幕芯片进行测试时，需要人工手动操作探针接触到miniled屏幕芯片的触点，存在探针接触不到miniled屏幕芯片触点问题，对miniled屏幕芯片的测试点位不够准确，稳定性差，且受到人为不确定因素影响，测试精度较低。

技术实现要素：

本发明的目的在于提供一种自动上下料机构及miniled屏幕芯片测试装置，减少劳动负担，将测试速度相比较以往技术提升5-6倍，提高生产效率。

为达此目的，本发明采用以下技术方案：

一种自动上下料机构，包括：

框架；

第一抽屉盒，其沿第一方向滑动设置于所述框架上，所述第一抽屉盒用于承载待测试工件；

第二抽屉盒，其沿所述第一方向滑动设置于所述框架上并与所述第一抽屉盒平行设置，所述第二抽屉盒用于承载完成测试的成品工件，所述成品工件的输送方向和所述待测试工件的输送方向相反；

升降驱动源，其输出端连接于所述框架，所述升降驱动源能够驱动所述框架沿第二方向移动，其中所述第一方向和所述第二方向相互垂直设置。

作为优选，还包括第一导向组件，所述第一导向组件包括：

第一导轨，其设置于所述第一抽屉盒的底部；

第一滑板，在所述第一滑板上设置有第一导槽，所述第一导轨和所述第一导槽滑动配合；

第二导轨，其设置于所述第一滑板的底部；

第一固定板，其设置于所述框架上，在所述第一固定板上设置有第二导槽，所述第二导轨和所述第二导槽滑动配合。

作为优选，还包括第二导向组件，所述第二导向组件包括：

第一滑轨，其设置于所述第二抽屉盒的底部；

第一移动板，在所述第一移动板上设置有第一滑槽，所述第一滑轨和所述第一滑槽滑动配合；

第二滑轨，其设置于所述第一移动板的底部；

第一安装板，其设置于所述框架上，在所述第一安装板上设置有第二滑槽，所述第二滑轨和所述第二滑槽滑动配合。

作为优选，还包括对齐组件，所述对齐组件包括对齐驱动源和挡块，所述对齐驱动源的输出端连接于所述挡块，所述对齐驱动源能够驱动所述挡块并推动所述成品工件沿所述第一方向移动，使所述成品工件的边缘和所述第二抽屉盒的边缘平齐。

为达上述目的，本发明还提供一种自动miniled屏幕芯片测试装置，包括搬运机械手、测试机构及上述的自动上下料机构，所述测试机构用于对所述待测试工件进行测试，所述搬运机械手被配置为将所述第一抽屉盒内的所述待测试工件搬运至所述测试机构上，并将完成测试的所述成品工件搬运至所述第二抽屉盒内。

作为优选，所述测试机构包括调节平台和压接组件，所述调节平台被配置为承载所述待测试工件并能够调节其相对于所述压接组件的位置，所述压接组件被配置为抵接于所述待测试工件并与其电性连接。

作为优选，所述调节平台包括：

第一承载框，其用于承载所述待测试工件；

第一驱动源，其输出端连接于所述第一承载框，所述第一驱动源能够驱动所述第一承载框沿所述第一方向移动；

第二承载框，其连接于所述第一承载框的底部；

第二驱动源，其输出端连接于所述第二承载框，所述第二驱动源能够驱动所述第二承载框沿第三方向移动，所述第三方向分别与所述第一方向和所述第二方向垂直设置。

作为优选，所述压接组件包括：

压接驱动源和压接平台，所述压接驱动源的输出端连接于所述压接平台，

旋转驱动源和压头，所述旋转驱动源设置于所述压接平台上；

所述压接驱动源能够驱动所述压接平台沿所述第二方向移动，所述旋转驱动源能够驱动所述压头转动，使所述压头与所述待测试工件电性连接。

作为优选，所述调节平台还包括：

吸盘，其设置于所述第一承载框上；

真空发生器，其连通于所述吸盘，用于吸附所述待测试工件。

作为优选，所述测试机构还包括标定组件，所述标定组件设置于所述调节平台的下方，所述标定组件用于拾取所述待测试工件的标定点。

本发明的有益效果：

本发明提供的自动上下料机构，通过设置第一抽屉盒，利用抽屉滑动的原理，操作人员直接可以将第一抽屉盒拉出，相比较人工移动的方式，省时省力，节省了待测试工件的上料时间；通过设置第二抽屉盒，操作人员非常容易可以将第二抽屉盒拉出，相比较人工移动的方式，操作人员用较小的力就能实现成品工件的下料，减少了操作人员的劳动强度。第一抽屉盒和第二抽屉盒在起到承载作用的同时，还承担了一部分工件沿第一方向的输送的作用。通过设置升降驱动源和框架，升降驱动源通过框架可以同时驱动第一抽屉盒和第二抽屉盒移动，起到了工件沿第二方向的输送作用。在升降驱动源、框架、第一抽屉盒和第二抽屉盒的共同作用下，减轻了劳动负担，有效地提高了生产效率。

本发明提供的miniled屏幕芯片测试装置，通过自动上下料机构、搬运机械手及测试机构的相互配合，自动化程度高，减少操作人员的劳动强度，节省生产时间，作业效率较高，并在miniled屏幕芯片品质方面得到最佳保障。

附图说明

图1是本发明miniled屏幕芯片测试装置的结构示意图；

图2是本发明miniled屏幕芯片测试装置中自动上下料机构的结构示意图；

图3是本发明miniled屏幕芯片测试装置中显示第一导向组件和第二导向组件的结构示意图；

图4是图1在a处的局部放大图；

图5是本发明miniled屏幕芯片测试装置中测试机构的结构示意图。

图中：

1、自动上下料机构；2、搬运机械手；3、测试机构；4、机架；5、缓冲平台；

11、框架；12、第一抽屉盒；13、第二抽屉盒；14、升降驱动源；15、支撑架；16、丝杠；17、对齐组件

121、第一导轨；122、第一滑板；123、第二导轨；124、第一固定板；

131、第一滑轨；132、第一移动板；133、第二滑轨；134、第一安装板；

111、滑块；151、线性滑轨；

171、对齐驱动源；172、挡块；

31、调节平台；32、压接组件；33、基台；34、标定组件；

311、第一承载框；312、第一驱动源；313、第二承载框；314、第二驱动源；

321、压接驱动源；322、压接平台；323、旋转驱动源；324、压头；

331、通孔；

341、安装座；342、相机。

具体实施方式

为使本发明解决的技术问题、采用的技术方案和达到的技术效果更加清楚，下面将结合附图对本发明实施例的技术方案作进一步的详细描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

在本发明的描述中，除非另有明确的规定和限定，术语“相连”、“连接”、“固定”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

在本发明中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触，也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

下面结合附图并通过具体实施方式来进一步说明本发明的技术方案。

本实施例提供了一种miniled屏幕芯片测试装置，用于电子产品的测试，具体用于miniled屏幕芯片的测试。根据现在业界的定义，mini是比micro略大的尺寸，其尺寸大约是在80-300μm之间。led芯片的从业者早在miniled这个词出现以前，就已经在制作mini意义尺寸上的led芯片，但当时主要制作的芯片是基于正装的led芯片，在显示领域的应用上主要为常规户内外的显示屏以及小间距显示屏幕。为了区别正装显示用的led小芯片，miniled被创造出来指用于显示应用的芯片尺寸在80-300μm之间的倒装led芯片。如图1所示，该miniled屏幕芯片测试装置包括机架4、自动上下料机构1、搬运机械手2及测试机构3，在机架4上设置有自动上下料机构1、搬运机械手2及测试机构3，机架4起到了整体支撑的作用。定义机架4的长度方向为第一方向，机架4的高度方向为第二方向，机架4的宽度方向为第三方向，第一方向、第二方向及第三方向两两相互垂直，其中，第一方向、第二方向及第三方向只是代表空间方向并没有实质意义。

该miniled屏幕芯片测试装置在工作过程中，操作人员先从自动上下料机构1的一侧将待测试工件放置于自动上下料机构1内，搬运机械手2被配置为将自动上下料机构1内的待测试工件搬运至测试机构3上，测试机构3用于对待测试工件进行测试，完成测试后形成成品工件，然后搬运机械手2将位于测试机构3上的成品工件从自动上下料机构1的另一侧将搬运至自动上下料机构1内，以供操作人员取出用于后续工序使用。本实施例提供的miniled屏幕芯片测试装置，通过自动上下料机构1、搬运机械手2及测试机构3的相互配合，自动化程度高，减少操作人员的劳动强度，节省生产时间，作业效率较高。

进一步地，如图2所示，自动上下料机构1包括框架11、第一抽屉盒12、第二抽屉盒13、升降驱动源14及支撑架15，支撑架15设置于机架4上，支撑架15起到了支撑的作用，在支撑架15上设置有升降驱动源14，升降驱动源14的输出端连接于框架11，升降驱动源14能够驱动框架11沿第二方向移动，使得框架11可以做升降运动。在框架11上沿第一方向分别滑动设置有第一抽屉盒12和第二抽屉盒13，第一抽屉盒12和第二抽屉盒13相互平行设置，第一抽屉盒12用于承载待测试工件，第二抽屉盒13用于承载完成测试的成品工件，成品工件的输送方向和待测试工件的输送方向相反。

本实施例提供的自动上下料机构1，在需要上料时，升降驱动源14驱动框架11沿第二方向移动，使得待测试工件可以依次移动至固定高度，使搬运机械手2将待测试工件准确地从第一抽屉盒12内取出，同时操作人员人工可将待测试工件放置于空的第一抽屉盒12内，来完成上料动作过程。在需要下料时，升降驱动源14驱动框架11沿第二方向依次移动至固定高度，使搬运机械手2将完成测试的成品工件准确地搬运至第二抽屉盒13内，同时操作人员人工可将成品工件从第二抽屉盒13内取出，来完成下料动作过程。

通过设置第一抽屉盒12，利用抽屉滑动的原理，操作人员直接可以将第一抽屉盒12拉出，相比较人工移动的方式，省时省力，节省了待测试工件的上料时间；通过设置第二抽屉盒13，操作人员非常容易可以将第二抽屉盒13拉出，相比较人工移动的方式，操作人员用较小的力就能实现成品工件的下料，减少了操作人员的劳动强度。第一抽屉盒12和第二抽屉盒13在起到承载作用的同时，还承担了一部分工件沿第一方向的输送的作用。通过设置升降驱动源14和框架11，升降驱动源14通过框架11可以同时驱动第一抽屉盒12和第二抽屉盒13移动，起到了待测试工件和成品工件沿第二方向的输送作用。在升降驱动源14、框架11、第一抽屉盒12和第二抽屉盒13的共同作用下，减轻了劳动负担，有效地提高了生产效率。

进一步地，上述升降驱动源14具体为伺服电机，伺服电机沿第二方向设置于支撑架15上，伺服电机通过联轴器连接有丝杠16，丝杠螺母穿设于丝杠16并连接于框架11，伺服电机开启后，随着伺服电机的旋转，丝杠螺母在绕丝杠16转动的同时，还能沿丝杠16的轴向方向移动，并带动框架11实现升降运动。由于框架11的外形尺寸比较大，为了保证框架11移动过程中的平衡效果，优选地，升降驱动源14、丝杠16及丝杠螺母的数量均为两个，每个升降驱动源14通过一个丝杠16传动连接于一个丝杠螺母。两个丝杠螺母分别设置于框架11的两侧，以实现框架11在升降过程中的稳定性。

为了进一步保证框架11在升降过程中的平衡性，在支撑架15上沿第二方向设置线性滑轨151，在框架11的一侧设置有滑块111，通过滑块111和线性滑轨151滑动配合，起到了导向效果，从而保证框架11移动过程中的顺畅性和稳定性。可选地，线性滑轨151和滑块111的数量均为两个，两个线性滑轨151分别设置于支撑架15的两侧，两个滑块111分别设置于框架11的两侧，每个滑块111与一个线性滑轨151滑动配合，使框架11可平稳地上下移动。

框架11外形为矩形结构，框架11由设置于其内部的矩形框分成两个区域，其中一个区域用于安装第一抽屉盒12，另一个区域用于安装第二抽屉盒13。可以理解的是，为了增加产能，第一抽屉盒12和第二抽屉盒13的数量均为三个，三个第一抽屉盒12沿第二方向平行间隔设置于第一区域内，三个第二抽屉盒13沿第二方向平行间隔设置于第二区域内，且一个第一抽屉盒12和与其相邻的一个第二抽屉盒13保持在同一平面内，使得三个第一抽屉盒12和三个第二抽屉盒13成矩阵排列。

其中，每个第一抽屉盒12可以放置多个待测试工件，第一抽屉盒12的两侧为开口结构，操作人员可以从第一抽屉盒12的一侧开口放入待测试工件，搬运机械手2可以从第一抽屉盒12的另一侧开口抓取待测试工件，使得操作人员和搬运机械手2在上料过程中各得其所，其各自的工作不受干涉和影响。每个第二抽屉盒13可以放置多个成品工件，第二抽屉盒13的两侧为开口结构，搬运机械手2可以从第二抽屉盒13的靠近搬运机械手2的一侧开口，将成品工件放置于第二抽屉盒13内，操作人员可以从第一抽屉盒12远离搬运机械手2的一侧开口取出成品工件，使得操作人员和搬运机械手2在下料过程中各得其所，其各自的工作不受干涉和影响。

可以预计的是，第一抽屉盒12和第二抽屉盒13的结构类似，区别仅在于设置在框架11上的具体位置及抽屉盒内具体容纳工件的种类。

进一步地，如图3所示，该自动上下料机构1还包括第一导向组件，第一导向组件设置于框架11上，用于第一抽屉盒12沿第一方向的导向。具体地，第一导向组件包括第一导轨121、第一滑板122、第二导轨123及第一固定板124，在第一抽屉盒12的底部设置有第一导轨121，在第一滑板122上设置有第一导槽，第一导轨121和第一导槽滑动配合，起到了第一抽屉盒12在第一方向滑动的导向作用。在第一滑板122的底部设置有第二导轨123，在框架11上设置有第一固定板124，在第一固定板124上设置有第二导槽，第二导轨123和第二导槽滑动配合，起到了第一抽屉盒12在第一方向滑动的导向作用，从而保证第一抽屉盒12滑动的顺畅性。

采用这种设置，利用双层导向结构，使得第一抽屉盒12可以沿第一方向和拉出的距离适应性调整，灵活性较强。同时，其中一层导向结构可以将第一抽屉盒12拉出一半长度，而另外一层导向结构可以将第一抽屉盒12再拉出一半长度，从而实现将第一抽屉盒12完全拉出，相比于单层导向结构，拉出上料的过程，第一抽屉盒12的滑动稳定性好。

进一步地，该自动上下料机构1还包括第二导向组件，第二导向组件设置于框架11上，用于第二抽屉盒13沿第一方向的导向。具体地，第二导向组件包括第一滑轨131、第一移动板132、第二滑轨133及第一安装板134，在第二抽屉盒13的底部设置有第一滑轨131，在第一移动板132上设置有第一滑槽，第一滑轨131和第一滑槽滑动配合，起到了第二抽屉盒13在第一方向滑动的导向作用。在第一移动板132的底部设置有第二滑轨133，在框架11上设置有第一安装板134，在第一安装板134上设置有第二滑槽，第二滑轨133和第二滑槽滑动配合，起到了第二抽屉盒13在第一方向滑动的导向作用，从而保证第二抽屉盒13滑动的顺畅性。

采用这种设置，利用双层导向结构，使得第二抽屉盒13可以沿第一方向和拉出的距离适应性调整，灵活性较强，同时，其中一层导向结构可以将第二抽屉盒13拉出一半长度，而另外一层导向结构可以将第二抽屉盒13再拉出一半长度，从而实现将第二抽屉盒13完全拉出，相比于单层导向结构，在拉出上料的过程中，第二抽屉盒13的滑动稳定性好。

在成品工件放置于第二抽屉盒13之后，如果成品工件出现跑偏而导致悬出第二抽屉盒13之外，此时升降驱动源14驱动框架11下料时，很容易成品工件和机架4出现撞击而发生成品工件损坏的情况。为了解决这个问题，如图4所示，该自动上下料机构1还包括对齐组件17，对齐组件17包括对齐驱动源171和挡块172，对齐驱动源171设置于机架4上，对齐驱动源171具体为气缸，对齐驱动源171的输出端连接于挡块172，挡块172为l形机构，对齐驱动源171能够驱动挡块172并推动成品工件沿第一方向移动，使成品工件的边缘和第二抽屉盒13的边缘平齐，从而防止成品工件在第二抽屉盒13内出现位置偏差的情况。

由于第一抽屉盒12可以承载待测试工件，第二抽屉盒13可以承载成品工件，而机械手同时进行待测试工件和成品工件的输送，为了进一步提高生产效率，可选地，该miniled屏幕芯片测试装置还包括缓冲平台5，缓冲平台5设置于机架4上靠近第一抽屉盒12的一侧，缓冲平台5用于承载待测试工件。具体地，搬运机械手2先从第一抽屉盒12内抓取待测试工件并将其放置于缓冲平台5上，然后搬运机械手2从测试机构3上抓取成品工件并将其放置于第二抽屉盒13内，之后搬运机械手2从缓冲平台5上抓取待测试工件放置于测试机构3上。通过设置缓冲平台5，操作人员无需等待待测试工件抓取的时间，只要第一抽屉盒12是空盒状态就可以进行上料，减少等料、缺料的情况，使得生产过程连续，提高了生产效率。

其中，搬运机械手2位于自动上下料机构1和测试机构3之间，搬运机械手2至少具有两个旋转自由度，使得搬运机械手2可以在自动上下料机构1和测试机构3之间进行工件的切换和搬运。搬运机械手2可以伸入第一抽屉盒12内相邻两个待测试工件之间，并托起位于上方的待测试工件，以将待测试工件脱离第一抽屉盒12并放置于测试机构3内。

进一步地，如图5所示，测试机构3包括基台33、调节平台31和压接组件32，基台33设置机架4上，基台33为大理石材质制成，保证表面的平整性。在基台33上设置有调节平台31和压接组件32，调节平台31被配置为承载待测试工件并能够调节其相对于压接组件32的位置，压接组件32被配置为抵接于待测试工件并与其电性连接。通过设置调节平台31，可以调节待测试工件的位置，以保证压接组件32和待测试工件的触点接触稳定性。

具体地，调节平台31包括第一承载框311、第一驱动源312、第二承载框313及第二驱动源314，第一承载框311用于承载待测试工件，第一驱动源312具体为y向直线电机，第一驱动源312的输出端连接于第一承载框311，第一驱动源312能够驱动第一承载框311沿第一方向移动，从而实现待测试工件在第一方向上的位置调节。在基台33上设置有第二驱动源314，第二驱动源314为x向直线电机，第二驱动源314的输出端连接于第二承载框313，第二驱动源314能够驱动第二承载框313沿第三方向移动，且第一承载框311的底部连接有第二承载框313，从而实现待测试工件在第三方向上的位置调节。需要特别说明的是，第一承载框311只是接触待测试工件的四周，第一承载框311为中部镂空结构，第一承载框311并没有覆盖整个待测试工件。第二承载框313也为框架结构，只是待测试工件的四周起到了承载，使待测试工件的中部区域并没有被遮挡。

采用这种方式，待测试工件可以分别沿第一方向和第三方向自由移动，可以对待测试工件的位置进行精确控制，实现运动精度超过0.005mm。与现有技术人工手动调节相比，解决了待测试工件的触点接触不良的问题，以保证测试点的定位准确性，从而提高了测试精度。

为了进一步地保证测试精度，在第一承载框311的四角位置设置有定位块，定位块为l形结构，待测试工件直角点的两个侧边分别与定位块的内侧面相贴合，起到了初始定位的作用，定位准确性好。另外，调节平台31还包括吸盘和真空发生器，吸盘设置于第一承载框311的四周，真空发生器连通于吸盘，用于吸附待测试工件，以保证待测试工件的固定效果，减少待测试工件出现位置偏移的情况。

进一步地，如图5所示，测试机构3包括还包括标定组件34，标定组件34设置于调节平台31的下方，标定组件34用于拾取待测试工件的标定点，标定点具体为待测试工件上的十字线。标定组件34包括安装座341和相机342，在基台33上开设有通孔331，相机342通过安装座341安装于通孔331的内壁上。

当待测试工件在调节平台31的作用下移动至相机342上方时,由于待测试工件的中部区域并没有被遮挡，相机342可拍摄待测试工件的标记点,判断其位置相对基准位置偏差,位置偏差包括移动位置偏差和旋转角度偏差。其中第一方向和第三方向的偏移分别通过x轴直线电机以及y轴直线电机移动作位置补偿。

为了实现对旋转角度偏差的补偿，压接组件32包括压接驱动源321、压接平台322、旋转驱动源323和压头324，压接驱动源321为z向电机，压接驱动源321的输出端连接于压接平台322，压接驱动源321能够驱动压接平台322沿第二方向移动，以实现压接平台322的升降运动。在压接平台322上设置有旋转驱动源323，旋转驱动源323具体为旋转电机，旋转驱动源323能够驱动压头324转动，以调节压头324的位置，使压头324与待测试工件电性连接，从而完成待测试工件的性能测试。其中，旋转角度偏差通过旋转驱动源323的旋转实现角度补偿,可实现待测试工件的触点与压头324之间的精准对位,通过机器视觉软件补偿可实现定位精度超过0.002mm.定位准确好，最终实现高精度测试。

压接组件32和压头模组324的设计根据miniled576pin的产品特性设计需求，独创开发576pin探针模组，探针模组选材，尺寸设计严格根据miniled的材料特性作设计输入，并多次模拟验证完成数据收集后作设计输出，以最终保证测试时对产品的保护，测试准度和精度的要求。

测试结束后,通过测试板卡及程序判断分析成品工件是否不良,并将不良品信息与成品工件编码绑定,测试完成。然后搬运机械手2将已测试完成的成品工件从测试机构3上取下，放置于第二抽屉盒13内。

本实施例提供的miniled屏幕芯片测试装置的工作过程如下：

在需要上料时，升降驱动源14驱动框架11沿第二方向移动，使得待测试工件可以依次移动至固定高度，使搬运机械手2将待测试工件准确地从第一抽屉盒12内取出并放置于缓冲平台5上，同时操作人员人工可将待测试工件放置于空的第一抽屉盒12内，来完成上料动作过程；

搬运机械手2从测试机构3上抓取上一个完成测试的成品工件放置于第二抽屉盒13内，然后搬运机械手2从缓冲平台5上抓取待测试工件放置于测试机构3的第一承载框311上，在调节平台31的作用下，待测试工件可以分别沿第一方向和第三方向自由移动，可以对待测试工件的位置进行精确控制，旋转角度偏差通过旋转驱动源323的旋转实现角度补偿,压接驱动源321能够驱动压接平台322沿第二方向移动，以实现压接平台322的升降运动，实现待测试工件的触点与压头324之间的精准对位，从而完成性能测试；

在需要下料时，升降驱动源14驱动框架11沿第二方向依次移动至固定高度，使搬运机械手2从测试机构3上抓取完成测试的成品工件准确地放置于第二抽屉盒13内，同时操作人员人工可将成品工件从第二抽屉盒13内取出，来完成下料动作过程。

上本文的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“右”、等方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述和简化操作，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。此外，术语“第一”、“第二”，仅仅用于在描述上加以区分，并没有特殊的含义。

在本说明书的描述中，参考术语“一实施例”、“示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。

此外，上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本发明不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明，但是本发明不仅仅限于以上实施例，在不脱离本发明构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。