专利名称：一种炭素回转窑尘降室温度及负压检测方法
技术领域：
本发明涉及回转窑尘降室工艺参数检测控制，具体地说是涉及炭素回转窑尘降室温度及负压检测方法。
背景技术：
炭素煅烧工艺是将石油焦材料经过回转窑煅烧，一路经两路煅烧滚动流入小窑冷 却后送至成型原料仓，添加其它原材料后制成碳块；一路煅烧产生的废烟气经尘降室再次 燃烧后通过余热炉二次利用后排空，达到环保节能效果。温度测量尘降室温度检测是在尘降室出入口顶部插入长度为1.2米的测温元 件，再到二次仪表显示，从而达到控制尘降室温度的目的。从尘降室入口顶部插入长度为 1. 2米的测温元件，其目的是为了检测锻后焦燃心温度。由于检测与最高温度中心位置距离 为1. 3m，而此时测温元件测定的温度只是锻后焦烟气、余热锅炉引风及尘降室环境烟气在 尘降室顶部产生的漩涡风的温度，为了使该温度达到工艺设计要求，生产工艺人员只能加 大引风量、燃气量、一次风量、二次风量、三次风量来提高回转窑的煅烧温度，以达到尘降室 的温度工艺参数要求，造成整个控制过程的误操作。负压测量尘降室负压检测是在尘降室出入口顶部安装压力变送器，经二次仪表显 示达到调节回转窑一次、二次、三次配风量及尘降室引风量的目的。插入尘降室的测压钢管 在尘降室高温状态下短时间内熔化，造成尘降室负压检测有死角，此时负压检测值的采集 不能反映生产工艺的实际负压值，由于在设计时没有考虑尘降室负压取压点的熔化后出现 的死角问题，造成一次仪表不能准确采集尘降室的负压值，此时生产工艺人员只能增大余 热锅炉引风机的风量来满足尘降室负压的要求，引风量增加的同时势必使回转窑、尘降室 的配送风量增加，导致回转窑、尘降室温度再次增高，使回转窑、尘降室处于高温状态运行， 造成回转窑、尘降室的使用寿命缩短。这种操作方式首先导致余热锅炉引风量、回转窑燃气 量的浪费，同时超高温测温元的使用增加了生产成本，尘降室和回转窑长期高温状态下运 行，缩短了使用寿命。
发明内容
本发明要解决的技术问题是提供一种可解决尘降室温度和负压测量准确的炭素 回转窑尘降室温度及负压检测方法。本发明一种炭素回转窑尘降室温度及负压检测方法通过下述技术方案予以实现 本发明一种炭素回转窑尘降室温度及负压检测方法是将原来的炭素回转窑尘降室温度测 量点接口堵死，将尘降室入口测温元件从尘降室的顶部插入移到尘降室入口气封环尘降室 入口测温点处插入，尘降室入口测温元件测量端延伸到气封环中心位置；同时将尘降室出 口测温元件移至尘降室出口的余热烟道上部尘降室出口测温点处插入，尘降室出口测温元 件测温端延伸至出口烟道中心位置；所述的炭素回转窑尘降室负压检测是将尘降室入口负 压采样管移到回转窑与尘降室入口固定的气封环上尘降室入口负压检测点处，负压采样管深度到气封环中心一半的位置；同时将尘降室出口负压采样管移至尘降室出口烟道上部尘降室出口负压检测点处，尘降室出口负压采样管测压端延伸至烟道中心的二分之一位置。本发明一种炭素回转窑尘降室温度及负压检测方法与现有技术相比较有如下有 益效果本发明是将原来的测量点接口堵死，测温元件从尘降室的顶部插入移到尘降室入 口的气封环处插入，测量端延伸到气封环中心位置；同时将尘降室出口处温度的测温元件 移至尘降室出口的钢烟道上部插入，测温点选在出口烟道中心位置，解决了因测温点位置 偏移带来测量数据不真实现象。负压采样管移到回转窑与尘降室入口固定的气封环上，采 样管深度到气封环中心一半的位置；同时将尘降室出口负压检测点移至尘降室出口烟道上 部，测量点到烟道中心的二分之一位置，完全满足了生产工艺对负压检测的要求。通过这两个点温度和负压的测量，工艺就可以推算出准确的煅烧带的温度，并且 通过调节回转窑燃气量、一次、二次、三次配风量及尘降室引风量而达到所要求的温度与实 际温度之差的目的。同时，采用本发明方法检测到准确的尘降室温度和负压值，可利用该值 转换为电信号控制引风机电机的转速，改变了原来只能通过手动控制电机转速的现状，提 高了回转窑尘降室温度及负压检测自动化程度。采用本发明方案后产生的经济效益尘降室改进前是每两年大修一次，改进后6 年大修一次，大修一次需要费用60万元左右，改进前6年大修费用约180万元，改进后6年 大修费用60万元，节约120元万，每年节约20万元；每台大窑引风机电机按200KW计算，第 降低10%负荷，节电15kw/h，一年按200天计算，共节约电为7. 2万度电，每度按0. 33元计 算一年共节约费用2. 376万元；实收率以前提高3%每年节约石油焦1379t，每吨按购入价 1000元计算，每年节约137. 9万元；一台窑通过此项技术改进，每年总共节约费用160万， 分公司总共三台大窑，每年节约费用480万。
本发明一种炭素回转窑尘降室温度及负压检测方法有如下附图图1为现有技术炭素回转窑尘降室温度及负压检测示意图；图2为本发明一种炭素回转窑尘降室温度及负压检测方法检测示意图。其中1、回转窑；2、尘降室入口测温点；3、尘降室入口负压检测点；4、尘降室出口 负压检测点；5、尘降室出口测温点；6、尘降室入口测温元件；7、尘降室入口负压采样管；8、 尘降室出口负压采样管；9、尘降室出口测温元件；10、余热烟道；11、地面；12、回转窑下料 管。
具体实施例方式下面结合附图和实施例对本发明一种炭素回转窑尘降室温度及负压检测方法技 术方案作进一步描述。如图2所示，本发明一种炭素回转窑尘降室温度及负压检测方法是将原来的炭素 回转窑尘降室温度测量点接口堵死，将尘降室入口测温元件6从尘降室的顶部插入移到尘 降室入口气封环尘降室入口测温点2处插入，尘降室入口测温元件6测量端延伸到气封环 中心位置；同时将尘降室出口测温元件9移至尘降室出口的余热烟道10上部尘降室出口测 温点5处插入，尘降室出口测温元件9测温端延伸至出口烟道中心位置；所述的炭素回转窑尘降室负压检测是将尘降室入口负压采样管7移到回转窑与尘降室入口固定的气封环上尘降室入口负压检测点3处，负压采样管7测压端深度到气封环中心一半的位置；同时将尘 降室出口负压采样管8移至尘降室出口烟道上部尘降室出口负压检测点4处，尘降室出口 负压采样管8测压端延伸至烟道中心的二分之一位置。实施例1。为了能够更准确地测量到尘降室烟气和负压参数，对测量点进行如下改进1、将炭素回转窑尘降室原来的测量点接口堵死，测温元件9从尘降室的顶部插入 移到尘降室入口的气封环处插入，测量端延伸到气封环中心位置；同时将尘降室出口处温 度的测温元件移至尘降室出口的钢烟道上部插入，测温点选在出口烟道中心位置，解决了 因测温点位置偏移带来测量数据不真实现象。2、负压采样管移到回转窑与尘降室入口固定的气封环上，采样管深度到气封环中 心一半的位置；同时将尘降室出口负压检测点移至尘降室出口烟道上部，测量点到烟道中 心的二分之一位置，完全满足了生产工艺对负压检测的要求。通过这两个点温度和负压的测量，工艺就可以推算出准确的煅烧带的温度，并且 通过调节回转窑燃气量、一次、二次、三次配风量及尘降室引风量而达到所要求的温度与实 际温度之差的目的。
从以上表中我们不难看出，尘降室改进前是每两年大修一次，改进后6年大修一 次，大修一次需要费用60万元左右，改进前6年大修费用约180万元，改进后6年大修费用 60万元，节约120元万，每年节约20万元；每台大窑引风机电机按200KW计算，第降低10% 负荷，节电15kw/h，一年按200天计算，共节约电为7. 2万度电，每度按0. 33元计算一年共 节约费用2. 376万元；实收率以前提高3%每年节约石油焦1379t，每吨按购入价1000元计 算，每年节约137. 9万元；一台窑通过此项技术改进，每年总共节约费用160万，分公司总共 三台大窑，每年节约费用480万。
权利要求
一种炭素回转窑尘降室温度及负压检测方法，其特征在于所述的炭素回转窑尘降室温度检测是将原来的炭素回转窑尘降室温度测量点接口堵死，将尘降室入口测温元件(6)从尘降室的顶部插入移到尘降室入口气封环尘降室入口测温点(2)处插入，尘降室入口测温元件(6)测量端延伸到气封环中心位置；同时将尘降室出口测温元件(9)移至尘降室出口的余热烟道(10)上部尘降室出口测温点(5)处插入，尘降室出口测温元件(9)测温端延伸至出口烟道中心位置；所述的炭素回转窑尘降室负压检测是将尘降室入口负压采样管(7)移到回转窑与尘降室入口固定的气封环上尘降室入口负压检测点(3)处，负压采样管(7)深度到气封环中心一半的位置；同时将尘降室出口负压采样管(8)移至尘降室出口烟道上部尘降室出口负压检测点(4)处，尘降室出口负压采样管(8)测压端延伸至烟道中心的二分之一位置。
全文摘要
本发明涉及回转窑尘降室工艺参数检测控制，具体地说是涉及炭素回转窑尘降室温度及负压检测方法。本发明方法是将原来的测量点接口堵死，测温元件从尘降室的顶部插入移到尘降室入口的气封环处插入，测量端延伸到气封环中心位置；同时将尘降室出口处温度的测温元件移至尘降室出口的钢烟道上部插入，测温点选在出口烟道中心位置，解决了因测温点位置偏移带来测量数据不真实现象。负压采样管移到回转窑与尘降室入口固定的气封环上，采样管深度到气封环中心一半的位置；同时将尘降室出口负压检测点移至尘降室出口烟道上部，测量点到烟道中心的二分之一位置，完全满足了生产工艺对负压检测的要求。
文档编号F27B7/42GK101839634SQ20101017615
公开日2010年9月22日 申请日期2010年5月9日 优先权日2010年5月9日
发明者刘联邦, 董振芳, 薛巨忠 申请人:中国铝业股份有限公司