一种空间集约型多维样品调整架的制作方法

文档序号:4927730阅读:214来源:国知局
一种空间集约型多维样品调整架的制作方法
【专利摘要】一种空间集约型多维样品调整架,属于机械零部件和自动化仪器仪表应用领域。所述的底座上设置有突起,突起上设置有外螺纹;所述的样品台的底部开有圆孔,圆孔内设置有与底座上的外螺纹相耦合的内螺纹,通过底座的外螺纹和样品台的内螺纹的耦合深度调节样品的放置高度和正面朝向;在样品台上设置有用于放置样品的样品槽;所述的样品槽一壁设置有插入顶丝的内螺纹,样品槽的另一壁设置为挡块;所述的顶丝用于将样品压在挡块上夹持样品;所述的样品台上还设置有用于镊子夹持样品台调整底座与样品台螺纹耦合的凹槽。本实用新型既丰富了样品的固定和调整方式,又弥补了市面上商业化仪器使用固定样品架的劣势,拓展了仪器的使用,同时也方便了测试者的使用。
【专利说明】一种空间集约型多维样品调整架
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种普适于精密测试仪器的待检样品固定、调整支架,属于机械零部件和自动化仪器仪表应用领域。
【背景技术】
[0002]随着科学技术的不断进步和发展,人们的实验手段从手工化,到机械化,到自动化,然后发展到现在的智能化,自然规律不断的被人们发现。智能化仪器的出现,帮助人们很方便快捷地检测研究对象的性质,从而提高了人们认识世界,发展世界的进程。电子技术的飞速发展结合了人类智慧的结晶,电子技术的微型化、智能化的优秀成果也不断的给人们的生活、生产、研究带来便捷,提高生产力,加速生产效率,节约能源,拓展研究领域等等。在实验检测方面,高精密仪器的出现,使人们的视野得到了极大的丰富。空间上从纳米尺寸到光年,时间上从阿秒到宇宙寿命等,无论是直接手段还是间接手段,高精密仪器不仅带动了科学技术的进步,而且引领着社会的进步。
[0003]随着高精密仪器技术的成熟和功能的丰富,被检测的样品也随之丰富多样。目前已经商业化的仪器提供的样品架通常出于仪器设计者的最初考虑,只能满足部分样品的安装、测试。然而,在实际使用过程中对于测试原理一样的多种不同种类的样品,原有的样品架已经不能满足适用要求。因此,这大大限制了仪器的使用,也降低了研究效率。在我们的实验工作中,我们发现多数仪器可检测的样品种类丰富,但是所提供的样品架不能满足多样化的要求。考虑到精密仪器中固有器件的特殊性和空间的局限性,该实用新型从实际出发,设计了本实用新型,使其能满足多种样品的放置。例如,在生物材料、化学试剂、薄膜、固体、液体等样品的吸收光谱、透射光谱、瞬态光谱、稳态光谱等测试中均可采用该样品架。各方案各有特色,适用于不同的实际仪器原型,也能同时应用于多种仪器,既丰富了样品的固定和调整方式,又弥补了固定仪器使用固定样品架的劣势。
实用新型内容
[0004]本实用新型的目的在于设计一种实用的空间集约型多维样品调整架。方便对不同样品的检测。根据不同实验仪器和实验需求合理的设计和使用样品架。对于不同的精密仪器而言,测量手段和测量原理均有很大的差别。因此该实用新型不是对所有样品的检测或测量都适用,而是只适用于检测仪器与样品接触较为简单或不接触的实验仪器。
[0005]为了实现上述目的,本实用新型采取了如下技术方案:
[0006]一种空间集约型多维样品调整架,包括放置样品台2和调节样品台2高度的底座I,放置样品4的样品台2,固定样品4的顶丝5,调节样品4朝向的凹槽3,所述的底座I上设置有突起,突起上设置有外螺纹;所述的样品台2的底部开有圆孔,圆孔内设置有与底座I上的外螺纹相耦合的内螺纹,通过底座I的外螺纹和样品台2的内螺纹的耦合深度调节样品的放置高度和正面朝向;在样品台2上设置有用于放置样品4的样品槽;所述的样品槽一壁设置有插入顶丝5的内螺纹,样品槽的另一壁设置为挡块;所述的顶丝5用于将样品4压在挡块3上夹持样品;所述的样品台2上还设置有用于镊子夹持样品台2调整底座I与样品台2螺纹耦合的凹槽3。
[0007]所述的凹槽3设置在样品槽挡块所在的一侧;与顶丝5配合用于镊子夹持。
[0008]所述的样品槽为样品台2表面中部向下挖取的一个宽型凹槽,该宽度远大于样品尺寸且为凹陷型,故不限制样品4的截面形状。
[0009]在使用过程中,底座I通过螺纹与样品台2相连接,通过螺纹间的匹配实现高度的高度调节。放入实验仪器中之前预估一个高度即可,此为高度的粗调。在将装有样品的样品架整体放入实验仪器后,通过镊子夹住凹槽3和顶丝5,通过逆时针或顺时针旋转样品台2实现闻度的细调和样品方位的调节。
[0010]本实用新型可以取得如下有益效果:
[0011]在本实用新型中样品台2中的样品槽尺寸大于被测样品的尺寸,对于多样化的样品大小和形状,通过调节顶丝5的插入深度可以固定不同尺寸的样品。
[0012]本实用新型通过底座I的外螺纹和样品台2的内螺纹的耦合深度可以调节样品的放置高度和正面朝向。
[0013]在本实用新型中当样品架放入狭小的仪器样品空间中后,在旋转底座I调节高度很不方便;使用者用镊子夹住凹槽3和顶丝5,通过旋转镊子可以进一步调节样品的放置高度和正面朝向。
[0014]本实用新型体积小,节约测试空间,方便固定和调节。实现了多样化被测样品的固定和多维调节。针对不同的测试环境,均适用。
[0015]本实用新型利用机械制图完成了该空间集约型多维样品调整架的设计。旨在针对多种不同规格的样品都能很好的放入实验仪器中,实现方便固定、方便调节的目标,实现最终的检测。同时,本实用新型考虑到仪器中样品放置空间的有限,本方案体型小,节约空间,是一种空间集约型设计,适合较小的放置样品空间。最终样品架能很好的实现多样化样品的固定、高度的调节和方位的调节,且节约测试总空间。
【专利附图】

【附图说明】
[0016]图1空间集约型多维样品调整架的三维实体效果图
[0017]图2空间集约型多维样品调整架中底座I的主视图
[0018]图3空间集约型多维样品调整架中底座I的左视图
[0019]图4空间集约型多维样品调整架中底座I的俯视图
[0020]图5空间集约型多维样品调整架中样品台2的主视图
[0021]图6空间集约型多维样品调整架中样品台2的左视图
[0022]图7空间集约型多维样品调整架中样品台2的俯视图
[0023]图中:1、底座,2、样品台,3、凹槽,4、样品,5、顶丝。
【具体实施方式】
[0024]下面结合图1对本实用新型作进一步说明:
[0025]本空间集约型多维样品调整架是一种机械零部件。针对实验仪器中实验样品规格的多样化,放置样品空间小,实现样品的固定、高度的调节、方位的调节以及节约放置空间。最终实现样品方便的放置,更好的被测量。
[0026]如图1所示一种空间集约型多维样品调整架,包括放置样品台2和调节样品台2高度的底座I,放置样品4的样品台2,固定样品4的顶丝5,调节样品4朝向的凹槽3,所述的底座I上设置有突起,突起上设置有外螺纹;所述的样品台2的底部开有圆孔,圆孔内设置有与底座I上的外螺纹相耦合的内螺纹,通过底座I的外螺纹和样品台2的内螺纹的耦合深度调节样品的放置高度和正面朝向;在样品台2上设置有用于放置样品4的样品槽;所述的样品槽一壁设置有插入顶丝5的内螺纹,样品槽的另一壁设置为挡块;所述的顶丝5用于将样品4压在挡块3上夹持样品;所述的样品台2上还设置有用于镊子夹持样品台2调整底座I与样品台2螺纹耦合的凹槽3。
[0027]本实施为空间集约型多维样品调整架,普遍适用于不同的实验仪器环境。具体使用环境,如图1所示。在使用过程中,底座I通过螺纹与样品台2相连接,通过螺纹间的匹配实现高度的高度调节。放入实验仪器中之前,通过旋转底座I插入样品台2,预估一个高度即可。然后将样品4放入样品槽中,样品槽的尺寸大于样品的尺寸,针对不同尺寸的样品,通过顶丝5加以固定。装配好后,将装有样品的样品架整体放入实验仪器中。接着通过镊子夹住凹槽3和顶丝5,通过逆时针或顺时针旋转样品台2实现高度的细调和样品方位的调节。这样样品就被固定好了。
[0028]所述方案中样品台2包括放置样品的样品槽、连接顶丝5的内螺纹、连接底座I的内螺纹、凹槽3。
[0029]本实施图2提供了底座I的主视图具体结构;图3提供了底座I的左视图具体结构;图4提供了底座I的俯视图具体结构;图2至图4构成了底座I的三视图具体结构,方便加工。图5提供了样品台2的主视图具体结构;图6提供了样品台2的左视图具体结构;图7提供了样品台2的俯视图具体结构;图5至图7构成了样品台2三视图具体结构,方便加工。
[0030]本实用新型空间集约型多维样品调整架,针对多样化的实验样品规格,实现样品的固定、高度的调节以及方位的调节。使用方便,节约空间,调节精度合理,具有普适性。
【权利要求】
1.一种空间集约型多维样品调整架,包括放置样品台(2)和调节样品台(2)高度的底座(1),放置样品(4)的样品台(2),固定样品(4)的顶丝(5),调节样品(4)朝向的凹槽(3),其特征在于:所述的底座(I)上设置有突起,突起上设置有外螺纹;所述的样品台(2)的底部开有圆孔,圆孔内设置有与底座(I)上的外螺纹相耦合的内螺纹,通过底座(I)的外螺纹和样品台(2)的内螺纹的耦合深度调节样品的放置高度和正面朝向;在样品台(2)上设置有用于放置样品(4)的样品槽;所述的样品槽含有两壁,一壁被进一步切薄,设置有插入顶丝(5)的内螺纹,样品槽的另一壁设置为挡块;所述的顶丝(5)用于将样品(4)压在挡块(3)上夹持样品;所述的样品台(2)上还设置有用于镊子夹持样品台(2)调整底座(I)与样品台(2)螺纹耦合的凹槽(3)。
2.根据权利要求1所述的一种空间集约型多维样品调整架,其特征在于:所述的凹槽(3)设置在样品槽挡块所在的一侧;与顶丝(5)配合用于镊子夹持。
3.根据权利要求1所述的一种空间集约型多维样品调整架,其特征在于:所述的样品槽为样品台(2)表面中部向下挖取的一个宽型凹槽,宽度远大于样品尺寸且为凹陷型,故不限制样品(4)的截面形状。
【文档编号】B01L9/00GK203494531SQ201320328888
【公开日】2014年3月26日 申请日期:2013年6月7日 优先权日:2013年6月7日
【发明者】王丽, 甘渝林, 张新平 申请人:北京工业大学
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