一种高温测试箱的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及计算机硬件高温测试设备领域，具体地说是一种高温测试箱。
【背景技术】
[0002]电器在使用过程中会产生热量，从而形成高温环境，电器在高温环境中运行极容易暴露出电器组件存在的隐患问题，严重影响到机器的运转。目前测试电器高温情况下得稳定性是通过将机器组装完毕后进行整机的老化，当机器出现错误后再维修，会造成时间、人力、物力上的资源浪费。另在进行物料更换下来后的复测、维修工作中，无法复现物料在整机运行状态及高温老化环境中的报错现象。
【发明内容】
[0003]本实用新型的技术任务是解决现有技术的不足，提供一种高温测试箱，主要针对测试电器组件在恶劣高温环境中容易出错的隐患，能够在生产之前发现并解决物料存在的隐患问题，及物料在复测、维修环节中无法模拟生产老化环境的缺陷。
[0004]本实用新型的设计思路是物料在生产之前，及报错后的复测、维修环节中利用高温测试箱模拟待测电器组件在整机运行时的状态及高温老化环境，提前发现或复现物料存在的隐患，并及时解决此类隐患。
[0005]本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是:
[0006]—种高温测试箱，包括测试箱体和测试门，测试门活动连接在测试箱体的前侧，所述测试箱体内设有加热器、及与加热器电相连的温度控制器，测试箱体内设有循环风扇，用于形成强制对流，测试箱体中部设有活动托盘作为测试平台，活动托盘将测试箱体分为上、下两个空腔，活动托盘上开设连通上、下两个空腔的开孔，活动托盘上开设用于放置待测电器组件的内凹通槽。
[0007]优选的，所述测试箱体靠近温度控制器位置的一角处预留有走线孔。
[0008]优选的，所述活动托盘朝向测试门的一侧设有托盘把手。
[0009]优选的，所述测试门上设有门体把手。
[0010]优选的，所述测试门朝向测试箱体的一侧设有门封。
[0011]本实用新型的一种高温测试箱，与现有技术相比所产生的有益效果是:
[0012]1、本实用新型活动托盘作为测试平台，滑动设在测试箱体的中部，便于待测电器组件的搭建;测试箱体内设有循环风扇，循环风扇启动后，利用扇叶的转动，配合活动托盘上开设的开孔，使测试箱体内部的空气产生强制对流，使得测试箱体内部每一点温度相等；同时，由于活动托盘上开设用于放置待测电器组件的内凹通槽，待测电器组件的上下表面均处在同一测试温度下，这样就使温度模拟值更加准确，从而使老化测试实验结果更为精确；
[0013]2、测试箱体靠近温度控制器位置的一角处预留有走线孔，用以放置各种线缆，避免了测试箱体内走线的凌乱；
[0014]3、测试门朝向测试箱体的一侧设有门封，有效保证了与外界的隔绝，避免了测试箱体内部与外界的热交换，降低了加热器的能耗，节能环保。
【附图说明】
[0015]附图1是本实用新型的结构示意图；
[0016]附图2是本实用新型的纵剖结构示意图。
[0017]图中，1、门体把手，2、测试门，3、门封，4、循环风扇，5、测试箱体，6、加热器，7、温度控制器，8、导轨，9、活动托盘，10、托盘把手，11、内凹通槽，12、开孔，13、上空腔，14、下空腔。
【具体实施方式】
[0018]下面结合附图1-2，对本实用新型的一种高温测试箱作以下详细说明。
[0019]如附图1、2所示，本实用新型的一种高温测试箱，其结构包括测试箱体5和测试门2，测试门2通过转轴铰接在测试箱体5的前侧，测试门2上设有门体把手1，测试门2朝向测试箱体5的一侧设有门封3。
[0020]测试箱体5内顶壁上固定有加热器6，测试箱体5内侧壁上安装有与加热器6电相连的温度控制器7，测试箱体5内设有循环风扇4，用于形成强制对流。测试箱体5左、右侧壁的中部各自设有导轨8，活动托盘9作为测试平台滑动设在左、右两侧导轨8上，活动托盘9将测试箱体5分为上、下两个空腔13、14，活动托盘9上开设连通上、下两个空腔13、14的开孔12，活动托盘9上开设用于放置待测电器组件的内凹通槽11。
[0021]在上述结构的基础上，为了避免测试箱体5内走线的混乱，在测试箱体5靠近温度控制器7位置的一角处预留有走线孔，用以放置各种线缆。为了便于活动托盘9的抽拉，在活动托盘9朝向测试门2的一侧固定连接托盘把手10。
[0022]本实用新型的一种高温测试箱，其测试箱体5五面封闭，一面开门，测试箱体5的顶部安装有加热器6，用于对待测电器组件进行高温模拟，测试箱体5内安装一面抽拉式活动托盘9，作为高温测试平台。使用时，将加热器6连接到温度控制器7上，然后将温度控制器7接通至外部电源，将待测电器组件在放置在内凹通槽11内，搭建完活动托盘9后，将活动托盘9推入测试箱体5内，关闭测试门2，打开温度控制器7，通过控制面板调节至预先设定的温度，设定加温时间，使测试箱体5内温度升高，活动托盘9上搭载的测试平台在高温中运行预定时间，从而起到老化作用。由于活动托盘9滑动设在测试箱体5的中部，测试箱体5内设有循环风扇4，循环风扇7启动后，利用扇叶的转动，配合活动托盘9上开设的开孔12，使测试箱体5内部的空气产生强制对流，使得测试箱体5内部每一点温度相等，同时，由于活动托盘9上开设用于放置待测电器组件的内凹通槽11，待测电器组件的上下表面均处在同一测试温度下，这样就使老化测试实验结果更为精确。
[0023]本实用新型的一种高温测试箱，其加工制作简单方便，按说明书附图所示加工制作即可。
[0024]除说明书所述的技术特征外，均为本专业技术人员的已知技术。
【主权项】
1.一种高温测试箱，包括测试箱体和测试门，测试门活动连接在测试箱体的前侧，其特征在于，所述测试箱体内设有加热器、及与加热器电相连的温度控制器，测试箱体内设有循环风扇，用于形成强制对流，测试箱体中部设有活动托盘作为测试平台，活动托盘将测试箱体分为上、下两个空腔，活动托盘上开设连通上、下两个空腔的开孔，活动托盘上开设用于放置待测电器组件的内凹通槽。2.根据权利要求1所述的一种高温测试箱，其特征在于，所述测试箱体靠近温度控制器位置的一角处预留有走线孔。3.根据权利要求1或2所述的一种高温测试箱，其特征在于，所述活动托盘朝向测试门的一侧设有托盘把手。4.根据权利要求1或2所述的一种高温测试箱，其特征在于，所述测试门上设有门体把手。5.根据权利要求1或2所述的一种高温测试箱，其特征在于，所述测试门朝向测试箱体的一侧设有门封。
【专利摘要】本实用新型提供一种高温测试箱，属于计算机硬件高温测试设备领域。其结构包括测试箱体和测试门，测试箱体内设有加热器、及与加热器电相连的温度控制器，测试箱体内设有循环风扇，测试箱体中部设有活动托盘作为测试平台，活动托盘将测试箱体分为上、下两个空腔，活动托盘上开设连通上、下两个空腔的开孔。本实用新型的循环风扇启动后，利用扇叶的转动，配合活动托盘上开设的开孔，使测试箱体内部的空气产生强制对流，使得测试箱体内部每一点温度相等；同时，由于活动托盘上开设用于放置待测电器组件的内凹通槽，待测电器组件的上下表面均处在同一测试温度下，这样就使温度模拟值更加准确，从而使老化测试实验结果更为精确。
【IPC分类】B01L1/00
【公开号】CN205323792
【申请号】CN201620093296
【发明人】徐亮一
【申请人】浪潮电子信息产业股份有限公司
【公开日】2016年6月22日
【申请日】2016年1月30日