本实用新型涉及电子设备技术领域，特别涉及一种电解电容测试设备。
背景技术：
目前，在电解电容出厂前，对电解电容进行质检时，通常会通过测试设备对电解电容进行测试，以检测电解电容的好坏，或者检测电解电容各项参数是否符合要求，一旦检测到待测电解电容不合格，即通过控制测试设备中的电磁铁将不合格的电解电容剔除出来。
但是，电磁铁的使用寿命有限，无法适应长期反复的吸合动作，影响测试工作，且电磁铁的成本较高。
技术实现要素：
本实用新型的主要目的是提出一种电解电容测试设备，旨在实现对电解电容的自动化测试。
为实现上述目的，本实用新型提出一种电解电容测试设备，所述电解电容测试设备包括参数检测电路、驱动控制电路及气缸，所述参数检测电路的多个检测端分别与待测电解电容连接，所述参数检测电路的多个输出端与所述驱动控制电路的多个信号输入端一一对应连接；所述驱动控制电路的输出端与所述气缸连接；所述参数检测电路包括多个参数检测支路，且分别为漏电流检测支路、容量检测支路、阻抗检测支路、损耗角正切值检测支路；其中
所述漏电流检测支路，用于检测所述待测电解电容的电流；
所述容量检测支路，用于检测所述待测电解电容的容量；
所述阻抗检测支路，用于检测所述待测电解电容的阻抗；
所述损耗角正切值检测支路，用于检测所述待测电解电容的损耗角正切值；
所述驱动控制电路，用于根据接收到的所述参数检测电路输出的检测信号，控制所述气缸开启或关闭。
优选地，所述驱动控制电路包括主控制器及开关驱动电路，所述主控制器的输入端为所述驱动控制电路的信号输入端，所述主控制器的控制端与所述开关驱动电路的受控端连接；所述开关驱动电路的输出端为所述驱动控制电路的输出端。
优选地，所述气缸对应所述多个参数检测支路设置为多个。
优选地，所述电解电容测试设备还包括用于给所述驱动控制电路及参数检测电路提供工作电压的供电电源，所述供电电源的输出端分别与所述驱动控制电路及参数检测电路的电源端连接。
优选地，所述电解电容测试设备还包括用于对所述待测电解电容进行老化处理的电解电容老化电路，所述电解电容老化电路与所述待测电解电容连接。
优选地，所述电解电容老化电路包括多个老化电源，多个所述老化电源与多个所述待测电解电容组成一老化单元。
优选地，所述电解电容老化电路还包括用于对所述待测电解电容进行放电的放电单元，所述放电单元分别与多个所述待测电解电容连接。
本实用新型通过参数检测电路对电解电容的电流、容量、阻抗及损耗角正切值等参数进行检测，并将检测的参数输出至驱动控制电路，以在电解电容的检测信号出现异常时，将不合格的电解电容剔除出来。驱动控制电路可以控制气缸开启或者关闭，当驱动控制电路在接收到参数检测电路输出的待测电解电容参数异常检测信号时，则确定待测电解电容不合格，并控制气缸开启，以剔除不合格的电解电容，当驱动控制电路在接收到参数检测电路输出的待测电解电容参数异常检测信号时，则确定待测电解电容合格，并控制气缸保持关闭状态。从而控制气缸工作，以剔除不合格的电解电容，实现对电解电容的自动化测试。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。
图1为本实用新型电解电容测试设备一实施例的功能模块示意图；
图2为图1中参数检测电路的具体电路示意图；
图3为本实用新型电解电容测试设备另一实施例的功能模块示意图。
本实用新型目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
需要说明，若本实用新型实施例中有涉及方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)，则该方向性指示仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。
另外，若本实用新型实施例中有涉及“第一”、“第二”等的描述，则该“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本实用新型要求的保护范围之内。
本实用新型提出的一种电解电容测试设备。
参照图1，在本实用新型一实施例中，该电解电容测试设备包括参数检测电路10、驱动控制电路20及气缸30，所述参数检测电路10的多个检测端分别与待测电解电容连接，所述参数检测电路10的多个输出端与所述驱动控制电路20的多个信号输入端一一对应连接；所述驱动控制电路20的输出端与所述气缸30连接；其中
所述参数检测电路10，用于检测所述待测电解电容的电流、容量、阻抗及损耗角正切值等参数，并输出相应的检测信号；
所述驱动控制电路20，用于根据接收到的所述参数检测电路10输出的检测信号，控制所述气缸30开启或关闭。
本实施例中，所述参数检测电路10包括多个参数检测支路，且分别为漏电流检测支路11、容量检测支路12、阻抗检测支路13、损耗角正切值检测支路14；其中，
所述漏电流检测支路11，用于检测所述待测电解电容的电流；
所述容量检测支路12，用于检测所述待测电解电容的容量；
所述阻抗检测支路13，用于检测所述待测电解电容的阻抗；
所述损耗角正切值检测支路14，用于检测所述待测电解电容的损耗角正切值。
本实施例中，上述检测电路可以按照顺序依次对待测电解电容进行检测，也可以同时实现对待测电解电容进行检测，并将检测信号输出至驱动控制电路20。
本实施例中，参数检测电路10对电解电容的电流、容量、阻抗及损耗角正切值等参数进行检测，并将检测的参数输出至驱动控制电路20，以在电解电容的检测信号出现异常时，将不合格的电解电容剔除出来。驱动控制电路20可以控制气缸30开启或者关闭，当驱动控制电路20在接收到参数检测电路10输出的待测电解电容参数异常检测信号时，则确定待测电解电容不合格，并控制气缸30开启，以剔除不合格的电解电容，当驱动控制电路20在接收到参数检测电路10输出的待测电解电容参数异常检测信号时，则确定待测电解电容合格，并控制气缸30保持关闭状态。
本实用性通过参数检测电路10对电解电容的电流、容量、阻抗及损耗角正切值等参数进行检测，并将检测的参数输出至驱动控制电路20，以使驱动控制电路20在接收到参数检测电路10输出的待测电解电容参数异常检测信号时，控制气缸30工作，以剔除不合格的电解电容，实现对电解电容的自动化测试。
参照图1至图3，在一优选实施例中，所述驱动控制电路20包括主控制器21及开关驱动电路器22，所述主控制器21的输入端为所述驱动控制电路20的信号输入端，所述主控制器21的控制端与所述开关驱动电路器22的受控端连接；所述开关驱动电路器22的输出端为所述驱动控制电路20的输出端。
本实施例中，当主控制器21接收到参数检测电路10输出的待测电解电容参数异常检测信号时，主控制器21输出驱动控制信号来控制开关驱动电路器22开启从而驱动对应的气缸30工作，以实现对待测电解电容的参数性能测试。本实施例中，主控制器21可以是单片机、DSP、PLC等控制器，开关驱动电路器22可以采用继电器、开关管等分立元件实现。
参照图1至图3，在一优选实施例中，所述气缸30对应所述多个参数检测支路设置为多个。
本实施例中，气缸30的数量可以对应参数检测支路设置多个，并在每一检测支路检测到待测电解电容的参数异常时，挑选出来。
参照图1至图3，在一优选实施例中，所述电解电容测试设备还包括用于给所述驱动控制电路20及参数检测电路10提供工作电压的供电电源40，所述供电电源40的输出端分别与所述驱动控制电路20及参数检测电路10的电源端连接。
本实施例中，供电电源40可以是直流电源也可以是将接入的交流电源转换为对应的直流电压后输出的电源处理电路，供电电源40用于给驱动控制电路20及参数检测电路10提供合适的工作电压，以驱动驱动控制电路20及参数检测电路10工作。
参照图1至图3，在一优选实施例中，所述电解电容测试设备还包括用于对所述待测电解电容进行老化处理的电解电容老化电路50，所述电解电容老化电路50与所述待测电解电容连接。
本实施例中，为了解决在制造过程中产生的绝缘氧化膜损坏的问题，通过电解电容老化电路50对组装完成的电解电容进行老化处理，在电解电容的正极连接正电源V+，在负极接上负电源V-，并施加标准电流，然后进行在化合处理，以修复电解电容正极铝箔上的绝缘氧化膜，从而使电解电容的性能达到正常水平。
参照图1至图3，上述实施例中，所述电解电容老化电路50包括多个老化电源51，多个所述老化电源51与多个所述待测电解电容组成一老化单元。
本实施例中，采用多个老化电源51分别对多个待测电解电容进行老化处理，并根据每一待测电解电容的电压和内部温度，分别对其老化电容进行控制，以避免电解电容升温严重的问题发生。
参照图1至图3，上述实施例中，所述电解电容老化电路50还包括用于对所述待测电解电容进行放电的放电单元52，所述放电单元52分别与多个所述待测电解电容连接。
本实施例中，在老化电源51对待测电解电容进行后，通过放电单元52对电解电容进行放电，以对电解电容进行多次反复的充放电操作，从而实现对电解电容的老化处理。
以上所述仅为本实用新型的优选实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是在本实用新型的实用新型构思下，利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本实用新型的专利保护范围内。